FPC測(cè)試技術(shù)材料.PPT

FPC測(cè)試技術(shù) 第18屆NWING FPC技術(shù)交流研習(xí)會(huì)表資料 發(fā)表單位 自動(dòng)化 前言 電測(cè)是檢驗(yàn)產(chǎn)品電氣特性之唯一方法 也是保證產(chǎn)品最終品質(zhì)最有效的手段 故對(duì)電測(cè)原理的探討與實(shí)施 有助於更多的人了解電測(cè) 了解保障產(chǎn)品品質(zhì)的重要途徑 目錄 空板電測(cè) BareBoardTester 成品電測(cè) CableTester ICT電測(cè) InCircuitTester 空板 成品電測(cè)BareBoardTesterandCableTester 空板電測(cè) 成品電測(cè) 測(cè)試規(guī)格 絕緣性20M 測(cè)試導(dǎo)通性10 測(cè)試是客戶的要求更是大勢(shì)所趨 測(cè)試機(jī)以定電壓測(cè)試先測(cè)導(dǎo)通性再測(cè)絕緣性 導(dǎo)通性測(cè)試 測(cè)試電壓10V 電流20mA測(cè)試條件 10 100K 絕緣性測(cè)試 測(cè)試電壓50V 250V 電流20mA測(cè)試條件 100K 20M 測(cè)試機(jī)測(cè)試規(guī)格 測(cè)試規(guī)格與測(cè)試品質(zhì)之關(guān)係 0 PASS 10 FAIL 導(dǎo)通性測(cè)試規(guī)格越趨近0 測(cè)試品質(zhì)越嚴(yán)格絕緣性測(cè)試規(guī)格越趨近 測(cè)試品質(zhì)越嚴(yán)格 PASS FAIL 導(dǎo)通性測(cè)試 絕緣性測(cè)試 20 線路為什麼有低阻值 電阻R 截面積A 長(zhǎng)度L 線路有低阻值 不等於線路有缺口線寬3mil線路 導(dǎo)通性不良時(shí) 阻值會(huì)超過(guò)10 線路愈細(xì)愈長(zhǎng) 產(chǎn)生阻值愈高壓合層次愈高 產(chǎn)生阻值愈高孔徑 盲埋孔 愈小 產(chǎn)生阻值愈高 電測(cè)原理 測(cè)試機(jī)有誤測(cè)就會(huì)有漏測(cè)只是誤測(cè)的板子可以自己找漏測(cè)的板子客戶幫你找 測(cè)試點(diǎn)開關(guān) IO 基本組成 A 治具探針 電表 IO IO IN OUT 治具探針 ON OFF PASS 導(dǎo)通性測(cè)試流程圖 continuity A ON ON 1 2 3 4 OPEN 導(dǎo)通性測(cè)試流程圖 continuity A ON ON 1 2 3 4 PASS IO點(diǎn)損壞就會(huì)發(fā)生誤測(cè) A ON OFF 1 2 3 4 OPEN IO損壞 常關(guān) 誤測(cè) IO點(diǎn)損壞更會(huì)發(fā)生漏測(cè) A ON ON 1 2 3 4 PASS IO損壞 常開 ON 嚴(yán)重漏測(cè) 絕緣性測(cè)試流程圖 insulation A ON ON 1 2 3 4 PASS ON ON 絕緣性測(cè)試流程圖 insulation A ON ON 1 2 3 4 SHORT ON ON IO點(diǎn)損壞就會(huì)發(fā)生誤測(cè) A ON ON 1 2 3 4 SHORT ON ON ON IO損壞 常開 誤測(cè) IO點(diǎn)損壞更會(huì)發(fā)生漏測(cè) A OFF ON 1 2 3 4 PASS ON ON IO損壞 常關(guān) 嚴(yán)重漏測(cè) 超智慧軟體 支援多片排片測(cè)試及導(dǎo)電膠測(cè)試 ACRT 排片測(cè)試又稱為排版測(cè)試 其主要的用途是讓作業(yè)人員在測(cè)試完畢后能以最快的速度判定多片版中某片為不良品 空板電測(cè)機(jī)優(yōu)點(diǎn) 一 監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 提高測(cè)試可靠度 所謂監(jiān)測(cè)系統(tǒng)就是防呆裝置 當(dāng)防呆為ON時(shí) 測(cè)試完畢為良品者 必須從設(shè)定的方向安放否則機(jī)臺(tái)不再繼續(xù)測(cè)試的動(dòng)作 此項(xiàng)設(shè)計(jì)是為了防止長(zhǎng)時(shí)間的工作所造成的疲勞 而導(dǎo)致誤動(dòng)作的發(fā)生 將良品與不良品混在一起 空板電測(cè)機(jī)優(yōu)點(diǎn) 二 ICT電測(cè) InCircuitTester ICT概論 ICT即在線測(cè)試儀 INCIRCUITTEST 是一大堆高級(jí)電表的組合 電表能測(cè)到 ICT就能測(cè)到 電表測(cè)不到 ICT也可能測(cè)不到 如 R Jumper R無(wú)法用電表測(cè) ICT也無(wú)法測(cè) 測(cè)試原理的探討 一般而言 基本上測(cè)試方法有兩大方向 一則利用電流源當(dāng)信號(hào)源 量測(cè)電壓值 以應(yīng)用在電阻量測(cè)最普遍 二則以電壓源當(dāng)信號(hào)源 量測(cè)電流值 以應(yīng)用在電容 電感量測(cè)最普遍 隔離效果原理的探討 ICT與電表的差異就是 ICT可對(duì)旁路元件進(jìn)行隔離 Guarding 而電表不可以 在TR 518FR的內(nèi)部電路中 是利用一顆OP當(dāng)做一個(gè)隔離點(diǎn) 最多可有五個(gè)隔離點(diǎn) 若是 以電流源當(dāng)信號(hào)源輸入時(shí) 則在相接元件一之另一腳加上一等高電位能 GuardingPoint 以防止電流流放與被測(cè)元件相接之旁路元件 確保量測(cè)的精確性 開路 短路量測(cè)原理探討 一 在開路 短路自我學(xué)習(xí) open shortlearning 時(shí) 系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將量測(cè)點(diǎn)之間阻抗小于25 的點(diǎn)聚集成不同的短路群 shortgroups 開路 短路量測(cè)原理探討 二 於開路測(cè)試 opentest 時(shí) 在任一短路群 shortgroups 中任何兩點(diǎn)之阻抗不得大於55 反之即是開路測(cè)試不良 openfail 短路測(cè)試 shorttest 時(shí)分成三種情況 若有其中以下的情況發(fā)生 則判定短路測(cè)試不良 shorttest 在短路群 shortgroups 中任何一點(diǎn)與非短路群中任一點(diǎn)之阻抗一點(diǎn)阻抗小於5 不同短路群中任兩點(diǎn)之阻抗小於5 非短路群中任兩點(diǎn)之阻抗小於5 開路 短路量測(cè)原理探討 三 實(shí)例說(shuō)明 以上為078料號(hào)短路群資料 在某次生產(chǎn)中 2與7兩個(gè)不同短路群點(diǎn)其外部 conn 排線 阻抗超出系統(tǒng)默認(rèn)值 5 導(dǎo)致30 短路產(chǎn)品誤判為良品 電容之Debugging 一 在編輯電容測(cè)試資料時(shí)其高低點(diǎn)通常選定一較少元件相接的腳為低點(diǎn) 以減少幹?jǐn)_程度 300pF以下之電容 一般使用較高的信號(hào)做量測(cè) 大於3 3UF之電容一般採(cǎi)用Mode0 電流源測(cè)試 方式量測(cè) 當(dāng)測(cè)量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值偏差太大時(shí) 可適當(dāng)選用不同模式測(cè)試 保證產(chǎn)品OK 直到穩(wěn)定為止 電容之Debugging 二 實(shí)例說(shuō)明 175客戶反應(yīng)電容測(cè)試出現(xiàn)不穩(wěn)定現(xiàn)象