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1、模電課件場(chǎng)效應(yīng)管放大電路第1頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四與BJT相比:利用電壓產(chǎn)生的電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制電流單極型晶體管:主要是多數(shù)載流子導(dǎo)電輸入阻抗高噪聲低易于制造,便于集成第2頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四P溝道耗盡型P溝道P溝道N溝道增強(qiáng)型N溝道N溝道(耗盡型)FET場(chǎng)效應(yīng)管JFET結(jié)型MOSFET絕緣柵型(IGFET)耗盡型:場(chǎng)效應(yīng)管沒(méi)有加偏置電壓時(shí),就有導(dǎo)電溝道存在增強(qiáng)型:場(chǎng)效應(yīng)管沒(méi)有加偏置電壓時(shí),沒(méi)有導(dǎo)電溝道場(chǎng)效應(yīng)管的分類:第3頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1 金屬-氧化物-半導(dǎo)體(MOS)場(chǎng)效應(yīng)管
2、5.1.1 N溝道增強(qiáng)型MOSFET5.1.5 MOSFET的主要參數(shù)5.1.2 N溝道耗盡型MOSFET5.1.3 P溝道MOSFET5.1.4 溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng)第4頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.1 N溝道增強(qiáng)型MOSFET1. 結(jié)構(gòu)(N溝道)L :溝道長(zhǎng)度W :溝道寬度tox :絕緣層厚度通常 W L 第5頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.1 N溝道增強(qiáng)型MOSFET剖面圖1. 結(jié)構(gòu)(N溝道)符號(hào)第6頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.1 N溝道增強(qiáng)型MOSFET2. 工作原理(1)vGS對(duì)溝
3、道的控制作用當(dāng)vGS0時(shí) 無(wú)導(dǎo)電溝道, d、s間加電壓時(shí),也無(wú)電流產(chǎn)生。當(dāng)0vGS VT 時(shí) 在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生導(dǎo)電溝道,d、s間加電壓后,將有電流產(chǎn)生。 vGS越大,導(dǎo)電溝道越厚VT 稱為開(kāi)啟電壓第7頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 工作原理(2)vDS對(duì)溝道的控制作用靠近漏極d處的電位升高電場(chǎng)強(qiáng)度減小溝道變薄當(dāng)vGS一定(vGS VT )時(shí),vDSID溝道電位梯度整個(gè)溝道呈楔形分布第8頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四當(dāng)vGS一定(vGS VT )時(shí),vDSID溝道電位梯度 當(dāng)vDS增加到使vGD=VT 時(shí),在緊靠漏極處出現(xiàn)預(yù)夾斷。2.
4、工作原理(2)vDS對(duì)溝道的控制作用在預(yù)夾斷處:vGD=vGS-vDS =VT第9頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四預(yù)夾斷后,vDS夾斷區(qū)延長(zhǎng)溝道電阻ID基本不變2. 工作原理(2)vDS對(duì)溝道的控制作用第10頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 工作原理(3) vDS和vGS同時(shí)作用時(shí) vDS一定,vGS變化時(shí) 給定一個(gè)vGS ,就有一條不同的 iD vDS 曲線。第11頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. V-I 特性曲線及大信號(hào)特性方程(1)輸出特性及大信號(hào)特性方程 截止區(qū)當(dāng)vGSVT時(shí),導(dǎo)電溝道尚未形成,iD0
5、,為截止工作狀態(tài)。第12頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. V-I 特性曲線及大信號(hào)特性方程(1)輸出特性及大信號(hào)特性方程 可變電阻區(qū) vDS(vGSVT)由于vDS較小,可近似為rdso是一個(gè)受vGS控制的可變電阻 第13頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. V-I 特性曲線及大信號(hào)特性方程(1)輸出特性及大信號(hào)特性方程 可變電阻區(qū) n :反型層中電子遷移率Cox :柵極(與襯底間)氧化層單位面積電容本征電導(dǎo)因子其中Kn為電導(dǎo)常數(shù),單位:mA/V2第14頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. V-I 特性曲線及大信
6、號(hào)特性方程(1)輸出特性及大信號(hào)特性方程 飽和區(qū)(恒流區(qū)又稱放大區(qū))vGS VT ,且vDS(vGSVT)是vGS2VT時(shí)的iD V-I 特性:第15頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. V-I 特性曲線及大信號(hào)特性方程(2)轉(zhuǎn)移特性第16頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.2 N溝道耗盡型MOSFET1. 結(jié)構(gòu)和工作原理(N溝道)二氧化硅絕緣層中摻有大量的正離子 可以在正或負(fù)的柵源電壓下工作,而且基本上無(wú)柵流第17頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.2 N溝道耗盡型MOSFET2. V-I 特性曲線及大信號(hào)
7、特性方程 (N溝道增強(qiáng)型)第18頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.3 P溝道MOSFET第19頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.4 溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng)實(shí)際上飽和區(qū)的曲線并不是平坦的L的單位為m當(dāng)不考慮溝道調(diào)制效應(yīng)時(shí),0,曲線是平坦的。 修正后第20頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.5 MOSFET的主要參數(shù)一、直流參數(shù)NMOS增強(qiáng)型1. 開(kāi)啟電壓VT (增強(qiáng)型參數(shù))2. 夾斷電壓VP (耗盡型參數(shù))3. 飽和漏電流IDSS (耗盡型參數(shù))4. 直流輸入電阻RGS (1091015 )二、交流參數(shù) 1.
8、 輸出電阻rds 當(dāng)不考慮溝道調(diào)制效應(yīng)時(shí),0,rds 第21頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.5 MOSFET的主要參數(shù)2. 低頻互導(dǎo)gm 二、交流參數(shù) 考慮到 則其中第22頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.1.5 MOSFET的主要參數(shù)end三、極限參數(shù) 1. 最大漏極電流IDM 2. 最大耗散功率PDM 3. 最大漏源電壓V(BR)DS 4. 最大柵源電壓V(BR)GS 第23頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2 MOSFET放大電路5.2.1 MOSFET放大電路1. 直流偏置及靜態(tài)工作點(diǎn)的計(jì)算2.
9、圖解分析3. 小信號(hào)模型分析第24頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2.1 MOSFET放大電路1. 直流偏置及靜態(tài)工作點(diǎn)的計(jì)算(1)簡(jiǎn)單的共源極放大電路(N溝道)直流通路共源極放大電路第25頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2.1 MOSFET放大電路1. 直流偏置及靜態(tài)工作點(diǎn)的計(jì)算(1)簡(jiǎn)單的共源極放大電路(N溝道)假設(shè)工作在飽和區(qū),即驗(yàn)證是否滿足如果不滿足,則說(shuō)明假設(shè)錯(cuò)誤須滿足VGS VT ,否則工作在截止區(qū)再假設(shè)工作在可變電阻區(qū)即第26頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四假設(shè)工作在飽和區(qū)滿足假設(shè)成立,結(jié)果即為
10、所求。解:例:設(shè)Rg1=60k,Rg2=40k,Rd=15k,試計(jì)算電路的靜態(tài)漏極電流IDQ和漏源電壓VDSQ 。VDD=5V, VT=1V,第27頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2.1 MOSFET放大電路1. 直流偏置及靜態(tài)工作點(diǎn)的計(jì)算(2)帶源極電阻的NMOS共源極放大電路飽和區(qū)需要驗(yàn)證是否滿足第28頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2.1 MOSFET放大電路1. 直流偏置及靜態(tài)工作點(diǎn)的計(jì)算靜態(tài)時(shí),vI0,VG 0,ID I電流源偏置 VS VG VGS (飽和區(qū)) 第29頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期
11、四5.2.1 MOSFET放大電路2. 圖解分析由于負(fù)載開(kāi)路,交流負(fù)載線與直流負(fù)載線相同 第30頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2.1 MOSFET放大電路3. 小信號(hào)模型分析(1)模型靜態(tài)值(直流)動(dòng)態(tài)值(交流)非線性失真項(xiàng) 當(dāng),vgs 2(VGSQ- VT )時(shí),第31頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.2.1 MOSFET放大電路3. 小信號(hào)模型分析(1)模型0時(shí)高頻小信號(hào)模型第32頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. 小信號(hào)模型分析解:例5.2.2的直流分析已求得: (2)放大電路分析(例5.2.5)s第
12、33頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. 小信號(hào)模型分析(2)放大電路分析(例5.2.5)s第34頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. 小信號(hào)模型分析(2)放大電路分析(例5.2.6)共漏第35頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四3. 小信號(hào)模型分析(2)放大電路分析end第36頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.3 結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管 5.3.1 JFET的結(jié)構(gòu)和工作原理 5.3.2 JFET的特性曲線及參數(shù) 5.3.3 JFET放大電路的小信號(hào)模型分析法 第37頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日
13、,23點(diǎn)40分,星期四5.3.1 JFET的結(jié)構(gòu)和工作原理1. 結(jié)構(gòu) # 符號(hào)中的箭頭方向表示什么?第38頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 工作原理 vGS對(duì)溝道的控制作用當(dāng)vGS0時(shí)(以N溝道JFET為例) 當(dāng)溝道夾斷時(shí),對(duì)應(yīng)的柵源電壓vGS稱為夾斷電壓VP ( 或VGS(off) )。對(duì)于N溝道的JFET,VP 0。PN結(jié)反偏耗盡層加厚溝道變窄。 vGS繼續(xù)減小,溝道繼續(xù)變窄。第39頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 工作原理(以N溝道JFET為例) vDS對(duì)溝道的控制作用當(dāng)vGS=0時(shí),vDSID G、D間PN結(jié)的反向電壓增加,使
14、靠近漏極處的耗盡層加寬,溝道變窄,從上至下呈楔形分布。 當(dāng)vDS增加到使vGD=VP 時(shí),在緊靠漏極處出現(xiàn)預(yù)夾斷。此時(shí)vDS 夾斷區(qū)延長(zhǎng)溝道電阻ID基本不變第40頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 工作原理(以N溝道JFET為例) vGS和vDS同時(shí)作用時(shí)當(dāng)VP vGS0 時(shí),導(dǎo)電溝道更容易夾斷,對(duì)于同樣的vDS , ID的值比vGS=0時(shí)的值要小。在預(yù)夾斷處vGD=vGS-vDS =VP 第41頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四綜上分析可知 溝道中只有一種類型的多數(shù)載流子參與導(dǎo)電, 所以場(chǎng)效應(yīng)管也稱為單極型三極管。JFET是電壓控制電流器件
15、,iD受vGS控制。預(yù)夾斷前iD與vDS呈近似線性關(guān)系;預(yù)夾斷后, iD趨于飽和。# 為什么JFET的輸入電阻比BJT高得多? JFET柵極與溝道間的PN結(jié)是反向偏置的,因 此iG0,輸入電阻很高。第42頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.3.2 JFET的特性曲線及參數(shù)2. 轉(zhuǎn)移特性 1. 輸出特性 第43頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四與MOSFET類似3. 主要參數(shù)5.3.2 JFET的特性曲線及參數(shù)第44頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.3.2 FET放大電路的小信號(hào)模型分析法1. FET小信號(hào)模型(1)低
16、頻模型第45頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四(2)高頻模型第46頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 動(dòng)態(tài)指標(biāo)分析(1)中頻小信號(hào)模型第47頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四2. 動(dòng)態(tài)指標(biāo)分析(2)中頻電壓增益(3)輸入電阻(4)輸出電阻忽略 rds,由輸入輸出回路得則通常則end第48頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四*5.4 砷化鎵金屬-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管不做教學(xué)要求第49頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.5 各種放大器件電路性能比較第50頁(yè),共54頁(yè),2022年,5月20日,23點(diǎn)40分,星期四5.5 各種放大器件電路性能比較組態(tài)對(duì)應(yīng)關(guān)系:CEBJTFETCSCCCDCBCG電壓增益:BJTFETCE:CC:CB:CS:CD:CG:第51頁(yè)
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