GB-T11341989鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)方法和探傷結(jié)果分級(jí)

1、鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)方法和探傷結(jié)果分級(jí)11345-89Method for manual ultrasonic testing and classificationof testing results for ferritic steel wdlds1 主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢驗(yàn)焊縫及熱影響區(qū)缺陷 ,確定缺陷位置、尺寸和缺陷評(píng)定的 一般方法及探傷結(jié)果的分級(jí)方法 .本標(biāo)準(zhǔn)適用于母材厚度不小于 8mm 的鐵素體類鋼全焊透熔化焊對(duì)接焊縫脈 沖反射法手工超聲波檢驗(yàn) .本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼及奧氏體不銹鋼焊縫 ;外徑小于 159mm 的鋼管對(duì)接焊 縫;內(nèi)徑小于等于 200mm 的管座角焊縫及外徑

2、小于 250mm 和內(nèi)外徑之比小于 80%的縱向焊縫 .2 引用標(biāo)準(zhǔn)ZB Y 344超聲探傷用探頭型號(hào)命名方法ZB Y 231超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法ZB Y 232超聲探傷用 1 號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件ZB J 04 001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法3 術(shù)語(yǔ)3.1 簡(jiǎn)化水平距離 l從探頭前沿到缺陷在探傷面上測(cè)量的水平距離 .3.2缺陷指示xxA I焊縫超聲檢驗(yàn)中 ,按規(guī)定的測(cè)量方法以探頭移動(dòng)距離測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度 .3.3 探頭接觸面寬度 W環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)為探頭寬度 ,縱縫檢驗(yàn)為探頭長(zhǎng)度 ,見(jiàn)圖1.3.4 縱向缺陷 大致上平行于焊縫走向的缺陷 .3.5 橫向缺陷 大致上垂直于焊縫走向

3、的缺陷 .3.6幾何臨界角/筒形工件檢驗(yàn) ,折射聲束軸線與內(nèi)壁相切時(shí)的折射角 .3.7 平行掃查在斜角探傷中 ,將探頭置于焊縫及熱影響區(qū)表面 ,使聲束指向焊縫方向 ,并沿焊 縫方向移動(dòng)的掃查方法 .3.8 斜平行掃查在斜角探傷中 ,使探頭與焊縫中心線成一角度 ,平等于焊縫方向移動(dòng)的掃查方 法.3.9 探傷截面串列掃查探傷時(shí) ,作為探傷對(duì)象的截 ,一般以焊縫坡口面為探傷截面 ,見(jiàn)圖2.3.10 串列基準(zhǔn)線串列掃查時(shí) ,作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動(dòng)基準(zhǔn)的線 .一般設(shè)在離探傷截面 距離為0.5跨距的位置 ,見(jiàn)圖2.3.11 參考線探傷截面的位置焊后已被蓋住 ,所以施焊前應(yīng)予先在探傷面上 ,離焊縫坡口

4、一 定距離畫(huà)出一標(biāo)記線 ,該線即為參考線 ,將作為確定串列基準(zhǔn)線的依據(jù) ,見(jiàn)圖3.3.12xx 方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭 ,使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離平行于焊縫移 動(dòng)的掃查方法 ,見(jiàn)圖4.3.13 縱方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離,垂直于焊縫移動(dòng)的掃查方法 ,見(jiàn)圖4.4 檢驗(yàn)人員4.1 從事焊縫探傷的檢驗(yàn)人員必須掌握超聲波探傷的基礎(chǔ)技術(shù),具有足夠的焊縫超聲波探傷經(jīng)驗(yàn) ,并掌握一定的材料、焊接基礎(chǔ)知識(shí) .4.2 焊縫超聲檢驗(yàn)人員應(yīng)按有關(guān)規(guī)程或技術(shù)條件的規(guī)定經(jīng)嚴(yán)格的培訓(xùn)和考核 , 并持有相考核組織頒發(fā)的等級(jí)資格證書(shū),從事相對(duì)應(yīng)考核項(xiàng)目的檢驗(yàn)工作 .注

5、:一般焊接檢驗(yàn)專業(yè)考核項(xiàng)目分為板對(duì)接焊縫;管件對(duì)接焊縫 ;管座角焊縫 ;節(jié)點(diǎn)焊縫等四種 .4.3 超聲檢驗(yàn)人員的視力應(yīng)每年檢查一次 ,校正視力不得低于1.0.5xx、探頭及系統(tǒng)性能5.1xx使用A型顯示脈沖反射式探傷儀，其工作頻率范圍至少為1-5MHZ,探傷儀應(yīng) 配備衰減器或增益控制器，其精度為任意相鄰12dB誤差在士 1dB 步進(jìn)級(jí)每檔不 大于2dB,總調(diào)節(jié)量應(yīng)大于60dB水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于 5%.5.2探頭5.2.1探頭應(yīng)按ZB Y344標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定作出標(biāo)志.5.2.2晶片的有效面積不應(yīng)超過(guò) 500mm2,且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于25mm.5.2. 3聲束軸線水平偏離角應(yīng)不

6、大于 2°.5.2.4探頭主聲束垂直方向的偏離 ,不應(yīng)有明顯的雙峰 ,其測(cè)試方法見(jiàn) ZB Y231.5.2.5斜探頭的公稱折射角B為45° 60° 70°或K值為1.0、1.5、2.0、2.5，折射角的實(shí)測(cè)值與公稱值的偏差應(yīng)不大于2 °（K值偏差不應(yīng)超過(guò)士0.1）,前沿距離的偏差應(yīng)不大于1mm.如受工件幾何形狀或探傷面曲率等限制 也可選用其他小角度的探頭 .5.2.6當(dāng)證明確能提高探測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性 ,或能夠較好地解決一般檢 驗(yàn)時(shí)的困難而又確保結(jié)果的正確 ,推薦采用聚焦等特種探頭 .5.3系統(tǒng)性能5.3.1靈敏度余量系統(tǒng)有效靈敏度必須大于

7、評(píng)定靈敏度10dB以上.5.3.2 遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力a. 直探頭> 30dB;b. 斜探頭 :Z> 6dB.5.4xx、探頭及系統(tǒng)性能和周期檢查5.4.1探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能 ,除靈敏度余量外 ,均應(yīng)按 ZB J04 001的規(guī)定方 法進(jìn)行測(cè)試 .5.4.2探傷儀的水平線性和垂直線性 ,在設(shè)備首次使用及每隔 3個(gè)月應(yīng)檢查一 次.5.4.3斜探頭及系統(tǒng)性能 ,在表 1規(guī)定的時(shí)間內(nèi)必須檢查一次 .6 試塊6.1標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸見(jiàn)附錄 A試塊制造的技術(shù)要求應(yīng)符合ZB Y 232勺 規(guī)定,該試塊主要用于測(cè)定探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能.6.2 對(duì)比試塊的形狀和尺寸見(jiàn)附錄B.6.2.1 對(duì)比試塊采

8、用與被檢驗(yàn)材料相同或聲學(xué)性能相近的鋼材制成.試塊的探測(cè)面及側(cè)面 ,在以2.5MHz 以上頻率及高靈敏條件下進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí) ,不得出現(xiàn)大于距探測(cè)面 20mm 處的2mm平底孔反射回來(lái)的回波幅度的缺陷回波.6.2.2試塊上的標(biāo)準(zhǔn)孔 ,根據(jù)探傷需要 ,可以采取其他形式布置或添加標(biāo)準(zhǔn)孔 , 但應(yīng)注意不應(yīng)與試塊端角和相鄰標(biāo)準(zhǔn)孔的反射發(fā)生混淆 .623檢驗(yàn)曲面工件時(shí)，如探傷面曲率半徑R小于等于時(shí)，應(yīng)采用與探傷面曲 率相同的對(duì)比試塊 .反射體的布置可參照對(duì)比試塊確定 ,試塊寬度應(yīng)滿足式(1):b> 2 入 S/De(1)式中 b試塊寬度 ,mm;4波長(zhǎng),mm;S-聲程 ,m;De-聲源有效直徑 ,mm6.

9、3 現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn) ,為校驗(yàn)靈敏度和時(shí)基線 ,可以采用其他型式的等效試塊 .7 檢驗(yàn) 等級(jí)7.1 檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí)根據(jù)質(zhì)量要求檢驗(yàn)等級(jí)分為A、B、C三級(jí)，檢驗(yàn)的完善程度A級(jí)最低,B級(jí)一般,C級(jí)最高，檢驗(yàn)工作的難度 系數(shù)按A、B、C順序逐級(jí)增高應(yīng)按照工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法、使用條件及 承受載荷的不同 ,合理的選用檢驗(yàn)級(jí)別 .檢驗(yàn)等級(jí)應(yīng)接產(chǎn)品技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選 擇或經(jīng)合同雙方協(xié)商選定 .注:A級(jí)難度系數(shù)為1;B級(jí)為5-6;C級(jí)為10-12.本標(biāo)準(zhǔn)給出了三個(gè)檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)條件 ,為避免焊件的幾何形狀限制相應(yīng)等 級(jí)檢驗(yàn)的有效性 ,設(shè)計(jì)、工藝人員應(yīng)考慮超聲檢驗(yàn)可行性的基礎(chǔ)上進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 和工藝安排 .7.

10、2 檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)范圍7.2.1A 級(jí)檢驗(yàn)采用一種角度的探頭在焊縫的單面單側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn),只對(duì)允許掃查到的焊縫截面進(jìn)行探測(cè) .一般不要求作橫向缺陷的檢驗(yàn) .母材厚度大于 50Mm 時(shí),不得采用 A 級(jí)檢驗(yàn) .7.2.2B 級(jí)檢驗(yàn)原則上采用一種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn),對(duì)整個(gè)焊縫截面進(jìn)行探測(cè) .母材厚度大于 100mm 時(shí),采用雙面雙側(cè)檢驗(yàn) .受幾何條件的限 制,可在焊縫的雙面半日側(cè)采用兩種角度探頭進(jìn)行探傷.條件允許時(shí)應(yīng)作橫向缺陷的檢驗(yàn) .7.2.3C 級(jí)檢驗(yàn)至少要采用兩種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn).同時(shí)要作兩個(gè)掃查方向和兩種探頭角度的橫向缺陷檢驗(yàn).母材厚度大于 100mm 時(shí),采用雙

11、面?zhèn)葯z驗(yàn) .其他附加要求是 :a. 對(duì)接焊縫余高要磨平，以便探頭在焊縫上作平行掃查；b. 焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材部分要用直探頭作檢查；c. 焊縫母材厚度大于等于100mm,窄間隙焊縫母材厚度大于等于 40mm時(shí)，一 般要增加串列式掃查 ,掃查方法見(jiàn)附錄C.8 檢驗(yàn)準(zhǔn)備8.1 探傷面8.1.1 按不同檢驗(yàn)等級(jí)要求選擇探傷面 .推薦的探傷面如圖 5和表 2所示.8.1.2檢驗(yàn)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度 30% 的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小10mm,最大20mm,見(jiàn)圖6.8.1.3探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他外部雜技.探傷表面應(yīng)平整光滑 ,便于探頭的自由掃查

12、 ,其表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)6.3卩m必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行打磨：a. 采用一次反射法或串列式掃查探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于1.25P：P=2 S tg B(2)或 P=2SK(3)式中P-跨距,mm;S-母材厚度 ,mmb. 采用直射法探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于0.75P.8.1.4去除余高的焊縫 ,應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊 .保留余高的焊縫 ,如 焊縫表面有咬邊 ,較大的隆起凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?,并作圓滑過(guò)渡以影響檢 驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定 .8.1.5焊縫檢驗(yàn)前,應(yīng)劃好檢驗(yàn)區(qū)段 ,標(biāo)記出檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào) .8.2 檢驗(yàn)頻率檢驗(yàn)頻率f 一般在2-5MHZ范圍內(nèi)選擇，推薦選用2-2.5MHz公稱頻率檢驗(yàn).特殊情況

13、下，可選用低于2MHz或高于2.5MHz的檢驗(yàn)頻率，但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求.8.3探頭角度8.3.1斜探頭的折射角B或K值應(yīng)依據(jù)材料厚度，焊縫坡口型式及預(yù)期探測(cè)的 主要缺陷來(lái)選擇 .對(duì)不同板厚推薦的探頭角度和探頭數(shù)量見(jiàn)表2.8.3.2串列式掃查 ,推薦選用公稱折射角為 45°的兩個(gè)探頭,兩個(gè)探頭實(shí)際折射 角相差不應(yīng)超過(guò) 2°,探頭前洞長(zhǎng)度相差應(yīng)小于 2mm. 為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣 未熔合缺陷 ,亦可選用兩個(gè)不同角度的探頭 ,但兩個(gè)探頭角度均應(yīng)在 35°-55 °范圍 內(nèi).8.4 耦合劑8.4.1 應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或糊狀物作為耦合劑 ,耦合劑應(yīng)具有

14、良好透聲性和適 宜流動(dòng)性 ,不應(yīng)對(duì)材料和人體有作用 ,同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理 .8.4.2 典型的耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊 ,耦合劑中可加入適量的 "潤(rùn)濕 劑 "或活性劑以便改善耦合性能 .8.4.3 在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn)應(yīng)采用相同的耦合劑 .8.5 母材的檢查采用C級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭作檢查，以便探 測(cè)是否有有探傷結(jié)果解釋的分層性或其他缺陷存在 .該項(xiàng)檢查僅作記錄 ,不屬于對(duì) 母材的驗(yàn)收檢驗(yàn) .母材檢查的規(guī)程要點(diǎn)如下 :a方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2-5MHZ的直探頭，晶片直徑10-25mm;b.靈敏度:將無(wú)缺陷處二次底波調(diào)節(jié)為熒

15、光屏滿幅的 100%;c. 記錄:凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿幅 20%的部位,應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記 ,并予以 記錄 .9 儀器調(diào)整和校驗(yàn)9.1 時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié)熒光屏?xí)r基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離1（簡(jiǎn)化水平距離I，）；深度h;或聲程S見(jiàn)圖7.9.1.1 探傷面為平面時(shí) ,可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié) ,掃描比例依據(jù)工件工和選用的探頭角度來(lái)確定 ,最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)至熒光屏?xí)r基線滿刻度的以上.9.1.2探傷面曲率半徑R大于時(shí)，可在平面對(duì)比試塊上或與探傷面曲率相近的 曲面對(duì)比試塊上 ,進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié) .9.1.3探傷面曲率半徑R小于等于時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合，在6.

16、2.3條規(guī)定的對(duì)比試塊上作時(shí)基線掃描調(diào)節(jié) .9.2距離-波幅（DAC曲線的繪制9.2.1 距離波幅曲線由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對(duì)比試塊上的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制見(jiàn)圖8,其繪制方法見(jiàn)附錄D,曲線由判廢線RL定量線SL和評(píng)定線EL組成，不同 驗(yàn)收級(jí)別的各線靈敏度見(jiàn)表3.表中的DAC是以3mm標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制的距離-波幅曲線-即DAC基準(zhǔn) 線.評(píng)定線以上至定量線以下為1區(qū)（弱信號(hào)評(píng)定區(qū)）；定量線至判廢線以下為II區(qū) （長(zhǎng)度評(píng)定區(qū)）;判廢線及以上區(qū)域?yàn)?皿區(qū)（判廢區(qū)）.9.2.2探測(cè)橫向缺陷時(shí) ,應(yīng)將各線靈敏度均提高 6dB.9.2.3探傷面曲率半徑R小于等于時(shí)，距離-波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試 塊上進(jìn)行 .9

17、.2.4 受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同,否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整見(jiàn)附錄E在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差在2dB以內(nèi)可不進(jìn)行修整.9.2.5距離-波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上也可直接繪制在熒光屏刻度板上,但在整個(gè)檢驗(yàn)范圍內(nèi) ,曲線應(yīng)處于熒光屏滿幅度的 20%以上,見(jiàn)圖 9,如果作不到 ,可采 用分段繪制的方法見(jiàn)圖10.9.3 儀器調(diào)整的校驗(yàn)9.3.1 每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上 ,對(duì)時(shí)基線掃描比例和距離 -波幅曲線 （靈敏 度 ）進(jìn)行調(diào)節(jié)或校驗(yàn) .校驗(yàn)點(diǎn)沙于兩點(diǎn) .9.3.2 檢驗(yàn)過(guò)程中每 4h 之內(nèi)或檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線掃描和靈敏度進(jìn) 行校驗(yàn) ,校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他兒試塊上進(jìn)行 .

18、9.3.3 掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí) ,如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線上偏移超過(guò)原校驗(yàn)點(diǎn)刻 度讀數(shù)的 10%或滿刻度的 5%（兩者取較小值 ）,則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整 ,前次校驗(yàn)后 已經(jīng)記錄的缺陷 ,位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定 ,并予以更正 .9.3.4靈敏度校驗(yàn)時(shí) ,如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離 -波幅曲線降低 20%或 2dB 以上 ,則儀靈敏度應(yīng)重新調(diào)整 ,并對(duì)前次校驗(yàn)后檢查的全部焊縫應(yīng)重新檢驗(yàn) .如校驗(yàn) 點(diǎn)的反射波幅比距離 -波幅曲線增加 20%或 2dB 以上,儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整 ,而 前次校驗(yàn)后 ,已經(jīng)記錄的缺陷 ,應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重新測(cè)定并予以評(píng)定 .10 初始檢 驗(yàn)10.1 一般要求10.1.1 超聲檢

19、驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格并滿足8.1.3 條的要求后進(jìn)行 .10.1.2 檢驗(yàn)前,探傷人員應(yīng)了解受驗(yàn)工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲率、厚度、焊接 方法、焊縫種類、坡口形式、焊縫余高及背面襯墊、溝槽等情況 .10.1.3 探傷靈敏度應(yīng)不低于評(píng)定線靈敏度 .10.1.4 掃查速度不應(yīng)大于 150mm/s, 相鄰兩次探頭移動(dòng)間隔保證至少有探頭 寬度 10%的重疊 .10.1.5 對(duì)波幅超過(guò)評(píng)定線的反射波 ,應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置 及10.1.2 條了解的焊縫情況 ,判斷其是否為缺陷 .判斷為缺陷的部位應(yīng)在焊縫表 面作出標(biāo)記 .10.2 平板對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)10.2.1 為探測(cè)縱向缺陷 ,斜

20、探頭垂直于焊縫中心線在探傷面上 ,作鋸齒型掃查 見(jiàn)圖11.探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū).在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí) ,還應(yīng)作 10°-15 °的左右轉(zhuǎn)動(dòng) .10.2.2 為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查.a. B 級(jí)檢驗(yàn)時(shí),可寅邊緣使探頭與焊縫中心線成10°-20°作斜平行的掃查 （圖 12）;b. C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查（圖13）,焊縫母材厚度超過(guò) 100mm 時(shí),應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種角度 探頭（45°和 60°或45°

21、;和70°并用）作單面兩個(gè)方向的平行掃查 ;亦可用兩個(gè) 45°探頭 作串列式平行掃查 ;c. 對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成45 °勺斜向掃查.10.2.3 為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào) ,可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式（圖 14）.10.3 曲面工件對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)10.3.1 探傷面為曲面時(shí) ,應(yīng)按6.2.3 和9.1.3 條的規(guī)定選用對(duì)比試塊 ,并采用10.2條的方法進(jìn)行檢驗(yàn),C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法 實(shí)施時(shí) ,應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明 .10.3.2環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí) ,對(duì)比試塊的曲

22、率半徑為探傷面曲率半徑0.9-1.5 倍的對(duì)比試塊均可采用 .探測(cè)橫向缺陷時(shí)按10.3.3 條的方法進(jìn)行 .10.3.3縱縫檢驗(yàn)時(shí) ,對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差應(yīng)小于10%.10.3.3.1 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度,并考慮幾何臨界角的限制 ,確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫厚度 .條件允許時(shí) ,聲束在曲底面的入射角度不應(yīng)超過(guò) 70°.10.3.3.2探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射角或 K值的變化，并用曲面 試塊作實(shí)際測(cè)定 .10.3.3.3當(dāng)R大于采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，檢驗(yàn)中應(yīng)注意到熒光屏指示的 缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離孤

23、長(zhǎng)的差異,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正 .10.4 其他結(jié)構(gòu)焊縫的檢驗(yàn)10.4.1 一般原則a. 盡可能采用平板焊縫檢驗(yàn)中已經(jīng)行之有效的各種方法；b. 在選擇探傷面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該結(jié)構(gòu)焊縫中的主要缺陷 .1042 T型接頭10.4.2.1 腹板厚度不同時(shí) ,選用的折射角見(jiàn)表 4,斜探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次 反射法探傷見(jiàn)圖 15位置2.10.4.2.2采用折射角45°（K1探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探測(cè)焊縫及腹 板側(cè)熱影響區(qū)的裂紋 （圖 16）.10.4.2.3 為探側(cè)腹板和翼板間未焊透或翼板側(cè)焊縫下層狀撕裂等缺陷,可采用直探頭（圖15位

24、置1）或斜探頭（圖16位置3）在翼板外側(cè)探傷或采用折射角 45°（K1）探 頭在翼板內(nèi)側(cè)作一次反射法探傷 （圖 15位置 3）.10.4.3角接接頭角接接頭探傷面及折射角一般按圖 17和表 4選擇.10.4.4管座角焊縫10.4.4.1 根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式 ,管座角焊縫的檢驗(yàn)有如下五種探側(cè)方法 ,可選擇其中 一種或幾種方式組合實(shí)施檢驗(yàn) .探測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定 ,并重點(diǎn)考慮主 要探測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制 （圖18、 19）.a. 在接管內(nèi)壁表面采用直探頭探傷（圖18位置1）;b. 在容器內(nèi)表面用直探頭探傷（圖19位置1）;c. 在接管外表面采用斜探頭探傷（圖19位置2）;d.

25、在接管內(nèi)表面采用斜探頭探傷（圖18位置3,圖19位置3）;e. 在容器外表面采用斜探頭探傷（圖18位置2）.10.4.4.2 管座角焊縫以直探頭檢驗(yàn)為主 ,對(duì)直探頭掃查不到的區(qū)域或結(jié)構(gòu) ,缺陷向 性不適于采用直探頭檢驗(yàn)時(shí) ,可采用斜探頭檢驗(yàn) ,斜探頭檢驗(yàn)應(yīng)符合10.4.1條的規(guī)定 .10.4.5 直探頭檢驗(yàn)的規(guī)程a. 推薦采用頻率2.5Mhz直探頭或雙晶直探頭，探頭與工件接觸面的尺寸 W應(yīng)小于2VR;b. 靈敏度可在與工件同曲率的試塊上調(diào)節(jié)，也可采用計(jì)算法或DGS曲線法，以 工件底面回波調(diào)節(jié) .其檢驗(yàn)等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表5.11 規(guī)定檢驗(yàn)11.1 一般要求11.1.1 規(guī)定檢驗(yàn)只對(duì)初始檢驗(yàn)中被標(biāo)記的部

26、位進(jìn)行檢驗(yàn) .11.1.2探傷靈敏度應(yīng)調(diào)節(jié)到評(píng)定靈敏度 .11.1.3 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線的缺陷 ,均應(yīng)確定其位置 ,最大反射波幅所 在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度 .11.2 最大反射波幅的測(cè)定11.2.1 對(duì)判定為缺陷的部位 ,采取10.2.3 條的探頭掃查方式、增加探傷面、改變探頭折射角度進(jìn)行探測(cè) ,測(cè)出 最大反射波幅并與距離 -波幅曲線作比較 ,確定波幅所在區(qū)域 .波幅測(cè)定的允許誤 差為2DB.11.3 位置參數(shù)的測(cè)定11.3.1 缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來(lái)表示 ,根據(jù)相應(yīng)的探頭位置 和反射波在熒光屏上的位置來(lái)確定如下全部或部分參數(shù) .a. 縱坐標(biāo)L代表缺陷沿焊縫方向的位置以檢驗(yàn)

27、區(qū)段編號(hào)為標(biāo)記基準(zhǔn)點(diǎn)（即原 點(diǎn)）建立坐標(biāo)坐標(biāo)正方向距離L表示缺陷到原點(diǎn)之間的距離見(jiàn)圖 20;b.深度坐標(biāo)h 代表缺陷位置到探傷面的垂直距離（mm）以缺陷最大反射波位置的深度值表示；c. 橫坐標(biāo)q代表缺陷位置離開(kāi)焊縫中心線的垂直距離，可由缺陷最大反射波 位置的水平距離或簡(jiǎn)化水平距離求得 .11.3.2缺陷的深度和水平距離 （或簡(jiǎn)化水平距離 ）兩數(shù)值中的一個(gè)可由缺陷最 大反射波在熒光屏上的位置直接讀出,另一數(shù)值可采用計(jì)算法、曲線法、作圖法或缺陷定位尺求出 .11.4 尺寸參數(shù)的測(cè)定應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量值或測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度 1.11.4.1缺陷當(dāng)量用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢

28、驗(yàn)，可采用公式 計(jì)算,DGS曲線,試塊對(duì)比或當(dāng)量計(jì)算尺確定缺陷當(dāng)量尺寸.11.4.2缺陷指示長(zhǎng)度 1的測(cè)定推薦采用如下二種方法.a.當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用降低6dB相對(duì)靈敏度法測(cè)長(zhǎng)見(jiàn)圖21;b.在 測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中 ,如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化 ,有多個(gè)高點(diǎn) ,則以缺陷兩端反射 波極大值之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度確定為缺陷指示長(zhǎng)度 ,即端點(diǎn)峰值法見(jiàn)圖22.12缺陷評(píng)定12.1 超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征 ,如有懷疑 時(shí)采取改變探頭角度 ,增加探傷面、觀察動(dòng)態(tài)波型、結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定 ,如 對(duì)波型不能準(zhǔn)確判斷時(shí) ,應(yīng)輔以其他檢驗(yàn)作綜合判定 .12.2最大反射波幅位于

29、II區(qū)的缺陷，其指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)按5mm計(jì).12.3相鄰兩缺陷各向間距小于8mm時(shí),兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺陷 的指示長(zhǎng)度 .1 3檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)分類13.1最大反射波幅位于H區(qū)的缺陷，根據(jù)缺陷指示長(zhǎng)度按表6的規(guī)定予以評(píng) 級(jí).13.2最大反射波幅不超過(guò)評(píng)定線的缺陷，均應(yīng)為I級(jí).13.3最大反射波幅超過(guò)評(píng)定線的缺陷 ,檢驗(yàn)者判定為裂紋等危害性缺陷時(shí) ,無(wú) 論其波幅和尺寸如何，均評(píng)定為W級(jí).13.4反射波幅位于I區(qū)的非裂紋性缺陷，均評(píng)為I級(jí).13.5反射波幅位于皿區(qū)的缺陷，無(wú)論其指示長(zhǎng)度如何，均評(píng)定為W級(jí).13.6不合格的缺陷 ,應(yīng)予返修,返修區(qū)域修后 ,返修部位及補(bǔ)焊受影響的區(qū)域 ,

30、應(yīng)按原探傷條件進(jìn)行復(fù)驗(yàn) ,復(fù)探部位的缺陷亦應(yīng)按 12章評(píng)定.1 4記錄與報(bào)告14.1 檢驗(yàn)記錄主要內(nèi)容 :工件名稱、編號(hào)、焊縫編號(hào)、坡口形式、焊縫種類、母材材質(zhì)、規(guī)格、表 面情況、探傷方法、檢驗(yàn)規(guī)程、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、所使用的儀器、探頭、耦合劑、試 塊、掃描比例、探傷靈敏度 .所發(fā)現(xiàn)的超標(biāo)缺陷及評(píng)定記錄 ,檢驗(yàn)人員及檢驗(yàn)日期 等.反射波幅位于H區(qū)，其指示長(zhǎng)度小于表6的缺陷也應(yīng)予記錄.14.2 檢驗(yàn)報(bào)告主要內(nèi)容 :工件名稱、合同號(hào)、編號(hào)、探傷方法、探傷部位示意圖、檢驗(yàn)范圍、探傷 比例收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗(yàn)人員及審核人員簽字等 .14.3 檢驗(yàn)記錄和報(bào)告應(yīng)至少保存 7 年.14.4 檢

31、驗(yàn)記錄和報(bào)告的推薦格式見(jiàn)附錄F.附錄 A標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸 （補(bǔ)充件） 注:尺寸公差±0.1;各邊垂直度不大于A1,下部見(jiàn)表0.05;C面尺寸基準(zhǔn)面，上部各折射角刻度尺寸值見(jiàn)表 A2.附錄 B 對(duì)比試塊的形狀和尺寸（補(bǔ)充件）B1對(duì)比試塊的形狀和尺寸見(jiàn)表B1.注:尺寸公差士0.1mm;各邊垂直度不大于0.1; 表面粗糙度不大于6.3卩m;準(zhǔn)孔與加工面的平行度不大于0.05.附錄 C串列掃查探傷方法（補(bǔ)充件）C1探傷設(shè)備C1.1 超聲波探傷儀的工作方式必須具備一發(fā)一收工作狀態(tài) .C 1 .2為保證一發(fā)一收探頭相對(duì)于串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離移動(dòng),應(yīng)配備適宜的探頭夾具 ,并適用于橫方型及縱

32、方型兩種掃查方式 .C1.3 推薦采用 ,頻率 2-2.5Mhz,公稱折射角45探頭，兩探頭入射點(diǎn)間最短間距應(yīng)小于 20mm.C2儀器調(diào)整C2.1 時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié)采用單探頭按標(biāo)準(zhǔn)正文9.1 的方法調(diào)節(jié) ,最大探測(cè)范圍應(yīng)大于 1 跨距聲程.C2.2靈敏度調(diào)整在工件無(wú)缺陷部位 ,將發(fā)、收兩探頭對(duì)向放置 ,間距為 1 跨距,找到底面最大反 射波見(jiàn)圖C1及式C1調(diào)節(jié)增益使反射波幅為熒光屏滿幅高度的 40%并以此為基 準(zhǔn)波高 .靈敏度分別提高 8dB、14dB和20dB代表判廢靈敏度、定量靈敏度和評(píng)定靈敏度.C3 檢驗(yàn)程序C3.1 檢驗(yàn)準(zhǔn)備a. 探傷面對(duì)接焊縫的單面雙側(cè)；b. 串列基準(zhǔn)線如發(fā)、收兩探頭

33、實(shí)測(cè)折射角的平均值為B或K值平均為K在離參考線 （參考線至探傷截面的距離 L-0.5P）的位置標(biāo)記串列基準(zhǔn)線，見(jiàn)圖C2及式C2.0.5P二 S tgl)或 0.5P二 S K (C2)C3.2初始探傷C3.2.1探傷靈敏度不低于評(píng)定靈敏度.C3.2 .2掃查方式采用橫方形或縱方形串列掃查 ,掃查范圍以串列基準(zhǔn)線為中 心盡可能掃查到整個(gè)探傷截面 ,每個(gè)探傷截面應(yīng)掃查一遍 .C3.2.3標(biāo)記超過(guò)評(píng)定線的反射波，被判定為缺陷時(shí)，應(yīng)在焊縫的相應(yīng)位置作出 標(biāo)記.C3.3規(guī)定探傷C3.3.1對(duì)象只對(duì)初始檢驗(yàn)標(biāo)記部位進(jìn)行探傷.C3.3.2探傷靈敏度為評(píng)定靈敏度.C3.3.3缺陷位置不同深度的缺陷，其反射波均

34、出現(xiàn)在相當(dāng)于半跨距聲程位置 見(jiàn)圖C3缺陷的水平距離和xx分別為：(C3)(C4)C3.3.4缺陷以射波幅在最大反射波探頭位置，以40%線為基準(zhǔn)波咼測(cè)出缺陷 反射波的dB數(shù)作為缺陷的相對(duì)波幅，記為SL士-dB.C3.3.5缺陷指示xx的測(cè)定采用以評(píng)定靈敏度為測(cè)長(zhǎng)靈敏度的絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度.即進(jìn)行左右掃查 (橫方形串列掃查 ),以波幅超過(guò)評(píng)定線的探頭移動(dòng)范圍作為缺陷指示長(zhǎng) 度.C4缺陷評(píng)定所有反射波幅度超過(guò)評(píng)定線的缺陷均應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)正文第 12 章的規(guī)定予以評(píng)定 , 并按第 13 章的規(guī)定對(duì)探傷結(jié)果作等級(jí)分類 .附錄 D距離-波幅（DAC曲線的制作（補(bǔ)充件）D1 試件D1.1采用標(biāo)準(zhǔn)附錄B對(duì)

35、比試塊或其他等效形式試塊繪制 DAC曲線.D1.2 R小于等于時(shí)，應(yīng)采用探傷面曲率與工件探傷面曲率相同或相近的對(duì)比 試塊.D2繪制步驟DAC曲線可繪制在坐標(biāo)紙上（稱DAC曲線），亦可直接繪制在熒光屏前透明的 刻度板上（稱 DAC曲線板）.D2.1 DAC曲線的繪制步驟如下：a. 將測(cè)試范圍調(diào)整到探傷使用的最大探測(cè)范圍，并按深度、水平或聲程法調(diào) 整時(shí)基線掃描比例 ;b. 根據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊，選取試塊上民探傷深度相同或 接近的橫孔為第一基準(zhǔn)孔 ,將探頭置于試塊探傷面聲束指向該孔 ,調(diào)節(jié)探頭位置找 到橫孔的最高反射波 ;c. 調(diào)節(jié)"增益"或"衰減器&q

36、uot;使該反射幅為熒光屏上某一高度（例如滿幅的40%） 該波高即為"基準(zhǔn)波高"，此時(shí),探傷系統(tǒng)的有效靈敏度應(yīng)比評(píng)定靈敏度高 10dB;d.調(diào) 節(jié)衰減器 ,依次探測(cè)其他橫孔 ,并找到最大反射波高 ,分別記錄各反射波的相對(duì)波幅 值 （d ;e. 以波幅（d為縱坐標(biāo)，以探沿距離（聲程、深度或水平距離）為橫坐標(biāo)，將c、d 記錄數(shù)值描繪在坐標(biāo)紙上 ;f. 將標(biāo)記各點(diǎn)連成圓滑曲線，并延長(zhǎng)到整個(gè)探測(cè)范圍，最近探測(cè)點(diǎn)到探距離0 點(diǎn)間畫(huà)水平線，該曲線即為3mm橫孔DAC曲線的基準(zhǔn)線；g. 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)正文表3規(guī)定的各線靈敏度，在基準(zhǔn)線下分別繪出判廢線、定量 線、評(píng)定線 ,并標(biāo)記波幅的分區(qū) ；h

37、. 為便于現(xiàn)場(chǎng)探傷校驗(yàn)靈敏度，在測(cè)試上述數(shù)據(jù)的同時(shí)，可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜 試塊上的某一參考反射體進(jìn)行同樣測(cè)量，記錄其反射波位置和反射波幅（d并標(biāo)記 在DAC曲線圖上.D2.2 DAC曲線的繪制步驟如下：a. 同D2.1a；b. 依據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊，在試塊上所有孔深小于等于探測(cè)深度的孔中 ,選取能產(chǎn)生最大反射波幅的橫孔為第一基準(zhǔn)孔；c. 調(diào)節(jié)"增益"使該孔的反射波為熒光屏滿幅高度的 80%將其峰值標(biāo)記在熒光 屏前輔助面板上 .依次探測(cè)其它橫孔 ,并找到最大反射波 ,地峰值點(diǎn)標(biāo)記在輔助面板 上,如果做分段繪制 ,可調(diào)節(jié)衰減器分段繪制曲線 ；d. 將各標(biāo)記點(diǎn)連成圓

38、滑曲線，并延伸到整個(gè)探測(cè)范圍，該曲線即為3mm橫孔 DAC曲線基準(zhǔn)線；定量靈敏度下，如分別將靈敏度提高或降低6dB,該線將分別代表 評(píng)定或判廢線.（A級(jí)檢驗(yàn)DAC基準(zhǔn)線即為判廢線）;e. 將靈敏度提高（8-50mm提高到10dB,50-300mm提高10dB或8d ,該線表示 定量線.在定量靈敏度下，如分別將靈敏度提咼或降低6dB,該線將分別代表評(píng)定或 判廢線.（A級(jí)檢驗(yàn)DAC基準(zhǔn)線即為判廢線）;f. 在作上述測(cè)試的同時(shí)，可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜式試塊上的某一參考反射體作同 樣測(cè),并將其反射波位置和峰值標(biāo)記在曲線板上 ,以便現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行靈敏度校驗(yàn) .附錄 E聲能傳輸損耗差的測(cè)定(補(bǔ)充件) 工件本身反射波幅度有影響的兩個(gè)主要因素是材料的材質(zhì)衰