NDT培訓(xùn)教材ppt課件

1、NDT培訓(xùn)教材12 七月 2022Page 2NDT-無(wú)損檢測(cè)NDT (Non-Destructive Testing)-無(wú)損檢測(cè)方法:指利用非破壞式方式檢測(cè)資料，工件以及構(gòu)造件的致密性或定量測(cè)定特定目的某些特征的方法;它是相對(duì)于破壞式測(cè)試方法，如機(jī)械性能測(cè)試。NDT的定義：Page 3常用NDT 方法： VT-Visual Testing 目視檢測(cè)NDT-無(wú)損檢測(cè)RT-Radiographic Testing 射線探傷UT-Ultrasonic Testing 超聲波探傷MT-Magnetic Particle Testing 磁粉探傷AET-Acoustic Emission Testin

2、g 聲發(fā)射探傷ET-Eddy Current Testing 渦流探傷PT-Liquid Penetrant Testing 浸透探傷Page 4NDT檢測(cè)方法普通用在哪些領(lǐng)域？缺陷的檢測(cè)和評(píng)價(jià)；走漏測(cè)試；確定缺陷位置；尺寸檢測(cè)；宏觀和微觀特征檢測(cè)；NDT-無(wú)損檢測(cè)Page 5NDT-無(wú)損檢測(cè)各種無(wú)損檢測(cè)方法的程度等級(jí)：一級(jí)初級(jí)；二級(jí)中級(jí)；三級(jí)高級(jí)；按由低到高分為：這是一種最原始最根本的檢測(cè)方法?？蓹z驗(yàn)工件的外觀外形，尺寸，物理性能以及外表缺陷等。常用工具包括：反光鏡，放大鏡，內(nèi)窺鏡；卡板，角尺，焊接尺等。普通而言，Vestas產(chǎn)品的焊縫，鑄件,鍛件，機(jī)加工外表都需求進(jìn)展目視檢驗(yàn)。VT- 目視

3、檢驗(yàn)磁粉探傷的根本原理：鐵磁性資料或工件經(jīng)過(guò)磁化后，在外表及近外表的缺陷處磁力線會(huì)發(fā)生變形，逸出工件外表構(gòu)成磁極, 并構(gòu)成可檢測(cè)的漏磁場(chǎng)。在工件外表撒上磁粉或者磁懸液，磁粉粒子會(huì)吸附在缺陷區(qū)域，顯示出缺陷的位置，外形和大小。Page 7MT-磁粉探傷磁粉探傷的根本程序：預(yù)處置：清理工件外表的油污，灰塵和鐵屑等臟物，去除鐵銹和油漆等外表覆蓋層；對(duì)檢測(cè)區(qū)域的磁化；在磁化的同時(shí)延續(xù)法或磁化后剩磁法施加磁粉或磁懸液；在特定光源下缺陷的察看和記錄；退磁；檢查終了后處置；Page 8MT-磁粉探傷磁化方法：直接通電法；穿棒法；線圈法；磁軛法；支桿法；感應(yīng)電流法；復(fù)合磁化法；Page 9MT-磁粉探傷按照電

4、流方式可分為：直流電磁化和交流電磁化；磁粉探傷的主要器材：磁化設(shè)備-磁粉探傷儀器； 可分為固定式，挪動(dòng)式和手提式；磁粉： 磁粉可分為：熒光磁粉和非熒光磁粉； 也可分為：濕磁粉和干磁粉； 磁懸液-磁粉和分散劑按一定比例混合而成的懸浮液體； 可分為油基磁懸液和水基磁懸液；反差加強(qiáng)劑；黑光燈；Page 10MT-磁粉探傷Page 11MT-磁粉探傷手提式磁軛機(jī)(Yoke):對(duì)手提式磁軛機(jī)而言：不能檢測(cè)方向與兩磁極連線平行的缺陷；對(duì)方向與磁極連線方向垂直的缺陷的靈敏度最高；盡量將檢測(cè)區(qū)域放置于兩磁極連線的中心位置；運(yùn)用時(shí)要交叉磁化。Page 12MT-磁粉探傷黑水磁懸液MT-BW反差加強(qiáng)劑FA-5磁粉

5、探傷資料:Page 13MT-磁粉探傷磁粉探傷：V52 Main Bearing House磁粉探傷的優(yōu)缺陷：優(yōu)點(diǎn)： 直觀； 高靈敏度； 不受工件的幾何外形影響，能檢測(cè)外形比較復(fù)雜的工件； 檢查速度快，工藝簡(jiǎn)單，費(fèi)用低廉；局限性： 只能檢查碳鋼，鑄鐵等鐵磁性資料，不能檢測(cè)鋁,鎂，銅，鈦及其合金等非鐵磁性資料，不能檢測(cè)奧氏體不銹鋼； 只能檢測(cè)外表及近外表缺陷，不能檢測(cè)內(nèi)部缺陷；普通不超越2mm; Page 14MT-磁粉探傷磁粉探傷-實(shí)例一Page 15MT-磁粉探傷磁粉探傷-實(shí)例二Page 16MT-磁粉探傷工件外表被施涂含有熒光染料或著色染料的浸透劑后，在毛細(xì)作用下，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的浸透，浸透

6、液可以滲進(jìn)外表開口缺陷中；去除零件外表多余的浸透劑并枯燥后；再在工件外表施涂吸附介質(zhì)-顯像劑；同樣在毛細(xì)作用下，顯像劑將重新吸附進(jìn)入缺陷中的浸透劑，即浸透劑重新回到顯像劑中，在一定的光源下黑光或白光，缺陷處的浸透痕跡就會(huì)被顯示出來(lái)黃綠色或艷麗的紅色，從而檢測(cè)出缺陷的形貌及分布形狀。浸透探傷原理：PT-浸透探傷浸透探傷用的主要資料：去除劑-通常用于去除零件外表多余的浸透液的溶劑；浸透劑-含有熒光染料或著色染料的液體； 按浸透液去除法可分為水洗型，后乳化型和溶劑去除型； 按浸透液染料成分分為熒光型，著色型和熒光著色型；顯像劑-利用毛細(xì)作用將進(jìn)入缺陷內(nèi)的浸透液重新吸附出來(lái)的一種介質(zhì)。 按顯像劑類型可

7、分濕式顯像劑，干式顯像劑和速干式顯像劑。乳化劑；Page 18PT-浸透探傷Page 19PT-浸透探傷常用溶劑去除型著色探傷的資料：清洗劑：美柯達(dá)DPT-5浸透劑：美柯達(dá)DPT-5顯像劑：美柯達(dá)DPT-5常用溶劑去除型著色探傷方法的程序：預(yù)清理：把工件外表的油污等臟物去除干凈；均勻涂抹浸透劑；在規(guī)定的完全潤(rùn)濕時(shí)間后，去除外表多余的浸透劑；施加顯像劑；在規(guī)定的顯像時(shí)間后進(jìn)展察看并記錄；檢查終了后對(duì)工件進(jìn)展清理；Page 20PT-浸透探傷Page 21PT-浸透探傷浸透探傷的優(yōu)點(diǎn)：攜帶方便；操作相對(duì)簡(jiǎn)單；可以是用于復(fù)雜外形和構(gòu)造的工件；浸透探傷的局限性：只能適宜于非多孔性資料；只能檢測(cè)外表開口

8、缺陷；不適宜外表粗糙工件；浸透探傷-實(shí)例一Page 22PT-浸透探傷渦流探傷的原理：Page 23渦流檢測(cè)是建立在電磁感應(yīng)原理根底之上的一種無(wú)損檢測(cè)方法，它適用于導(dǎo)電資料。當(dāng)把一塊導(dǎo)體置于交變磁場(chǎng)之中，在導(dǎo)體中就有感應(yīng)電流存在，即產(chǎn)生渦流。由于導(dǎo)體本身各種要素如電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、外形，尺寸和缺陷等的變化，會(huì)導(dǎo)致渦流的變化，利用這種景象斷定導(dǎo)體性質(zhì)，形狀的檢測(cè)方法，就渦流檢測(cè)。渦流探傷主要運(yùn)用于：ET-渦流探傷裂痕、缺陷檢查；資料厚度丈量； 涂層厚度丈量； 資料的傳導(dǎo)性丈量。ET方法實(shí)例一 檢測(cè)裂紋Page 24ET-渦流探傷ET 檢測(cè)實(shí)例二Page 25ET-渦流探傷利用超聲波儀器，周期性地把

9、脈沖式高頻率電波經(jīng)過(guò)換能器的逆壓電效應(yīng)轉(zhuǎn)換成超聲波后進(jìn)入工件內(nèi)部，超聲波遇到異質(zhì)界面時(shí)會(huì)發(fā)生反射，再利用換能器的壓電效應(yīng)將接納到的超聲波轉(zhuǎn)換成電波，在示波器上顯示出缺陷的大小，位置及外形。fplate裂紋0246810起始波 裂紋信號(hào)波底面反射波示波屏超聲波探傷 (脈沖反射式) 的根本原理：UT-超聲波探傷超聲波探傷的根本設(shè)備：超聲波儀器；超聲波探頭；探頭接線；耦合劑；試塊；Page 27UT-超聲波探傷超聲波儀器及探頭：超聲波探傷儀的分類： 按缺陷顯示分為：A型顯示探傷儀； B型顯示探傷儀； C型顯示探傷儀； 按通道分類：?jiǎn)瓮ǖ篮投嗤ǖ溃?按儀器性能：數(shù)字式和模擬式；超聲波探頭又稱換能器的分

10、類： 按接觸方式分類：接觸式探頭和水浸法探頭； 探頭按晶片分類：?jiǎn)尉筋^和雙晶探頭； 按進(jìn)入工件的聲波可分：直探頭，斜探頭和外表波探頭；Page 28UT-超聲波探傷超聲波儀器：Page 29數(shù)字式超聲波探傷儀模擬式超聲波探傷儀UT-超聲波探傷超聲波探傷用探頭：Page 30UT-超聲波探傷超聲波探傷用試塊的作用：確定探傷靈敏度；測(cè)試儀器和探頭的性能；調(diào)整掃描速度；評(píng)定缺陷大??；Page 31UT-超聲波探傷超聲波探傷用試塊：Page 32UT-超聲波探傷ASTM Distance/Area AmplitudeNAVSHIPS Page 33UT-超聲波探傷超聲波探傷缺陷的定量：計(jì)算法；試塊比

11、較法；DGS技術(shù)法；備注：超聲波探傷定量時(shí)缺陷大小用當(dāng)量直徑(KSR或DSH)來(lái)表示。 詳細(xì)做法有在同一深度下缺陷聲波與規(guī)范反射體平底孔FBH，長(zhǎng)橫孔和短橫孔SDH等的聲波波高進(jìn)展比較。超聲波探傷的優(yōu)點(diǎn)：靈敏度高；能準(zhǔn)確確定缺陷的位置，外形等；易于檢測(cè)，只需一個(gè)檢測(cè)面就可以對(duì)外形復(fù)雜的工件進(jìn)展檢驗(yàn)；儀器便于攜帶；對(duì)操作人員沒(méi)有損傷；容易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)；Page 34UT-超聲波探傷超聲波探傷局限性：易遭到檢測(cè)人員程度的影響；需求檢驗(yàn)人員掌握被檢工件的制造工藝；檢驗(yàn)粗糙外表，薄板或外表不規(guī)那么工件的準(zhǔn)確度比較差；易對(duì)方向與超聲波聲束平行的缺陷呵斥漏檢；容易對(duì)缺陷的性質(zhì)進(jìn)展誤判；在近場(chǎng)區(qū)域存在盲區(qū)；

12、缺陷以當(dāng)量大小來(lái)描畫與實(shí)踐不完全吻合；Page 35UT-超聲波探傷射線探傷的根本原理：Page 36射線探傷指X射線或射線經(jīng)過(guò)金屬資料時(shí)，部分能量將被吸收，使射線發(fā)生衰減。再將透過(guò)工件的X射線或射線照射底片，使底片曝光，這樣被檢工件的內(nèi)部特征就在底片上明晰顯示出來(lái)。假設(shè)透過(guò)金屬資料的厚度不同裂紋、氣孔、未焊透等缺陷，該處發(fā)生空穴，使資料變薄或體積質(zhì)量不同夾渣，產(chǎn)生的衰減也不同。透過(guò)較厚或體積質(zhì)量較大的物體時(shí)衰減大，因此射究竟片上的強(qiáng)度就較弱，底片的感光度就較小，經(jīng)過(guò)顯影后得到的黑度就淺；反之，黑度就深。根據(jù)底片上黑度深淺不同的影像，就能將缺陷清楚地顯示出來(lái)。RT-射線探傷射線探傷的射線源：

13、X射線: X射線機(jī)；射線: 放射性元素Se75(硒75)，Ir192銥192, Co60(鈷60 )；Page 37RT-射線探傷射線探傷-實(shí)例一各類型缺陷的底片:Page 38夾渣密集型氣孔咬邊RT-射線探傷對(duì)檢測(cè)工件內(nèi)部缺陷的兩種方法的比較：方法優(yōu)點(diǎn)局限性UT用于檢測(cè)工件內(nèi)部的缺陷；攜帶方便；成本較低；檢測(cè)速度快；可適用于結(jié)構(gòu)相對(duì)復(fù)雜的工件；靈敏度高；不易判斷缺陷的性質(zhì)；近場(chǎng)區(qū)域存在盲區(qū)；缺陷以當(dāng)量大小來(lái)描述與實(shí)際不相吻合等；RT用于檢測(cè)工件的內(nèi)部缺陷；對(duì)缺陷性質(zhì)的判斷比較直觀；描述清楚，易于存檔；不能確定缺陷在工件內(nèi)部的深度；不能檢測(cè)太厚的工件；對(duì)面積型缺陷不是很敏感；Page 39內(nèi)部缺陷探傷方法對(duì)檢測(cè)工件外表及近外表缺陷的三種方法的比較：方法原理檢測(cè)對(duì)象檢測(cè)速