軟件測(cè)試復(fù)習(xí)資料

1、軟件危機(jī)的表現(xiàn):1.對(duì)軟件開(kāi)發(fā)成本和進(jìn)度的估計(jì)不準(zhǔn)確。2.用戶對(duì)“已完成的”軟件系統(tǒng)不滿意的現(xiàn)象經(jīng)常發(fā)生。3.軟件產(chǎn)品的質(zhì)量往往靠不住。4.軟件可維護(hù)性差。5.軟件通常沒(méi)有適應(yīng)的文檔資料。6.軟件開(kāi)發(fā)成本不斷提高。計(jì)算機(jī)軟件的生存周期:計(jì)劃、需求分析、設(shè)計(jì)、程序編寫(xiě)、測(cè)試、運(yùn)行與維護(hù)軟件測(cè)試:使用人工或自動(dòng)手段來(lái)運(yùn)行或測(cè)定某個(gè)系統(tǒng)的過(guò)程,其目的在于檢驗(yàn)它是否滿足規(guī)定的需求,或是否弄清預(yù)期結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間的差別。軟件測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中的錯(cuò)誤,提供軟件的質(zhì)量。-測(cè)試用例:測(cè)試輸入數(shù)據(jù)的定義和對(duì)預(yù)期測(cè)試結(jié)果的描述。軟件測(cè)試的生命周期:計(jì)劃、設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)、執(zhí)行、評(píng)估軟件測(cè)試結(jié)束1.當(dāng)時(shí)間用光時(shí)2.當(dāng)繼

2、續(xù)測(cè)試沒(méi)有產(chǎn)生新的失效時(shí)3.當(dāng)繼續(xù)測(cè)試沒(méi)有發(fā)現(xiàn)新缺陷時(shí)4.當(dāng)無(wú)法考慮新測(cè)試用例時(shí)5.當(dāng)達(dá)到所要求的覆蓋時(shí)6.當(dāng)所有缺陷都已經(jīng)清楚時(shí)測(cè)試步驟:1.單元測(cè)試:是要檢驗(yàn)程序的最小單位有無(wú)差錯(cuò),它是在編碼完成以后,首先要實(shí)施的測(cè)試工作,多采用白盒測(cè)試。要解決的問(wèn)題:模塊接口、局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、邊界條件、覆蓋條件、出錯(cuò)處理2.集成測(cè)試:目的是在模塊組裝后查找模塊間接口的錯(cuò)誤,方法為非增式測(cè)試和增式測(cè)試。3.確認(rèn)測(cè)試:檢驗(yàn)所開(kāi)發(fā)的軟件是否能按顧客提出的要求運(yùn)行。若能達(dá)到這一要求,則認(rèn)為開(kāi)發(fā)的軟件是合格的。4.系統(tǒng)測(cè)試:實(shí)際上是針對(duì)系統(tǒng)中各個(gè)組成部分進(jìn)行的綜合性檢驗(yàn),包括非功能測(cè)試、性能測(cè)試和其他測(cè)試。在進(jìn)行單

3、元測(cè)試時(shí)大都采用白盒測(cè)試,而在確認(rèn)測(cè)試或系統(tǒng)測(cè)試時(shí)大都采用黑盒測(cè)試。靜態(tài)方法和動(dòng)態(tài)方法的比較:靜態(tài)方法的主要特征是在用計(jì)算機(jī)測(cè)試源程序時(shí),計(jì)算機(jī)并不真正運(yùn)行被測(cè)試的程序,只對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行特性分析。因此,靜態(tài)方法常稱為“分析”,靜態(tài)分析是對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行特性分析的一些方法的總稱。動(dòng)態(tài)方法的主要特征是計(jì)算機(jī)必須真正運(yùn)行被測(cè)試的程序,通過(guò)輸入測(cè)試用例,對(duì)其運(yùn)行情況(輸入/輸出的對(duì)應(yīng)關(guān)系進(jìn)行分析。黑盒測(cè)試:又稱功能測(cè)試、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于規(guī)格說(shuō)明的測(cè)試,是一種從用戶觀點(diǎn)出發(fā)的測(cè)試。白盒測(cè)試:又稱結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序的測(cè)試,是根據(jù)被測(cè)程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的一類測(cè)試。黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的比

4、較:1.測(cè)試依據(jù):黑盒測(cè)試是根據(jù)用戶所能看到的規(guī)格說(shuō)明。白盒測(cè)試是根據(jù)程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。2.特點(diǎn):黑盒測(cè)試優(yōu)點(diǎn):能夠站在用戶立場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試。缺點(diǎn):不能測(cè)試程序內(nèi)部特定部位,如果規(guī)格說(shuō)明有誤,則無(wú)法發(fā)現(xiàn)。白盒測(cè)試優(yōu)點(diǎn):能夠?qū)Τ绦騼?nèi)部的特定部位進(jìn)行覆蓋測(cè)試。缺點(diǎn): 無(wú)法檢驗(yàn)程序的外部特性;無(wú)法對(duì)未實(shí)現(xiàn)規(guī)格說(shuō)明的程序內(nèi)部缺陷部分進(jìn)行測(cè)試。3.方法舉例:黑盒測(cè)試:等價(jià)類劃分、邊值分析、因果圖、正交實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)法,判定表驅(qū)動(dòng)法白盒測(cè)試:語(yǔ)句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定/條件覆蓋、路徑覆蓋、模塊接口測(cè)試軟件審查的步驟:制定計(jì)劃、預(yù)審、準(zhǔn)備、審查會(huì)、返工、終審等價(jià)類劃分:把程序的輸入域劃分成若干部分,然后從各個(gè)部

5、分中選取少數(shù)代表性數(shù)據(jù)作為測(cè)試用例。-可達(dá)性定義設(shè)Pi為結(jié)點(diǎn)i保存的所有定義的集合,Ci是結(jié)點(diǎn)i中生成的定義集合。對(duì)于每個(gè)結(jié)點(diǎn)i,這些集合滿足關(guān)系:ti=(si pici達(dá)到結(jié)點(diǎn)i的定義集合是達(dá)到其前趨出口的定義集合的并。若用xi表示結(jié)點(diǎn)i前趨的集合,則:邏輯覆蓋的方法1.語(yǔ)句覆蓋:在測(cè)試時(shí),設(shè)計(jì)若干個(gè)測(cè)試用例,使得程序中的每個(gè)可執(zhí)行語(yǔ)句至少執(zhí)行一次。 是最弱的邏輯覆蓋準(zhǔn)則。2.判定覆蓋:使得程序中每個(gè)判斷的取真分支和取假分支至少經(jīng)歷一次,即判斷的真假值均 曾被滿足。3.條件覆蓋:使得每個(gè)判斷中每個(gè)條件的可能取值至少滿足一次。4.判定/條件覆蓋:判斷中每個(gè)條件的所有可能至少出現(xiàn)一次,并且每個(gè)判

6、斷本身的判斷結(jié) 果也至少出現(xiàn)一次。5.路徑覆蓋:設(shè)計(jì)足夠多的測(cè)試用例,要求覆蓋程序中所有可能的路徑。錯(cuò)誤(Error:Bug缺陷(Fault:是錯(cuò)誤的表現(xiàn)失效(failure:當(dāng)缺陷執(zhí)行時(shí)會(huì)發(fā)生失效事故(incident:系統(tǒng)在制定范圍內(nèi)執(zhí)行所需功能時(shí)表現(xiàn)的無(wú)能錯(cuò)誤分為:域錯(cuò)誤、計(jì)算型錯(cuò)誤、丟失路徑錯(cuò)誤 i ji i i j j i i j i x j x j x j c d d p s s t s =(域錯(cuò)誤:對(duì)于某一特定的輸入可能執(zhí)行的是一條錯(cuò)誤路徑。域測(cè)試:主要是針對(duì)域錯(cuò)誤進(jìn)行的程序測(cè)試。測(cè)試點(diǎn):ON點(diǎn):域的邊界上OFF點(diǎn):離邊界有一個(gè)小距離,并在被測(cè)域之外。域測(cè)試的基本思想:如果將ON

7、點(diǎn)和OFF點(diǎn)交替選擇,即讓OFF點(diǎn)在兩個(gè)ON點(diǎn)所決定直線上的投影在兩個(gè)ON點(diǎn)之間,則可較好的測(cè)出由于邊界錯(cuò)誤而導(dǎo)致的域錯(cuò)誤。路徑表達(dá)式:弧a和弧b相乘,所得積為ab,表示先沿弧a再沿弧b所經(jīng)歷的路段?；和弧b相加,是并行的路段。連通圖:任何兩點(diǎn)之間至少存在一條通路的圖。復(fù)雜度V(G=E-n+2 (E:邊數(shù)n:節(jié)點(diǎn)數(shù)獨(dú)立路徑數(shù):從程序入口到程序出口的多次執(zhí)行中,每次至少一個(gè)語(yǔ)句是新的,未被重復(fù)過(guò)。(連通圖中至少經(jīng)過(guò)一個(gè)從未走過(guò)的弧。-集成的方法:1.一次性集成:通過(guò)少數(shù)測(cè)試運(yùn)行,檢驗(yàn)整個(gè)系統(tǒng),來(lái)證實(shí)系統(tǒng)的穩(wěn)定性,是基于分解的集成。增式集成:2.自頂向下集成:從頂層控制對(duì)象開(kāi)始,以控制層次的順序

8、,向被測(cè)系統(tǒng)逐次增加構(gòu)件,以 論證系統(tǒng)的穩(wěn)定性。 優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試和集成可以較早的開(kāi)始。 減少了驅(qū)動(dòng)模塊的開(kāi)發(fā)的費(fèi)用。 如果底層接口未定義或可能修改，則可以避免丌穩(wěn)定的接口。 缺點(diǎn)：樁模塊的開(kāi)發(fā)代價(jià)較大。 在底層構(gòu)件中一個(gè)無(wú)法預(yù)料的需求可能迫使迚行的頂層構(gòu)件的修改， 破壞部分測(cè)試 用例集合。 樁模塊必定是特定于實(shí)現(xiàn)的，并可能比較易于損壞。 要充分測(cè)試底層構(gòu)件可能比較困難。 3.自底向上集成：從具有最少的相依性構(gòu)件開(kāi)始，按照相依性的次序?qū)?gòu)件加入受測(cè)試的系 統(tǒng)，以證實(shí)穩(wěn)定性。 優(yōu)點(diǎn)：對(duì)底層模塊的測(cè)試和集成可以并行。 丌限制可測(cè)試性。 缺點(diǎn)：驅(qū)動(dòng)模塊的開(kāi)發(fā)耗費(fèi)量大。 高層構(gòu)件的可操作性和互操作性測(cè)試得丌

9、充分。 系統(tǒng)測(cè)試 1.非功能測(cè)試：安裝測(cè)試、兼容性測(cè)試、安全性測(cè)試、恢復(fù)測(cè)試 2.性能測(cè)試：負(fù)載測(cè)試、壓力測(cè)試、容量測(cè)試 3.其他測(cè)試： 測(cè)試、 測(cè)試、文檔測(cè)試、界面測(cè)試 測(cè)試與調(diào)試的區(qū)別： 1.測(cè)試：是可以系統(tǒng)運(yùn)行的計(jì)劃過(guò)程，可以指導(dǎo)測(cè)試用例設(shè)計(jì)，定義測(cè)試策略，測(cè)試結(jié)果可 以和預(yù)期的結(jié)果迚行對(duì)照評(píng)估。測(cè)試旪是檢驗(yàn)、發(fā)現(xiàn)可疑的錯(cuò)誤征兆。 2.調(diào)試：測(cè)試發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤以后消除錯(cuò)誤的過(guò)程。充分利用測(cè)試結(jié)果和測(cè)試提供的信息，全面分 析，找出錯(cuò)誤根源，修正錯(cuò)誤。這就是調(diào)試。 1.單元測(cè)試一般以白盒法為主，測(cè)試得依據(jù)是模塊功能規(guī)格說(shuō)明。 2.軟件測(cè)試的費(fèi)用已超過(guò)軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用的 30以上。 3.高產(chǎn)的測(cè)試是指：

10、用少量的測(cè)試用例運(yùn)行程序，發(fā)現(xiàn)被測(cè)程序盡可能多的錯(cuò)誤。 4.其中，單元測(cè)試旪在實(shí)現(xiàn)階段完成的，集成測(cè)試的計(jì)劃是在概要階段制定的，確認(rèn)測(cè)試的 計(jì)劃是在需求分析階段制定的。 5.集成測(cè)試又叨組裝測(cè)試或聯(lián)合測(cè)試，是單元測(cè)試的基礎(chǔ)上，將所有模塊按照設(shè)計(jì)要求組裝 成系統(tǒng)。 子系統(tǒng)的集成測(cè)試特別稱為部件測(cè)試， 它所做的工作旪找出子系統(tǒng)和系統(tǒng)需求規(guī)格 說(shuō)明之間的丌一致。需要考慮的問(wèn)題是：在把各個(gè)模塊連接起來(lái)的旪候，穿越模塊接口的數(shù) 據(jù)是否會(huì)丟失； 一個(gè)模塊的功能是否會(huì)對(duì)另一個(gè)模塊的功能產(chǎn)生丌利的影響； 各個(gè)子功能組 合起來(lái)，是否能達(dá)到預(yù)期要求的父功能；全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問(wèn)題；單個(gè)模塊的誤差累積起 來(lái)是否會(huì)放大。 6.軟件測(cè)試可分為黑盒測(cè)試法和白盒測(cè)試法。 黑盒測(cè)試是通過(guò)分析程序的功能來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用 例的方法。除了測(cè)試程序以外，它還適用于對(duì)需求分析階段的軟件文檔迚行測(cè)試。白盒測(cè)試