ADC采樣中的信號(hào)鏈設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)

1、【W(wǎng)ord版本下載可任意編輯】 ADC采樣中的信號(hào)鏈設(shè)計(jì)挑戰(zhàn) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）中的采樣可能會(huì)引起混疊和電容反沖問(wèn)題，為了解決這些問(wèn)題，設(shè)計(jì)人員會(huì)在電路中使用濾波器和驅(qū)動(dòng)放大器，但同時(shí)也會(huì)給在中等帶寬應(yīng)用領(lǐng)域中實(shí)現(xiàn)jing確的直流和交流性能帶來(lái)挑戰(zhàn)，設(shè)計(jì)人員可能zui終為此犧牲系統(tǒng)目標(biāo)。 本文將會(huì)從采樣技術(shù)的根底知識(shí)說(shuō)起，重溫模數(shù)轉(zhuǎn)換的基本運(yùn)作方式，并幫助大家理解現(xiàn)實(shí)中會(huì)遇到的問(wèn)題。在接下來(lái)的后一篇文章中，我們會(huì)進(jìn)一步介紹如何通過(guò)連續(xù)時(shí)間- ADC簡(jiǎn)化信號(hào)鏈，有效地解決采樣中遇到的問(wèn)題。 采樣根底 數(shù)據(jù)數(shù)字化涉及采樣和量化這兩個(gè)基本過(guò)程，如圖1所示。采樣是di一步，其是使用采樣頻率fS將連續(xù)

2、時(shí)間變化的模擬信號(hào)x(t)轉(zhuǎn)換為離散時(shí)間信號(hào)x(n)。結(jié)果得出平均間隔的信號(hào)為1/ TS （fS = 1/ TS ）。 圖1：數(shù)據(jù)采樣 (圖片: ADI) 第二步是量化，即將這些離散時(shí)間樣本的值估算為一個(gè)有限的可能值，并以數(shù)字代碼表示，如圖1所示。量化為一組有限值會(huì)導(dǎo)致數(shù)字化錯(cuò)誤，稱為量化噪聲。 采樣過(guò)程也會(huì)導(dǎo)致混疊。在混疊中，我們會(huì)看到輸入信號(hào)折返及其在采樣與保持時(shí)鐘頻率周?chē)霈F(xiàn)諧波。奈奎斯特準(zhǔn)則要求采樣頻率必須至少是zui高信號(hào)頻率的兩倍。如果采樣頻率小于zui大模擬信號(hào)頻率的兩倍，將會(huì)發(fā)生稱為混疊的現(xiàn)象。為了理解混疊在時(shí)域和頻域中的含義，首先要考慮如圖2所示采樣的單信號(hào)正弦波的時(shí)域表示形

3、式。 圖2 ：混疊的時(shí)域表示 (圖片: ADI) 在這個(gè)例如中，采樣頻率fS較模擬輸入頻率fa 僅略高，但不多于fa 兩倍，因此不符合奈奎斯特準(zhǔn)則。值得留意的是，實(shí)際樣本的模式會(huì)產(chǎn)生較低的頻率（等于fS -fa）的混疊正弦波。這種情況的相應(yīng)頻域表示如圖3所示。 圖3：混疊的頻域表示 (圖片: ADI) 奈奎斯特帶寬定義為從直流到fS / 2的頻譜。頻譜被劃分為無(wú)數(shù)個(gè)奈奎斯特區(qū)，每個(gè)區(qū)的寬度等于0.5fS。實(shí)際上，理想的采樣器由ADC和FFT處理器來(lái)代替。 FFT處理器僅提供從直流到fS / 2的輸出； 即是出現(xiàn)在di一個(gè)奈奎斯特區(qū)域中的信號(hào)或混疊。 如果采用理想的脈沖采樣器，在頻率fS下對(duì)頻率

4、fa 的單頻正弦波開(kāi)展采樣，如圖1所示。另外假設(shè)fS 2fa。采樣器的頻域輸出顯示，每一個(gè)fS倍頻附近均會(huì)出現(xiàn)原始信號(hào)的混疊或鏡像。也就是說(shuō)，在|? K fS ? fa | 的頻率處，K = 1、2、3、4等。 之后，考慮在圖3中di一個(gè)奈奎斯特區(qū)域之外的信號(hào)情況。信號(hào)頻率僅略小于采樣頻率，與圖2時(shí)域表示中所示的條件相對(duì)應(yīng)。請(qǐng)注意，即使信號(hào)在di一個(gè)奈奎斯特區(qū)域之外，其鏡像（或混疊）fS fa 仍在該區(qū)內(nèi)?；氐綀D3，如果一個(gè)不想要的信號(hào)出現(xiàn)在fa 的任何鏡像頻率上，它也將會(huì)出現(xiàn)在fa上，從而在di一奈奎斯特區(qū)中產(chǎn)生一個(gè)雜散頻率成分。 設(shè)計(jì)挑戰(zhàn) 對(duì)于高性能應(yīng)用，系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員需要解決由采樣過(guò)程引起

5、的量化噪聲、混疊和開(kāi)關(guān)電容輸入采樣問(wèn)題。工業(yè)應(yīng)用中常見(jiàn)有兩種類(lèi)型的精細(xì)ADC，分別是逐次逼近存放器（SAR）和- ADC，它們都是采用基于開(kāi)關(guān)電容的采樣技術(shù)設(shè)計(jì)的。 ? 量化噪聲 在理想的奈奎斯特 ADC中，ADC的LSB大小將決定在開(kāi)展模數(shù)轉(zhuǎn)換時(shí)添加到輸入的量化噪聲。該量化噪聲分布在fS / 2的帶寬范圍內(nèi)。為了解決量化噪聲問(wèn)題，可以考慮過(guò)采樣技術(shù)，即以遠(yuǎn)高于奈奎斯特頻率的速率對(duì)輸入信號(hào)開(kāi)展采樣，以提高信噪比（SNR）和分辨率（ENOB）。在過(guò)采樣中，使用采樣頻率為奈奎斯特頻率（2 ? fIN ）的N倍，因此必須使相同的量化噪聲分布在N倍奈奎斯特頻率范圍內(nèi)。這也放寬了對(duì)抗混疊濾波器的要求。過(guò)

6、采樣率（OSR）定義為fS / 2 fIN ，其中fIN 是目標(biāo)信號(hào)帶寬。作為一般準(zhǔn)則，對(duì)ADC開(kāi)展四倍的過(guò)采樣可以額外提供位分辨率，或者增加6 dB的動(dòng)態(tài)范圍。增加過(guò)采樣率將導(dǎo)致整體噪聲降低，并增加動(dòng)態(tài)范圍（DR），過(guò)采樣為DR= 10log10 OSR，以dB為單位。 過(guò)采樣在本質(zhì)上與集成的數(shù)字濾波器和抽取功能一起使用和實(shí)現(xiàn)。 - ADC中的基本過(guò)采樣調(diào)制器對(duì)量化噪聲開(kāi)展整形，使其大部分出現(xiàn)在目標(biāo)帶寬之外，從而導(dǎo)致低頻處的整體動(dòng)態(tài)范圍增大，如圖4所示。然后，數(shù)字低通濾波器（LPF）然后濾除目標(biāo)帶寬以外的量化噪聲，抽取器將輸出數(shù)據(jù)速率降低，使其回落至奈奎斯特速率。 圖4 ：過(guò)采樣例如 (圖片

7、: ADI) 噪聲整形是另一種減少量化噪聲的技術(shù)。在- ADC中，在環(huán)路濾波器之后的環(huán)路內(nèi)使用低分辨率量化器（一位至五位）。 DAC用作反應(yīng)，從輸入中減去量化信號(hào)，如圖5所示。 圖5：噪聲整形 (圖片: ADI) 積分器持續(xù)將量化誤差加起來(lái)，從而將量化噪聲整形至更高頻率，然后可以使用數(shù)字濾波器對(duì)其開(kāi)展濾波。圖6說(shuō)明了典型- ADC輸出x的功率譜密度（PSD）。噪聲整形斜率取決于環(huán)路濾波器H(z)的階數(shù)，每十倍頻程為（20 ? n）dB，其中n是環(huán)路濾波器的階數(shù)。通過(guò)結(jié)合使用噪聲整形和過(guò)采樣，- ADC可實(shí)現(xiàn)帶內(nèi)高分辨率。帶內(nèi)帶寬等于fODR / 2（ODR代表輸出數(shù)據(jù)速率）。通過(guò)增加環(huán)路濾波器

8、的階數(shù)或增加過(guò)采樣率，可以獲得更高的分辨率。 圖6 ：過(guò)采樣和噪聲整形圖 (圖片: ADI) ? 混疊現(xiàn)象 為了在高性能的應(yīng)用中消除混疊，使用更高階的抗混疊濾波器來(lái)防止任何數(shù)量的混疊。抗混疊濾波器是一種低通濾波器，其帶寬會(huì)限制輸入信號(hào)，并確保信號(hào)中沒(méi)有超出可以折返的目標(biāo)帶寬的頻率分量。濾波器的性能將取決于帶外信號(hào)與fS / 2的接近程度以及所需的衰減量。 對(duì)于SAR ADC，輸入信號(hào)帶寬和采樣頻率之間的差距并不大，因此我們需要一個(gè)更高階濾波器，這會(huì)是一個(gè)更復(fù)雜、更高功率和更大失真的高階濾波器設(shè)計(jì)。例如，如果200 kSPS采樣速度SAR的輸入帶寬為100 kHz，則抗混疊濾波器將需要拒絕大于1

9、00 kHz的輸入信號(hào)，以確保沒(méi)有混疊。這需要使用非常高階的濾波器。圖7顯示了陡峭的曲線需求。 圖7 ：混疊要求(圖片: ADI) 如果選擇400 kSPS的采樣速度來(lái)降低濾波器的階數(shù)，則需要抑制 300 kHz的輸入頻率。增加采樣速度將增加功率，如果想實(shí)現(xiàn)雙倍速度，需要的功率也將增加一倍。由于采樣頻率遠(yuǎn)高于輸入帶寬，因此以功率為代價(jià)的進(jìn)一步過(guò)采樣將進(jìn)一步降低抗混疊濾波器的要求。 在- ADC中，輸入以更高的OSR開(kāi)展過(guò)采樣，由于采樣頻率遠(yuǎn)高于輸入帶寬，因而降低了抗混疊濾波器的要求，如圖8所示。 圖8 ：-中的抗混疊濾波器要求 (圖片: ADI) 圖9顯示SAR和離散時(shí)間-（DTSD）架構(gòu)中抗

10、混疊濾波器復(fù)雜度的程度。如果我們采用100 kHz的 -3dB輸入帶寬在采樣頻率fS下實(shí)現(xiàn)102 dB衰減，則DTSD ADC將需要使用二階抗混疊濾波器，而采用SAR ADC在fS下獲得相同的衰減，則需要使用五階濾波器。對(duì)于連續(xù)時(shí)間-（CTSD）ADC，衰減是固有的，因此我們不需要使用任何抗混疊濾波器。 圖9 ：各種架構(gòu)的抗混疊濾波器要求 (圖片: ADI) 這些濾波器對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō)可能是一道難題，它們必須優(yōu)化這些濾波器的設(shè)計(jì)，以便在目標(biāo)頻帶內(nèi)提供衰減，并盡可能提供更高的抑制性能。它們還會(huì)給系統(tǒng)增加許多其他誤差，例如失調(diào)、增益、相位誤差和噪聲，從而降低其性能。同樣，高性能ADC本質(zhì)是差分的

11、，因此我們需要兩倍數(shù)量的無(wú)源組件。為了在多通道應(yīng)用中獲得更好的相位匹配，信號(hào)鏈中的所有組件都必須匹配良好，即需要使用公差更嚴(yán)格的組件。 ADC選料上的考慮 工程師要選擇一款合適的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC），要了解轉(zhuǎn)換器的關(guān)鍵參數(shù)項(xiàng)。如上文所述，它們包括位數(shù)、采樣率或輸入數(shù)的要求，轉(zhuǎn)換架構(gòu)的選擇（SAR、三角積分），甚至于輸入類(lèi)型的選項(xiàng)（單端、差分 ）等，以及參數(shù)項(xiàng)互相的影響或補(bǔ)充。如工程師手上能擁有一個(gè)能夠概括大部份主要參數(shù)項(xiàng)的篩選列表，在篩選中還能清楚表達(dá)各選項(xiàng)在市場(chǎng)上的普遍程度，且能夠靈活地加減篩選項(xiàng)，這一定會(huì)提升選料效率。 這里為大家分享一個(gè)實(shí)用的工具工程師只需在Digi-Keyguan網(wǎng)的搜索引擎中輸入關(guān)鍵字ADC或模數(shù)轉(zhuǎn)換器，進(jìn)入數(shù)據(jù)采集 - 模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）后，相關(guān)的詳細(xì)參數(shù)就能一目了然。 圖10：Digi-Keyguan網(wǎng)模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）篩選選項(xiàng) 本文小結(jié) 本文中，我們首先重溫了模數(shù)轉(zhuǎn)換器的根底運(yùn)作原理。接下來(lái)介紹了如何通過(guò)-