ICT測(cè)試分析程序制作

1、Value for YouVayoPro-Test Expert（測(cè)試專家測(cè)試專家）上海望友信息科技有限公司上海望友信息科技有限公司Vayo (Shanghai) Technology Co., Ltd.全球合作總監(jiān)全球合作總監(jiān): Howard Liu郵箱郵箱: HowardLSoftware for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW望友公司簡(jiǎn)介望友公司簡(jiǎn)介n公司成立于公司成立于20052005年年1 1月份月份 n公司位于上海浦東先進(jìn)制造技術(shù)創(chuàng)業(yè)園區(qū)（到浦東公司位于上海浦東先進(jìn)制造技術(shù)創(chuàng)業(yè)園區(qū)（到浦東國(guó)際機(jī)場(chǎng)約國(guó)際機(jī)場(chǎng)約

2、2020分鐘車程）分鐘車程）n望友是一家專注于電子制造業(yè)的專業(yè)軟件公司，目望友是一家專注于電子制造業(yè)的專業(yè)軟件公司，目前已擁有前已擁有7 7個(gè)自主版權(quán)軟件產(chǎn)品個(gè)自主版權(quán)軟件產(chǎn)品n望友的工程師主要來自全球性的領(lǐng)先電子制造企業(yè)，望友的工程師主要來自全球性的領(lǐng)先電子制造企業(yè)，有著豐富的專業(yè)知識(shí)及行業(yè)背景有著豐富的專業(yè)知識(shí)及行業(yè)背景n曾于曾于20092009年獲得政府創(chuàng)新基金獎(jiǎng)勵(lì)支持年獲得政府創(chuàng)新基金獎(jiǎng)勵(lì)支持Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWVayoPro系列產(chǎn)品系列產(chǎn)品nVayoPro NPI信息化協(xié)同系

3、統(tǒng)信息化協(xié)同系統(tǒng)新產(chǎn)品導(dǎo)入過程管理新產(chǎn)品導(dǎo)入過程管理&協(xié)同工作平臺(tái)協(xié)同工作平臺(tái)nVayoPro 新產(chǎn)品導(dǎo)入過程必要應(yīng)用軟件新產(chǎn)品導(dǎo)入過程必要應(yīng)用軟件VayoPro-DFM Expert: (可制造性分析)VayoPro-SMT Expert: (各種貼片機(jī)程序快速制作及轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)校驗(yàn))Vayo-Flexa加速器加速器: (Fuji Flexa編程加速器)VayoPro-Test Expert: (快速DFT分析、ICT/FP/AOI/X-Ray編程)VayoPro-Document Expert: (工位作業(yè)指導(dǎo)書制作)VayoPro-View Expert: (Test/SMT/QA

4、/PE/IE等PCB板信息快速查詢)VayoPro-AI Expert: (自動(dòng)插件設(shè)備快速編程)* VayoPro系列軟件兼容Windows Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW部分參考客戶部分參考客戶Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW全球范圍代理與合作全球范圍代理與合作n代理伙伴代理伙伴: 12 歐洲: 4, 東南亞及南亞: 3, 中國(guó): 4, 美國(guó):1n設(shè)備或軟件合作伙伴設(shè)備或軟件合作伙伴: 7 Ag

5、ilent, ViTrox, Fuji, Takaya, SinicTek, Panasonic, Eastwell代理伙伴代理伙伴合作伙伴合作伙伴Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW飛針測(cè)試程序快速制作飛針測(cè)試程序快速制作VayoPro-Test ExpertDFT分析、分析、ICT/FP/AOI/X-ray快速編程快速編程PCB CAD數(shù)據(jù)源數(shù)據(jù)源AOI/X-Ray快速編程快速編程l支持20種CADl智能識(shí)別類型l數(shù)據(jù)校驗(yàn)版本比較版本比較lPCB版本差異l驗(yàn)證ECO/ECNl測(cè)試夾具再利用DFT/

6、測(cè)試覆蓋率分析測(cè)試覆蓋率分析l豐富的選針規(guī)則l優(yōu)化的測(cè)試覆蓋率l幾秒鐘產(chǎn)生DFT報(bào)告豐富的可測(cè)率報(bào)告豐富的可測(cè)率報(bào)告l強(qiáng)大的拼板功能l可與機(jī)器Library集成l可擴(kuò)展的輸出l測(cè)試類型自動(dòng)分類l測(cè)試夾具數(shù)據(jù)分析l優(yōu)化的輸出結(jié)果ICT測(cè)試程序快速制作測(cè)試程序快速制作l全面的測(cè)試信息l優(yōu)化的測(cè)試輸出l幾分鐘產(chǎn)生結(jié)果lNets/Part/Pin報(bào)告l并聯(lián)元器件報(bào)告l其他報(bào)告BOM分析處理分析處理l支持多種格式lCAD/BOM校驗(yàn)l智能提取值/誤差Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW數(shù)據(jù)源分析數(shù)據(jù)源分析1CA

7、D導(dǎo)入導(dǎo)入2BOM分析處理分析處理3版本比較版本比較Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWn 支持支持20種種CAD Cadence, Zuken, Altium/Protel, Mentor, PowerPCB, Viscadif, Orcad, P-cad, IPC-D-356, FATF, GenCam, ODB+, Gencad.n 智能識(shí)別智能識(shí)別CAD文件類型文件類型數(shù)據(jù)源分析：數(shù)據(jù)源分析：PCB CAD導(dǎo)入導(dǎo)入Software for Electronics Manufacturing D

8、FM SMT TEST Document VIEWn 支持多種支持多種BOM格式格式 Excel, textn BOM/CAD融合校對(duì)融合校對(duì) 元器件數(shù)量不匹配 重復(fù)的料號(hào) 在BOM但不在CAD元器件 n 智能提取值智能提取值/誤差等數(shù)據(jù)誤差等數(shù)據(jù)n 減少人工錄入時(shí)間及錯(cuò)誤減少人工錄入時(shí)間及錯(cuò)誤Excel格式BOM數(shù)據(jù)源解析規(guī)則解析報(bào)告數(shù)據(jù)源分析：數(shù)據(jù)源分析：BOM分析處理分析處理Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWn 比較CAD版本差異 元器件差異報(bào)告 網(wǎng)絡(luò)差異報(bào)告 測(cè)試點(diǎn)差異報(bào)告n 驗(yàn)證ECN/E

9、COn 最大化共用測(cè)試夾具數(shù)據(jù)源分析：版本比較數(shù)據(jù)源分析：版本比較Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW數(shù)據(jù)源分析：軟件界面數(shù)據(jù)源分析：軟件界面n 展現(xiàn)真實(shí)PCBn 流程化操作導(dǎo)引n 易學(xué)易用n 交互化信息顯示n 查詢和定位n 高亮/閃爍Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWDFT/測(cè)試覆蓋率分析測(cè)試覆蓋率分析4測(cè)試選針規(guī)則測(cè)試選針規(guī)則5結(jié)果查詢及分析結(jié)果查詢及分析6強(qiáng)大的報(bào)告強(qiáng)大的報(bào)告Software for

10、Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWn 優(yōu)先級(jí)規(guī)則n 正反面規(guī)則n 測(cè)試點(diǎn)及過孔規(guī)則n 測(cè)試針數(shù)量規(guī)則n 100/75/50 mil測(cè)試針n 強(qiáng)制/條件下針規(guī)則n 安全距離規(guī)則靈活的規(guī)則設(shè)定：靈活的規(guī)則設(shè)定：DFT/測(cè)試覆蓋率分析測(cè)試覆蓋率分析: 測(cè)試選針規(guī)則測(cè)試選針規(guī)則Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWDFT/測(cè)試覆蓋率分析：測(cè)試針準(zhǔn)確性驗(yàn)證測(cè)試覆蓋率分析：測(cè)試針準(zhǔn)確性驗(yàn)證 阻焊層Gerber數(shù)據(jù)融合檢查 Signal Layer

11、Mask LayernailnailnailnailnailnailSignal + MaskNO AccessNew Test Pointn 現(xiàn)狀：PCB裸板制造工藝原因?qū)е虏糠譁y(cè)試位置被阻焊層覆蓋n 測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)檢查：銅箔是否暴露n 自動(dòng)建議新測(cè)試點(diǎn)位置：添加測(cè)試點(diǎn) (支持Agilent ABPT)*.目前業(yè)界僅望友軟件提供此功能。CAD數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)Gerber數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWDFT/測(cè)試覆蓋率分析：測(cè)試覆蓋率分析：網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化 (Net Link)n多個(gè)網(wǎng)絡(luò)融合為一個(gè)網(wǎng)

12、絡(luò)n融合條件：0歐姆電阻、開關(guān)、保險(xiǎn)絲n益處：提升測(cè)試覆蓋率、減少測(cè)試針數(shù)量Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWDFT/測(cè)試覆蓋率分析測(cè)試覆蓋率分析：結(jié)果查詢及分析：結(jié)果查詢及分析n 測(cè)試選針結(jié)果查詢測(cè)試選針結(jié)果查詢n 查詢方式查詢方式按未選針原因按網(wǎng)絡(luò)名/編號(hào)按測(cè)試針號(hào)n 未選針原因分類未選針原因分類銅箔暴露過小靠近元器件靠近板邊靠近定位孔n 與與Layout交互顯示位置交互顯示位置Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Documen

13、t VIEWn 統(tǒng)計(jì)分析報(bào)告統(tǒng)計(jì)分析報(bào)告n 網(wǎng)絡(luò)網(wǎng)絡(luò)/元器件元器件/引腳分析引腳分析報(bào)告報(bào)告DFT/測(cè)試覆蓋率分析測(cè)試覆蓋率分析：豐富的報(bào)告輸出：豐富的報(bào)告輸出Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWn 未測(cè)試網(wǎng)絡(luò)未測(cè)試網(wǎng)絡(luò)/ /元件分析報(bào)告元件分析報(bào)告n 并聯(lián)分析報(bào)告并聯(lián)分析報(bào)告n Excel、html等格式輸出等格式輸出DFT/測(cè)試覆蓋率分析測(cè)試覆蓋率分析：豐富的報(bào)告輸出：豐富的報(bào)告輸出Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Docume

14、nt VIEWn Layout與原理圖互動(dòng)查詢板故障快速診斷及維修板故障快速診斷及維修原理圖交互查詢?cè)韴D交互查詢ISoftware for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW7ICT測(cè)試程序測(cè)試程序8飛針測(cè)試程序飛針測(cè)試程序9AOI/X-Ray檢測(cè)程序檢測(cè)程序測(cè)試程序快速制作測(cè)試程序快速制作Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW測(cè)試程序快速制作：測(cè)試程序快速制作：ICT/MDAICT/MDA Tester: Agilent, Ter

15、adyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, IFR, SRC, n 測(cè)試夾具數(shù)據(jù)分析n 測(cè)試類型定義自動(dòng)分類n 多種測(cè)試選針策略n 智能提取值/誤差等數(shù)據(jù)n 計(jì)算并聯(lián)元器件智能提取值智能提取值/誤差誤差節(jié)省節(jié)省30%50%30%50%在線在線DebugDebug時(shí)間時(shí)間ICT/MDA Tester: Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, IFR, SRC, n 測(cè)試夾具數(shù)據(jù)分析n 測(cè)試類型定義自動(dòng)分類n 多種測(cè)試選針策略n 智能提取值/誤差等數(shù)據(jù)

16、n 計(jì)算并聯(lián)元器件Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW測(cè)試針膠片圖優(yōu)化測(cè)試針膠片圖優(yōu)化 針號(hào)顯示間隔 針號(hào)繞線路徑 區(qū)域分布視圖 夾具數(shù)據(jù)輸出夾具數(shù)據(jù)輸出 Nails數(shù)據(jù) CNC鉆孔數(shù)據(jù) DXF針位圖 Parts數(shù)據(jù) 載板數(shù)據(jù)ICT測(cè)試程序快速制作：夾具數(shù)據(jù)分析測(cè)試程序快速制作：夾具數(shù)據(jù)分析Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWICT快速編程：測(cè)試類型自動(dòng)分類快速編程：測(cè)試類型自動(dòng)分類n 元器件名稱自動(dòng)分類n

17、自動(dòng)匹配測(cè)試模式n 支持用戶自定義設(shè)置n 支持多客戶/多設(shè)備設(shè)置并存n 自動(dòng)防錯(cuò)校驗(yàn)Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW測(cè)試程序快速制作測(cè)試程序快速制作：飛針測(cè)試：飛針測(cè)試飛針設(shè)備：飛針設(shè)備：TAKAYA, SPEA, HIOKI, SEICA, Acculogic, n 支持各種測(cè)試模式n 可配置輸出結(jié)果n Outline/pin/sensor偏移設(shè)置n 計(jì)算并聯(lián)值n 優(yōu)化的測(cè)試程序/結(jié)果節(jié)省80%程序制作時(shí)間Software for Electronics Manufacturing DFM SM

18、T TEST Document VIEW飛針測(cè)試編程：飛針測(cè)試編程：Outline/Pin/Sensor偏移設(shè)置偏移設(shè)置Sensor Position Probe Positionn Outline/Pin/Sensor偏移微調(diào)n 測(cè)試針位置自動(dòng)偏移 n 自動(dòng)產(chǎn)生open-check sensor位置數(shù)據(jù)節(jié)省50%在線Debug時(shí)間Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEW測(cè)試程序快速制作：測(cè)試程序快速制作：AOI/X-rayX-Ray & AOI: Agilent 5DX/SJ50, ViTrox V810 &V510, Omron, VI Technology, Orbotech, Viscom, TRI, Landrex, n 強(qiáng)大的拼板功能n 可與設(shè)備Library集成n 可擴(kuò)展的輸出節(jié)省30%60%程序制作時(shí)間Software for Electronics Manufacturing DFM SMT TEST Document VIEWAOI/X-ray快速編程：拼板快速編程：拼板n 子母拼板n 矩陣拼板n 多角度拼板n 陰陽(yáng)拼板 n 不同產(chǎn)