恒溫晶振、溫補(bǔ)晶振的調(diào)試及測試

1、時(shí)的注意點(diǎn)恒溫晶振、溫補(bǔ)晶振的調(diào)試及測試時(shí)的注意點(diǎn)1）每一個(gè)單獨(dú)指標(biāo)必須單獨(dú)測試，不能同時(shí)測試幾種指標(biāo)，也不能同時(shí)測 試幾只晶振。2）測試時(shí)要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的測試電路和測試環(huán)境進(jìn)行測試。3）在沒有相當(dāng)?shù)臏y試設(shè)備和測試人員的情況下，不建議客戶自行測試晶振，更不能隨意調(diào)試晶振，測試設(shè)備的等級應(yīng)至少比晶振指標(biāo)高一個(gè)數(shù)量級。4）對不同廠家的產(chǎn)品，尤其是來自不同國家的產(chǎn)品，有一些指標(biāo)的測試方 法不盡相同，應(yīng)提前了解各廠家的異同點(diǎn)，統(tǒng)一意見，以減少不必要的麻煩。5）對一些短期指標(biāo)如頻率精度，開機(jī)特性等，應(yīng)多做幾次重復(fù)的測試，以 減少測試結(jié)果的偶然性。恒溫晶振OCXO選型和采購時(shí)應(yīng)該注意的問題1）不要一味追求

2、高指標(biāo)，因?yàn)楦咧笜?biāo)意味著成本大幅度增加，交貨期加 長；2）注意封裝的可替代性，盡量不選用非標(biāo)準(zhǔn)封裝；3）盡量不要壓縮交貨期限；4）了解廠家情況的時(shí)候，應(yīng)該著重考察廠家的晶體來源、工藝控制能力；5）如果可能的話，應(yīng)允許在研發(fā)階段就讓廠家參與到指標(biāo)的確認(rèn)工作中。恒溫晶振、溫補(bǔ)晶振主要技術(shù)指標(biāo)定義的 IEC標(biāo)準(zhǔn)1）標(biāo)稱頻率（ Nominal frequency）IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：振蕩器標(biāo)明的工作頻率。2）中心頻率偏差 （Frequency accuracy）IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：在基準(zhǔn)點(diǎn)溫度環(huán)境（25 士C）和中心控制電壓時(shí)，測得的頻率值與標(biāo)稱頻 率的偏差。3）頻率調(diào)諧范圍（ Frequency adjus

3、tment range）IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：用某種可變元件使振蕩器頻率能夠改變的頻率范圍。注：調(diào)整的目的：1）把頻率調(diào)到規(guī)定調(diào)整范圍內(nèi)的任一特定值。2）由于老化和其它條件變化而引起頻率偏移后，能夠把振蕩器頻率修正到 規(guī)定值。調(diào)整的方式：3）調(diào)節(jié)方式有機(jī)械調(diào)節(jié)和電壓調(diào)節(jié)兩種 4）可變元件通常指變?nèi)荻O管、 多圈電位器等。4）工作溫度范圍 （Operating temp. range）IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：振蕩器能夠正常工作，其頻率及其它輸出信號(hào)性能均不超過規(guī)定的允許偏 差的溫度范圍。注： 1）工作溫度范圍的下限越低，振蕩器功耗越大，同時(shí)頻率溫度穩(wěn)定度 越難實(shí)現(xiàn)。2）工作溫度范圍的上限越高，晶體拐點(diǎn)設(shè)置越高

4、，晶體成本上升越多。5）壓控特性（電壓范圍、極性、線性、壓控輸入阻抗）IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：當(dāng)控制電壓變化時(shí)，引起的振蕩器輸出的頻率、波形特征等電特性的變 化。注： 1）電壓范圍：用來調(diào)節(jié)頻率的電壓的可調(diào)范圍。常見的有 03.3V,0.33.0V, 0 5V,0.54.5V 等。2）壓控范圍：壓控電壓在電壓范圍內(nèi)變化的時(shí)候，振蕩器的頻率能夠變化的范圍。3）極性：當(dāng)振蕩器的頻率隨壓控電壓的增加而增加的時(shí)候，壓控極性3）極性：當(dāng)振蕩器的頻率隨壓控電壓的增加而增加的時(shí)候，壓控極性為正極性，反 之為負(fù)極性。4）線性度：理想的壓控電壓和頻率變化量的關(guān)系是線性的，但實(shí)際上總會(huì)有所偏差，這個(gè)偏差就是表征理想程度的

5、壓控線性度，通常用百分比表示。5）如果系統(tǒng)不 能給出穩(wěn)定的電壓信號(hào)，或者對輸出頻率有嚴(yán)格的控制要求時(shí)，通常振蕩器可 以自己給出經(jīng)過穩(wěn)壓后的精準(zhǔn)的電壓供壓控電壓用，這個(gè)精準(zhǔn)的電壓就是參考 電壓。6) 輸出波形( Output waveform )正弦 :負(fù)載能力方波:上升沿時(shí)間、下降沿時(shí)間、占空比、高 / 低電平IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：振蕩器工作時(shí)輸出的波形及波形的具體特性。注：常見輸出波形及輸出特性指標(biāo)：1)正弦波( Sine)：諧波抑制( Harmonic attenuation )、雜波抑制( Noise attenuation )、負(fù)載 (Load)、輸出幅度(Output level )。2)

6、 削峰正弦波( Clipping Sine)：負(fù)載(Load)、輸出幅度(Output level )o3) 方波( Square)：又分為MOS和TTL兩類輸出。負(fù)載(Load)、占空比(Duty cycle)、上升 /下降時(shí)間(Rise/fall time)、高低電平(“1” and“ 0)”。level7) 工作電流、功耗 (Input current, power consumption)8) 頻率溫度穩(wěn)定度 (Frequency stability over temp.)IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：其它條件不變時(shí)，由于振蕩器工作在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)引起的相對于基準(zhǔn) 溫度時(shí)的頻率偏移。9) 負(fù)載變化

7、頻率穩(wěn)定度 (Frequency stability Vs voltage+/-5% )IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：其它條件不變時(shí)，由于負(fù)載阻抗在規(guī)定范圍內(nèi)變化引起的相對于規(guī)定的負(fù) 載條件時(shí)的頻率偏移。10) 電源變化頻率穩(wěn)定度(Frequency stability Vs Load+/-10% )IE標(biāo)準(zhǔn)定義:其它條件不變時(shí)，由于電源電壓在規(guī)定范圍內(nèi)變化引起的相對于規(guī)定的電 源電壓時(shí)的頻率偏移。11) 老化率(長期頻率穩(wěn)定度) (Aging , long term stability)IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：振蕩器頻率與時(shí)間之間的關(guān)系。注：這種頻率漂移是石英晶體或 /和電路中的其它元器件的長期變化造成的，可 以

8、用規(guī)定時(shí)間間隔內(nèi)平均頻率的相對變化來表示。頻率老化是不可避免的。同時(shí)方向可能為正也可能為負(fù)。又稱為日老化率、長穩(wěn)等。12) 短期頻率穩(wěn)定度 (Short term stability)IEC標(biāo)準(zhǔn)定義：振蕩器短時(shí)間內(nèi)的頻率隨機(jī)起伏程度。注 :以秒為單位，又稱為秒基穩(wěn)定度、秒穩(wěn)、短穩(wěn)等。13) 相位噪聲 (Phase noise)IEC標(biāo)準(zhǔn)定義:振蕩器短期頻率穩(wěn)定度的頻域量度，通常用相應(yīng)起伏功率譜密度SW （f表示，其中相位起伏函數(shù)為 W（f）=2 n-iFt F0t注:抖動(dòng)是振蕩器短期頻率穩(wěn)定度的時(shí)域量度，實(shí)際上和相位噪聲都是頻率短 期穩(wěn)定度的一種度量方式。晶體振蕩器主要技術(shù)指標(biāo) 1）標(biāo)稱頻率 2）中心頻率偏差 3）頻率調(diào)整范圍 （機(jī)械或壓控） 4）工作溫度范圍 5）壓控特性（電壓范圍、極性、線性度、壓 控輸入阻抗） 6）輸出波形（