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1、三極管檢驗(yàn)規(guī)范1/ 8電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)(一)IC類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范(包括BGA)1.目的作為 IQC 人員檢驗(yàn) IC 類(lèi)物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有 IC (包括 BGA 之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì) 劃依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或 LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接

2、受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接 受;b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。檢數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking 錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b.來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c.本體變形,或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受;d.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔,其面積不超2過(guò) 0.5mm,且未露出基質(zhì),可接受;否則不可接受;e. Pin 氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;f.元件腳彎曲,偏位,缺損或少腳,均不可接受;目檢或10 倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí), 必須佩 帶靜電帶。三極管檢驗(yàn)規(guī)范2/ 8備注:凡用于真空

3、完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開(kāi)封裝的,IQC 僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn),并加蓋免檢印章;該 IC 在 SMT 上拉前 IQC 須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH 寸應(yīng)的位置有沒(méi)有變成粉紅色,若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。(二) 貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感)1.目的便于 IQC 人員檢驗(yàn)貼片元件類(lèi)物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件(電容 ,電阻,電感)之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì) 劃依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺

4、點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文 件LCR 數(shù)字電橋操作指引數(shù)字萬(wàn)用表操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking 錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b. 來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c. 本體變形,或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受;d.

5、 元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔,其面積不超過(guò)0.5mm,且未露出基質(zhì),可接受;否則不可接受;e. Pin 氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;目檢10 倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí), 必 須佩帶靜電 帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR 測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí), 必 須佩帶靜電 帶。三極管檢驗(yàn)規(guī)范3/ 8二極管類(lèi)型檢測(cè)方法三極管檢驗(yàn)規(guī)范4/ 8LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔,正向測(cè)量,LED 需發(fā)岀與要求相符的顏色的光,而反向測(cè)量不發(fā)光;否則該二極管不合格。注:有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔,正向測(cè)量,讀數(shù)需小于1,而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大;否則該二極管不

6、合格。注:有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注抽樣計(jì)劃說(shuō)明:對(duì)于 CHIP 二極管,執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤(pán)為單位,樣本數(shù)也以盤(pán)為單位;從抽檢的每 盤(pán)中取 35pcs 元件進(jìn)行檢測(cè);AQL 不變。檢驗(yàn)方法見(jiàn)LCR 數(shù)字電橋測(cè)試儀操作 指引和 數(shù)字萬(wàn)用表操作指引。(三)插件用電解電容.1.目的作為 IQC 人員檢驗(yàn)插件用電解電容類(lèi)物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考

7、文件LCR 數(shù)字電橋操作指引、數(shù)字電容表操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目占八外觀檢驗(yàn)MAa.極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清,難以辨認(rèn)不可接受;b.電解電容之熱縮套管破損、脫落,不可接受;c.本體變形,破損等不可接受;d.Pin 生銹氧化,均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin 上錫不良,或完全不上錫不可接受。(將 PIN 沾上現(xiàn)使 用

8、 之合格的松香水,再插入小錫爐5 秒鐘左右后拿起觀看 PIN是否 100%良好上錫;如果不是則拒收)實(shí)際操作每 LOT 取 510PCS在 小錫爐上驗(yàn)證上錫性三極管檢驗(yàn)規(guī)范5/ 8尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受??ǔ呷粲糜谛碌腗odel,需在PCB 上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗(yàn)MAa.電容值超岀規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表 或LCR 數(shù)字電橋 測(cè)試儀量測(cè)(四) 晶體類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為 IQC 人員檢驗(yàn)晶體類(lèi)物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依 MIL-STD-105E, LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4

9、.允收水準(zhǔn)(AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文件數(shù)字頻率計(jì)操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。檢數(shù)目占小外觀檢驗(yàn)MAa.字體模糊不清,難以辨認(rèn)不可接受;b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起,不可接受;c. 元件變形,或受損露出本體等不可接受;d. Pin 生銹氧化、上錫不良,或斷P

10、in,均不可接受。目檢每 LOT 取510PCS 在小錫爐上驗(yàn)證上 錫性電性檢驗(yàn)MAa.晶體不能起振不可接受;b.測(cè)量值超岀晶體的頻率范圍則不可接受。測(cè)試工位和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢測(cè)方法三極管檢驗(yàn)規(guī)范6/ 832.768KHZ16.934MHz25.000MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體,再接通電源開(kāi)機(jī);在正常開(kāi)機(jī)后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體,看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi),若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi),則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU 內(nèi)存條等,再接通電源開(kāi)機(jī),看能否正常開(kāi)機(jī)顯示;在正常開(kāi)機(jī)顯示后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體,看

11、測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi),若不能開(kāi)機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī) 格范圍內(nèi),則該晶體不合格。(五)三極管檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為 IQC 人員檢驗(yàn)三極管類(lèi)物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或 LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不

12、可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目占八外觀檢驗(yàn)MAa.Marking 錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b. 來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c. 本體變形,或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受;d. 元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔,其面積不超過(guò) 0.5mm,且未露出基質(zhì),可接受;否則不可接受;e. Pin 氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。目檢10 倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí),必須佩帶靜電帶。三極管檢驗(yàn)規(guī)范7/ 8電性檢驗(yàn)無(wú)(六)排針&插槽(座)類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為 I

13、QC 人員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類(lèi)物料之依據(jù)。2.適用范 圍適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì) 劃依 MIL-STD-105E, LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文 件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接

14、受。目檢點(diǎn)數(shù)三極管檢驗(yàn)規(guī)范8/ 8外觀檢驗(yàn)MAa. Marking 錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn);b.塑料與針腳不能緊固連接;C.塑料體破損,體臟,變形,明顯色差,劃傷,縮水;d.過(guò)錫爐后塑料體外觀變色,變形,脫皮;e.針腳擰結(jié),彎曲,偏位,缺損,斷針或缺少;f.針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;目?jī)L焊錫性檢驗(yàn)MAa.PIN 上錫不良,或完全不上錫,均不可接受;(將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi),全部浸潤(rùn),再插入小錫爐5 秒鐘左右后拿起觀看 PIN 是否 100%良好上錫;如果不是則拒收)實(shí)際操作每 LOT 取 510PCS在 小 錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa.針腳不能與標(biāo)準(zhǔn) PCB 順利安裝;b.針腳

15、露出機(jī)板長(zhǎng)度小于 0.5mm 或大于 2.0mm;卡尺針腳露岀機(jī)板長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。(七)CABLE類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為 C 人員檢驗(yàn) CABLE 類(lèi)物料之依據(jù)。2.適用范 圍適用于本公司所有CABLE 類(lèi)之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì) 劃依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或 LABEL 上的 P/N 及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不

16、可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.數(shù)量與 Label 上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b.料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。檢數(shù)目占小三極管檢驗(yàn)規(guī)范9/ 8外觀檢驗(yàn)MAa.五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良;b. 塑料體變形、劃傷、毛邊、破(斷)裂、異色等不良;c. 排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受;d. 排線與支架等組裝不牢,易松脫;e. 標(biāo)識(shí) CABLE 接插方向的顏色不能明確分辯;c.排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線表面的絲印錯(cuò).1. 目檢2. 按前后左右上下各輕搖3次排線接頭 處,看有無(wú)松 脫現(xiàn)象參考 MechanicalDrawing ofCable尺寸檢驗(yàn)MAa.長(zhǎng)度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考MechanicalDrawing ofCable電性測(cè)試檢驗(yàn)MAa.排線的接線方式錯(cuò)不可接受;b.排線接觸不良或不能運(yùn)行不可接受;c.IDE 排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取 10pcs 送QA,請(qǐng) QA 的同事幫助測(cè)試?yán)y(cè)試檢驗(yàn)MAa.與公端對(duì)插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.(拉力測(cè)試:用標(biāo)準(zhǔn) Box Header 與排線對(duì)插好,用拉力計(jì)測(cè)出其 CABLE 完全被拉出后

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