SPC程控制--supercrazy

1、SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計概述 統(tǒng)計：數(shù)據(jù)通過計算而產(chǎn)生有意義的情報。 有哪些有意義的情報呢？ 集中趨勢（準確度） 離散趨勢（精確度） 被涵蓋在特定范圍內(nèi)的概率SPC 發(fā)展簡介 1920年 Bell研究所的Dr. Walter Shewhart開發(fā). 1940年二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。 1950年質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推推行SPC。 1970年有效地推行 “QC圈”和應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)使日本經(jīng)濟的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。 1980年美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC小組”和統(tǒng)計技術(shù)的應(yīng)用。 MOTOROLA 公

2、司頒布“QC挑戰(zhàn)”，通過SPC的實施改進過程能力，并提出追求“6”目標。 1987年ISO9000標準建立并頒布實施，明確要求實施統(tǒng)計技術(shù)。 過去現(xiàn)在Y=f(X) 高斯函數(shù) OUTPUT=Y INPUT=X PROCESS PARAMETER=X Y是因變數(shù) X是自變數(shù) Y只能靠檢查，不好的淘汰。 X才是我們所能控制的，使得Y符合我們的需求。 Y可視為顧客所要求的產(chǎn)品特性。 但是如果在y進行相應(yīng)的統(tǒng)計控制，其實產(chǎn)品已經(jīng)制造出來，只是相當(dāng)于檢驗產(chǎn)品做得好不好，時效已晚。 所以要去探究那些因素會影響y，進而事先控制x，如此才能起到在生產(chǎn)時就控制的效果，而不是等到產(chǎn)品做出來再做檢驗。SPC用在那里？

3、PROCESSOUTPUTINPUT消極的地方只能防堵積極的地方可防止不良積極的地方可防止不良SPC的作用-預(yù)防 檢測的方法：檢查最終產(chǎn)品并剔除不符合規(guī)范的產(chǎn)品。這種方法很浪費，因為它允許將時間和材料投入到生產(chǎn)不一定有用的產(chǎn)品和服務(wù)中。（容忍浪費） 一種在第一步就可以避免生產(chǎn)無用的輸出，從而避免浪費的更有效的方法是預(yù)防預(yù)防。（避免浪費）只要全公司所有員工共同努力就能建立一道防火墻。 實現(xiàn)策略：應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計方法進行生產(chǎn)過程的控制。基本思想是根據(jù)過程的情況，預(yù)測將來的趨勢與變化，從而進行過程控制，使過程在受控中進行，預(yù)防不良品的發(fā)生。所以說SPC的特征是控制過程，防患于未然。 藉由以往的數(shù)據(jù)了解正

4、常的變異范圍設(shè)定成控制界限繪點判定是否超出界限糾正異常持續(xù)改進，縮小控制界限收集數(shù)據(jù)一開始要多收集數(shù)據(jù)以了解制程狀況解析數(shù)據(jù)了解其正常波動的范圍控制用圖形運用控制限來判定制程是否異常 計量值控制圖 平均值與全距控制圖 平均值與標準差控制圖 中位值與全距控制圖 個別值與移動全距控制圖 計數(shù)值控制圖 不良率控制圖 不良數(shù)控制圖 缺點數(shù)控制圖 單位缺點控制圖“n”=1025控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖X-Rm圖X-R圖X-R圖X-s圖計數(shù)值計量值“n”=1n1中位數(shù)平均值“n”=25缺陷數(shù)不良數(shù)

5、不一定一定一定不一定計量型Xbar-RXbar-sX中位數(shù)-RX-Rm正態(tài)分布計數(shù)型Pnp二項分布計數(shù)型Cu卜氏分布68.26%95.45%99.73%+1+2+3-1-2-3中心線上控制限UCL下控制限LCL個別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布控制圖的建立其中最主要也是最重要的一個步驟就是按3原理對控制線進行設(shè)定。控制線的確定是否合適決定了我們能否及時準確判斷出異常的發(fā)生。3原理：在X+3sigma內(nèi)的概率為99.73%，而超出+3sigma 的概率僅為0.27%。控制圖的建立波動原因人機器材料方法測量環(huán)境變差(variation)：可分2種，隨機變差與特殊變差。普通原因的波動范

6、圍異常原因?qū)е碌牟▌臃秶惓Ｔ驅(qū)е碌牟▌臃秶鶸CLLCL解決普通原因的系統(tǒng)措施解決異常原因的局部措施解決異常原因的局部措施1.受控(in control)：只出現(xiàn)隨機變差。2.失控(out of control)：各種特殊變差原因未消除的過程狀態(tài)。證據(jù)是控制圖上的點出現(xiàn)在控制限外或控制圖內(nèi)的圖形并非是隨機。過程改進循環(huán)PLANDOCHECKACTPLANDOCHECKACTPLANDOCHECKACT1、分析過程本過程應(yīng)做些什么會出現(xiàn)什么錯誤達到統(tǒng)計控制狀態(tài)確定能力2.維護過程監(jiān)控過程性能查找偏差的特殊原因并采取措施3.改進過程改變過程從而更好理解普通原因變差減少普通原因變差A(yù)收集數(shù)據(jù)B計算

7、控制限C過程控制解釋D過程能力解釋階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計算每個子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上11009899100982989998101973999710010098410010010199995101999910099平均99.698.699.410098.2極差33322 平均值的計算554321xxxxxxnR值的計算minmaxxxR計算控制限B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRA

8、XUCLXCLRRRXXX3422全距管制圖平均值管制圖K(組數(shù))RRRRK(組數(shù))xxxxxkk.21321全距管制圖平均值管制圖過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別并標注特殊原因(極差圖)C3重新計算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識別并標注特殊原因(均值圖)C6重新計算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限異常情況的特征利用利用SPC CHART圖來進行區(qū)分：圖來進行區(qū)分：1點超出 +3 sigma連續(xù)3點中有2點超出 +2 sigma （口訣：3分之2A）連續(xù)5點中有4點超出 +1 sigm

9、a （口訣：5分之4B）連續(xù)8點在中心線一側(cè) 周期性波動當(dāng)連續(xù)7點呈上升或下降趨勢時，應(yīng)查找原因并采取行動。圖例 A. 有一有一 點點超出控制界限超出控制界限 UCL123A 區(qū)B 區(qū)C 區(qū)C L圖例B. B. 在中心線的同側(cè)連續(xù)三點中有兩點在在中心線的同側(cè)連續(xù)三點中有兩點在A A區(qū)或區(qū)或A A區(qū)以外區(qū)以外 UCL123A 區(qū)B 區(qū)C 區(qū)C L圖例C . C . 連續(xù)五點中有四點在連續(xù)五點中有四點在B B區(qū)或區(qū)或B B區(qū)以外區(qū)以外. . 圖例D D。 連續(xù)連續(xù)8 8點在中心線一側(cè)點在中心線一側(cè)CL圖例E E。 周期性缺陷周期性缺陷圖例F . 連續(xù)連續(xù)6點同一方向點同一方向+ 3- 3UCLCL

10、LCLX-R Chart 的用途X-Chart1. 由制程的平均值支配2. 代表品質(zhì)的規(guī)格中心,亦即正確程度3. R-Chart 有逸出時,X-Chart也受 影響,應(yīng)先調(diào)R-Chart4. 平均值變化的原因可能為機械調(diào)整不當(dāng), 手工作業(yè)錯誤,材料規(guī)格不符過程能力解釋D1計算過程的標準偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析過程能力分析（一） Cp和和Cpk 的計算公式：的計算公式： Cp= T/ (6)Cp=（T）/ (6)其中：T=USLLSL，為標準偏差 Cpk=ABS(USL or LSL）-X)/（3）Cpu=（USL-X）/（3）Cpl=

11、（X-LSL）/（3)注：對數(shù)據(jù)量的要求：大于25個。101418T1216CpCPLCPUCPK1321.52.51.5T1014181216101418T1216CpCPLCPUCPK1422.02.02.0CpCPLCPUCPK1522.51.51.5過程能力分析（二） 使用上述公式時，須滿足以下條件：使用上述公式時，須滿足以下條件： 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) 過程的各測量值服從正態(tài)分布否則這些度量就很少有或沒有意義。否則這些度量就很少有或沒有意義。 要滿足上面兩個條件，就要對數(shù)據(jù)進行分析要滿足上面兩個條件，就要對數(shù)據(jù)進行分析 直方圖分析。示例 對CHART圖中的異?，F(xiàn)象進行分析，識別特殊原因和普通原因，有原因的異常點不統(tǒng)計在內(nèi)。注：沒有一個單獨的指數(shù)可以萬能的適用于所有過程，沒有一個過程可以用單獨的一個指數(shù)完整的來描述。因此，一種很好的方法就是同時使用Cp，Cpk等參數(shù)與圖表技術(shù)一起進行分析。過程能力分析（三） 幾點補充：幾點補充： 我們在進行工藝能力的分析時，經(jīng)常會使用一些能力指數(shù)（如Cp，Cpk）。大部分能力指數(shù)的計算包括了產(chǎn)品的規(guī)范。因此如果規(guī)范不合適，或者規(guī)范不符合顧客的要求，努力使過程符