300KVX以下X射線機(jī)校準(zhǔn)流程.doc

射線探傷機(jī)校驗(yàn)規(guī)程日 期版次1.0文件編號(hào)頁次1. 適用范圍本規(guī)程適用于額定管電壓小于等于300KVX射線探傷機(jī)的首次和后續(xù)校驗(yàn)和檢定工作，有效期為一年。2. 人員要求2.1. X射線探傷機(jī)認(rèn)可人員都應(yīng)經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)，并持有國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局的級(jí)或級(jí)以上的射線檢驗(yàn)人員資格證書；2.2. X射線探傷機(jī)認(rèn)可人員應(yīng)熟悉所用設(shè)備的基本結(jié)構(gòu)、各部分的作用及操作規(guī)程；2.3. X射線探傷機(jī)認(rèn)可人員應(yīng)嚴(yán)格按照本程序操作X射線探傷機(jī)，并對(duì)設(shè)備使用的安全性負(fù)責(zé)。3. 校驗(yàn)需用標(biāo)準(zhǔn)器具材質(zhì)應(yīng)為A3鋼，規(guī)格為200mm100mm，表面粗糙度Ra6.3，試塊厚度應(yīng)滿足表1至表2的相應(yīng)要求，其厚度的允差為4；密度計(jì)一臺(tái)；線型象質(zhì)計(jì)。4. 操作步驟4.1. 穿透力校驗(yàn)4.1.1. 檢查X射線探傷機(jī)操作箱和機(jī)頭，無任何損壞痕跡以及安裝螺絲脫落，接上電源；4.1.2. 將X光膠片裁成100mm225mm，至焦點(diǎn)600mm，膠片長邊方向與X射線管軸線方向平行。定向機(jī)膠片中心偏離輻射中心（1465）mm處拍片；周向機(jī)中心沿周向輻射場中心線繞管軸線每90拍一張膠片；4.1.3. 膠片前方緊貼放置表1表2要求的相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試塊，增感屏用0.03mmPb，試塊四周按表3規(guī)定的鉛當(dāng)量遮擋。4.1.4. 采用額定管電壓、額定管電流進(jìn)行曝光，X射線探傷機(jī)曝光時(shí)間為5min；4.1.5. 將曝光后的膠片進(jìn)行暗室處理，顯影定影液的配制及沖洗時(shí)間和溫度按X光膠片規(guī)定的要求進(jìn)行。4.1.6. 干燥后的膠片用黑度計(jì)測量黑度值Di。在膠片中心區(qū)域至少測5點(diǎn)，取其算術(shù)平均值D。膠片本底黑度應(yīng)不大于0.3，D應(yīng)不小于1.5。表1定向X射線探傷機(jī)額定管電壓kV額定管電流mA對(duì)A3鋼穿透力mm10015020022025055555719293339表2周向X射線探傷機(jī)額定管電壓kV額定管電流mA對(duì)A3鋼穿透力mm15020025055512錐靶管24 錐靶管34 錐靶管表3額定管電壓kV鉛當(dāng)量mm Pb501001502002500.41.42.13.66.34.2. 輻射角的校驗(yàn)4.2.1. 定向X射線探傷機(jī)輻射角的校驗(yàn)a) 將檢定的X射線探傷機(jī)放置在支承架上，窗口對(duì)準(zhǔn)地面，地面應(yīng)用厚度為6mm的鉛板屏蔽，使X光管軸線（射線機(jī)長度方向軸線和寬度方向）與地面平行，焦點(diǎn)距鉛板表面600mm；b) 在鉛板上找出窗口正投影的中心點(diǎn)，并通過此點(diǎn)劃出與射線機(jī)長度方向和寬度方向的平行線，兩平行線交于窗口在鉛板上正投影的中心點(diǎn)；c) 訓(xùn)練X射線機(jī)至額定值，將裝好膠片的暗袋（膠片為360mm80mm、增感屏前后屏均為0.5mm）放置在鉛板劃好的兩條線上，每條線上各放三個(gè)暗袋，兩線交點(diǎn)處的暗袋上應(yīng)擺放中心標(biāo)記，暗袋搭接處應(yīng)擺放搭接標(biāo)記；d) 調(diào)整X射線機(jī)管電壓至額定值的50，管電流為額定值進(jìn)行透照；e) 將已透照好的膠片進(jìn)行暗室處理并干燥處理在觀片燈上進(jìn)行測量底片上中心標(biāo)記至底片黑度變化區(qū)黑度較大的邊界處的距離Sj（徑向）和Sh（橫向）；f) 按tg-1分別計(jì)算X射線機(jī)的徑向輻射角j和橫向輻射角h。式中角為X射線機(jī)的輻射角。4.2.2. 周向X射線探傷機(jī)的徑向輻射角校驗(yàn)將射線機(jī)立放于地面，測量機(jī)殼紅色帶中心距地面高度，并以此高度在距焦點(diǎn)600mm的0、90、180、270位置各放置一個(gè)裝好膠片的暗袋，膠片長度方向應(yīng)平行于射線機(jī)長軸方向，其他程序及方法同定向機(jī)校驗(yàn)檢定。4.3. 計(jì)時(shí)器誤差校驗(yàn)將機(jī)帶計(jì)時(shí)器分別調(diào)到0.5，1.0，5min等位置，開機(jī)的同時(shí)啟動(dòng)秒表，機(jī)帶計(jì)時(shí)器停止同時(shí)停止秒表，每個(gè)位置上測量3次，計(jì)算其算術(shù)平均值與設(shè)定值之差。取其與設(shè)定值之比最大者為計(jì)時(shí)器誤差。4.4. 透照靈敏度校驗(yàn)4.4.1. 測量要求同穿透力校驗(yàn)，采用JB/T7902-1995線型像質(zhì)計(jì)中的R10系列，用2個(gè)規(guī)格相同、材質(zhì)標(biāo)記為FE的線型像質(zhì)計(jì)，貼附在按表1表2要求的相應(yīng)試塊邊緣區(qū)域X射線機(jī)一側(cè)，像質(zhì)計(jì)的細(xì)線朝外。按要求曝光并處理膠片。4.4.2. 在背景光亮度不低于215cd/m2的觀片燈下用肉眼觀察底片找出像質(zhì)計(jì)影像中可以分辯的最細(xì)的直徑按公式S=100%。式中：S-以百分?jǐn)?shù)表示的透照靈敏度，；-透照試塊的厚度，mm；d-底片上可辯認(rèn)的最細(xì)線碼直徑，mm。 5.