儀器分析第三章發(fā)射光譜ppt課件

1、第三章第三章 原子發(fā)射光譜法原子發(fā)射光譜法Atomic Emission Spectrometry，AESn特點：特點：n 優(yōu)點優(yōu)點靈敏度高、簡便快速、可靠性高、靈敏度高、簡便快速、可靠性高、 所需原料少所需原料少n 缺陷缺陷不能分析有機物及大部分非金屬元素，不能分析有機物及大部分非金屬元素， 儀器設備復雜、昂貴。儀器設備復雜、昂貴。n運用：礦石、金屬、合金、半導體等試樣中的雜質(zhì)運用：礦石、金屬、合金、半導體等試樣中的雜質(zhì)分析。分析。一、原子發(fā)射光譜分析的基本原理一、原子發(fā)射光譜分析的基本原理n發(fā)射光譜的分析過程發(fā)射光譜的分析過程n發(fā)射線的波長發(fā)射線的波長n發(fā)射譜線的強度發(fā)射譜線的強度n原子發(fā)

2、射光譜圖原子發(fā)射光譜圖n譜線的自吸和自蝕譜線的自吸和自蝕激發(fā)態(tài)原子激發(fā)態(tài)原子外層電子躍遷外層電子躍遷基態(tài)原子基態(tài)原子熱或電熱或電氣態(tài)分子氣態(tài)分子氣化氣化樣品分子樣品分子原子化原子化光電法光電法攝譜法攝譜法光電倍增管光電倍增管感光板感光板1、發(fā)射光譜的分析過程、發(fā)射光譜的分析過程原子發(fā)射光譜示意圖原子發(fā)射光譜示意圖 一般情況下，原子處于基態(tài)，在激發(fā)光源作用下，原子獲得能量，外層電子從基態(tài)躍遷到較高能態(tài)變?yōu)榧ぐl(fā)態(tài) ，約經(jīng)10-8 s，外層電子就從高能級向較低能級或基態(tài)躍遷，多余的能量的發(fā)射可得到一條光譜線。 原子中某一外層電子由基態(tài)激發(fā)到高能級所需要的能量稱為原子激發(fā)電位。 原子光譜中每一條譜線的

3、產(chǎn)生各原子光譜中每一條譜線的產(chǎn)生各有其相應的激發(fā)電位。由激發(fā)態(tài)向基有其相應的激發(fā)電位。由激發(fā)態(tài)向基態(tài)躍遷所發(fā)射的譜線稱為共振線。共態(tài)躍遷所發(fā)射的譜線稱為共振線。共振線具有最小的激發(fā)電位，因此最容振線具有最小的激發(fā)電位，因此最容易被激發(fā)，為該元素最強的譜線。易被激發(fā)，為該元素最強的譜線。 當外界的能量足夠大時，可把原子中的電子激發(fā)至無窮遠處，也即脫離原子核的束縛，使原子發(fā)生電離成為離子的過程，使原子電離所需的最低能量叫電離電位。離子也可能被激發(fā)，離子中的外層電子被激發(fā)所需的能量叫離子)激發(fā)電位。n基態(tài)：原子所處的最穩(wěn)定狀態(tài)，此時它基態(tài)：原子所處的最穩(wěn)定狀態(tài)，此時它的能量最低的能量最低n激發(fā)態(tài)：原

4、子獲得足夠的能量后，外層激發(fā)態(tài)：原子獲得足夠的能量后，外層電子從低能級躍遷到高能級后所處的狀電子從低能級躍遷到高能級后所處的狀態(tài)態(tài)n(原子原子)激發(fā)電位：激發(fā)電位：Ej，將原子中的一個，將原子中的一個外層電子從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)所需的能外層電子從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)所需的能量，單位量，單位 ev n電離：當外界的能量足夠大時，可把原電離：當外界的能量足夠大時，可把原子中的電子激發(fā)至無窮遠處，也即脫離子中的電子激發(fā)至無窮遠處，也即脫離原子核的束縛，使原子發(fā)生電離成為帶原子核的束縛，使原子發(fā)生電離成為帶正電的離子的過程正電的離子的過程n電離電位：使原子電離所需的最低能量電離電位：使原子電離所需的最低能量

5、n(離子離子)激發(fā)電位：離子中的外層電子被激發(fā)電位：離子中的外層電子被激發(fā)所需的能量激發(fā)所需的能量 X+h(電電,熱熱)X* X*X+h(光能光能)X：基態(tài)原子，：基態(tài)原子，X* ：激發(fā)態(tài)原子：激發(fā)態(tài)原子 E=E2-E1=h =hc/ =h cEhc2、發(fā)射線的波長、發(fā)射線的波長 原子的外層電子由高能級向低能級躍遷，能量以電磁原子的外層電子由高能級向低能級躍遷，能量以電磁輻射的形式發(fā)射出去，這樣就得到發(fā)射光譜，原子發(fā)射光譜輻射的形式發(fā)射出去，這樣就得到發(fā)射光譜，原子發(fā)射光譜是線狀光譜。是線狀光譜。2、發(fā)射線的波長、發(fā)射線的波長定性分析依據(jù)：發(fā)射線的波長定性分析依據(jù)：發(fā)射線的波長原子發(fā)射線的表示

6、原子發(fā)射線的表示以以Na的發(fā)射線為例的發(fā)射線為例Na Na原子激發(fā)電位原子激發(fā)電位 5895.923ANa Na原子一次電離后的激發(fā)電位原子一次電離后的激發(fā)電位 2802.700A其中其中：原子發(fā)射的譜線：原子發(fā)射的譜線 ：一次電離離子發(fā)射的譜線：一次電離離子發(fā)射的譜線 ：二次電離離子發(fā)射的譜線：二次電離離子發(fā)射的譜線 其他依次類推其他依次類推 設i、j兩能級之間的躍遷所產(chǎn)生的譜線強度Iij表示，那么 Iij = NiAijhij Ni為單位體積內(nèi)處于高能級i的原子數(shù)，Aij為i、j兩能級間的躍遷幾率，h為普朗克常數(shù)， ij為發(fā)射譜線的頻率。 3、發(fā)射譜線的強度、發(fā)射譜線的強度 Ni = N0

7、 gj/g0e (-Ei / kT) 式中式中Ni 為單位體積內(nèi)處于激發(fā)態(tài)的原子為單位體積內(nèi)處于激發(fā)態(tài)的原子數(shù)，數(shù)， N0為單位體積內(nèi)處于基態(tài)的原子數(shù)，為單位體積內(nèi)處于基態(tài)的原子數(shù)， gi，g0為激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計權重，為激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計權重，Ei為激為激發(fā)電位，發(fā)電位，k為玻茲曼常數(shù)，為玻茲曼常數(shù)，T為激發(fā)溫度。為激發(fā)溫度。3、發(fā)射譜線的強度、發(fā)射譜線的強度n統(tǒng)計權重統(tǒng)計權重 n 譜線強度與激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)譜線強度與激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計權重之比成正比。計權重之比成正比。n躍遷幾率躍遷幾率n 譜線強度與躍遷幾率成正比。譜線強度與躍遷幾率成正比。躍遷幾率是一個原子在單位時間內(nèi)躍遷幾率是一個原子在

8、單位時間內(nèi)兩個能級之間躍遷的幾率，可通過兩個能級之間躍遷的幾率，可通過實驗數(shù)據(jù)計算。實驗數(shù)據(jù)計算。影響譜線強度的因素：影響譜線強度的因素：Iij = NiAijhij Ni = N0 gj/g0e (-E / kT)n激發(fā)電位和電離電位激發(fā)電位和電離電位n 譜線強度與激發(fā)電位成負指數(shù)譜線強度與激發(fā)電位成負指數(shù)關系。在溫度一定時，激發(fā)電位越關系。在溫度一定時，激發(fā)電位越高，處于該能量狀態(tài)的原子數(shù)越少，高，處于該能量狀態(tài)的原子數(shù)越少，譜線強度越小。激發(fā)電位最低的共譜線強度越小。激發(fā)電位最低的共振線通常是強度最大的線。振線通常是強度最大的線。影響譜線強度的因素：影響譜線強度的因素：Iij = NiA

9、ijhij= N0 gj/g0e (-E / kT)NiAijhijn激發(fā)溫度激發(fā)溫度n 溫度升高，譜線強度增大。但溫度升高，溫度升高，譜線強度增大。但溫度升高，電離的原子數(shù)目也會增多，而相應的原子數(shù)減電離的原子數(shù)目也會增多，而相應的原子數(shù)減少，致使原子譜線強度減弱，離子的譜線強度少，致使原子譜線強度減弱，離子的譜線強度增大。增大。n基態(tài)原子數(shù)基態(tài)原子數(shù)n 譜線強度與基態(tài)原子數(shù)成正比。在一定譜線強度與基態(tài)原子數(shù)成正比。在一定的條件下，基態(tài)原子數(shù)與試樣中該元素濃度成的條件下，基態(tài)原子數(shù)與試樣中該元素濃度成正比。因此，在一定的條件下譜線強度與被測正比。因此，在一定的條件下譜線強度與被測元素濃度成正

10、比，這是光譜定量分析的依據(jù)。元素濃度成正比，這是光譜定量分析的依據(jù)。影響譜線強度的因素：影響譜線強度的因素：激發(fā)電位和電離電位激發(fā)電位和電離電位Ej 在在T一定時，一定時， E ，Ni ， Iij 。激發(fā)電位最低的。激發(fā)電位最低的共振線通常是強度最大的線。共振線通常是強度最大的線。試樣濃度試樣濃度C Iij正比于正比于Ni。在一定的條件下，。在一定的條件下， C ，Iij 。激發(fā)溫度激發(fā)溫度T T ， Iij 。但溫度升高，原子電離增多，原子數(shù)減少，。但溫度升高，原子電離增多，原子數(shù)減少，使原子譜線強度減弱，離子的譜線強度增大。使原子譜線強度減弱，離子的譜線強度增大。發(fā)射線的強度發(fā)射線的強度I

11、ij = NiAijhij Aij:i、j兩能級間的躍遷幾率，兩能級間的躍遷幾率， ij:發(fā)射譜線的頻率。發(fā)射譜線的頻率。 4、原子發(fā)射光譜圖、原子發(fā)射光譜圖元素標準光譜圖元素標準光譜圖5、譜線的自吸和自蝕、譜線的自吸和自蝕n自吸和自蝕自吸和自蝕n影響自吸和自蝕的因素影響自吸和自蝕的因素n 譜線的固有強度譜線的固有強度n 弧層厚度弧層厚度n 溶液濃度溶液濃度 發(fā)射光譜是通過物質(zhì)的蒸發(fā)、激發(fā)、遷移和射出弧發(fā)射光譜是通過物質(zhì)的蒸發(fā)、激發(fā)、遷移和射出弧層而得到的。在一般光源中，是在弧焰中產(chǎn)生的，弧焰層而得到的。在一般光源中，是在弧焰中產(chǎn)生的，弧焰具有一定的厚度，如下圖：具有一定的厚度，如下圖：ab自

12、吸和自蝕自吸和自蝕自吸和自蝕自吸和自蝕 弧焰中心弧焰中心a a的溫度最高，邊緣的溫度最高，邊緣b b的溫度較低。由弧焰中心發(fā)射出來的溫度較低。由弧焰中心發(fā)射出來的輻射光，必須通過整個弧焰才能射出，由于弧層邊緣的溫度較低，的輻射光，必須通過整個弧焰才能射出，由于弧層邊緣的溫度較低，因而這里處于基態(tài)的同類原子較多。這些低能態(tài)的同類原子能吸收高因而這里處于基態(tài)的同類原子較多。這些低能態(tài)的同類原子能吸收高能態(tài)原子發(fā)射出來的光而產(chǎn)生吸收光譜。能態(tài)原子發(fā)射出來的光而產(chǎn)生吸收光譜。 原子在高溫時被激發(fā)，發(fā)射某一波長的譜線，原子在高溫時被激發(fā)，發(fā)射某一波長的譜線，而處于低溫狀態(tài)的同類原子又能吸收這一波長而處于

13、低溫狀態(tài)的同類原子又能吸收這一波長的輻射，這種現(xiàn)象稱為自吸現(xiàn)象。的輻射，這種現(xiàn)象稱為自吸現(xiàn)象。ab 發(fā)射譜線的寬度比吸收譜線的寬度大，所以，譜線中心發(fā)射譜線的寬度比吸收譜線的寬度大，所以，譜線中心的吸收程度要比邊緣部分大，因而使譜線出現(xiàn)的吸收程度要比邊緣部分大，因而使譜線出現(xiàn)“邊強中弱邊強中弱的現(xiàn)象。當自吸現(xiàn)象非常嚴重時，譜線中心的輻射將完全被的現(xiàn)象。當自吸現(xiàn)象非常嚴重時，譜線中心的輻射將完全被吸收，這種現(xiàn)象稱為自蝕。吸收，這種現(xiàn)象稱為自蝕。1無自吸；無自吸； 2自吸；自吸； 3自蝕自蝕123 影響自吸和自蝕的因影響自吸和自蝕的因素素 譜線的固有強度譜線的固有強度 弧層厚度弧層厚度 溶液濃度溶

14、液濃度小結(jié)小結(jié) 試樣蒸發(fā)、激發(fā)產(chǎn)生輻射試樣蒸發(fā)、激發(fā)產(chǎn)生輻射色散分光形成光譜色散分光形成光譜檢測、記錄光檢測、記錄光譜譜根據(jù)光譜進行定性或定量分析根據(jù)光譜進行定性或定量分析發(fā)射光譜的分析過程：發(fā)射光譜的分析過程：發(fā)射光譜的分析基礎：發(fā)射光譜的分析基礎：定性分析：特征譜線的波長定性分析：特征譜線的波長定量分析：特征譜線的強度黑度），主要的定量分析：特征譜線的強度黑度），主要的二、原子發(fā)射光譜的分析儀器二、原子發(fā)射光譜的分析儀器光源光源分光系統(tǒng)分光系統(tǒng)檢測器檢測器信號顯示系統(tǒng)信號顯示系統(tǒng)光源光源n作用：提供穩(wěn)定，重現(xiàn)性好的能量，使試樣中的被作用：提供穩(wěn)定，重現(xiàn)性好的能量，使試樣中的被測元素蒸發(fā)、解

15、離、原子化和激發(fā)，產(chǎn)生電子躍遷，測元素蒸發(fā)、解離、原子化和激發(fā)，產(chǎn)生電子躍遷，發(fā)生光輻射發(fā)生光輻射n要求：具有足夠的蒸發(fā)、解離、原子化和激發(fā)能力；要求：具有足夠的蒸發(fā)、解離、原子化和激發(fā)能力；靈敏度高，穩(wěn)定性好，光譜背景?。唤Y(jié)構(gòu)簡單，操靈敏度高，穩(wěn)定性好，光譜背景小；結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，使用安全作方便，使用安全n常用光源：電弧直流，交流），電火花，等離子常用光源：電弧直流，交流），電火花，等離子體光源體光源ICP），激光等），激光等常用光源性能比較常用光源性能比較分光系統(tǒng)分光系統(tǒng)n作用：將激發(fā)試樣所獲得的復合光，作用：將激發(fā)試樣所獲得的復合光，分解為按波長順序排列的單色光分解為按波長順序排列的

16、單色光n常用的分光元件：棱鏡，光柵常用的分光元件：棱鏡，光柵檢測器檢測器n作用：接受、記錄信號作用：接受、記錄信號n常用的檢測方法：目視法，攝譜常用的檢測方法：目視法，攝譜法，光電法法，光電法n攝譜儀：（利用照相機方式記錄譜線）攝譜儀：（利用照相機方式記錄譜線）n 棱鏡；光柵棱鏡；光柵n 大型分析具有復雜光譜的物質(zhì)）大型分析具有復雜光譜的物質(zhì)）n 中型一般元素分析）中型一般元素分析）n 小型簡單分析）小型簡單分析）n映譜儀映譜儀( (光譜投影儀光譜投影儀) )：放大。：放大。n測微光度計測微光度計( (黑度計黑度計) )：用于定量分析。：用于定量分析。PQ ExCell 等離子體質(zhì)譜儀等離子體

17、質(zhì)譜儀(ICP/MS) 廈門聯(lián)發(fā)集團象嶼有限公司廈門聯(lián)發(fā)集團象嶼有限公司Agilent 7500系列系列ICP-MS三、發(fā)射光譜分析方法三、發(fā)射光譜分析方法n定性分析方法定性分析方法n半定量分析方法半定量分析方法n定量分析方法定量分析方法(元素的特征譜線的波長元素的特征譜線的波長)(元素的特征譜線的強度元素的特征譜線的強度)（一定性分析方法原理（一定性分析方法原理n靈敏線：各種元素譜線中最容易激靈敏線：各種元素譜線中最容易激發(fā)或激發(fā)電位較低的譜線發(fā)或激發(fā)電位較低的譜線n共振線：激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)時共振線：激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)時所輻射的譜線所輻射的譜線n最后線：最后消失的譜線最后線：最后消失的

18、譜線例例10%Cd溶液溶液 譜線譜線14條條1%Cd溶液溶液 譜線譜線10條條0.01%Cd溶液溶液 譜線譜線7條條0.001%Cd溶液溶液 譜線譜線1條條( (最后線最后線) )定性分析的方法定性分析的方法n標準試樣光譜比較法標準試樣光譜比較法n元素光譜圖比較法元素光譜圖比較法 標準光譜比較法n方法：比較待測樣與標準樣的光譜，如果有后者方法：比較待測樣與標準樣的光譜，如果有后者靈敏線出現(xiàn)，有就表明試樣有該種元素存在。靈敏線出現(xiàn)，有就表明試樣有該種元素存在。n適用對象：檢測組分少，同時這幾種組分的純物適用對象：檢測組分少，同時這幾種組分的純物質(zhì)又比較容易得到質(zhì)又比較容易得到定性分析的方法定性分

19、析的方法試驗含鉛試驗含鉛標準光譜比較法標準光譜比較法n方法：未知的待測試樣與預測純物質(zhì)光方法：未知的待測試樣與預測純物質(zhì)光譜相比較，觀察未知樣品中，是否有欲譜相比較，觀察未知樣品中，是否有欲分析元素的靈敏線出現(xiàn)分析元素的靈敏線出現(xiàn)n適用對象：檢測組分少數(shù)，同時這幾種適用對象：檢測組分少數(shù)，同時這幾種組分的純物質(zhì)又比較容易得到組分的純物質(zhì)又比較容易得到元素光譜圖比較法元素光譜圖比較法n方法：將純鐵譜放大方法：將純鐵譜放大20倍后作為標準光倍后作為標準光譜。在分析試樣時，將試樣與純鐵并列譜。在分析試樣時，將試樣與純鐵并列攝譜，攝得的譜圖放大攝譜，攝得的譜圖放大20倍后，與標準倍后，與標準光譜比較，

20、將兩套鐵光譜線對準后，就光譜比較，將兩套鐵光譜線對準后，就可以由元素的標準圖上找出試樣中所包可以由元素的標準圖上找出試樣中所包含的元素含的元素n適用對象：復雜組分分析或光譜的全分適用對象：復雜組分分析或光譜的全分析析元素標準光譜圖元素標準光譜圖標標準準譜譜圖圖試試樣樣譜譜圖圖 標準光譜比較定性法標準光譜比較定性法為什么選鐵譜？為什么選鐵譜？（1 1譜線多：在譜線多：在210210660nm660nm范圍內(nèi)有數(shù)千條譜線；范圍內(nèi)有數(shù)千條譜線；（2 2譜線間距離分配均勻：容易對比，適用面廣；譜線間距離分配均勻：容易對比，適用面廣；（3 3定位準確：已準確測量了鐵譜每一條譜線的波長。定位準確：已準確測

21、量了鐵譜每一條譜線的波長。 標準譜圖：將其他元素的分析線標記在鐵譜上，鐵譜起標準譜圖：將其他元素的分析線標記在鐵譜上，鐵譜起到標尺的作用。到標尺的作用。 譜線檢查：將試樣與純鐵在完全相同條件下攝譜，將兩譜線檢查：將試樣與純鐵在完全相同條件下攝譜，將兩譜片在映譜器譜片在映譜器( (放大器放大器) )上對齊、放大上對齊、放大2020倍，檢查待測元素的倍，檢查待測元素的分析線是否存在，并與標準譜圖對比確定?？赏瑫r進行多元分析線是否存在，并與標準譜圖對比確定。可同時進行多元素測定。素測定。適用對象：復雜組分分析或光譜的全分析適用對象：復雜組分分析或光譜的全分析攝譜過程攝譜過程 攝譜順序：碳電極攝譜順序

22、：碳電極(空白空白)、鐵譜、試樣；、鐵譜、試樣； 分段暴光法：先在小電流分段暴光法：先在小電流(5A)激發(fā)光源攝取易揮發(fā)元素激發(fā)光源攝取易揮發(fā)元素光譜調(diào)節(jié)光闌，改變暴光位置后，加大電流光譜調(diào)節(jié)光闌，改變暴光位置后，加大電流(10A)，再次暴光，再次暴光攝取難揮發(fā)元素光譜；攝取難揮發(fā)元素光譜； 采用哈特曼光闌，可多采用哈特曼光闌，可多次暴光而不影響譜線相對位次暴光而不影響譜線相對位置，便于對比。置，便于對比。（二半定量分析方法原理（二半定量分析方法原理n譜線黑度比較法譜線黑度比較法n譜線呈現(xiàn)法譜線呈現(xiàn)法 1. 譜線黑度譜線黑度(強度強度)比較法比較法 試樣與不同的已知含量的標準試樣，在同一試樣與

23、不同的已知含量的標準試樣，在同一感光板上并列攝譜，在映譜儀上目視它們的分析感光板上并列攝譜，在映譜儀上目視它們的分析線的黑度，如相等，則它們的濃度接近。特點是線的黑度，如相等，則它們的濃度接近。特點是簡便易行。簡便易行。 2. 譜線呈現(xiàn)法譜線呈現(xiàn)法 試樣中元素濃度高，呈現(xiàn)出的譜線數(shù)試樣中元素濃度高，呈現(xiàn)出的譜線數(shù)目多。根據(jù)試樣元素和標準試樣呈現(xiàn)譜線目多。根據(jù)試樣元素和標準試樣呈現(xiàn)譜線數(shù)目，估計試樣元素的濃度。數(shù)目，估計試樣元素的濃度。wPb譜線及其特征譜線及其特征0.001283.31nm清晰可見；清晰可見；261.42nm和和280.20nm譜線很弱譜線很弱0.003283.31nm；261

24、.42nm譜線增強；譜線增強；280.20nm譜線清晰譜線清晰0.01上述各線增強，上述各線增強，266.32nm和和287.33nm譜線不太明顯譜線不太明顯0.03266.32nm和和287.33nm譜線逐漸增強至清晰譜線逐漸增強至清晰0.1上述各線均增強，不出現(xiàn)新譜線上述各線均增強，不出現(xiàn)新譜線0.3顯出顯出239.38nm淡灰色寬線；在譜線背景上淡灰色寬線；在譜線背景上257.73nm不太清晰不太清晰1上述各線增強，上述各線增強，240.2，244.4和和244.6nm譜線出現(xiàn)；譜線出現(xiàn)；241.2模糊可見模糊可見鉛的譜線呈現(xiàn)表鉛的譜線呈現(xiàn)表 （三定量分析方法原理由元素的譜線強度確定元素

25、濃度。由元素的譜線強度確定元素濃度。I = aCblgI lga blgCa常數(shù)，與蒸發(fā)、激發(fā)、組成有關；常數(shù)，與蒸發(fā)、激發(fā)、組成有關；b自吸系數(shù)。自吸越大，自吸系數(shù)。自吸越大，b越小。越小。恒定條件，使恒定條件，使a、b為常數(shù)，為常數(shù)，lgI與與lgC呈線性。呈線性。內(nèi)標法原理：內(nèi)標法原理： 選擇一條待測元素譜線作為分析線；一條基體選擇一條待測元素譜線作為分析線；一條基體元素或加入的內(nèi)標元素譜線為內(nèi)標線。元素或加入的內(nèi)標元素譜線為內(nèi)標線。元素的特征譜線的強度黑度）元素的特征譜線的強度黑度）內(nèi)標法光電法）內(nèi)標法光電法）bacI 內(nèi)標法基本關系式：內(nèi)標法基本關系式：1000bbba cIRacI

26、a c1bIa c分析線：分析線：000bIa c內(nèi)標線：內(nèi)標線：acbIIRlglglglg0內(nèi)標元素選擇注意點內(nèi)標元素選擇注意點u原來試樣不含或含有極少量內(nèi)標元素原來試樣不含或含有極少量內(nèi)標元素u內(nèi)標線和分析線的激發(fā)電位盡可能相同或相近內(nèi)標線和分析線的激發(fā)電位盡可能相同或相近u內(nèi)標線和分析線的波長盡可能接近內(nèi)標線和分析線的波長盡可能接近u內(nèi)標線和分析線的強度不應相差過大內(nèi)標線和分析線的強度不應相差過大u所選譜線應不受其他元素譜線的干擾，也不是自所選譜線應不受其他元素譜線的干擾，也不是自吸收嚴重的譜線吸收嚴重的譜線u內(nèi)標元素和分析元素的揮發(fā)率相近沸點、化學內(nèi)標元素和分析元素的揮發(fā)率相近沸點、

27、化學活性及相對原子量都應接近）活性及相對原子量都應接近） 乳劑特性曲線攝譜法）乳劑特性曲線攝譜法）lgiH tg：感光板的反襯度：感光板的反襯度iH：乳劑惰延量，：乳劑惰延量，Hi越大，感光板越不靈敏越大，感光板越不靈敏內(nèi)標法基本關系式：內(nèi)標法基本關系式：111111 1 11lg(lg)SrHirK I ti分析線的黑度分析線的黑度內(nèi)標線的黑度內(nèi)標線的黑度2222222 22lg(lg)SrHirK I tiarcrbSSSlglg21（三定量分析方法原理（三定量分析方法原理n攝譜法攝譜法n光電法光電法arcrbSSSlglg21acbIIRlglglglg0S為黑度，感光片上未曝光和為黑度

28、，感光片上未曝光和曝光部分透光強度之比的對數(shù)曝光部分透光強度之比的對數(shù)1 1、用內(nèi)標法火化光源測定溶液中的鎂。鉬、用內(nèi)標法火化光源測定溶液中的鎂。鉬作為內(nèi)標。用蒸餾水溶解作為內(nèi)標。用蒸餾水溶解MgCl2MgCl2以制備系以制備系列標準鎂溶液，每一標準和分析樣品溶列標準鎂溶液，每一標準和分析樣品溶液中含有液中含有25.0ng/mL25.0ng/mL的鉬，鉬溶液用溶解的鉬，鉬溶液用溶解鉬酸銨而得到。用移液管移取鉬酸銨而得到。用移液管移取5050L L的溶的溶液置于銅電極上，溶液蒸發(fā)至干。測得液置于銅電極上，溶液蒸發(fā)至干。測得279.8nm279.8nm處的鎂譜線強度和處的鎂譜線強度和281.6nm281.6nm處的處的鉬譜線強度。試確定分析樣品溶液中鎂鉬譜線強度。試確定分析樣品溶液中鎂的含量。的含量。 例題例題鎂的含量鎂的含量ng/mLlgc譜線強度譜線強度lgI/I0279.8nm281.6nm1.0510.5105105010500分析樣品分析樣品0.02121.0212.0213.0214.0210.6