LED冷熱沖擊試驗(yàn)規(guī)范

1、6倬志隹:子(常州)有限公司 XlX WAI CHI Electronics (CHANGZHOU) Co., Ltd.單 位SQA編 號(hào)第A1版2007-02-10SQA3QC284A1LED冷熱沖擊試驗(yàn)操作規(guī)范初版（A0）2006-06-28頁次1/21.目的:檢測LE毗電特性。2. 范圍：本公司之LE成品試驗(yàn)。3. 定義：無4. 權(quán)責(zé)：4.1試驗(yàn)單位：LED品質(zhì)部、LED工程技術(shù)部。4.2不合格品依照不合格品管制程序辦理。5. 試驗(yàn)步驟：5.1操作步驟：5.1.1 取20粒被測LED格產(chǎn)品，用標(biāo)準(zhǔn)測試機(jī)測試其光電特性，并編好順序相應(yīng)做好測試記錄；5.1.2 將測試后的LE或入冷熱沖擊機(jī)實(shí)

2、驗(yàn)區(qū)中；5.1.3 先確認(rèn)冷熱沖擊機(jī)水壓（2 kg）、水溫（20C）及氣壓（3-4 kg），然后按“ POWER打開冷熱沖擊機(jī)進(jìn)入主畫面，按“目錄”進(jìn)入編輯菜單，打開“開新程式”，輸入程式名稱（LRCJ，后輸入程式H： +85C 5minL:-40 C 5min 50cycle,儲(chǔ)存程式（見圖 5-2-1 至 5-2-5 ）;5.1.4 按“狀態(tài)監(jiān)視”回到主畫面，按“載入”調(diào)取程式（LRCJ,再按“運(yùn)轉(zhuǎn)”程式運(yùn)轉(zhuǎn)（見圖5-2-2 , 5-2-6 ）;5.1.5 在50cycle后取出LED,并放在室溫下 2小時(shí)后，用標(biāo)準(zhǔn)測試機(jī)測試其光電特性，并按相應(yīng)順序做好測 試記錄；5.1.6 比較測試前后

3、記錄： LED品質(zhì)：光電特性變化率是否V35% LED工程技術(shù)：光電特性變化率是否V35% 電壓變化率10% 漏電流Ir是否10 A。5.2參考圖片：amri shucking5-2-15-2-2曲，黑5-2-35-2-4IWIKH5-2-55-2-62SEG3ES001A0SEG4191A0SEG4001A06.相關(guān)文件7.相關(guān)表單7.2信賴性試驗(yàn)報(bào)告7.1 « LEV品分BIN表5.3.1打開冷熱沖擊機(jī)前檢查水壓0.0052.86°C命倬志f!子(常州)有限公日WAI CHI Electronics (CHANGZHOU) Co., Ltd.單 位SQA編 號(hào)第A1版2

4、007-02-10SQA3QC284A1LED冷熱沖擊試驗(yàn)操作規(guī)范初版（A0）2006-06-28頁次2/285-00 : 500R-T.0 ； 00 '00-40.0n ；：-qI00or0=0000100 1-65T.也，100.*七：-55匚:.；.130180 12006 / 07 / 05 09 ： 5B | -50 LRCJ H123431卜89ABcDdGH1kLMN0kQRSTVWXr 1jC|-l倬志雷子(常州)有限公司W(wǎng)AI CHI Electronics (CHANGZHOU) Co., Ltd.三階文件Triplicate Document文件名稱：LED冷熱沖擊試驗(yàn)操作規(guī)范文件編號(hào)：SQA3QC284A1.版本：A1編 制：齊平日期：2007-02-1