直流電法探測深度影響因素研究-

1、直流電法探測深度影響因素研究* 【摘 要】 直流電法勘探都已廣泛應用在礦產(chǎn)普查和研究地質構造等方面。對其探測深度，目前仍存在不同的認識。在高密度電法中，探測深度為總測線長度的1/6，甚至更小；而在煤田電法勘探中，探測深度一般為供電極距一半的0.6-0.9倍。本文從理論角度出發(fā)，分析總結了影響直流電法探測深度的因素。即在一定范圍內供電電極距ao越大，探測深度越大，但二者之間沒有明顯的線性關系；為研究測量電極距與供電電極距之比的大小對探測深度的影響，本文利用多種異常體，分別采用對稱四極測深法和對稱四極剖面法，重點設計并實施了多組物理模型實驗。實驗結果顯示，在ab這個范圍內，探測深度隨著mn/ab的

2、減小而增大。 【關鍵詞】 視電阻率 探測深度 電極極距 物理模型 1 引言 直流電法的探測的深度一直存在著爭議。現(xiàn)今認為其探測深度取決于電極間距、目標物、裝置形式等諸多因素。本文利用對稱四極裝置，采用電阻率測深法與電阻率剖面法，對其中各個因素展開研究。 2 電阻率測深法與剖面法 電阻率測深法包括電阻率測深和激發(fā)極化測深，簡稱電測深法。測量電極mn的中心點o，通過逐次加大供電電極mn與供電電極ab極距的大小，測量同點的、不同ab極距的視電阻率值，得出各個測點的地質斷面情況。 電阻率剖面法的測量裝置類似于電測深法，其簡稱為電剖面法。是指測量電極mn和供電電極ab間的距離經(jīng)選定后恒定不變，并同時沿一

3、定測線方向逐點進行觀測，研究沿測線地下同一深度范圍內視電阻率和極化率變化的一種方法。 3 水槽物理模型實驗 實驗模型一：柱狀低阻異常，埋深0.25m（電測深法） 將異常體（銅棒）水平放置在深度為0.25m處，以電測深法采用對稱四級裝置進行實驗，如圖1。 利用對稱四級裝置，分別取mn/ab為1/3，1/5，1/10，1/15，1/20，1/30。采用對稱四極電測深法依次增大ab，mn的大小如圖2所示，測各個測點的視電阻率。 由實驗一得出，當取不同值的時候得到的電測深曲線對比圖。測點均位于異常體正上方。并得出：（1）隨著極距的增大，視電阻率的值也不斷增大，且各曲線變化趨勢基本一致；（2）mn/ab

4、的值越小，所測得的視電阻率越大。 實驗模型二：柱狀低阻異常，埋深0.25m（電剖面法） 實驗二與實驗一相同，但是實驗二是采用對稱四極電剖面法進行實驗（點距0.1m），將異常體（銅棒）水平放置在深度為0.25m處。異常體中心正對指定的測點利用對稱四極電剖面法分別采用mn/ab=1/3，1/4，1/5，1/10，1/20，1/30。測出視電阻率sa（m），sb（m）和s（m）。 圖3為實驗二電剖面曲線對比圖，從圖中能較為明顯地看出在測點附近表現(xiàn)出的低阻異常，而該測點正對異常體中心，說明實驗結果與實際情況是一致的。另外，總體上來看，mn/ab的值越小，所測得的視電阻率越大。 4 結語 本文采用對稱四極電測深法、電剖面法，實施了多組水槽物理模型實驗。實驗結果顯示，ab在一定范圍內，探測深度隨著mn/ab的減小而增大。該實驗說明供電電極距對直流電法探測的深度的影響，ao越大，探測深度也就越大。但這種情況存在上限，即在一定范圍內，當探測深度達到最大以后，就會出現(xiàn)ao增大而探測深度不再增大的現(xiàn)象。也就是說供電電極距與探測深度并沒有明顯的線性關系。 參考文獻： 1傅良魁.電法勘探文集m.北京：地質出版社，1986. 2楊玉蕊，張義平，繆玉松 等.高密度電法中勘探線長度與測深關系淺析