(甲上)SPC_講義(12小時(shí))

1、Statistical Process Control SPC統(tǒng)計(jì)過程控制講師：李國防 (Minister Lee)Minister.leea-R011李李 國國 防防經(jīng)經(jīng) 歷歷 ：美國質(zhì)量協(xié)會(huì)（美國質(zhì)量協(xié)會(huì)（ASQASQ）會(huì)員）會(huì)員 63397902 63397902 美國質(zhì)量協(xié)會(huì)（美國質(zhì)量協(xié)會(huì)（ASQASQ）認(rèn)證質(zhì)量工程師（）認(rèn)證質(zhì)量工程師（CQECQE） 5159451594中國質(zhì)量協(xié)會(huì)會(huì)員中國質(zhì)量協(xié)會(huì)會(huì)員中國質(zhì)量協(xié)會(huì)注冊中國質(zhì)量協(xié)會(huì)注冊6 SIGMA6 SIGMA黑帶黑帶 CAQ-BBEC-0600103CAQ-BBEC-0600103中國統(tǒng)計(jì)局注冊統(tǒng)計(jì)師中國統(tǒng)計(jì)局注冊統(tǒng)計(jì)師( (中級

2、中級) 2005100220532050524) 2005100220532050524中國質(zhì)量協(xié)會(huì)注冊中級質(zhì)量工程師中國質(zhì)量協(xié)會(huì)注冊中級質(zhì)量工程師 00274420027442內(nèi)部講師培訓(xùn)師內(nèi)部講師培訓(xùn)師2課程行為準(zhǔn)則課程行為準(zhǔn)則需要雙向的溝通（講師和學(xué)員）如果您有與課題相關(guān)的經(jīng)歷或資料，請與大家分享有問題作好記錄聯(lián)想式聽講我如何在工作中運(yùn)用這種工具或方法休息后準(zhǔn)時(shí)回來關(guān)閉手機(jī)或者使用振動(dòng)方式如果您認(rèn)為課程過重請及時(shí)告訴講師3課程大綱課程大綱1.1. 質(zhì)量的發(fā)展質(zhì)量的發(fā)展2.2. 直方圖與正態(tài)分布直方圖與正態(tài)分布3.3. 管制圖管制圖4.4. 制程能力評估制程能力評估5.5. 制程監(jiān)控制程監(jiān)

3、控6.6. 如何成功推動(dòng)如何成功推動(dòng)SPCSPC4lSPC是英文Statistical Process Control的前綴簡稱,即 統(tǒng)計(jì)過程控制。是應(yīng)用統(tǒng)計(jì)方法對過程中的各個(gè)階段進(jìn)行評估和監(jiān)控,建立并保持處于可接受的并且穩(wěn)定的水平,從而保証產(chǎn)品與服務(wù)符合符合規(guī)定要求的一種質(zhì)量管理技朮.SPC:主要工具是控制圖等圖形SPC特點(diǎn):是制程中的預(yù)防性方法.SPC-SPD (Diagnosis,診斷)PCS: Process Capability Statistical 。什什么么是是SPCSPC5SPC的歷史 管制圖是1924年由美國品管大師W.A. Shewhart博士發(fā)明。因其用法簡單且效果顯著

4、，人人能用，到處可用，遂成為實(shí)施質(zhì)量管理時(shí)不可缺少的主要工具，當(dāng)時(shí)稱為(Statistical Quality Control)。61924年發(fā)明W.A. Shewhart1931發(fā)表1931年Shewhart發(fā)表了“Economic Control of Quality ofManufacture Product”19411942制定成美國標(biāo)準(zhǔn)Z1-1-1941 Guide for Quality ControlZ1-2-1941 Control Chart Method foranalyzing DataZ1-3-1942 Control Chart Method forControl Q

5、uality During ProductionSPC的發(fā)展7SPC 興起是宣告經(jīng)驗(yàn)掛帥時(shí)代的結(jié)束 手工藝的產(chǎn)業(yè)：SPC 無用武之地經(jīng)驗(yàn)取勝 當(dāng)經(jīng)驗(yàn)可以整理，再加上設(shè)備、制程或系統(tǒng)時(shí)，那 SPC 時(shí)機(jī)的導(dǎo)入，就自然成熟了。SPC 興起是宣告品質(zhì)公共認(rèn)證時(shí)代的來臨 1980年以前，客戶大都以自己的資源與方法，來認(rèn)定某些合格的供應(yīng)商，造成買賣雙方的浪費(fèi)。 1980年以後，GMP及ISO 9000的興起，因?yàn)橹匾暜a(chǎn)品生產(chǎn)的過程與系統(tǒng)，故更須有賴 SPC 來監(jiān)控過程與系統(tǒng)的一致性。SPC 興起與背景8SPC 與傳統(tǒng) SQC 的最大不同點(diǎn)，就是由 Q P 的轉(zhuǎn)變SPC 的焦點(diǎn) 過程 ( Process

6、)強(qiáng)調(diào)重點(diǎn)重點(diǎn)SQC產(chǎn)品品質(zhì).著重於買賣雙方可共同評斷、鑑定的一種既成事實(shí)QSPC產(chǎn)品過程,即process.過程的起伏變化，才是造成品質(zhì)變異 (Variation ) 的主要根源P9過程起伏條件過程起伏條件品質(zhì)異常品質(zhì)異常產(chǎn)品優(yōu)劣產(chǎn)品優(yōu)劣因因因因果果果果品質(zhì)變異的大小，它才是決定產(chǎn)品優(yōu)劣的關(guān)鍵SPC 的焦點(diǎn) 過程 ( Process )10數(shù)據(jù)的類型數(shù)據(jù)的類型 1.連續(xù)數(shù)據(jù). 連續(xù)數(shù)據(jù)又叫計(jì)量(Variable)數(shù)據(jù),是通過量測所獲得的數(shù)據(jù). 其特點(diǎn)是可以用單位來度量. 如攝氏度、秒、千米.2.離散數(shù)據(jù). 離散數(shù)據(jù)又叫計(jì)數(shù)(Attribute)數(shù)據(jù), 其特點(diǎn)是表現(xiàn)的是屬性和類別. 是通過計(jì)數(shù)

7、所得到的數(shù)據(jù). 不能被精確細(xì)分.111. 總體(Population): 我們研究對象的全部, 或全部數(shù)據(jù); N2. 樣本(Sample): 從總體中抽取的能代表母體特徵的部分; n3. 平均值(Mean): 總體或樣本的所有數(shù)值的平均數(shù); X4. 中位數(shù)(Median):樣本按大小順序排列后,位居中間的數(shù)值 Me5. 方差(Variance): 數(shù)據(jù)與其平均值之間差值的平方的平均值;S2 2 6. 標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation): 方差的正平方根, 表示一組數(shù)據(jù)的分散程度; 7. 全距(Range): 樣本的最大值減去最小值的差. R基本統(tǒng)計(jì)術(shù)語12基本統(tǒng)計(jì)術(shù)語8.Ca 準(zhǔn)確

8、度.(與規(guī)格中心值作比較) Ca= *100%實(shí)際平均值- 規(guī)格中心值T/2XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX |Ca| 等級判別Ca12.5% A級12.5%Ca25% B級25%Ca50% D級 Ca0 -實(shí)際平均值較規(guī)格中心值偏高 Ca=1.33 時(shí), 表示制程能力足夠 1.33Cpk=1.0時(shí), 表示制程能力尚可,應(yīng)再努力 Cpk1.0 時(shí), 表示制程不足,必須加以改善18習(xí)題:1.已知內(nèi)層前處理咬蝕量規(guī)格上限(USL)為50,規(guī)格下限(LSL)為30,規(guī)格中心值是40, 實(shí)際(Xbar)平均值為41.2, 標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差=2求Ca,Cp. CpU,CpL.Cpk.Cp

9、U=(USL-Xbar)/3CPL=(Xbar-LSL)/3USL 規(guī)格上限 LSL 規(guī)格下限 Xbar 實(shí)際平均值Ca 準(zhǔn)度度=（實(shí)際平均值-規(guī)格平均值）/公差的一半Cp= （規(guī)格上限-規(guī)格下限）/6 *190.1920.1800.1680.1560.1440.1320.1200.108LSLTargetUSLProcess DataSample?N1649StDev(Within)0.0069088StDev(Overall)0.0118408LSL0.10668Target0.1524USL0.19812Sample Mean0.158492Potential (Within) Capa

10、bilityCCpk2.21Overall CapabilityPp1.29PPL1.46PPU1.12PpkCp1.12Cpm1.142.21CPL2.50CPU1.91Cpk1.91Observed PerformancePPM?USL0.00PPM?Total0.00Exp. Within PerformancePPM?USL0.00PPM?Total0.00Exp. Overall PerformancePPM?USL408.82PPM?Total414.87WithinOverallProcess Capability of C1820直方圖21222324三.直方圖名詞解釋1.求全

11、距:在所有數(shù)據(jù)中的最大值與最小值的差2.決定組數(shù) 組數(shù)過少,雖可得到相當(dāng)簡單的表格,但卻失去次數(shù)分配的本質(zhì);組數(shù)過過多,雖然表列詳盡,但無法達(dá)到簡化的目的.(異常值應(yīng)先除去再分組).25263.組距組距=全距/組數(shù)組距一般取5,10或2的倍數(shù)275.計(jì)算各組的組中點(diǎn)各組的組中點(diǎn)=下組距+組距/228演演 練練 某電纜廠有兩臺(tái)生產(chǎn)設(shè)備,最近,經(jīng)常有不符合規(guī)格值(135210g)異常產(chǎn)品發(fā)生,今就A,B兩臺(tái)設(shè)備分別測定50批產(chǎn)品,請解析并回答下列回題:1.作全距數(shù)據(jù)的直方圖.2.作A,B兩臺(tái)設(shè)備之層別圖3.由直方圖所得的情報(bào)，請說明哪臺(tái)設(shè)備較不佳29收集數(shù)據(jù)如下:30 雙峰型 孤島型 高原型 正態(tài)

12、型 鋸齒型 絕壁型四.分佈狀態(tài)判斷31五. 與規(guī)格值或標(biāo)準(zhǔn)值作比較32C.表示制程之生產(chǎn)完全沒有依照規(guī)格去考慮,或規(guī)格訂得不合理,根本無法達(dá)到規(guī)格.33六.直方圖在應(yīng)用上必須注意事項(xiàng)直方圖可根據(jù)由圖形按分布形狀來觀察制程是否正常.產(chǎn)品規(guī)格分布圖案可與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格作比較,有多大的差異.是否必要再進(jìn)一步層別化.34100個(gè)機(jī)螺絲直徑直方圖。圖中的直方高度與該組的頻數(shù)成正比從直方圖到正態(tài)分布從直方圖到正態(tài)分布如果資料越多，分組越密，則直方圖也越趨近一條光滑曲線，如直方圖趨如果資料越多，分組越密，則直方圖也越趨近一條光滑曲線，如直方圖趨近光滑曲線近光滑曲線( (如如圖所示圖所示) )。在極限情況下得到的光

13、滑曲線即為。在極限情況下得到的光滑曲線即為分布曲線分布曲線，它反，它反映了產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)規(guī)律映了產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)規(guī)律35將各組的頻數(shù)用資料總和N=100除，就得到各組的頻率，它表示機(jī)螺絲直徑屬于各組的可能性大小。顯然，各組頻率之和為1。若以直方面積來表示該組的頻率，則所有直方面積總和也為1。36 測定平均值測定平均值 在中心線或平均值兩側(cè)呈現(xiàn)左右對稱之分布在中心線或平均值兩側(cè)呈現(xiàn)左右對稱之分布 極大值與極小值數(shù)量很小極大值與極小值數(shù)量很小 常態(tài)曲線左右兩尾與橫軸漸漸靠近但不相交常態(tài)曲線左右兩尾與橫軸漸漸靠近但不相交 曲線下的面積總和為曲線下的面積總和為 1 1正態(tài)分布特征正態(tài)分布特征37統(tǒng)計(jì)學(xué)統(tǒng)

14、計(jì)學(xué)為了解被調(diào)查群體的某些隱含的特性，運(yùn)用合理的為了解被調(diào)查群體的某些隱含的特性，運(yùn)用合理的抽樣方法抽樣方法從被調(diào)查從被調(diào)查群體群體N N中取得適當(dāng)?shù)闹腥〉眠m當(dāng)?shù)臉颖緲颖緉 n，通過研究樣本來發(fā)現(xiàn)群，通過研究樣本來發(fā)現(xiàn)群體的特性體的特性! !38數(shù)據(jù)的離散程度數(shù)據(jù)的離散程度 R R極差極差(Range)(Range)最大值最小值最大值最小值maxmaxminmin V V方差方差/ /變異變異( (Variation)Variation)( (總體總體) ) ( (樣本樣本) ) S S標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差Standard deviation( (總體總體) () (樣本樣本) )NXi22)(NXi

15、2)(1)(22nXXsi1)(2nXXsi3940正態(tài)分布中，任一點(diǎn)出現(xiàn)在 內(nèi)的概率為 P(-X +) = 68.26% 2內(nèi)的概率為 P(-2X +2) = 95.45% 3內(nèi)的概率為 P(-3X +3) = 99.73%+68.26%95.45%99.73%+1 +2+3-1-2-3正態(tài)分佈正態(tài)分佈41正態(tài)分布概率(雙邊)42正態(tài)曲線單側(cè)的概率(P值)43推斷正態(tài)分布的參數(shù)推斷正態(tài)分布的參數(shù)總體參數(shù) 樣本統(tǒng)計(jì)量 集中程度集中程度 離散程度離散程度 s s44正態(tài)分布的表達(dá)方式位置：中心值形狀：峰態(tài)分布寬度45不同的正態(tài)分布不同的正態(tài)分布12X(a)12，1=246不同的正態(tài)分布不同的正態(tài)

16、分布1=2X(b)1=2，121247不同的正態(tài)分布不同的正態(tài)分布2X(b)12，12148目標(biāo)值線預(yù)測時(shí)間目標(biāo)值線尺寸時(shí)間？兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)如果僅存在變差的如果僅存在變差的普通原因普通原因, ,隨隨著時(shí)間的推移著時(shí)間的推移, ,過程的輸出形成過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的如果存在變差的特殊原因特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定穩(wěn)定正態(tài)分布與兩種變差原因正態(tài)分布與兩種變差原因受控受控不受控不受控49變差的普通原因 V.S.特殊原因普通原因普通原因Common CauseCommon

17、 Cause特殊原因特殊原因Special CauseSpecial Cause大量之微小原因所引起,不可避免不管發(fā)生何種之普通原因，其個(gè)別之變異極為微小幾個(gè)較代表性之普通原因如下：（）原料之微小變異（）機(jī)械之微小振動(dòng)（）儀器測定時(shí)不十分精確之作法實(shí)際上要除去制程上之普通原因，是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起,可以避免任何一個(gè)特殊原因，都可能發(fā)生大的變異幾個(gè)較代表性之特殊原因如下：（）原料群體之不良（）不完全之機(jī)械調(diào)整（）新手之作業(yè)員特殊原因之變化不但可以找出其原因，并且除去這些原因之處置，在經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上講常是正確的50Question 請列出目前制程中人，機(jī)，料，法，環(huán)境中普通

18、原因及特殊原因有哪些？51局部性的對策及系統(tǒng)局部性的對策及系統(tǒng)性性的對策的對策 局部問題的對策局部問題的對策* *通常用來消除特殊原因造成的變異通常用來消除特殊原因造成的變異* *可以被制程附近的人員來執(zhí)行可以被制程附近的人員來執(zhí)行* * 一般可以改善制程的一般可以改善制程的 15%15% 系統(tǒng)改善的對策系統(tǒng)改善的對策* *通常用來減低普通原因造成的變異通常用來減低普通原因造成的變異* *幾乎總是需要管理者的行動(dòng)來加以矯正幾乎總是需要管理者的行動(dòng)來加以矯正* * 一般可以改善制程的一般可以改善制程的 85%85%52對于一個(gè)新的機(jī)種或是新的制程而言，要先解決制程變異的普通原因還是特殊原因？為什

19、么？Question53共同原因用 6sigma手法解決.特殊原因用 SPC手法解決54上班遲到 人員天氣冷宿舍人員沒叫方法公車少路途遠(yuǎn) (陸家 )上班人多.公車慢不愿意起床上班途中生病上班途中發(fā)生意外打卡人多 55過程控制過程控制范圍不受控（存在特殊原因）受控（消除了特殊原因）持續(xù)改進(jìn)的思維模式持續(xù)改進(jìn)的思維模式56持續(xù)改進(jìn)的思維模式持續(xù)改進(jìn)的思維模式57管制圖SampleSample Mean19171513119753133.133.032.932.8_X=32.962UCL=33.0901LCL=32.8339SampleSample Range1917151311975310.40.

20、30.20.10.0_R=0.2221UCL=0.4697LCL=0Xbar-R Chart of C1258管管制圖是對制圖是對過程質(zhì)量過程質(zhì)量加以測定、記錄加以測定、記錄，從而進(jìn)行控制管從而進(jìn)行控制管理的一種用科學(xué)方法設(shè)計(jì)的圖。圖上有理的一種用科學(xué)方法設(shè)計(jì)的圖。圖上有中心線中心線(CL(CL- -Central LineCentral Line) )、上管制界限上管制界限(UCL(UCL-Upper Control -Upper Control LimitLimit) )和下管制界限和下管制界限(LCL(LCL-Lower Control Limit-Lower Control Limit

21、) )，并，并有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列，參見有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列，參見管制圖示例圖。管制圖示例圖。管制圖管制圖59管制圖由來說明60正態(tài)分布有一個(gè)結(jié)論對質(zhì)量管理很有用，即無論均值和標(biāo)準(zhǔn)差取何值，產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在3之間的概率為99.73%，于是落在3之外的概率為100%一99.73%= 0.27%，而超過一側(cè)，即大于-3或小于+3的概率為0.27%/2=0.135%1% ，如正態(tài)分布曲線圖。這個(gè)結(jié)論十分重要。管制圖即基于這一理論而產(chǎn)生！管管制圖原理制圖原理68.26%95.45%99.73%+1 +2 +3-1-2-361管制圖的目的 管制圖和一般的統(tǒng)計(jì)

22、圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異系屬于普通原因普通原因或特殊原因特殊原因，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。利用控制限區(qū)隔是否為特殊原因62SPC控制圖分類控制圖分類2.1按使用目的不同,可分為分析用與控制用控制圖是否是III否IIIIV統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)技朮控制狀態(tài)統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)技朮穩(wěn)態(tài)狀態(tài) I:統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)與技朮控制狀態(tài)同時(shí)達(dá)到.是理想狀態(tài).狀態(tài) II:統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)未達(dá)到,技朮控制達(dá)到.狀態(tài) III:統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)達(dá)到,技朮控制未達(dá)到狀態(tài) IV:統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)與技朮控制狀態(tài)均未達(dá)到.是最不理想狀態(tài).63管制界限和規(guī)格界限管制界限和規(guī)格界限有有關(guān)嗎關(guān)嗎？ 規(guī)

23、格界限(SL)：是用以說明質(zhì)量特性之最大許可值，來保證各個(gè)單位產(chǎn)品之正確性能。 管制界限(CL)：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體之量度，這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得之觀測值所計(jì)算出來者。64規(guī)格界限=?=管制界限6566管制圖種類(以數(shù)據(jù)來分) 計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 平均值與全距管制圖 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 中位數(shù)與全距管制圖 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 計(jì)數(shù)值管制圖計(jì)數(shù)值管制圖 不良率管制圖 不良數(shù)管制圖 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 單位缺點(diǎn)管制圖67管制圖種類(依用途來分) 解析用管制圖 決定方針用 制程解析用 制程能力研究用 制程管制準(zhǔn)備用n控制用管制圖n追查不正常原因n迅速消除此項(xiàng)原因n并且研究采取防

24、止此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生之措施。解析用穩(wěn)穩(wěn)定定控制用68管制圖的益處 合理使用管制圖能 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 有有助助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去持下去 使過程達(dá)到 更高的質(zhì)量 更低的單件成本 更高的有效能力 為討論過程的性能提供共同的語言 區(qū)分區(qū)分變差的變差的特殊原因特殊原因和和普通原因普通原因，作為采取，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。69搜集數(shù)據(jù)繪解析用管制圖是否穩(wěn)定？繪直方直方圖圖是否滿足規(guī)格？控制用管制圖尋找特殊原因特殊原因檢討機(jī)械、設(shè)備提升制程能力7

25、0管制圖的形成管制圖的形成814131211109CLLCLUCL -3 +3713 原則原則 3 原則即是控制圖中的CL, UCL及LCL由下式確定: UCL=+3 UCL=+3 CL= CL= LCL=-3 LCL=-3 式中, , 為統(tǒng)計(jì)量的總體參數(shù). 經(jīng)驗(yàn)證明休華特所提出的3 方式能使兩類錯(cuò)誤造成的總損失最小.72兩類錯(cuò)誤兩類錯(cuò)誤1. 型I錯(cuò)誤: 虛發(fā)警報(bào)(false alarm) 過程正常, 由於點(diǎn)子偶然超出界外而判異, 於是就犯了型I錯(cuò)誤. 記為 .一般為5%.可稱生產(chǎn)者冒險(xiǎn)率Type I error9991GoodNG抽樣原則:從1000個(gè)中隨機(jī)抽一個(gè).如果是OK就允收.如果NG

26、就判退.那判退的幾率是多少.73Type II error500500GoodNG2 .型II錯(cuò)誤: 漏發(fā)警報(bào)(alarm missing) 過程異常, 但仍會(huì)有部分產(chǎn)品, 其質(zhì)量特性值的數(shù)值大小仍位於控制界線內(nèi). 如果抽取到這樣的產(chǎn)品, 點(diǎn)子仍會(huì)在界內(nèi), 從而就犯了型II, 記為 .一般為10%,可稱消費(fèi)者冒險(xiǎn)率抽樣原則:從1000個(gè)中隨機(jī)抽500個(gè).如果是OK就允收.如果NG就判退.那判退的幾率是多少.74管制圖原理管制圖原理1. 第一種解釋: 用數(shù)學(xué)語言來說, 小概率事件在一次試驗(yàn)中幾乎不可能發(fā)生, 若發(fā)生即判斷異常. 控制圖示假設(shè)檢驗(yàn)的一種圖上作業(yè), 在控制圖上每描一個(gè)點(diǎn)就是作一次假設(shè)

27、檢定.2. 第二種解釋: 使產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的有兩種原因, 共同原因和特殊原因. 應(yīng)用統(tǒng)計(jì)學(xué)原理設(shè)計(jì)出控制圖相應(yīng)的控制界限, 當(dāng)特殊原因波動(dòng)發(fā)生時(shí), 點(diǎn)子就會(huì)落在界外.75建立管制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋76建立X bar-R圖的步驟A階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上77每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算78平均值和極差 平均值的計(jì)算554321xxxxxxnR值的計(jì)算minmaxxxR79計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值

28、B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立X Bar-R圖的步驟B80RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422全距管制圖平均值管制圖kRRRRkxxxxxkk.21321全距管制圖平均值管制圖管制圖RX 81過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別並標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識(shí)別並標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立X bar-R圖的步驟C82過程能力解釋D1計(jì)算過程

29、的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖並分析建立X bar-R圖的步驟D83X Bar-R ChartX Bar-R Chart練習(xí)練習(xí) 某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用X bar-R管制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為m/m，利用數(shù)據(jù)表之?dāng)?shù)據(jù)（n=5） ： 求得其管制界限并繪圖 請判定過程是否穩(wěn)定？ 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ 如果制程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自n=5調(diào)為n=4時(shí)，那么其新控制限為何？84使用管制圖的準(zhǔn)備 建立適用于實(shí)施的環(huán)境 定義過程 確定待管制的特性，考慮到 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測量系統(tǒng)(MSA) 使不必

30、要的變差最小85質(zhì)量特性與管制圖的選擇 為保證最終產(chǎn)品的質(zhì)量特性, 需要考慮以下幾個(gè)方面: 認(rèn)真研究用戶對產(chǎn)品質(zhì)量的要求, 確定這些要求哪些與質(zhì)量特性有關(guān), 應(yīng)選擇與使用目的有重要關(guān)系的質(zhì)量特性來作為控制的項(xiàng)目. 有些雖然不是最終產(chǎn)品質(zhì)量的特性, 但為了達(dá)到最終產(chǎn)品的質(zhì)量目標(biāo), 而在生產(chǎn)過程中所要求的質(zhì)量特性在生產(chǎn)過程中所要求的質(zhì)量特性也應(yīng)列為控件目也應(yīng)列為控件目 在同樣能夠滿足對產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下, 應(yīng)該選擇容易測定的控件目. 用統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行質(zhì)量控制。如無質(zhì)量特性數(shù)據(jù)就無法進(jìn)行.86質(zhì)量特性與管制圖的選擇 在同樣能夠滿足產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下, 應(yīng)選擇對生產(chǎn)過程容易采取措施的控件目. 為了使

31、控制最終取得最佳效果, 應(yīng)盡量采取影響產(chǎn)品質(zhì)量特性的根本原因有關(guān)的特性或接近根本原因的特性作為控件目. 產(chǎn)品的質(zhì)量特性有時(shí)不止一個(gè), 則應(yīng)同時(shí)采取幾個(gè)特性作為控件目.87使用管制圖的注意事項(xiàng) 分組問題 主要是使在大致相同的條件下所收集的質(zhì)量特性值分在一組, 組組內(nèi)內(nèi)不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù)不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù), 以保證組內(nèi)僅有普通原因的影響. 我們所使用的管制圖是以影響過程的許多變動(dòng)因素中的普通因素所造成的波動(dòng)為基準(zhǔn)來找出異常因素的, 因此, 必須先找出過程中普通原因波動(dòng)這個(gè)基準(zhǔn).88時(shí)間質(zhì)量特性製程的變化分組時(shí)的重要考慮讓組內(nèi)變化只有普通原因讓組間變化只有特殊原因組內(nèi)變異小組間變異大89使用管制

32、圖的注意事項(xiàng) 分層問題 同樣產(chǎn)品用若干臺(tái)設(shè)備進(jìn)行加工時(shí), 由于每臺(tái)設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異, 這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)、使散差加大的原因. 因此, 有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層, 也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制, 作分層管制圖. 另外, 當(dāng)管制圖發(fā)生異常時(shí), 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法.90Question 請問有哪些層別分析的角度？91復(fù)合層別的說明92使用管制圖的注意事項(xiàng) 控制界限的重新計(jì)算 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程, 在確定管制圖最初的控制線CL、UCL、LCL時(shí), 常常需要反復(fù)計(jì)算, 以求得切實(shí)可行的管制圖. 但是,

33、管制圖經(jīng)過使用一定時(shí)期后, 生產(chǎn)過程有了變化, 例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后, 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù), 以重新計(jì)算控制界限并作出新的管制圖.93控制界限的延用94取樣的方式 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明95 每組樣本數(shù)96組數(shù)的要求(最少25組)當(dāng)制程中心值偏差了二個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差時(shí)，它在控制限內(nèi)的概率為0.84那么連續(xù)25點(diǎn)在線內(nèi)的概率為：0128. 084. 02597管制圖sX A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：554321xxxxxx1)(2nxxsi98SBLCLSBUCLSCLSAXL

34、CLSAXUCLXCLRRRXXX3433標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均值管制圖 B計(jì)算控制限管制圖sX 99nC過程控制解釋n(同X-R圖解釋)管制圖sX 100nD過程能力解釋管制圖sX 4csSigma P101管制圖RX A收集數(shù)據(jù) 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。102RDLCLRDUCLRCLRAmXLCLRAmXUCLXCLXRRRXXX342323全距管制圖值管制圖管制圖RX B計(jì)算控制限103nC過程控制解釋n(同X-R圖解釋)管制圖RX 104管制圖RX 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：2dR105管制圖mRX

35、 單值控制在檢查過程變化時(shí)不如Xbar-R圖敏感。 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值管制圖時(shí)要非常小心。 單值管制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用Xbar-R。 由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到100個(gè)以上。106ObservationIndividual Value10987654321605040_X=50UCL=64.48LCL=35.52ObservationMoving Range1098765432120151050_MR=5.44UCL=17.79LCL=0X-RM Chart of C1107 A收集數(shù)據(jù) 收集各組數(shù)據(jù) 計(jì)算

36、單值間的移動(dòng)極差。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值(例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等)。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù)少一個(gè)(25個(gè)讀值可得24個(gè)移動(dòng)極差)，在很少的情況下，可在較大的移動(dòng)組(例如3或4個(gè))或固定的子組(例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取)的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。管制圖mRX 108mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422全距管制圖值管制圖管制圖mRX nB計(jì)算控制限109管制圖mRX C過程控制解釋 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動(dòng)極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。由于這個(gè)

37、原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注意。 可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn)，在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號110n估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：n式中，R為移動(dòng)極差的均值，d2是用于對移動(dòng)極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。2dR管制圖mRX 111不良和缺陷的說明112P管制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋113建立p圖的步驟A階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖

38、114A1子組容量、頻率、數(shù)量 子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的管制圖一般要求較大的子組一般要求較大的子組容量容量(例如50200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會(huì)有不利之處。 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 子組數(shù)量：要大于等于25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。Ppn51115A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值 被檢項(xiàng)目的數(shù)量n 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量np 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率nnpndp116A3選擇管制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格

39、品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。劃圖區(qū)域117A4將不合格品率描繪在管制圖上 描繪每個(gè)子組的p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計(jì)算是否正確。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí)，將它們記錄在管制圖的“備注”部份。118計(jì)算控制限B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì)算上、下控制限B3畫線並標(biāo)注建立p管制圖的步驟B119npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3

40、)1(3. .2121212211中心線計(jì)算平均不合格率及控制限120畫線并標(biāo)注 均值用水平實(shí)線：一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會(huì)如下圖：121SampleProportion109876543210.040.030.020.010.00_P=0.01UCL=0.03985LCL=0P Chart of C2Tests performed with unequal sample sizes122收集數(shù)據(jù)繪圖及計(jì)算控制限是否異常延伸控制限N找出異常點(diǎn)原因並提出相應(yīng)措施製程有變化人機(jī)料法環(huán)測量Y控制限運(yùn)用說明123過程能力解釋普

41、通原因和異因並存找出異因只剩普通原因運(yùn)用控制圖過程穩(wěn)定(連25點(diǎn)不超限)計(jì)算過程能力124評價(jià)過程能力過程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率採取管理上的措施降低普通原因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限125改善過程能力 過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因過程能力。在操作上診斷特殊原因(控制)變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。 可以使用諸如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。但是如果僅使用

42、計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計(jì)量型數(shù)據(jù)借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利于問題的解決126以下是整理按每小時(shí)實(shí)施的對最終制品的抽樣檢查結(jié)果得出的DATA。49 45 51 27 28 51 45 49 28 51 6 1 3 4 8 4 4 2 9 3樣本數(shù)不良品數(shù)時(shí)間 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10作成 p 管制圖， 判定工程是否穩(wěn)定狀態(tài)。P 管制圖管制圖127P 管制圖管制圖128不合格品數(shù)np圖 “np”圖是用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與p圖不同，np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。p圖和n

43、p圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。 各階段子組的樣本容量相同?！皀p”圖的詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處棄如下：129A收集數(shù)據(jù) 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)。130B計(jì)算控制限)1()1(3)1(3.21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk131過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋：同“p”圖的解釋。 D過程能力解

44、釋：過程能力如下：p :chart np of capability the132109876543210543210Sample Numbe rSample CountNP Chart for C2NP=1.2003.0SL=4.467-3.0SL=0.000不合格品數(shù)np圖133對某制品在 n = 50個(gè)中出現(xiàn)的不良個(gè)數(shù)經(jīng)過 25 回調(diào)查的結(jié)果如下。 作成 np 管制圖后分析。332422332442533234141544412345678910111213141516171819202122232425編號 不良個(gè)數(shù)編號 不良個(gè)數(shù)編號 不良個(gè)數(shù)NP 管制圖管制圖134NP 管制圖管制圖

45、135缺陷數(shù)c圖 “c”圖用來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)： 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn))，以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格(例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或組件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格)。 主要不同之處如下：136A收集數(shù)據(jù) 檢驗(yàn)樣本的容量(零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性能的變化(缺陷的發(fā)生率)而不是外觀的變化(樣本容量n)，在數(shù)據(jù)

46、表中記錄樣本容量； 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù)(c)137CCCLCLCCUCLkCCCLkcccccccck33.21B計(jì)算控制限138過程控制解釋、過程能力解釋 過程控制解釋 同p圖解釋 過程能力解釋 過程能力為c平均值，即固定容量n的樣本的缺陷數(shù)平均值。139包裝一 套TV前欲用 c 管制圖管理。在過去 20天對每10臺(tái)外觀不良(缺點(diǎn))Check 的結(jié)果發(fā)現(xiàn)如下。 作成 c 管制圖并分析。4 2 3 7 4 6 2 4 1 3 2 0 11 3 3 4 5 8 6 2 日期缺點(diǎn)數(shù)日期 缺點(diǎn)數(shù)1 2 3 4 5 6 7 8 9 1011 12 13 14 15 16 17 18 19 2

47、0C 管制圖管制圖140C 管制圖管制圖141單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的u圖 “u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。 除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與c圖相似的?！皍”圖和“c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“u”圖，并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“u”圖。 “u”圖的繪制和“p”圖相似，不同之處如下：142A收集數(shù)據(jù) 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡化控制限的計(jì)算。 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n

48、 式中c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量，n為子組中樣本容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量)，c和n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。143nunuuLCLnuuUCLnCuCLnnncccuuuuukk33.2121B計(jì)算控制限144過程控制解釋、過程能力解釋n過程控制解釋n同p圖解釋n過程能力解釋n過程能力為u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。145為管理Enamel銅線的涂裝工程，調(diào)查了 Pin Hole的數(shù)。 因標(biāo)本的長度，根據(jù)種類變化，所以使用每 1000 m 的Pin Hole的數(shù) 作成 u管制圖時(shí)， 得到了如下數(shù)據(jù)。 判定工程的管理狀態(tài)與否。1.0 1.0 1.0 1.0 1.0 1.3 1.3 1.3 1.3 1.3

49、1.3 1.3 1.3 1.3 1.2 1.2 1.2 1.7 1.7 1.74 5 3 3 5 2 5 3 2 15 2 4 2 6 4 8 1 3 9試料的大小缺點(diǎn)數(shù)試料的大小缺點(diǎn)數(shù)( 單位 : 1000 m )U 管制圖管制圖146根據(jù)部分群大小根據(jù)部分群大小計(jì)算計(jì)算上下限上下限也不同吧也不同吧!U 管制圖管制圖147“n”=1025控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n2N平均值是否方便計(jì)算？“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖X-mR圖X wave-R圖X bar-R圖X bar-s圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n2不便方便“n”=25缺陷數(shù)

50、不良數(shù)不一定一定一定不一定管制圖的選擇148計(jì)數(shù)值管制圖p管制圖np管制圖c管制圖u管制圖中 心 線(CL)ppncu管制上界(UCL)nppp13ppnpn13cc3nuu3管制下界(LCL)nppp13ppnpn13cc3nuu3若每組樣本的樣本數(shù)n不固定時(shí)，則採用n代替n每組的樣本大小n必須固定若每組樣本的樣本數(shù)n不固定時(shí)，則採用n代替n附註若若所所計(jì)計(jì)算算出出的的管管制制下下界界小小於於0時(shí)時(shí)，管管制制下下界界等等於於0Rx 管制圖Sx 管制圖MRx管制圖計(jì)量值管制圖x 管制圖R管制圖x 管制圖S管制圖x管制圖MR管制圖中心線(CL)xRxSxMR管制上界(UCL)RAx2RD4SAx

51、3SB42MR3dx MR4D管制下界(LCL)RAx2RD3SAx3SB32MR3dx MR3D附註A2、A3、B3、B4、D3、D4、d2的大小與每組的樣本數(shù)n有關(guān)公式匯整149CASE STUDY150兩種管制圖之比較151Case Study 請根據(jù)公司質(zhì)量工程表/控制計(jì)劃討論各制程適當(dāng)?shù)墓苤泣c(diǎn)，及可選用之管制圖152管制圖判讀法則管制圖判讀法則超出管制界限的點(diǎn)l管制圖判斷規(guī)則之原因管制圖判斷規(guī)則之原因此規(guī)則是最常使用到的，因?yàn)槿绻?為管制界限，而觀測值會(huì)落到3外的機(jī)率只有0.27%。154連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在2外l管制圖判斷規(guī)則之原因管制圖判斷規(guī)則之原因在此離中心線2稱為警戒管制線

52、，發(fā)生連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)落在2外的機(jī)率非常小，所以一但管制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。155 連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在1外l管制圖判斷規(guī)則之原因管制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在1外的機(jī)率非常小，所以一但管制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。156連續(xù)8點(diǎn)落在中心線的同一側(cè)l管制圖判斷規(guī)則之原因管制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)八點(diǎn)都落在中心線同一邊的機(jī)率非常小，所以一但管制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。157八大判讀原則158多品質(zhì)監(jiān)控臺(tái)159特異值(freaks):某個(gè)觀測值明顯的與其它值不同。l管制圖發(fā)生特異值之原因 可能是: 工具設(shè)置錯(cuò)誤后立即改進(jìn)測量錯(cuò)誤繪制

53、錯(cuò)誤操作錯(cuò)誤設(shè)備故障等n管制界限內(nèi)之不良原因查詢管制界限內(nèi)之不良原因查詢160周期變化(cycles):在一個(gè)短區(qū)間，數(shù)據(jù)會(huì)以某種模式重復(fù)。l管制圖發(fā)生周期變化之原因可能是:季節(jié)性因素影響如氣溫與濕度等 固定設(shè)備已磨損的位置或紋路操作員疲勞電壓變化工作輪調(diào)等161平均值改變(shift in level):平均值明顯不在中心線附近l管制圖發(fā)生平均值改變之原因可能是:夾具 制程方法 制程技術(shù) 引進(jìn)新原料 操作員技術(shù)更熟練 改變設(shè)備維修計(jì)劃 引進(jìn)制程管制等 標(biāo)準(zhǔn)變化162趨勢(trends):管制圖中的點(diǎn)逐漸上升或下降l管制圖發(fā)生趨勢之原因可能是:某些零件逐漸松動(dòng)或磨耗多種原料混合使用 工具與夾治

54、具逐漸磨損操作員學(xué)習(xí)中維修技術(shù)不良 制造現(xiàn)場之環(huán)境臟亂163混合(mixtures):觀測值都落在離中心線很遠(yuǎn)的地方，而且交錯(cuò)地分散l管制圖發(fā)生混合之原因可能是兩種以上的原料操作員 機(jī)器測量工具生產(chǎn)方法交錯(cuò)使用164規(guī)則性變化(systematic variable):管制圖中的點(diǎn)一上一下有秩序的出現(xiàn)l管制圖發(fā)生規(guī)則性變化之原因可能是輪班人員不同 測試儀器不同 裝配線不同 抽樣行為呈有規(guī)則性變化 有規(guī)則性的從不同母體中抽樣165分層(stratification):是一種穩(wěn)定的混合型，通常是靠近中心線或管制界限l管制圖發(fā)生分層之原因可能是:兩種以上原料，操作員機(jī)器測量工具生產(chǎn)方法交錯(cuò)使用管制界

55、限計(jì)算錯(cuò)誤數(shù)字的小數(shù)點(diǎn)錯(cuò)誤166不穩(wěn)定(instability):出現(xiàn)不尋常的大波動(dòng)l管制圖發(fā)生不穩(wěn)定之原因可能是:大規(guī)模機(jī)器重新調(diào)整夾治具位置不正確不同批的原料混合使用與操作員機(jī)器測試儀器原料有關(guān)167管制圖使用十大誤區(qū)管制圖使用十大誤區(qū)1.沒能找到正確的管制沒能找到正確的管制點(diǎn)點(diǎn)(特性特性)2.沒有適宜的測量工具沒有適宜的測量工具3.沒有解析生產(chǎn)過程，直沒有解析生產(chǎn)過程，直接進(jìn)行管制接進(jìn)行管制4.解析與管制脫節(jié)解析與管制脫節(jié)5.管制圖沒有記錄重大事管制圖沒有記錄重大事項(xiàng)項(xiàng)6.不能正確理解不能正確理解X Bar圖與圖與R圖的含義圖的含義7.管制界限與規(guī)格界限混管制界限與規(guī)格界限混為一談為一談

56、8.不能正確理解管制圖上不能正確理解管制圖上點(diǎn)變動(dòng)所代表的意思點(diǎn)變動(dòng)所代表的意思9.沒有將管制圖用于改善沒有將管制圖用于改善10. 管制圖是品管的事管制圖是品管的事Caution！168製程能力評估169計(jì)量值的製程能力估算170Normal Distribution TUSLLSLP(d)Z1711.計(jì)算計(jì)算 Z 值值 單邊規(guī)格：單邊規(guī)格：Z USL = 或或 Z LSL = USL XX LSL172尾部的面積是什么尾部的面積是什么?P(d)可查可查 Z 表表計(jì)算超出規(guī)計(jì)算超出規(guī)格的機(jī)率格的機(jī)率XUSL173思考：新汽車174175 雙邊規(guī)格雙邊規(guī)格：Z USL = Z LSL = Z %

57、 = Z USL% +Z LSL %(P不良率不良率) Z 值可用於估計(jì)制程超出規(guī)格界限之值可用於估計(jì)制程超出規(guī)格界限之P不良率不良率(查表查表) USL XX LSL176Case study 例：某產(chǎn)品的電性規(guī)格是56010 m/m，經(jīng)檢驗(yàn)一批后求出3為5619 m/m(即=3)。 求不良率 P% 先求Z值,再查表177 能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的製程固有能力。什么叫製程能力？什么叫製程能力？ 製程被控制時(shí)，表示製程中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動(dòng)是什么程度的量。 q 一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值(Target Value)， 品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。178制程能力分析制程能力分析準(zhǔn)度：好準(zhǔn)度：好精

58、度：精度：好好Ca準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度 , Cp精密度精密度準(zhǔn)度：好準(zhǔn)度：好精度：較不好精度：較不好準(zhǔn)度：不好準(zhǔn)度：不好精度：精度：好好準(zhǔn)度：不好準(zhǔn)度：不好精度：不精度：不好好179長期長期/ /短期製程能力短期製程能力q 長期製程能力對比短期製程能力180製程能力指數(shù)製程能力指數(shù)- 短期製程能力指數(shù)用 CP, CPK 來表示，長期製程能力指數(shù)用 PP, PPK來表示。 - 在這里C CP P 或或 P PP P 是製程平均與規(guī)格中心一致時(shí)的製程能力指數(shù)， C CPKPK 或 P PPKPK 是製程平均與規(guī)格中心不一致時(shí)的製程能力指數(shù)。是製程平均與規(guī)格中心不一致時(shí)的製程能力指數(shù)。 q 製程能力指數(shù)(P

59、rocess Capability Index)l 在SPC中l(wèi) 製程能力指數(shù)是製程能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力， 即，評價(jià)製程能力的指標(biāo)。 181q 短期製程能力指數(shù) l 製程平均和規(guī)格中心一致時(shí)6 LSLUSLCp) , ( puplPKCCMinCl 製程平均和規(guī)格中心不一致時(shí)l Hat表示短期標(biāo)準(zhǔn)差，在Minitab中以StDev(Within)表示。製程能力指數(shù)製程能力指數(shù),3xUSLCpu3LSLxCpl其中,2dRSigma P(Process)182(3)Cp等級之說明等級之說明6 E 級級6 D 級級6 C 級級6 B 級級6 A 級級規(guī)格中心值規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格

60、下限規(guī)格下限T = 10 T = 8 T = 6 T = 4 183(3)Cpk 等級之說明等級之說明 ( 當(dāng)當(dāng) Ca = 0 )6 E 級級6 D 級級6 C 級級6 B 級級6 A 級級規(guī)格中心值規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格下限T = 10 T = 8 T = 6 T = 4 T = 12 184Ca準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度Capacity of AccuracyCa = L1 /L2L1 = X SLL2 = (USL LSL)/2等級 Ca值 A B C D Ca12.5% 12.5%Ca25% 25%Ca50% 50%Ca 185Ca等級之解說等級之解說 等級評定后之處置原則等級評定后之處置原則(Ca