現(xiàn)代測(cè)試技術(shù) 教學(xué)大綱

1、PAGE PAGE 6現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)課程簡介課程編號(hào)124014XX課程名稱現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)課程性質(zhì)限選學(xué) 時(shí)32學(xué) 分2學(xué)時(shí)分配授課：26 實(shí)驗(yàn)：6 上機(jī)： 實(shí)踐： 實(shí)踐（周）：考核方式閉卷考試，平時(shí)成績占30% ，期末成績占70% 。開課學(xué)院商學(xué)院更新時(shí)間XX年9月適用專業(yè)寶石材料與工藝學(xué)先修課程無課程內(nèi)容：現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)是寶石專業(yè)的任選課程。課程內(nèi)容主要包括X射線衍射、掃描電鏡、電子探針、透射電鏡、紅外光譜、拉曼光譜等幾種現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的原理、樣品的制備技術(shù)、圖譜解析的方法，重點(diǎn)闡述現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)在材料領(lǐng)域中的應(yīng)用。隨著寶石合成及優(yōu)化技術(shù)的進(jìn)步，天然寶石與合成寶石之間的差別越來越小，寶石鑒定的難度變

2、得越來越大，在這種情況下，許多現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)被引入到寶石鑒定與材料測(cè)試的領(lǐng)域中來，課程中將結(jié)合寶玉石的測(cè)試分析數(shù)據(jù)，將理論與實(shí)際應(yīng)用結(jié)合起來。通過課程的學(xué)習(xí)，學(xué)生能夠掌握目前最常用的測(cè)試技術(shù)方法，為今后進(jìn)行相關(guān)的寶石鑒定和材料測(cè)試分析工作打下良好的基礎(chǔ)。Brief Introduction Code124014XXTitleModern Testing TechnologyCourse natureLimited optionalSemester Hours32Credits2Semester Hour StructureLecture：26 Experiment：6 Computer Lab：

3、 Practice：Practice (Week)：AssessmentClosed book examination, usually results accounted for 30%, the final grade accounted for 70%.Offered byBusiness SchoolDateXX-9forGemmology and Materials TechnologyPrerequisiteNoneCourse Description: This course is an optional course for gemology students. In this

4、 course, the theory, the technology of sample making and the analytical way on the collection of illustrative plates about some modern testing technology，such as XRD, SEM, EPMA，TEM, IR, Roman and so on, are expatiated. And the course focuses on modern testing technology and its application in the fi

5、eld of materials. With the progress of gems synthetic and optimization technology, the difference between the raw gem and the synthetic gem becomes less and less. It becomes more and more difficult to differentiate them. Under these circumstances, many modern testing instruments have been introduced

6、 to gems identification field. This course will combine the theory and practical application by combining testing and analysis data of gems. The mission of this course is to master the most common testing technology by far and to have a good foundation on gem identification and materal testing.現(xiàn)代測(cè)試技

7、術(shù)課程教學(xué)大綱課程編號(hào)124014XX課程名稱現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)課程性質(zhì)任選學(xué) 時(shí)32學(xué) 分2學(xué)時(shí)分配授課：26 實(shí)驗(yàn)：6 上機(jī)： 實(shí)踐： 實(shí)踐（周）：考核方式閉卷考試，平時(shí)成績占30% ，期末成績占70% 。開課學(xué)院商學(xué)院更新時(shí)間XX年9月適用專業(yè)寶石材料與工藝學(xué)先修課程無一、教學(xué)內(nèi)容第一章 X射線衍射分析1.1 X射線的物理基礎(chǔ)1.2 X射線衍射原理1.3 X射線衍射的方法1.4 X射線衍射的應(yīng)用教學(xué)難點(diǎn)：X射線衍射原理、X射線衍射方法 教學(xué)重點(diǎn)：X射線衍射的應(yīng)用第二章 電子顯微分析基礎(chǔ) 2.1電子顯微分析概述2.2電子光學(xué)2.3電子與固體物質(zhì)的相互作用教學(xué)難點(diǎn)：電磁透鏡的性質(zhì)教學(xué)重點(diǎn)：電磁透鏡

8、的性質(zhì)、電子與固體物質(zhì)的相互作用第三章 透射電子顯微分析3.1 透射電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能3.2 電子衍射3.3 試樣制備3.4 透射電子顯微成像原理教學(xué)難點(diǎn)：選取電子衍射、透射電鏡的成像原理教學(xué)重點(diǎn)：透射電鏡的成像原理第四章 掃描電子顯微分析4.1掃描電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能4.2 掃描電鏡的樣品制備4.3 掃描電鏡的成像原理教學(xué)難點(diǎn)：掃描電鏡的成像原理教學(xué)重點(diǎn)：掃描電鏡的成像原理第五章 電子探針5.1電子探針的原理與結(jié)構(gòu)5.2波譜儀與能譜儀5.3電子探針分析樣品制備5.4 電子探針分析方法教學(xué)難點(diǎn)：電子探針的原理、波譜儀與能譜儀教學(xué)重點(diǎn)：電子探針的分析方法第六章 紅外光譜6.1 光譜分析概述

9、6.2 紅外光譜的基本原理6.3 紅外光譜儀6.4 紅外光譜的樣品制備6.5 紅外光譜的分析方法教學(xué)難點(diǎn)：紅外光譜的原理、紅外光譜的分析方法教學(xué)重點(diǎn)：紅外光譜的分析方法第七章 拉曼光譜分析7.1 拉曼散射的基本原理7.2 拉曼光譜分析7.3 拉曼光譜儀7.4 拉曼光譜的應(yīng)用教學(xué)難點(diǎn)：拉曼散射和瑞利散射 拉曼光譜分析原理教學(xué)重點(diǎn)：拉曼光譜分析的原理、拉曼光譜的應(yīng)用二、教學(xué)要求第一章 X射線衍射分析教學(xué)要求：了解 X射線的基本性質(zhì)；掌握X射線衍射的原理；了解X射線衍射的方法；掌握X射線衍射在材料學(xué)中的應(yīng)用。第二章 電子顯微分析基礎(chǔ) 教學(xué)要求：了解電子顯微分析的基礎(chǔ)知識(shí)；掌握電磁透鏡的性質(zhì)；掌握電子

10、與固體物質(zhì)的相互作用后產(chǎn)生的有用物理信號(hào)。第三章 透射電子顯微分析教學(xué)要求：熟悉透射電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能；掌握電子衍射的原理與方法；了解透射電子顯微分析的樣品制備方法；掌握透射電子顯微成像原理。第四章 掃描電子顯微分析教學(xué)要求：了解掃描電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能；熟悉掃描電鏡的樣品制備方法；掌握掃描電鏡的成像原理與分析方法。第五章 電子探針教學(xué)要求：了解電子探針的原理與結(jié)構(gòu)；熟悉波譜儀與能譜儀的結(jié)構(gòu)與原理；熟悉電子探針分析的樣品制備方法；掌握電子探針分析方法和應(yīng)用。第六章 紅外光譜教學(xué)要求：了解光譜分析的基本知識(shí)；了解紅外光譜的性質(zhì)；掌握紅外光譜的基本原理；熟悉紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)與原理；熟悉紅外光譜的樣品制備方法；掌握紅外光譜的分析方法。第七章 拉曼光譜分析教學(xué)要求：了解拉曼散射的基本原理；掌握拉曼光譜分析的方法；熟悉拉曼光