JB4730.3-2005超聲波標(biāo)準(zhǔn)和ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照

1、 JB/T4730-2005與ASME2004標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比第 9 頁(yè) 共 9 頁(yè) JB/T4730-2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第3部分 超聲檢測(cè)ultrasonic ltrsnik 標(biāo)準(zhǔn)修改介紹以及與ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測(cè)4.2.1 范圍本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)、外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-1.1【2】相關(guān)技術(shù)

2、內(nèi)容: ASME規(guī)定：操作方法包括用直射波和斜射波技術(shù)對(duì)大型鍛件作接觸脈沖回波式超聲波檢驗(yàn)程序。直射波法包括DGS（距離增益當(dāng)量）法?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：JB4730對(duì)適用范圍作了限定，ASME沒(méi)有那么明確。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.2 探頭雙晶直探頭的公稱(chēng)頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱(chēng)頻率應(yīng)選用25MHz，探頭晶片一般為1425mm。主要修改內(nèi)容： 探頭 2005版增加了有關(guān)探頭的內(nèi)容，即：雙晶直探頭的公稱(chēng)頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱(chēng)頻率應(yīng)選用2MHz5MHz，探頭晶片一般為14mm25

3、mm。解釋?zhuān)?994版沒(méi)有對(duì)探頭做出規(guī)定，選擇余地較大，由此也可能造成檢測(cè)結(jié)果的不一致，2005版對(duì)此作了規(guī)定。值得注意的是，鍛件雙晶直探頭的檢測(cè)范圍是45mm。一般而言，用一個(gè)雙晶直探頭較難覆蓋45mm，可能需要一個(gè)以上焦點(diǎn)不同的雙晶直探頭。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-4.2，7.2【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 對(duì)于直射波掃查可采用換能器的最大有效面積為650mm2，其最小尺寸為20mm，最大為30mm。對(duì)于斜射波掃查，可采用換能器的尺寸從13×25mm至25×25mm。b) 換能器應(yīng)使用其標(biāo)稱(chēng)

4、頻率。c) 可以采用其它探頭來(lái)評(píng)定和精確測(cè)定顯示信號(hào)。d) 如有可能，直射波的檢驗(yàn)宜采用標(biāo)稱(chēng)頻率為2.25MHz的探頭。但是，對(duì)于粗晶粒奧氏體材料和長(zhǎng)距離探測(cè)最好采用1MHz頻率，在很多情況下，檢驗(yàn)粗晶粒的奧氏體材料，甚至可能要采用0.4MHz頻率。為了得到更好的分辨力、穿透力或缺陷的檢出力，也可采用其它頻率?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）ASME沒(méi)有規(guī)定雙晶探頭。（2）JB4730規(guī)定直探頭晶片尺寸為14mm25mm，而ASME則為2030mm。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.3 試塊應(yīng)符合3.5的規(guī)定。4.2.3.1 單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CS試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和

5、表4的規(guī)定。4.2.3.2 雙晶直探頭試塊 a) 工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊。 b) CS試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。4.2.3.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CS 標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。主要修改內(nèi)容： 試塊 1994版：試塊應(yīng)采用CS1和CS2試塊，也可自行加工，其形狀和尺寸應(yīng)按表8-4和圖8-4的規(guī)定。2005版：采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。解釋?zhuān)?005版取消了1994版規(guī)定的CS1和CS2試塊，并把1994版表8-4和圖8-4規(guī)定的試塊作為CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊。CS1試塊有2、3、4、6、8聲程

6、50mm、75mm250mm共26塊。CS試塊有2、3、4、6、8聲程50mm、75mm250mm、500mm共66塊。CSI試塊為2平底孔試塊，共有4塊，平底孔深度分別為50mm、100mm、150mm和200mm。試塊數(shù)量大大減少。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-4.4, 4.5【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 校準(zhǔn)設(shè)備時(shí)，應(yīng)采用具有平底孔的參考試塊。當(dāng)合同或訂貨單有規(guī)定時(shí)，可用于確定直射波檢驗(yàn)的記錄水平。b) 當(dāng)訂單或合同有規(guī)定時(shí)，可采用與所用的探頭和儀器相配的DGS面板來(lái)確定直射波檢驗(yàn)的記錄靈敏度水平。所選用的DGS

7、面板的范圍必須包括所要檢驗(yàn)的鍛件整個(gè)厚度截面。【3】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）JB4730規(guī)定有一整套試塊，而ASME則沒(méi)有明確規(guī)定試塊，如有需要，則由合同各方商定。（2）對(duì)鍛件的超聲檢測(cè)，我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與歐美標(biāo)準(zhǔn)的最大區(qū)別在于：我國(guó)習(xí)慣于用試塊法或當(dāng)量計(jì)算法而歐美則常用DGS面板曲線。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.4 檢測(cè)時(shí)機(jī)檢測(cè)原則上應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺(tái)等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度Ra6.3m。 國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-6.2, 7.1.2【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 除了在訂貨單或

8、合同中另有規(guī)定，或是在鍛件的圖紙中另有標(biāo)明以外，加工后的表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)6m。b) 超聲檢驗(yàn)應(yīng)在改善機(jī)械性能的熱處理（不包括消除應(yīng)力的處理）之后進(jìn)行，但應(yīng)在鉆孔、開(kāi)槽、車(chē)斜度或加工外部輪廓之前進(jìn)行。如果要求作機(jī)械性能熱處理的鍛件外形使鍛件在處理之后不能作全面完整的檢驗(yàn)，可允許在機(jī)械性能熱處理之前進(jìn)行檢驗(yàn)。在這種情況下，鍛件在熱處理之后仍應(yīng)盡可能完整地重新進(jìn)行超聲檢驗(yàn)。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.5 檢測(cè)方法4.2.5.1 一般原則鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)。4.2.5.2 縱波檢測(cè) a） 原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能地檢

9、測(cè)到鍛件的全體積。主要檢測(cè)方向如圖7所示。其他形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行；b） 鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查。4.2.5.3 橫波檢測(cè)鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按附錄C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。主要修改內(nèi)容： 橫波檢測(cè)1994版：鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)。對(duì)筒形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。2005版：鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒形鍛件和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)。解釋?zhuān)簠^(qū)別在于2005版規(guī)定對(duì)筒形和環(huán)形鍛件應(yīng)增加橫波檢測(cè)，而1994是則由供需雙方商定的。 國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-T-571.2，S

10、A388-7.1.57.1.8【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a)所有鍛件和棒材應(yīng)使用直射波法進(jìn)行超聲檢驗(yàn)。b)環(huán)形鍛件和其它空心鍛件還應(yīng)在二個(gè)周向用斜射波法檢驗(yàn)，除非由于厚度和幾何形狀不能使用斜射波檢驗(yàn)。c)經(jīng)晶粒細(xì)化熔融處理并用于容器殼體的環(huán)形鍛件還應(yīng)用斜射波方法在兩個(gè)軸向檢驗(yàn)。d)如有可能，鍛件的所有部分均應(yīng)從兩個(gè)互相垂直的方向作的掃查。e)用直射波掃查圓盤(pán)形鍛件時(shí)，如有可能，應(yīng)至少?gòu)囊粋€(gè)平面和從圓周面上的徑向進(jìn)行。f)用直射波技術(shù)從徑向掃查圓柱截面和空心的鍛件。如有可能，也應(yīng)對(duì)鍛件作軸向檢驗(yàn)。g) 要用斜射波技術(shù)從外表面對(duì)空心的鍛件進(jìn)行檢驗(yàn)?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：ASME與JB4730規(guī)

11、定的內(nèi)容基本相同。但JB4730規(guī)定鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查，ASME則無(wú)此規(guī)定。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.6 靈敏度的確定4.2.6.1 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。4.2.6.2 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS 試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基

12、準(zhǔn)靈敏度。4.2.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388- 7.2.2【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 用底面反射或參考試塊技術(shù)或DGS法確定儀器靈敏度。b) 底面反射技術(shù)（底面反射校準(zhǔn)法適用于聲波入射面與底面互相平行的鍛件）將衰減器調(diào)到適當(dāng)?shù)乃?，例?:1或14dB，調(diào)節(jié)儀器控制，使其從鍛件底面得到的底面反射信號(hào)大致為滿幅度的75%。將衰減器調(diào)到最大的放大率（衰減器調(diào)到1:1）掃查鍛件。評(píng)定缺陷時(shí)應(yīng)將增益控制調(diào)到參考水平，當(dāng)截面厚度或直徑有明顯變化時(shí)，需要重新校

13、準(zhǔn)靈敏度。c) 參考試塊的校準(zhǔn)參考試塊的表面粗糙度應(yīng)大致與被檢工件相當(dāng)，但不能優(yōu)于被檢工件。調(diào)節(jié)儀器，使其從規(guī)定的參考試塊平底孔上得到所要求的信號(hào)幅度，在幅度大于儀器垂直線性范圍時(shí)用衰減器確定其幅度，對(duì)于這些情況，在掃查鍛件之前要除去衰減量。d) DGS校準(zhǔn)使用前先核實(shí)一下DGS面板所配的換能器尺寸和頻率?？捎脭?shù)塊參考試塊和操作方法E317所述的方法來(lái)核實(shí)面板的準(zhǔn)確性。這些面板與所用的超聲換能器和脈沖回波系統(tǒng)配套?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：內(nèi)容基本相同。ASME雖然涉及到了多種方法，但都沒(méi)有具體規(guī)定，許多要求都應(yīng)由合同雙方協(xié)商，比如對(duì)于檢測(cè)靈敏度，JB4730要求為2平底孔，但ASME則無(wú)相關(guān)規(guī)定。JB

14、/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.7 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定4.2.7.1 在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1或Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2或Bm）為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1-B2）或（Bn-Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。4.2.7.2 衰減系數(shù)的計(jì)算公式（T3N，且滿足n3N/T，m=2n，=（Bn-Bm）-6/2（m-n）T（1）式中：衰減系數(shù)，dB/m（單程）； （Bn-Bm）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB； T工件檢測(cè)厚

15、度，mm； N單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，mm；m、n底波反射次數(shù)。4.2.7.3 衰減系數(shù)的計(jì)算公式（T3N） =（B1-B2）-6/2T（2）（B1-B2）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；式中其余符號(hào)意義同式（1）的規(guī)定。4.2.7.4 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。主要修改內(nèi)容： 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定2005版增加了對(duì)T<3N時(shí)衰減系數(shù)的測(cè)定。解釋?zhuān)?994版沒(méi)有T<3N時(shí)衰減系數(shù)的測(cè)定，因而顯得不完整。2005版對(duì)比作了規(guī)定。但用上述公式測(cè)定衰減系數(shù)時(shí)必須注意工件上下表面的粗糙度應(yīng)足夠小，且表面不得有水、油等雜物，否則會(huì)使測(cè)定變得毫無(wú)意義。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)

16、內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：沒(méi)有JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.8 缺陷當(dāng)量的確定4.2.8.1 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離-波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量。也可采用其他等效方法來(lái)確定。4.2.8.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)考慮修正。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：沒(méi)有JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.9 缺陷記錄4.2.9.1 記錄當(dāng)量直徑超過(guò)4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。

17、4.2.9.2 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50mm×50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。4.2.9.3 底波降低量應(yīng)按表6的要求記錄。表6 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 dB等級(jí)底波降低量BG/BF8>814>1420>2026>26注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷。4.2.9.4 衰減系數(shù)：若合同雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系數(shù)。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【

18、1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388- 8【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 在底面反射法中，幅度等于或超過(guò)相鄰無(wú)缺陷信號(hào)區(qū)底面反射波高10%的一些單個(gè)信號(hào)；在參考試塊法中或DGS法中，等于或超過(guò)100%參考幅度的一些信號(hào)。b) 凡在同一平面上連續(xù)出現(xiàn)的一個(gè)信號(hào)，不論其幅度大小如何，其出現(xiàn)的面積比探頭的直徑大一倍，這個(gè)信號(hào)的范圍，應(yīng)準(zhǔn)確地沿著反射幅度的變化而加以測(cè)定。c) 同一平面的信號(hào)，如果連續(xù)出現(xiàn)范圍的長(zhǎng)軸大于25mm，則應(yīng)認(rèn)為是該平面上的連續(xù)信號(hào)。在記錄這些信號(hào)時(shí)，必須對(duì)波束在所估計(jì)的缺陷深度處的擴(kuò)散作出校正。d) 在底波法中，等于或超過(guò)底波5%的缺陷信號(hào)。在參考試塊波中，等

19、于或超過(guò)基準(zhǔn)波高50%的信號(hào)，這些信號(hào)是連續(xù)游動(dòng)或是密集出現(xiàn)時(shí)。e) 此處游動(dòng)信號(hào)的定義為當(dāng)探頭在鍛件表面移動(dòng)時(shí)，信號(hào)前沿在掃描線上移動(dòng)的距離，相當(dāng)于25mm或更大的金屬深度。f) 密集信號(hào)的定義為鍛件中50mm或更小的立方體內(nèi)有5個(gè)或更多的信號(hào)。g) 底面反射的降低超過(guò)原來(lái)測(cè)定值的20%時(shí)，按10%的增量測(cè)量。h) 應(yīng)予記錄的信號(hào)幅度，按10%的增量作記錄?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）JB4730規(guī)定較詳細(xì)，主要記錄大于一定量的單個(gè)缺陷、密集缺陷和由缺陷引起的底波降低量。ASME規(guī)定較籠統(tǒng)，具體操作時(shí)還應(yīng)由合同雙方確定相關(guān)內(nèi)容，如參考基準(zhǔn)等。（2）與JB4730相比，ASME規(guī)定有些特別的地方，如

20、需記錄游動(dòng)信號(hào)以及底面反射降低超過(guò)原來(lái)測(cè)定值的20%等等。（3）ASME規(guī)定記錄平面信號(hào)時(shí)，應(yīng)對(duì)波束在缺陷深度處的擴(kuò)散作出校正。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容4.2.10 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.2.10.1 單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表7。 表7 單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 mm等級(jí)缺陷當(dāng)量直徑44+（>0 dB 8dB）4+（>8 dB 12dB）4+（>12 dB 16dB）4 +16dB4.2.10.2 缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表6。4.2.10.3 缺陷密集區(qū)質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表8。 表8 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比，%0

21、>05>510>1020>204.2.10.4 表6、表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。4.2.10.5 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為級(jí)。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-10.3.1【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 不允許有大于參考底面反射一定百分率的顯示。b) 不允許有等于或大于規(guī)定的參考試塊中平底孔信號(hào)的顯示。c) 不允許有底面反射的降低大于參考底面反射一定百分率的區(qū)域。d) 不允許a)或b)的顯示與c)中的某些底面反射的降低現(xiàn)象同時(shí)出現(xiàn)。e) 不允許有超過(guò)DGS法

22、中規(guī)定的參考線的顯示。【3】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）JB4730規(guī)定了對(duì)缺陷的質(zhì)量等級(jí)，ASME則沒(méi)有分級(jí)。（2）ASME沒(méi)有對(duì)缺陷密集區(qū)的評(píng)定。（3）ASME規(guī)定的僅是一些原則，具體參數(shù)應(yīng)由合同雙方商定。附錄C（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用鋼鍛件橫波檢測(cè)C.1 范圍本附錄適用于內(nèi)、外徑之比大于或等于80%的承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲橫波檢測(cè)。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-7.3.1【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：對(duì)于軸向長(zhǎng)度大于50mm，而且外內(nèi)徑比值小于2.0:1的環(huán)形和空心鍛件，要從圓周上進(jìn)行檢驗(yàn)?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）需橫波檢驗(yàn)

23、的環(huán)形鍛件內(nèi)外徑之比，JB4730為0.8，ASME為0.5，因此，ASME需要對(duì)更多的環(huán)形鍛件進(jìn)行橫波檢驗(yàn)。（2）ASME規(guī)定需橫波檢驗(yàn)的環(huán)形和空心鍛件其軸向長(zhǎng)度應(yīng)大于50mm，JB4730無(wú)此規(guī)定。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容C.2 探頭C.2.1 探頭公稱(chēng)頻率主要為2.5MHz。C.2.2 探頭晶片面積為140 mm2400mm2。C.2.3 原則上應(yīng)采用K1探頭，但根據(jù)工件幾何形狀的不同，也可采用其他的K值探頭。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-7.3.2【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：除了因?yàn)楸诤瘛?/p>

24、外內(nèi)徑比或其它幾何形狀不能進(jìn)行校準(zhǔn)外，應(yīng)采用1MHz的45°斜探頭。若有希望達(dá)到更好的分辨率、穿透率和缺陷探測(cè)能力，則可采用其它頻率。對(duì)外內(nèi)徑之比等于2.0:1的空心鍛件作斜射波檢查時(shí)，換能器應(yīng)帶有楔塊，在所檢驗(yàn)的工作截面形狀和尺寸條件下產(chǎn)生所需要的波型和折射角?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）ASME使用較低的頻率，即1MHz。（2）按ASME需對(duì)內(nèi)外徑之比為0.5以上的環(huán)形鍛件作橫波檢驗(yàn)，則探頭折射角應(yīng)為=30°45°。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容C.3 靈敏度校準(zhǔn)試塊為了調(diào)整檢測(cè)靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試塊。在鍛件

25、的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V形槽長(zhǎng)度為25mm，深度為鍛件壁厚的1%，角度為60°。也可采用其他等效的反射體（如邊角反射等）。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-7.3.3【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：校準(zhǔn)試塊應(yīng)當(dāng)和它所代表的鍛件有相同的標(biāo)稱(chēng)成分、熱處理和厚度。校準(zhǔn)試塊的表面粗糙度應(yīng)與被檢工件相似，但不能更優(yōu)。如果是同一批鍛件，則可以把其中的一個(gè)鍛件作為校準(zhǔn)試塊。內(nèi)壁切槽（矩形或60°V形切槽）深度最大應(yīng)為標(biāo)稱(chēng)厚度的3%或6mm，選用其中的較小值，其長(zhǎng)度約為25mm，而厚度則取決

26、于被檢鍛件的厚度。如有可能，最好是在工件的余量或工件的試樣上開(kāi)槽?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：（1）ASME規(guī)定切槽可以是矩形槽或60°V形切槽，而JB4730則采用60°V形切槽。（2）ASME切槽深為3%壁厚，JB4730為1%壁厚，顯然JB4730的要求較嚴(yán)。JB/T 4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容C.4 檢測(cè)方法C.4.1 掃查方式C.4.1.1 掃查方向見(jiàn)圖C.1。C.4.1.2 探頭移動(dòng)速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。C.4.1.3 掃查覆蓋率應(yīng)為探頭寬度的15%以上。圖C.1鍛件橫波檢測(cè)掃查方向主要修改內(nèi)容掃查方向2005版在軸向增加了一個(gè)掃查方向。解釋?zhuān)?994版

27、在軸向缺少了一個(gè)掃查方向。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-7.3.4, 7.1.3, 7.1.4【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 檢驗(yàn)時(shí)，從外壁沿周向以正、反時(shí)針兩個(gè)方向在整個(gè)表面積進(jìn)行掃查。對(duì)于不能用直射波作軸向檢驗(yàn)的鍛件，要采用斜射波探頭從兩個(gè)軸向進(jìn)行檢驗(yàn)。b) 為了保證鍛件整體都能被檢查到，要求探頭的每次移動(dòng)至少要有15%的重疊。c) 掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s?！?】簡(jiǎn)要評(píng)述：內(nèi)容基本相同，ASME特別強(qiáng)調(diào)對(duì)不能用直探頭作軸向檢驗(yàn)的鍛件，要用斜探頭進(jìn)行兩個(gè)軸向的檢查，JB4730則無(wú)規(guī)定相關(guān)內(nèi)容。JB/T 473

28、0.3-2005標(biāo)準(zhǔn)條款及技術(shù)內(nèi)容C.4.2 基準(zhǔn)靈敏度的確定從鍛件外圓面將探頭對(duì)準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿刻度的80%，將該值標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動(dòng)探頭測(cè)定外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，并將最大的反射高度也標(biāo)在面板上，將上述兩點(diǎn)用直線連接并延長(zhǎng)，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測(cè)范圍。內(nèi)圓面檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度也按上述方法確定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述【1】對(duì)應(yīng)條款：ASME2004-SA388-7.3.3, 7.3.4【2】相關(guān)技術(shù)內(nèi)容: ASME規(guī)定：a) 校準(zhǔn)作斜射波檢驗(yàn)的儀器，使其能從內(nèi)壁表面、并沿鍛件軸線方向和平行于軸線的矩形或60°V形切槽上得到約為75%滿幅度的信號(hào)幅度。在同一儀器調(diào)整值下，再?gòu)南嗤耐獗谇胁鄣玫降谝淮畏瓷湫盘?hào)，連接兩個(gè)反射信號(hào)的頂點(diǎn)作一直線，這就是幅度參考線。當(dāng)從外壁表面探測(cè)不出外壁切槽時(shí)，如有可能（某些工件的內(nèi)徑可能太小以致不能作檢驗(yàn)），應(yīng)從內(nèi)、外壁兩面按上述進(jìn)行檢驗(yàn)。當(dāng)從外壁作檢查時(shí)，使用內(nèi)壁切槽；從內(nèi)壁作檢查時(shí)，則用外壁切槽。如有需要，并有實(shí)際可能時(shí)，可以采用曲面的楔塊。b) 對(duì)于軸向掃查，采用在內(nèi)壁和外壁上的矩形或60°V形切槽進(jìn)行校正。這些切槽應(yīng)垂直于鍛件軸線，其尺寸應(yīng)與軸向切