測(cè)試報(bào)告書(shū)編寫格式、范文

1、測(cè)試報(bào)告書(shū)編寫格式測(cè)試報(bào)告書(shū)是測(cè)試階段最后的文檔產(chǎn)出物，“優(yōu)秀的測(cè)試人 員”應(yīng)該具備良好的文檔編寫能力，一份詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告書(shū)應(yīng)該 包含足夠的信息，包括產(chǎn)品質(zhì)量和測(cè)試過(guò)程的評(píng)價(jià)，測(cè)試報(bào)告基 于測(cè)試中的數(shù)據(jù)采集以及對(duì)最終的測(cè)試結(jié)果分析。測(cè)試報(bào)告測(cè)試報(bào)告就是把 測(cè)試的過(guò)程和結(jié)果寫成文檔，并對(duì)發(fā)現(xiàn)的問(wèn) 題和缺陷進(jìn)行分析，為糾正產(chǎn)品的存在的質(zhì)量問(wèn)題提供依據(jù)，同 時(shí)為產(chǎn)品驗(yàn)收和交付打下基礎(chǔ)。、測(cè)試報(bào)告書(shū)內(nèi)容測(cè)試報(bào)告書(shū)的內(nèi)容可以總結(jié)為以下目錄:(1) 首頁(yè)(2) 引言目的背景縮略語(yǔ)參考文獻(xiàn)(3) 測(cè)試概要測(cè)試方法測(cè)試范圍測(cè)試環(huán)境測(cè)試工具)(4) 測(cè)試結(jié)果與缺陷分析功能測(cè)試性能測(cè)試（5）測(cè)試結(jié)論與建議項(xiàng)目概況

2、測(cè)試時(shí)間測(cè)試情況結(jié)論性能匯總（6）附錄缺陷統(tǒng)計(jì)二、測(cè)試報(bào)告書(shū)各部分的格式內(nèi)與容1、首頁(yè)（1）測(cè)試報(bào)告名稱產(chǎn)品名稱版本號(hào)XX測(cè)試報(bào)告（2 ）測(cè)試報(bào)告委托方報(bào)告責(zé)任方報(bào) 告日期等（3）測(cè)試版本變化歷史（4）測(cè)試密級(jí)2、引言引言編寫指出弓I言編寫目的是簡(jiǎn)單的闡述該測(cè)試報(bào)告的具體編寫目的, 預(yù)期的讀者范圍。實(shí)例：本測(cè)試報(bào)告為XXX項(xiàng)目的測(cè)試報(bào)告，目的在于總結(jié)測(cè)試階段的測(cè)試以及分析測(cè)試結(jié)果，描述系統(tǒng)是否符合需求（或達(dá) 到XXX功能目標(biāo)）。預(yù)期參考人員包括用戶、測(cè)試人員、開(kāi)發(fā)人員、項(xiàng)目管理者、其他質(zhì)量管理人員和需要閱讀本報(bào)告的高層經(jīng) 理。項(xiàng)目背景對(duì)項(xiàng)目目標(biāo)和目的進(jìn)行簡(jiǎn)要說(shuō)明。必要時(shí)包括簡(jiǎn)史，這部分不需要腦

3、力勞動(dòng)，直接從需求或者招標(biāo)文件中拷貝即可。系統(tǒng)簡(jiǎn)介如果設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)有此部分，照抄。注意必要的框架圖和網(wǎng)絡(luò)拓?fù)?圖。術(shù)語(yǔ)和縮略語(yǔ)列出設(shè)計(jì)本系統(tǒng)/項(xiàng)目的專用術(shù)語(yǔ)和縮寫語(yǔ)約定。對(duì)于技術(shù)相關(guān)的名詞和與多義詞一定要注明清楚，以便閱讀時(shí)不會(huì)產(chǎn)生歧義。參考資料（1）需求、設(shè)計(jì)、測(cè)試用例、手冊(cè)以及其他項(xiàng)目文檔都是范圍 內(nèi)可參考的資料。（2 ）測(cè)試使用的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)指標(biāo)、公司規(guī)范和質(zhì)量手冊(cè)等等。3、測(cè)試概要測(cè)試的概要介紹 包括測(cè)試的一些聲明、測(cè)試范圍、測(cè)試目的等等，主要是測(cè)試情 況簡(jiǎn)介。用例設(shè)計(jì)方法簡(jiǎn)要介紹測(cè)試用例的設(shè)計(jì)方法測(cè)試環(huán)境與配置簡(jiǎn)要介紹測(cè)試環(huán)境及其配置。提示：清單如下，如果系統(tǒng)/項(xiàng)目比較大，則用表格方

4、式列出數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器配置。4、測(cè)試結(jié)果與缺陷分析整個(gè)測(cè)試報(bào)告中這是最重要的部分，這部分主要匯總各種數(shù)據(jù)并進(jìn)行度量，度量包括對(duì)測(cè)試過(guò)程的度量和能力評(píng)估、對(duì)產(chǎn)品產(chǎn) 品的質(zhì)量度量和產(chǎn)品評(píng)估。對(duì)于不需要過(guò)程度量或者相對(duì)較小的 項(xiàng)目，例如用于驗(yàn)收時(shí)提交用戶的測(cè)試報(bào)告、小型項(xiàng)目的測(cè)試報(bào) 告，可省略過(guò)程方面的度量部分；而采用了工程標(biāo)準(zhǔn)過(guò)程的，需 要提供過(guò)程改進(jìn)建議和參考的測(cè)試報(bào)告一主要用于內(nèi)部測(cè)試改進(jìn) 和缺陷預(yù)防機(jī)制-則過(guò)程度量需要列出。測(cè)試執(zhí)行情況與記錄(1 )描述測(cè)試資源消耗情況(2) 記錄實(shí)際數(shù)據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)項(xiàng)目關(guān)注部分?jǐn)?shù)據(jù)測(cè)試組織可列出簡(jiǎn)單的測(cè)試組架構(gòu)圖，包括：(1 )測(cè)試組架構(gòu)(如存在分組、用戶參與等情

5、況)(2 )測(cè)試經(jīng)理(領(lǐng)導(dǎo)人員)(3) 主要測(cè)試人員(4) 參與測(cè)試人員測(cè)試時(shí)間列出測(cè)試的跨度和工作量，最好區(qū)分測(cè)試文檔和活動(dòng)的時(shí)間。數(shù)據(jù)可供過(guò)程度量使用。例如XXX子系統(tǒng)/子功能： 實(shí)際開(kāi)始時(shí)間一實(shí)際結(jié)束時(shí)間，總工時(shí)/總工作日，任務(wù)開(kāi)始時(shí)間 /結(jié)束時(shí)間，總計(jì)。測(cè)試版本給出測(cè)試的版本，如果是最終報(bào)告，可能要報(bào)告測(cè)試次數(shù)回歸測(cè)試多少次。列出表格清單則便于知道那個(gè)子系統(tǒng)/子模塊的測(cè)試頻度，對(duì)于多次回歸的子系統(tǒng)/子模塊將引起開(kāi)發(fā)者關(guān)注。覆蓋分析(1) 需求覆蓋率是指經(jīng)過(guò)測(cè)試的需求/功能和需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)中所有需求/功能的比值，通常情況下要達(dá)到100%的目標(biāo)。(2) 測(cè)試覆蓋：需求/功能(或編號(hào))用例個(gè)

6、數(shù) 執(zhí)行總數(shù) 未執(zhí)行 未/漏測(cè)分析和原因。缺陷分析本部分對(duì)上述缺陷和其他收集數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合分析缺陷綜合分析缺陷發(fā)現(xiàn)效率=缺陷總數(shù)/執(zhí)行測(cè)試用時(shí)可到具體人員得出平均指標(biāo)用例質(zhì)量= 缺陷總數(shù)/測(cè)試用例總數(shù)X 100%缺陷密度=缺陷總數(shù)/功能點(diǎn)總數(shù)缺陷密度可以得出系統(tǒng)各功能或各需求的缺陷分布情況，開(kāi)發(fā)人員可以在此分析基礎(chǔ)上得出哪部分功能/需求缺陷最多， 從而在今后開(kāi)發(fā)注意避免并注意在實(shí)施時(shí)予與關(guān)注，測(cè)試經(jīng)驗(yàn)表明，測(cè)試缺陷越多的部分，其隱藏的缺陷也越多。測(cè)試曲線圖 描繪被測(cè)系統(tǒng)每工作日 / 周缺陷數(shù)情況，得出缺陷走勢(shì)和趨向殘留缺陷和未解決的問(wèn)題殘留缺陷編號(hào)：BUG號(hào)缺陷概要：該缺陷描述的事實(shí)原因分析：如

7、何引起缺陷，缺陷的后果，描述造成產(chǎn)品局限性和 其他限制性的原因預(yù)防和改進(jìn)措施：彌補(bǔ)手段和長(zhǎng)期策略未解決問(wèn)題功能/測(cè)試類型：測(cè)試結(jié)果：與預(yù)期結(jié)果的偏差缺陷：具體描述評(píng)價(jià)：對(duì)這些問(wèn)題的看法，也就是這些問(wèn)題如果發(fā)出去了會(huì)造成 什么樣的影響5、測(cè)試結(jié)論與建議測(cè)試結(jié)論（1）測(cè)試執(zhí)行是否充分（可以增加對(duì)安全性、可靠性、可維護(hù)性和功能性描述）（2）對(duì)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)的控制措施和成效（3）測(cè)試目標(biāo)是否完成（4）測(cè)試是否通過(guò)（5）是否可以進(jìn)入下一階段項(xiàng)目目標(biāo)建議（1） 對(duì)系統(tǒng)存在問(wèn)題的說(shuō)明，描述測(cè)試所揭露的產(chǎn)品缺陷和不足, 以及可能給產(chǎn)品實(shí)施和運(yùn)行帶來(lái)的影響（2）可能存在的潛在缺陷和后續(xù)工作（3）對(duì)缺陷修改和產(chǎn)品設(shè)計(jì)的

8、建議（4）對(duì)過(guò)程改進(jìn)方面的建議6、附錄（1）缺陷列表（2）缺陷等級(jí)定義標(biāo)準(zhǔn)（3）測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)三、測(cè)試報(bào)告的范本XXX公司XXX （產(chǎn)品或產(chǎn)品）/XXX （模塊）測(cè)試報(bào)告1.概述（1 ）測(cè)試目的簡(jiǎn)述本次測(cè)試的目的，如：驗(yàn)證某模塊是否符合設(shè)計(jì)項(xiàng)目背景簡(jiǎn)述測(cè)試所在項(xiàng)目的背景，如：XXX （項(xiàng)目）目前進(jìn)入什么階段，以及其他信息（2 ）測(cè)試環(huán)境硬件環(huán)境僅針對(duì)測(cè)試對(duì)象的硬件環(huán)境及其版本信息加以說(shuō)明產(chǎn)品環(huán)境僅針對(duì)測(cè)試對(duì)象的產(chǎn)品環(huán)境及其版本信息加以說(shuō)明（3 ）測(cè)試人員人員角色4. 實(shí)際進(jìn)度占用時(shí)間描述整個(gè)測(cè)試過(guò)程的時(shí)間跨度，如：XXXX-XX-XX至 XXXX-XX-XX進(jìn)度情況 原因如果測(cè)試提前或延后完成，請(qǐng)說(shuō)明具體原因5. 測(cè)試參考文檔(1)XXX測(cè)試計(jì)劃(2)XXX測(cè)試用例(3)文檔三(4)文檔四(5)版本信息6. 測(cè)試數(shù)據(jù)(5) 測(cè)試數(shù)據(jù)測(cè)試項(xiàng)總數(shù)測(cè)試項(xiàng)編號(hào)測(cè)試項(xiàng) 通過(guò)與否PASS 0 PASS 率FAIL 0 FAIL 率 問(wèn)題描述問(wèn)題嚴(yán)重度中-嚴(yán)重度一一高其中： 高-嚴(yán)重度中嚴(yán)重度低低-問(wèn)題嚴(yán)重度的界定: 高一一導(dǎo)致系統(tǒng)死機(jī)或后續(xù)部分測(cè)試項(xiàng)功能不能實(shí)現(xiàn)；中一一影響該