LCM信賴性測(cè)試項(xiàng)目以及判定標(biāo)準(zhǔn)

1、文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼1/11信賴性測(cè)試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)編制:日期:審核:日期:批準(zhǔn):日期:文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼2/11文件變更履歷表制/修訂日期修i頁(yè)碼修訂理由或內(nèi)容版次修訂人2017-10-262018-08-09ALL4/5/6/7/8/9/10新制5.5 環(huán)境類測(cè)試項(xiàng)目以及判定檢驗(yàn)方法；5.6 機(jī)械類、光學(xué)測(cè)試項(xiàng)目以及判定檢驗(yàn)方法。B0B1是否需會(huì)審：需會(huì)審口/、需會(huì)審會(huì)審部門(mén)研發(fā)中心生產(chǎn)部工程部口人事行政部品質(zhì)部市場(chǎng)管理部口資源采購(gòu)部JPMC部財(cái)務(wù)部營(yíng)銷部分發(fā)部門(mén)文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部

2、門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼3/111 .目的為規(guī)范我司信賴性測(cè)試，特制定本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。2 .適用范圍凡本公司內(nèi)信賴性測(cè)試均適用。3 .職責(zé)實(shí)驗(yàn)室：按照測(cè)試申請(qǐng)條件和信賴性測(cè)試規(guī)范完成測(cè)試并輸出試驗(yàn)結(jié)果。4 .缺陷區(qū)分及定義4.1. 重缺：顯示或者功能缺陷，嚴(yán)重偏離規(guī)格，客戶無(wú)法正常使用。嚴(yán)重外觀缺陷，嚴(yán)重偏離規(guī)格，客戶無(wú)法正常使用。BAreaAArea4.3. 輕缺：輕微偏離規(guī)格，不影響產(chǎn)品功能，但對(duì)產(chǎn)品外觀有影響AArea：顯示區(qū)BArea:外顯示區(qū)CArea:邊雁區(qū)域（.指客戶機(jī)殼可覆蓋區(qū)域,無(wú)機(jī)殼可按照框膠卜2來(lái)卡）LCD液晶顯示屏；TP:觸摸屏；LCM液晶顯示模組；CTP電容觸摸屏注：在區(qū)域C

3、中有看得見(jiàn)的外觀缺陷，但不影響產(chǎn)品質(zhì)量及顧客產(chǎn)品組裝，除崩邊崩角按規(guī)格外，其它一般原則下是允許的，外觀檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)適用于A區(qū)、B區(qū)。客戶有特殊要求時(shí)除外；5 .檢驗(yàn)方法，環(huán)境及檢驗(yàn)工具5.1. 檢驗(yàn)方法5.1.1 在2040W日光燈的照明條件下，米¥品離檢查者眼睛約30cm處進(jìn)行檢查。檢驗(yàn)方向以垂直線前后左右45°（以時(shí)鐘3點(diǎn)、6點(diǎn)、9點(diǎn)、12點(diǎn)）5.1.2 檢驗(yàn)者視力需達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)視力1.0以上。5.1.3 檢驗(yàn)者需戴靜電手環(huán)、手套或者兩手八個(gè)手指套。5.1.4 外觀檢驗(yàn)者以目視檢查或以菲林對(duì)比卡比對(duì)。5.1.5 電性測(cè)試使用電測(cè)測(cè)架，主板，電源線及單片機(jī)。5.1.6 輝色度檢測(cè)

4、請(qǐng)參照樣品，檢測(cè)方法依照輝色度檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。5.2. 檢驗(yàn)環(huán)境電測(cè)：照度為200LUX以下，外觀：照度為800LUX-1200LUX每個(gè)畫(huà)面才驗(yàn)時(shí)間：1秒-5秒文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼4/115.3. 檢驗(yàn)工具電測(cè)測(cè)架，主板，電源線及單片機(jī)，菲林對(duì)比卡，游標(biāo)卡尺，放大鏡，濾光片，實(shí)體顯微鏡（必要時(shí)）等等。5.4. 檢驗(yàn)順序產(chǎn)品檢驗(yàn)順序按照先檢驗(yàn)產(chǎn)品四周，再由上至下“Z”字型測(cè)試，如下示意圖：IC位置IC位置5.5. 環(huán)境類測(cè)試項(xiàng)目以及判定檢驗(yàn)方法（測(cè)試條件可根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格要求做調(diào)整變化）。5.5.1 高溫高濕運(yùn)行試驗(yàn)（THO5.5.1.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間

5、在高溫高濕環(huán)境下LCDModule產(chǎn)品的運(yùn)行情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.1.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：THOChamber檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直放置于設(shè)備中，運(yùn)行設(shè)定條件：60C/90%storage2hr,后點(diǎn)燈運(yùn)行。試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.1.4 合格判定外觀檢查，無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、引線生銹等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。有特定要求情況下，對(duì)比試驗(yàn)前后光學(xué)（亮度/對(duì)比度/均一性/色域等）和電學(xué)特性5.5.2 高溫運(yùn)行試驗(yàn)（HTO）5.5.2.1 測(cè)

6、試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在高溫環(huán)境下LCDModule產(chǎn)品的運(yùn)行情況，文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼5/11發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù).5.5.2.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：HTOChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs溫度濕度：60C5.5.2.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直置于高溫環(huán)境中，點(diǎn)燈運(yùn)行產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.2.4 合格判定外觀檢查，無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、引線生銹等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。5.5.3 低溫運(yùn)行試驗(yàn)（L

7、TO）5.5.3.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在低溫環(huán)境下LCDModule產(chǎn)品的運(yùn)行情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.3.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：LTOChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs溫度濕度：-20C5.5.3.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直置于低溫環(huán)境中，點(diǎn)燈運(yùn)行產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.3.4 合格判定外觀檢查，無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、引線生銹等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。5.5.4 高溫高濕存儲(chǔ)試驗(yàn)（THS）5.5.4.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間

8、在高溫高濕下LCDModule產(chǎn)品的存儲(chǔ)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.4.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：THSChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼6/11溫度濕度：60C/90%5.5.4.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直置于低溫環(huán)境中，存儲(chǔ)240H試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.4.4 合格判定外觀檢查，無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、引線生銹等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。5.5.5 溫濕度存儲(chǔ)試驗(yàn)8585測(cè)試

9、5.5.5.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在高溫高濕下LCDModule產(chǎn)品的存儲(chǔ)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.5.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：THSChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs溫度濕度：85C/85%RH5.5.5.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直置于高溫高濕環(huán)境中，存儲(chǔ)240H試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.5.4 合格判定畫(huà)面品質(zhì)檢查，不關(guān)注BLU和Pol相關(guān)不良，無(wú)功能性不良（畫(huà)異、線不良等）。無(wú)Bubble不良。5.5.6 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)（HTS）5.5.6.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在高溫環(huán)

10、境下LCDModule產(chǎn)品的存儲(chǔ)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.6.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：HTSChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs溫度濕度：80C5.5.6.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼7/11將樣品豎直置于高溫環(huán)境中，存儲(chǔ)240H試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.6.4 合格判定外觀檢查，無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、引線生銹等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。5.5.7 低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(LTS)5.5.7.1 測(cè)試

11、目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在低溫環(huán)境下LCDModule產(chǎn)品的存儲(chǔ)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.7.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：LTSChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs溫度濕度：-30C5.5.7.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直置于低溫環(huán)境中，存儲(chǔ)240H試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.7.4 合格判定外觀檢查，無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、引線生銹等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。5.5.8 冷熱沖擊試驗(yàn)(TST>5.5.8.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在溫度沖擊環(huán)境下LCDM

12、odule產(chǎn)品的存儲(chǔ)品質(zhì)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在的不良，提供產(chǎn)品改善的依據(jù)。5.5.8.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：TSTChamber測(cè)試數(shù)量：至少3pcs溫度濕度：-30C70C5.5.8.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能。將樣品豎直置于TSTCHambe中，冷熱沖擊100CYCLE試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，樣品應(yīng)在常溫環(huán)境中放置2hr后進(jìn)行終檢。5.5.8.4 合格判定文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼8/11外觀檢查，無(wú)溫度沖擊引起的引線、封裝受損等不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。有特定要求情況下，對(duì)比試驗(yàn)前后光學(xué)(亮

13、度/對(duì)比度/均一性/色域等)和電學(xué)特性5.5.9 殘像試驗(yàn)(Imagesticking)5.5.9.1 測(cè)試目的：證LCD產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間處于的同一靜態(tài)圖面(殘像畫(huà)面)時(shí)液晶老化對(duì)產(chǎn)品的影響。5.5.9.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：RTOChamber測(cè)試數(shù)量：5pcs溫度濕度：常溫常濕TestPattern:7*5Chess、Gray1275.5.9.3 測(cè)試方法檢查初始的畫(huà)面品質(zhì)，并調(diào)節(jié)flicker至最小，樣品豎直放置于設(shè)備上，運(yùn)行7*5檢查畫(huà)面調(diào)整至L127,檢查距離70cm視線角范圍內(nèi)檢查面殘像和線殘像，判定等級(jí)及消失灰階。5.5.9.4 合格判定1hr無(wú)殘像，3hr+5min殘像需消失，168

14、+1hr不能出現(xiàn)Level2及以上殘像，不能有線殘像。5.5.10 鹽霧試驗(yàn)(SaltSprayTest)5.5.10.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在堿性條件下，試驗(yàn)元器件的抗腐蝕能力。5.5.10.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：SaltChamber測(cè)試數(shù)量：5pcs溫度濃度PH集霧率噴霧壓力壓力桶溫度Chamber溫度試驗(yàn)時(shí)間35C5±0.1%6.57.212ml/80cm2?h1.0±0.1kg?f/cm247±1C35±1C24hr5.5.10.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：外觀、功能。將樣品豎直放置于設(shè)備中，設(shè)備運(yùn)行24hr文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件

15、編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼9/11試驗(yàn)結(jié)束后產(chǎn)品靜置24hr（干燥后）檢查樣品。5.5.10.4 合格判定外觀檢查：無(wú)金屬件腐蝕、絕緣材料老化、外殼電鍍層剝落、外引線生銹或銹斷等。無(wú)畫(huà)異、線不良等功能性不良。5.5.11 POL吸濕試驗(yàn)（POLMoistureTest）5.5.11.1 測(cè)試目的：模擬產(chǎn)品在流通環(huán)境下Pol原材可能發(fā)生的潛在不良5.5.11.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：點(diǎn)燈機(jī)測(cè)試數(shù)量：5pcs溫度濕度：常溫常濕，浸水的無(wú)塵布覆蓋5.5.11.3 測(cè)試方法將浸水的無(wú)塵布覆蓋在OC表面2*3模式布置，并用PE膜覆蓋（產(chǎn)品撕下POL保護(hù)膜）將樣品水平放置于室溫常濕環(huán)境下，存儲(chǔ)48h

16、r存儲(chǔ)完成后，去除OC表面覆蓋的濕布，進(jìn)行POL外觀終檢。5.5.11.4 合格判定外觀檢查，屏正反面POL無(wú)分層剝離或氣泡等不良貼附無(wú)塵布位置無(wú)mura等。5.5.12 高溫高濕高壓試驗(yàn)（PCT5.5.12.1 測(cè)試目的：測(cè)試CELL產(chǎn)品在高溫高壓高濕條件下暴露的潛在不良，為改善產(chǎn)品品質(zhì)提供依據(jù)。5.5.12.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：PCTChamber測(cè)試數(shù)量：20pcscell溫度濕度：121C/100%/2atm5.5.12.3 測(cè)試方法將樣品豎直放置于至于JIG上，裝入設(shè)備，在試驗(yàn)中間12hr,終止24hr進(jìn)行檢查。檢查玻璃基板表面有無(wú)破碎，seal膠有無(wú)破損；之后用無(wú)塵布包裹的小錘對(duì)

17、Panel邊緣進(jìn)行適當(dāng)?shù)那脫?，重點(diǎn)敲擊產(chǎn)品四個(gè)角（每角三到四次）敲擊之后帶貼指手套揉搓產(chǎn)品兩側(cè)，觀察是否有Panel被Decape或造成液晶泄露等現(xiàn)象。5.5.12.4 合格判定文件標(biāo)題信賴性實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)版次制定部門(mén)品質(zhì)部制訂日期貝碼10/11Cell玻璃基板無(wú)破碎，Seal膠無(wú)破損，液晶無(wú)泄露。5.5.13 包材存儲(chǔ)試驗(yàn)5.5.13.1 測(cè)試目的：測(cè)試CELL產(chǎn)品在高溫高壓高濕條件下暴露的潛在不良，改善產(chǎn)品品質(zhì)提供依據(jù)。5.5.13.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：THSChamber測(cè)試數(shù)量：1boxor1pallet5.5.13.3 測(cè)試方法將整箱產(chǎn)品或整Pallant產(chǎn)品按照出貨標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行

18、打包；將打包好的產(chǎn)品放在60c90%RH勺環(huán)境中；實(shí)驗(yàn)時(shí)間總計(jì)：EPP/EP野材質(zhì)包材實(shí)驗(yàn)48hr,紙質(zhì)包材實(shí)驗(yàn)12hr；實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，每隔24hr對(duì)包材內(nèi)的產(chǎn)品進(jìn)行檢查（紙質(zhì)包材12h檢查）。5.5.13.4 合格判定包材外觀&包材內(nèi)無(wú)水跡。產(chǎn)品有無(wú)表面污漬等外觀不良。畫(huà)質(zhì)及功能檢查，初檢畫(huà)質(zhì)不良無(wú)明顯加重，無(wú)功能性不良。5.5.14 Double100試驗(yàn)（100/100Test）5.5.14.1 測(cè)試目的：測(cè)定長(zhǎng)時(shí)間在高溫高濕環(huán)境下確認(rèn)產(chǎn)品的Bonding粒子壓痕狀態(tài)5.5.14.2 測(cè)試條件測(cè)試設(shè)備：THSChamber或蒸煮設(shè)備5.5.14.3 測(cè)試方法檢查產(chǎn)品的初始品質(zhì)：畫(huà)面、光學(xué)、電學(xué)功能；將樣品置于高溫高濕環(huán)境中存儲(chǔ)試驗(yàn)結(jié)束，檢查樣品品質(zhì)時(shí)，并在顯微性下確認(rèn)實(shí)驗(yàn)前后Bonding粒子壓痕狀態(tài)；5.5.14.4 合格判定無(wú)功能性不良（畫(huà)異、線不良、Bubble等）。Bonding區(qū)域粒子壓痕維持（試驗(yàn)前后對(duì)比無(wú)明顯