SDH常用指標(biāo)測試大全-文檔資料

1、SDH 常用指標(biāo)測試ISSUE 1.10Page 2學(xué)習(xí)完此課程，您將會：掌握光口、電口的測試指標(biāo)概念、測試原理與方法；掌握誤碼性能測試指標(biāo)概念、測試原理和方法；掌握抖動和漂移的概念、測試原理和方法；Page 3Page 4設(shè)備測試原理l光接口類型:應(yīng)用場合應(yīng)用場合局內(nèi)局內(nèi)局間局間短矩短矩長距長距工作波長(nm)13101310155013101550光纖類型G.652G.652G.652G.652G.652/G.654G.653傳輸距離(km)2154080速率等級STM-1I-1S-1.1S-1.2L-1.1L-1.2L-1.3STM-4I-4S-4.1S-4.2L-4.1L-4.2L-4

2、.3STM-16I-16S-16.1S-16.2L-16.1L-16.2L-16.3Page 5 設(shè)備測試原理l規(guī)定系統(tǒng)工作波長范圍的目的: 1、實現(xiàn)橫向兼容時有足夠的靈活性； 2、當(dāng)使用波分復(fù)用時，能夠提供盡可能多的工作波長l系統(tǒng)工作波長選擇的制約條件： 模式噪聲影響傳輸質(zhì)量 光纖衰減導(dǎo)致功率下降 光纖色散引起碼間干擾Page 6設(shè)備測試原理l光纖傳輸?shù)娜齻€“窗口”：1、 850nm : 用于多模傳輸2、1310nm: 用于單模傳輸，光傳輸時色散最小(0色散)3、1550nm: 用于單模傳輸，光傳輸時衰耗最小Page 7設(shè)備測試原理l光纖種類：1、G.652光纖（色散未位移光纖）：在1310

3、nm波長窗口色散性能最佳， 可傳1310nm和1550nm兩個波長區(qū)域的光信號2、G.653光纖（色散位移光纖）：在1550nm波長窗口色散性能最佳， 可傳1550nm波長區(qū)域的光信號，適合傳輸單波高速光信號3、G.655光纖：在1550nm波長窗口衰耗性能最佳，有少量色散，可傳1550nm波長區(qū)域的光信號和DWDM光信號Page 8光發(fā)送端光接收端光纜CTXCRXSR三類光參數(shù): S點光發(fā)送參數(shù)R點光接收參數(shù)S-R之間的光參數(shù)參數(shù)指標(biāo)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn):衰減、色散最壞條件下，再生段BER110-10設(shè)備測試原理l光接口參數(shù)定義:Page 9 單縱模激光器主要能量集中在主模，所以它的光譜寬度是按主模的

4、最大峰值功率跌落到-20dB時的最大寬度來定義的其光譜特性如下圖PAA2A1-20dB最大-20dB帶寬為A2-A1設(shè)備測試原理lS點參數(shù)-發(fā)光機參數(shù)1、最大-20dB帶寬Page 10ITU-T建議長距時 EX10dB其它情況下為8.2dB設(shè)備測試原理lS點參數(shù)-發(fā)光機參數(shù)2、最小邊模抑制比(SMSR) 最壞反射條件時，全調(diào)制條件下主縱模的平均光功率P1與最顯著的邊模的平均光功率P2之比的最小值. SMSR10lg(P1/P2)30dB3、消光比EX1 定義為信號“1”的平均發(fā)光功率A與信號“0” 的平均光功率B比值的最小值. EX10lg(A/B) Page 11設(shè)備測試原理lS點參數(shù)-發(fā)

5、光機參數(shù)4、標(biāo)稱光源類型 光發(fā)送機使用的激光器件類型： 發(fā)光二極管LED 多縱模激光器MLM 單縱模激光器SLM 5、發(fā)送信號波形（眼圖） 防止接收機靈敏度過分劣化，要對發(fā)送信號的波形加以控制，用發(fā)送機眼圖模框來規(guī)范光發(fā)送信號的脈沖形狀。Page 12BER接收光功率AB110-10A點為接收靈敏度點B點為光功率過載點設(shè)備測試原理lR點參數(shù)-接收機光參數(shù)Page 13設(shè)備測試原理lS-R之間的光通道參數(shù)1、衰減降低光功率2、色散1dB光通道功率代價3、反射引入干涉噪聲Page 14設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)1、平均發(fā)送光功率概念：是指發(fā)送機耦合到光纖的偽隨機數(shù)據(jù)序列的平均功率在S參考點上（光板OU

6、T口）測試值。說明：發(fā)送機發(fā)送的光功率與所傳送的數(shù)據(jù)信號中“1”所占的比例有關(guān)，“1”越多發(fā)送光功率大。當(dāng)傳送的數(shù)據(jù)信號是偽隨機序列時，“1”和“0”大致各占一半，將這種情況下的光功率定義為平均發(fā)送光功率。Page 15設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)光口指標(biāo)1、平均發(fā)送光功率平均發(fā)送光功率測試框圖：測試步驟：按上圖接好電路； 對于SDH設(shè)備一般輸入口不需要送信號；如要送則送偽隨機碼；光功率計設(shè)置在被測波長上，待輸出功率穩(wěn)定，從光功率計上讀出平均發(fā)送光功率。Page 16 設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)2、接收機靈敏度定義：是在R參考點（光板IN口），達(dá)到規(guī)定的誤碼率（ BER=110-10）所能接收到的最低平

7、均光功率。Page 17 設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)2、接收機靈敏度測試步驟： 1) 按上圖接好電路 2) 按監(jiān)視誤碼的通道等級，SDH分析儀發(fā)送PRBS，向2M支路輸入口（或線路輸入口）送測試信號； 3) 調(diào)整光衰減器，逐漸加大衰減值，使SDH分析儀測到誤碼盡量接近，但不大于規(guī)定的BER（通常規(guī)定BER=10-10），觀測時間10分鐘； 4) 斷開R點，將光衰減器與光功率計相連讀出R點的接收光功率即接收機靈敏度。Page 18 設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)3、接收機過載功率 定義：是在R參考點（光板IN口），達(dá)到規(guī)定的誤碼（BER=10-10）所能接收到的最高平均光功率。 測試方法：同接收靈敏度測試方

8、法?？偨Y(jié)： 接收機正常工作的范圍是有限制的：光功率太強，會產(chǎn)生誤碼甚至可能毀壞收光模塊；光功率太弱，也會產(chǎn)生誤碼或者收無光。 光板接收到的信號太強、太弱都不行。接收光功率只有在一定的范圍內(nèi)，光板才能穩(wěn)定工作。Page 19設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)4、光輸入口允許頻偏 定義：是指光輸入口在接受信號正常時，能夠允許輸入光信號最大頻偏范圍。 指標(biāo)要求：再生器的內(nèi)部振蕩器在自由運行方式下的長期頻率穩(wěn)定度不得劣于2010-6， 下游SDH設(shè)備輸入口接收到這樣的信號應(yīng)能正常工作。 測試配置：Page 20 設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)4、光輸入口允許頻偏 測試步驟： 按圖接好電路（要進行誤碼監(jiān)視的支路通道應(yīng)環(huán)回，

9、同步源設(shè)置跟蹤線路時鐘）。 按被測接口速率等級SDH分析儀(發(fā)送)送適當(dāng)?shù)臏y試信號（不加頻偏、抖動）。 在被測設(shè)備輸出口用SDH分析儀（接收）接收測試信號并檢測誤碼。儀表應(yīng)無告警、誤碼。 SDH分析儀（發(fā)送信號）加入正或負(fù)的頻偏（范圍20ppm），整個過程中被測設(shè)備不應(yīng)出現(xiàn)誤碼。Page 21 設(shè)備測試原理l光口指標(biāo)5、光輸出口AIS速率：（輸出頻偏）定義：是指SDH設(shè)備在輸入口光信號丟失等故障情況下，輸出口向下游發(fā)AIS信號的速率范圍。指標(biāo)：速率偏差20ppm內(nèi)。Page 22設(shè)備測試原理l測試配置： 同光輸入口允許頻偏測試配置。測試步驟：按圖接好電路；按被測接口速率等級，SDH分析儀（發(fā)送

10、）送適當(dāng)?shù)臏y試信號。在被測設(shè)備輸出口，用SDH分析儀（接收）接收測試信號。斷開輸入光信號，SDH分析儀（接收）應(yīng)收到AIS信號。從SDH分析儀（接收）上讀出AIS的速率。Page 23 設(shè)備測試原理l抖動和漂移定義： 抖動和漂移與系統(tǒng)的定時特性有關(guān)。定時抖動（抖動）是指數(shù)字信號的特定時刻（例如最佳抽樣時刻）相對其理想時間位置的短時間偏離。所謂短時間偏離是指變化頻率高于10Hz的相位變化。而漂移指數(shù)字信號的特定時刻相對其理想時間位置的長時間的偏離，所謂長時間是指變化頻率低于10Hz的相位變化。Page 24設(shè)備測試原理l抖動性能規(guī)范：1）輸入抖動容限： 輸入抖動容限分為PDH輸入口的（支路口）和

11、STM-N輸入口（線路口）的兩種輸入抖動容限。 a、對于PDH輸入口則是在使設(shè)備不產(chǎn)生誤碼的情況下，該輸入口所能承受的最大輸入抖動值。 b、線路口（STM-N）輸入抖動容限定義為能使光設(shè)備產(chǎn)生1dB光功率代價的正弦峰峰抖動值。這參數(shù)是用來規(guī)范當(dāng)SDH網(wǎng)元互連在一起接傳輸STM-N信號時，本級網(wǎng)元的輸入抖動容限應(yīng)能包容上級網(wǎng)元產(chǎn)生的輸出抖動。Page 25 設(shè)備測試原理l抖動與漂移性能2）輸出抖動 與輸入抖動容限類似，也分為PDH支路口和STM-N線路口。定義為在設(shè)備輸入無抖動的情況下，由端口輸出的最大抖動。 SDH設(shè)備的PDH支路端口的輸出抖動應(yīng)保證在SDH網(wǎng)元下PDH業(yè)務(wù)時，所輸出的抖動能使

12、接收此PDH信號的設(shè)備所承受。STM-N線路端口的輸出抖動應(yīng)保證接收此STM-N信號的SDH網(wǎng)元能承受。Page 26設(shè)備測試原理l抖動與漂移性能3）映射和結(jié)合抖動 因為在PDH/SDH網(wǎng)絡(luò)邊界處由于指針調(diào)整和映射會產(chǎn)生SDH的特有抖動，為了規(guī)范這種抖動采用映射抖動和結(jié)合抖動來描述這種抖動情況。 映射抖動指在SDH設(shè)備的PDH支路端口處輸入不同頻偏的PDH信號，在STM-N信號未發(fā)生指針調(diào)整時，設(shè)備的PDH支路端口處輸出PDH支路信號的最大抖動。結(jié)合抖動是指在SDH設(shè)備線路端口處輸入符合G.783規(guī)范的指針測試序列信號，此時SDH設(shè)備發(fā)生指針調(diào)整，適當(dāng)改變輸入信號頻偏，這時設(shè)備的PDH支路端口

13、處輸出信號測得的最大抖動就為設(shè)備的結(jié)合抖動。Page 27 設(shè)備測試原理l抖動和漂移指標(biāo)4）抖動轉(zhuǎn)移函數(shù)抖動轉(zhuǎn)移特性 在此處是規(guī)范設(shè)備輸出STM-N信號的抖動對輸入的STM-N信號抖動的抑制能力（也即是抖動增益），以控制線路系統(tǒng)的抖動積累，防止系統(tǒng)抖動迅速積累。 抖動轉(zhuǎn)移函數(shù)定義為設(shè)備輸出的STM-N信號的抖動與設(shè)備輸入的STM-N信號的抖動的比值隨頻率的變化關(guān)系，此頻率指抖動的頻率。Page 28 設(shè)備測試原理l電口指標(biāo)1、輸入口允許頻偏 定義：是指電輸入口在接受信號正常時，能夠允許輸入電信號最大頻偏范圍 指標(biāo)要求： |50| ppm ，(詳見G.703 6.1條，8.1條，9.1條，12.

14、1條) 測試配置：Page 29 設(shè)備測試原理l電口指標(biāo)測試步驟： a）按上圖連接電路； b）在PDH/SDH分析儀發(fā)端（或圖案發(fā)生器）發(fā)送側(cè)接符合G.703規(guī)范的衰減電纜，調(diào)節(jié)PDH/SDH分析儀輸出信號頻偏至相應(yīng)規(guī)范值，接收側(cè)應(yīng)不出現(xiàn)誤碼。Page 30 設(shè)備測試原理l電口指標(biāo)2、PDH輸入口抖動容限： 為保證電信設(shè)備正常工作，傳輸設(shè)備應(yīng)能容忍信號傳輸過程中可能出現(xiàn)的最大抖動 方法： 在PDH/SDH分析儀發(fā)端（或圖案發(fā)生器）發(fā)送側(cè)接符合G.703規(guī)范的衰減電纜，調(diào)節(jié)PDH/SDH分析儀輸出信號抖動幅值，接收側(cè)處于產(chǎn)生誤碼的臨界值。Page 31 設(shè)備測試原理l電口指標(biāo)3、PDH輸出抖動：

15、 為保證電信設(shè)備正常工作，傳輸設(shè)備輸出信號的抖動值不應(yīng)大于接收側(cè)設(shè)備的最大抖動容限。 方法： 在PDH/SDH分析儀發(fā)端（或圖案發(fā)生器）發(fā)送側(cè)接符合G.703規(guī)范的衰減電纜，調(diào)節(jié)PDH/SDH分析儀使輸出信號無抖動幅值，查看輸出抖動值。Page 32 設(shè)備測試原理l誤碼性能指標(biāo)定義： 誤碼是指經(jīng)接收、判決、再生后，數(shù)字碼流中的某些比特發(fā)生了差錯，使傳輸?shù)男畔①|(zhì)量產(chǎn)生損傷。誤碼性能的度量： 傳統(tǒng)的誤碼性能的度量（G.821）是度量64kb/s的通道在27500km全程端到端連接的數(shù)字參考電路的誤碼性能，是以比特的錯誤情況為基礎(chǔ)的。當(dāng)傳輸網(wǎng)的傳輸速率越來越高，以比特為單位衡量系統(tǒng)的誤碼性能有其局限

16、性。 目前高比特率（2M及2M以上電路）通道的誤碼性能是在ITU-T G.826建議和M.2100建議規(guī)定，以塊為單位進行度量的（B1、B2、B3監(jiān)測的均是誤碼塊），由此產(chǎn)生出一組以“塊”為基礎(chǔ)的一組參數(shù)。這些參數(shù)的含義如下：Page 33 設(shè)備測試原理l誤碼性能指標(biāo) 誤塊 當(dāng)塊中的比特發(fā)生傳輸差錯時稱此塊為誤塊。 誤塊秒（ES）和誤塊秒比（ESR） 當(dāng)某一秒中發(fā)現(xiàn)1個或多個誤碼塊時稱該秒為誤塊秒。在規(guī)定測量時間段內(nèi)出現(xiàn)的誤塊秒總數(shù)與總的可用時間的比值稱之為誤塊秒比。Page 34設(shè)備測試原理l 嚴(yán)重誤塊秒（SES）和嚴(yán)重誤塊秒比（SESR）某一秒內(nèi)包含有不少于30%的誤塊或者至少出現(xiàn)一個嚴(yán)重

17、擾動期（SDP）時認(rèn)為該秒為嚴(yán)重誤塊秒。其中嚴(yán)重擾動期指在測量時，在最小等效于4個連續(xù)塊時間或者1ms（取二者中較長時間段）時間段內(nèi)所有連續(xù)塊的誤碼率10-2 或者出現(xiàn)信號丟失。在測量時間段內(nèi)出現(xiàn)的SES總數(shù)與總的可用時間之比稱為嚴(yán)重誤塊秒比（SESR）。嚴(yán)重誤塊秒一般是由于脈沖干擾產(chǎn)生的突發(fā)誤塊，所以SESR往往反映出設(shè)備抗干擾的能力。Page 35 設(shè)備測試原理l誤碼性能指標(biāo) 背景誤塊（BBE）和背景誤塊比（BBER）扣除不可用時間和SES期間出現(xiàn)的誤塊稱之為背景誤塊（BBE）。BBE數(shù)與在一段測量時間內(nèi)扣除不可用時間和SES期間內(nèi)所有塊數(shù)后的總塊數(shù)之比稱背景誤塊比（BBER）。若這段測量時間較長，那么BBER往往反映的是設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生的誤碼情況，與設(shè)備采用器件的性能穩(wěn)定性有關(guān)。電口誤碼測試配置：Page 36設(shè)備測試原理l電口誤碼測試配置：l測試步驟1) 按上圖接好電路；2) 按被測系統(tǒng)接口速率等級，圖案發(fā)生器選擇適當(dāng)?shù)腜RBS向被測系統(tǒng)輸入口送測試信號。3) 24小時后，從測試儀表上讀出（打?。y試結(jié)果。Page 37 設(shè)備測試原理l保護倒換測試保護倒換準(zhǔn)則是出現(xiàn)下列情況之一：（1）信號丟失(LOS)（2）幀丟失(LOF