元器件檢驗(yàn)通用標(biāo)準(zhǔn)

1、版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)碳膜電阻文件編號：WI/HV-12-001受控狀態(tài)：改正頁：第1頁共53頁抽樣查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目色環(huán)表記與電阻標(biāo)稱值精度等級是否一一致.1色環(huán)表記MI目測外觀用毛刷沾洗板水輕擦色環(huán)，不可以出現(xiàn)脫色現(xiàn)象。元件體電阻有無損壞，引腳能否氧化。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖；切合實(shí)質(zhì)裝置。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺用LCR電橋丈量電阻值能否在偏差同意范圍內(nèi),電阻值小于10K的用串連方式，頻次采納100Hz.電阻值大于等于10K的用并聯(lián)方式

2、，頻率采納100Hz。MALCR電橋3電性分別在高溫85、低溫-20、溫度93%3%、100CM高度自由跌落3次，對應(yīng)R值均切合標(biāo)稱值以及偏差同意范圍。3.碳膜電阻偏差值：5%用40W烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳4放在2305錫爐中一次上錫面積大于85%。表MA烙鐵可焊性面色環(huán)的小錫爐顏色不發(fā)生變化。1.所用資料與樣品符合。2.目測、對照樣品5資料與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。MA刀片3.外殼用刀片刮取，殼體堅(jiān)韌度需切合。1、包裝資料用料正確。6包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。MA目測表記3、裝箱方式、數(shù)目無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期

3、版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-002受控狀態(tài)：改正頁：金屬膜電阻類第2頁共53頁抽樣查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目色環(huán)表記與電阻標(biāo)稱值精度等級能否一色環(huán)表記MI目測1外觀致。元件體電阻有無損壞，引腳能否氧化。MI目測鋼尺或游標(biāo)2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。MA卡尺1室溫下用LCR電橋丈量電阻值能否在偏差同意范圍內(nèi)，電阻值小于10K的用串連方式，頻次采納100Hz；電阻值大于等于10K的用并聯(lián)方式，頻次采納3100Hz。MA電性2分別在75、-

4、5以下、濕度933、100CMLCR電橋高度自由跌落3次，對應(yīng)R值均切合標(biāo)稱值及偏差允許范圍。3.金屬膜、精細(xì)電阻阻值偏差不得高出標(biāo)稱值的上下限。4CR金屬膜電阻偏差值1用40W烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在烙鐵5可焊性MA2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1、所用資料與樣品符合。目測、對照樣6資料MA2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。品1、包裝資料用料正確。包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。7MI目測表記3、裝箱方式、數(shù)目無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)氧化膜電阻文件編號：WI/HV-12-003受控

5、狀態(tài)：改正頁：第3頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=0MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目色環(huán)表記與電阻標(biāo)稱值精度等級能否一絲印MI目測致。外觀元件體電阻有無損壞，引腳能否氧化。MI目測2尺寸外形尺寸能否切合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺用LCR電橋丈量電阻值能否在偏差同意范圍內(nèi)，電阻值小于10K的用串連方式，頻次采納100Hz；3電性CRLCR電橋分別在75、-5、濕度933、100CM高度自由跌落3次，對應(yīng)R值均切合標(biāo)稱值及偏差同意范圍4資料所用資料與樣品符合MA目測、對照

6、樣品包裝資料用料正確。小包裝方式、數(shù)目無誤。5包裝表記MI目測裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)通用標(biāo)準(zhǔn)AI機(jī)用的電阻、二極管引腳標(biāo)準(zhǔn)要求版本：第三版文件編號：WI/HV-12-004受控狀態(tài)：改正頁：第4頁共53頁抽樣查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)碳膜電阻、金膜電阻、二極管1N4148、二極管1N4007引腳直徑A序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求Q查驗(yàn)方法號項(xiàng)目L11/4W碳膜、金膜電阻引腳直徑要求必要達(dá)-0.5mm電阻4W電阻要求帶編帶（26mm）

7、，編帶中間電阻引腳的兩頭數(shù)字卡尺1CR引腳尺寸為26mm，也有52mm。目測3電阻引腳與編帶不同意有傾斜、曲折、變形等現(xiàn)象。1、二極管1N4148引腳直徑為-0.5mm。二極管2二極管1N4148要求帶編帶（26mm），編帶中間二極管1N414數(shù)字卡尺281N4148引腳的兩頭尺寸為26mm。CR目測3二極管1N4148引腳與編帶不同意有傾斜、曲折、變形等引腳現(xiàn)象1二極管1N4007引腳直徑為-0.73mm。二極管2二極管1N4007要求帶編帶（58mm），編帶中間二極管1N400數(shù)字卡尺371N4007引腳的兩頭尺寸為58mm。CR目測3二極管1N4007引腳與編帶不同意有傾斜、曲折、變形等

8、引腳現(xiàn)象、來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)瓷片電容版本：第三版文件編號：WI/HV-12-005受控狀態(tài)：改正頁：第5頁共53頁抽樣查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)電容：104P/50V+80%-20%102P/50V+80%-20%(直徑5腳距5mm)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印能否清楚可辯，表記能否與來料相絲印MI目測1外觀符。元件體引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞、劃傷、裂縫等。MI目測鋼尺或游標(biāo)卡2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。腳距5mm，6mm，切合實(shí)質(zhì)裝置。MA尺1使用數(shù)字電容測試儀檢測其容量能

9、否在同意范圍內(nèi)，漏電流檢測儀檢測其額定耐壓與漏電流的大小。2常溫下用數(shù)字電容測試儀檢測電容值為+80%-20%（+80%-20%），消耗角。3常溫下，用絕緣電阻測試儀測其絕緣阻10000M4常溫下，用耐壓測試儀測端子間耐壓值75V；端子3電性與外殼間耐壓值為100V，應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象（高溫區(qū)95-105檢測方法同樣）。5將其放于95105及低溫-18以下，使用數(shù)字電容測試儀檢測測其電容值為+80%-20%（+80%-20%）.6.手工浸水濕度93%3%用數(shù)字電容測試儀測其電容+80%-20%（+80%-20%）.用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在可焊性2305錫爐中，一次上錫面積大于

10、85%。1、所用資料與樣品符合。資料2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。1.包裝資料用料正確。2.小包裝方式、數(shù)目無誤。包裝表記3.裝箱方式、數(shù)目無誤。4.內(nèi)包裝、外箱表記單內(nèi)容正確。數(shù)字電容測試儀漏電流測試儀CR耐壓測試儀絕緣電阻測試儀烙鐵MI小錫爐MA目測、對照樣品MI目測擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)高壓瓷片電容版本：第三版文件編號：WI/HV-12-006受控狀態(tài)：改正頁：第6頁共53頁抽樣查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)電容：101P/1KV(直徑5腳距5mm)102

11、P/1KV(直徑腳距5mm)103P/1KV(直徑腳距5mm)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印能否清楚可辯，表記能否與來料相絲印MI目測1外觀符。元件體引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞、劃傷、裂縫等。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺1用數(shù)字電容測試儀檢測其容量能否在同意范圍內(nèi)，漏電流檢測儀檢測其額定耐壓與漏電流的大小。2常溫下用數(shù)字電容測試儀檢測電容值為+80%-20%（+80%-20%），消耗角。3常溫下，用絕緣電阻測試儀測其絕緣阻10000M數(shù)字電容測試儀漏電流測試儀3電性4常溫下，用耐壓測試儀測試端子間耐壓值(5s)；CR耐壓測試儀端子與外殼間耐壓值為12

12、50V，應(yīng)元擊穿或飛弧絕緣電阻測試儀現(xiàn)象（高溫區(qū)95-105檢測方法同樣）。5將其放于95105及低溫-18以下，使用數(shù)字電容測試儀檢測測其電容值為+80%-20%版本：第三版文件編號：來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)WI/HV-12-007受控狀態(tài)：改正頁：高壓金屬膜電容第7頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)高壓電容（CBB金屬膜電容）CBB21-473J400V(腳距10mm)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印能否清楚可辯，有明確認(rèn)證標(biāo)記，能否注明絲印MI目測3C、UL、TV或VDE等認(rèn)

13、證標(biāo)記。外觀引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞、劃傷，元件體MI目測封膠能否有氣孔等。2尺寸切合產(chǎn)品工程圖MA游標(biāo)卡尺依據(jù)所測試安規(guī)電容的容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，依據(jù)電容正負(fù)偏差設(shè)置上下偏差，而后依照電容的標(biāo)稱電壓值，設(shè)定其消耗角正切值，最后夾上待測電容，耐壓測試儀“PASS”燈亮表示合格。電容測試儀2.用電容測試儀測其電容F5%，消耗角%(20漏電流3電性1KHZ).CR測試儀3.用絕緣電阻測試儀測其R30000M（201min）絕緣電阻4.常溫下100CM高度自由跌落3次，再測其電容值應(yīng)為測試儀F5%.5.用耐壓測試儀測其極與極的抗電強(qiáng)度2Ur(2S).來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)聚酯膜（絳綸）電

14、容版本：第三版文件編號：WI/HV-12-008受控狀態(tài)：改正頁：第8頁共頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)聚脂膜電容（絳綸）：2J103J（630V）(腳距4mm)2J152J（630V）(腳距4mm)序查驗(yàn)AQ查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求查驗(yàn)方法號項(xiàng)目L絲印絲印能否清楚可辯，負(fù)極標(biāo)記、絲印表記能否與來料符合。MI目測1外觀元件體引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞、劃傷。MI目測鋼尺M(jìn)2尺寸切合產(chǎn)品工程圖游標(biāo)卡A尺電容依據(jù)所測電容器容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，依據(jù)電容正負(fù)測試儀偏差設(shè)置上下偏差，而

15、后依據(jù)電容的標(biāo)稱耐壓來設(shè)定消耗角，最后萬用表夾上待測電容，“PASS”燈亮表示為合格。穩(wěn)壓電2.用電容測試儀或LCR電橋測其電容F5F5)，消耗角正源3電性切值（201KHZ）。CR漏電流3.用耐壓測試儀測其極與極間的抗電強(qiáng)度2Ur（Ur=630VDC）時間測試儀5S絕緣電4.用絕緣電阻測試儀測其R30000M（201min）。阻測試5.工作溫度范圍-4085儀版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-009受控狀態(tài)：改正頁：二極管IN4007第9頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR

16、：致命缺點(diǎn)二極管：D1-D5IN4007序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖；切合實(shí)質(zhì)裝置。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺1.用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降：和反向晶體管測試儀耐壓：IN40071000V、3電性2.IN4007在最大反向電壓下其最大反向電流值為ACR穩(wěn)壓電源（+25），均勻輸出電流值為1A（+75）3.工作溫度范圍為-65to+125萬用表用40W烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性MA5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1.所用資料

17、與樣品符合。5資料2.MA目測、對照樣品與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。1、包裝資料用料正確。包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。6MI目測表記3.裝箱方式、數(shù)目無誤。4.（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)二極管IN4007抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：文件編號：WI/HV-12-009A受控狀態(tài)：改正頁：第9A頁共53頁依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)穩(wěn)壓二極管參數(shù):型號穩(wěn)壓值及精度測試電流正向電壓（VF）IN47235%76mA當(dāng)IF=200mA時,VFIN47

18、325%53mA當(dāng)IF=200mA時,VFIN47335%49mA當(dāng)IF=200mA時,VFIN47345%45mA當(dāng)IF=200mA時,VFIN472312V5%21mA當(dāng)IF=200mA時,VFIN472327V5%當(dāng)IF=200mA時,VF型號最大反向電壓(VR)正向電壓(VF)正向電流（IF）最大正向輸出電流IAFIN400150VA1AIN4002100VA1AIN40071000VA1AIN4148100VA150mABAV9975VA215mA二極管參數(shù):擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-010二極管IN4148受控狀態(tài)：改正頁：第

19、10頁共頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)二極管：D6-D7IN4148查驗(yàn)序號查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測1外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測鋼尺或游標(biāo)卡2尺寸切合產(chǎn)品工程圖；切合實(shí)質(zhì)裝置。MA尺1、用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降：和晶體管測試儀反向耐壓：IN4148100V、3電性2、最大反向電流（+25）值為A，均勻輸出電CR穩(wěn)壓電源流（+75）值為150mA3、工作溫度范圍為-65to+125萬用表用40W

20、烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放烙鐵4可焊性MA在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1、所用資料與樣品符合。目測、對照5資料MA2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。樣品1、包裝資料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)目無誤。6包裝表記MI目測3、裝箱方式、數(shù)目無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-011受控狀態(tài)：二極管(6A10)改正頁：第11頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)二

21、極管：6A10序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖；切合實(shí)質(zhì)裝置。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺4.用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降：（MAX）晶體管測試儀和反向耐壓：6A101000V3電性5.6A10在最大反向電壓下其最大反向電流值為10ACR穩(wěn)壓電源（+25），均勻輸出電流值為（+100）6.工作溫度范圍為-55to+150萬用表用40W烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性MA5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1、所用資料與樣品符合。5資料MA目

22、測、對照樣品2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。1、包裝資料用料正確。包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。6MI目測表記3.裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)迅速恢復(fù)二極管FR107文件編號：WI/HV-12-012受控狀態(tài)：改正頁：第12頁共頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)二極管：FR107DO-41序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測1外觀元件體元件體引腳能否氧化

23、，能否有毛刺和損壞。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。1.用晶體管測試儀（10mADC）測試二極管正向壓降VF，反向耐壓：FR1071000V（工作溫度范圍-65+150）.2.用萬用表先后丈量二極管最大反向電流IRM=A(25)與平3電性均輸出電流IO=1A（75）用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐可焊性中，一次上錫面積大于85%。所用資料與樣品符合。資料與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。鋼尺M(jìn)A游標(biāo)卡尺晶體管測試儀CR穩(wěn)壓電源萬用表烙鐵MA小錫爐目測、對照MA樣品包裝資料用料正確。小包裝方式、數(shù)目無誤。6包裝表記MI目測裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正

24、確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-013受控狀態(tài)：改正頁：迅速恢復(fù)二極管HER303第13頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)二極管：HER303DO-27序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測鋼尺或游標(biāo)卡2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。MA尺電性可焊性資料包裝表記1.用晶體管測試儀（10mADC）測試二極管正向壓降VF，反向耐壓：FR200

25、V（工作溫度范圍-65+150）.用萬用表先后丈量二極管最大反向電流IRM=A(25)與均勻輸出電流IO=1A（75）用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。所用資料與樣品符合。與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。包裝資料用料正確。小包裝方式、數(shù)目無誤。裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。晶體管測試儀CR穩(wěn)壓電源萬用表烙鐵MA小錫爐MA目測、對照樣品MI目測擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)12V穩(wěn)壓二極管類文件編號：WI/HV-12-014受控狀態(tài)：改正頁：第14頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-

26、105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)查驗(yàn)序號查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測1外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺按下列圖將穩(wěn)壓管電流調(diào)整在5mA時，其12V的穩(wěn)壓管的同意穩(wěn)壓范圍值在為正常（1分鐘內(nèi)無破壞）晶體管測試儀穩(wěn)壓電源V穩(wěn)壓電源3電性CR萬用表示波器用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性MA5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1、所用資料與樣品符合。5資料MA目測、對照樣品2、與配料表中型號規(guī)

27、格符合、與工程圖相符合。1、包裝資料用料正確。包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。6MI目測表記3、裝箱方式、數(shù)目無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)18V穩(wěn)壓二極管版本：第三版文件編號：WI/HV-12-015受控狀態(tài)：改正頁：第15頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)查驗(yàn)序號查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游

28、標(biāo)卡尺按下列圖將穩(wěn)壓管電流調(diào)整在5mA時，其18V的正常（1分鐘內(nèi)無破壞）穩(wěn)壓電源晶體管測試儀V穩(wěn)壓電源3電性CR萬用表示波器用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性5錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA小錫爐51、所用資料與樣品符合。MA資料目測、對照樣品2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。1、包裝資料用料正確。包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版本：第三版文件編號：WI/HV-12-016受控狀態(tài)：改正頁：27V穩(wěn)壓二極管第16頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主

29、要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印負(fù)極標(biāo)記及字符絲印能否清楚可辯。MI目測1外觀元件體元件體引腳能否氧化，能否有毛刺和損壞。MI目測2尺寸切合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺按下列圖將穩(wěn)壓管電流調(diào)整在5mA時，其27V的穩(wěn)壓管的同意穩(wěn)壓范圍值在為正常（1分鐘內(nèi)無破壞）穩(wěn)壓電晶體管測試儀源穩(wěn)壓電源3電性CRV萬用表示波器用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性MA5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1、所用資料與樣品符合。5資料MA目測、對照樣品2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。1、包裝資料用料正確。包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。6M

30、I目測表記3、裝箱方式、數(shù)目無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1/2W穩(wěn)壓管文件編號：WI/HV-12-016A受控狀態(tài)：改正頁：第16A頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)1/2W參數(shù)穩(wěn)壓值(V)穩(wěn)壓值范圍（精度5）穩(wěn)壓值(V)穩(wěn)壓值范圍343475156626875829110095105101112131516182019212224擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版文件編號：來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)WI/HV-12-0

31、17受控狀態(tài)：改正頁：三端精細(xì)穩(wěn)壓器（431BCZ）第17頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)精細(xì)穩(wěn)壓器：IC2LM431BCZTO-92查驗(yàn)序號查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL項(xiàng)目絲印絲印能否清楚可辯，表記能否與來料符合。MI1外觀檢查三極管的引腳能否氧化，元件體能否元件體MI有毛刺和損壞。2尺寸切合產(chǎn)品工程圖，切合實(shí)質(zhì)裝置。MA1穩(wěn)壓值檢測，偏差1%。2K2、陰極電壓VKA36V。3電性1%MAV12V共53頁查驗(yàn)方法目測目測游標(biāo)卡尺晶體管測試儀萬用表穩(wěn)壓電源示波器3、IKA100mA4用烙鐵迅速一

32、次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230MI烙鐵可焊性5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐51所用資料與樣品符合。MA資料目測2與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-018受控狀態(tài)：改正頁：三端穩(wěn)壓器第18頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)；MI：AQL=CR：致命缺點(diǎn)；MA：AQL=；CR：AQL=序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目1外觀絲印絲印能否清楚可辯，表記能否與來料符合。檢查三極管的引腳能否氧化，元件體能否MI目測元件體MI目測2尺寸有毛刺和損壞。切合產(chǎn)品工程圖；切合實(shí)質(zhì)裝

33、置。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺將三端穩(wěn)壓器接在調(diào)壓穩(wěn)壓電源上，調(diào)穩(wěn)壓電源至7-20V電壓，為三端穩(wěn)壓器輸入電壓，并測出其輸出為0.2V。（精度為4）穩(wěn)壓管滿負(fù)載連續(xù)工作2小時，溫升測試應(yīng)小于電性3.分別于100CM高度自由跌落三次，濕度達(dá)93%3%，其輸出電壓為0.2V。4、將其接在調(diào)壓穩(wěn)壓電源上，調(diào)穩(wěn)壓電源測出三端5、穩(wěn)壓器的輸入電壓穩(wěn)壓范圍，并測出其穩(wěn)壓值。6、帶負(fù)載能力，在電路里串入負(fù)載和電流表，調(diào)到電流為1A左右，測出其輸出電壓。用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230可焊性5錫爐中，一次上錫面積大于85%。所用資料與樣品符合。資料與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。資料用料正確。

34、包裝2.小包裝方式、數(shù)目無誤。6表記3.裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。晶體管測試儀萬用表MA穩(wěn)壓電源示波器烙鐵MI小錫爐MA目測、對照樣品MI目測擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版本：第三版文件編號：WI/HV-12-018A受控狀態(tài)：改正頁：三端穩(wěn)壓器第18頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)三端穩(wěn)壓塊參數(shù)7805/（78L05）78127924測試條件最小、典型、最大最小、典型、最大最小、典型、最大V1101933V0(空載)1224V0（負(fù)載）5

35、V12232425擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版本：第三版文件編號：WI/HV-12-019受控狀態(tài)：改正頁：接收頭第19頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)查驗(yàn)序號查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法項(xiàng)目絲印絲印能否清楚可辯，表記能否與來料符合。MI目測1外觀引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞、MI元件體目測劃傷。2尺寸切合產(chǎn)品工程圖MA鋼尺或游標(biāo)卡尺1.把其接在測試板上，用遙控器從各個方向遙控，看它的接受性能，接收角度為60。遙控器3電性2.CR將測試板放在日光燈下（距離

36、很近），再用遙控器測試夾具遙控，看其的抗擾亂能力，接收距離3M。用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性MI5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1.所用資料與樣品符合。5資料2.MA目測、對照樣品與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。1.資料用料正確。包裝2.小包裝方式、數(shù)目無誤。63.MI目測表記裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版文件編號：來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)接收頭WI/HV-12-019A受控狀態(tài)：改正頁：第19A頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：A

37、QL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)接收頭參數(shù)參數(shù)名稱最小值典型值最大值條件靜態(tài)電流IS無信號工作電壓VS無信號接收距離L110m12m=0接收距離L28m9m30接收距離L34m6m45載波頻次f038KHZ接收波長940nmp高電平輸出電壓VH低電平輸出電壓VL擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版本：第三版文件編號：WI/HV-12-020受控狀態(tài)：輕觸按鍵/防水按鍵改正頁：A第20頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目表

38、記表記能否與來料符合。MI目測1外觀引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和破元件體MI目測損、劃傷。2尺寸切合產(chǎn)品工程圖MA鋼尺或游標(biāo)卡尺從五個方向按下按鍵（垂直方向按下，左、右、前、后45度按下按鍵），用毫歐表測試其接觸電阻，毫歐表3電性應(yīng)小于150m。CRLCR12345機(jī)械1.用數(shù)字天平秤測試，知足標(biāo)稱按鍵力參數(shù)值。42.元件體側(cè)面受力大于3Kg無損害。CR數(shù)字天平性能用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在烙鐵5可焊性MI2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐所用資料與樣品符合。6資料MA目測、對照樣品與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。資料用料正確。包裝2.小包裝方式、數(shù)目無

39、誤。8MI目測表記3.裝箱方式、數(shù)目無誤。（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版本：第三版輕觸按鍵/防水按鍵文件編號：WI/HV-12-020A受控狀態(tài)：改正頁：第20A頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)開關(guān)參數(shù)項(xiàng)目測試條件規(guī)格接觸電阻在細(xì)小電流(100mA)以下測試。100M輸入100VDC電壓1分鐘,按以下接觸方法測試絕緣電阻100M接觸端子之間；膠座體與挑腳之間。輸入AC250V(5060HZ)電壓1分鐘，測試電流耐電壓為，按以下接觸方法

40、測試:腳互相之間；挑腳沒有絕緣損壞異樣。與外殼之間。在隨意一個方向的側(cè)端加上(3000g)力度,測試時間在端子中沒有裂開、松端子強(qiáng)度為1分鐘。動等異樣，知足于機(jī)械電器性能可焊性端子頂部被浸入錫爐中1mm深處，溫度為230焊接面積要有75%以試驗(yàn)1,時間為3。上。1.錫爐焊接的時候溫度應(yīng)控制在2605,過爐耐焊性時間為3秒，基板厚度為1.0mm。本體無變形，知足于機(jī)試驗(yàn)2.手焊接的時候,溫度控制.3205時間為械，電氣性能。3秒。1接觸電阻不可以超于無負(fù)荷：操作者以每分鐘60次的頻次，100000次200m。壽命試驗(yàn)無負(fù)荷測試。2其他應(yīng)知足于機(jī)械、電氣性能。擱置溫度852中測試96小時后再擱置正

41、常室溫外觀無異樣，知足于機(jī)耐熱試驗(yàn)中1h來測定。械電器性能。擱置溫度-253中96小時后再擱置常溫中1小耐冷試驗(yàn)時來測定。擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版本：第三版文件編號：WI/HV-12-021受控狀態(tài)：背光源修改頁：第21頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印絲印能否清楚可辯，表記能否與來料符合。MI目測元件體元件體能否有毛刺、損壞、開裂口等。MI目測黑點(diǎn)雜質(zhì)：=(A+B)/2。MA量規(guī)，允收。同意2點(diǎn)，且相間距大于5允收。

42、1外觀劃痕：寬度，允收。MA量規(guī)寬度，長度不多于2條允收。透光點(diǎn)：半透點(diǎn)，允收。MA量規(guī)半透點(diǎn)同意2點(diǎn)，且相間距大于5允收。全透點(diǎn)，拒收?；罨y：S22半透塊一處，允收。MA游標(biāo)卡尺S2全透塊，拒收。PCB封裝：要求采納雙面板。MA游標(biāo)卡尺PCB面高出膠殼面小于0.3mm。擬制：審查：同意：日期日期日期版本：第三版來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號：WI/HV-12-021受控狀態(tài)：背光源改正頁：A第21A頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)；CR：AQL=序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目引出線及焊點(diǎn)：

43、1采納優(yōu)良膠質(zhì)30#多股鍍鋅銅芯線，開線3.0mm1外觀鍍錫。如支架型則長度為0.5mm。MA目測2采納穿孔反面焊接方式，正面焊接的則需加黃膠固定。2尺寸切合產(chǎn)品工程圖MA鋼尺或游標(biāo)卡尺1用穩(wěn)壓直流電源輸入3V（蘭光）電壓，測試其晶片點(diǎn)亮能否有顏色不正確、缺亮、漏光等。電性2亮度：同一板眼前后亮度一致性差異不大于10%，穩(wěn)壓電源3發(fā)光CR與封樣亮度相差不大于9%。目測特征3色差：同一批不同意有色差，批與批之間色差不大于15%。用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵4可焊性MI5錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐1所用資料與樣品符合。5資料MA目測、對照樣品2與配料表中型號規(guī)格

44、符合、與工程圖相符合。1資料用料正確。包裝2全部蘭光、紫光資料均用防靜電包裝。6MI目測表記3小包裝方式、數(shù)目無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）表記單內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)電解電容類版本：第三版文件編號：WI/HV-12-022受控狀態(tài)：改正頁：第22頁共53頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)電解電容：序查驗(yàn)查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL查驗(yàn)方法號項(xiàng)目絲印能否清楚可辯，負(fù)極標(biāo)記、絲印表記能否與絲印MI目測外來料符合。1觀引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞、劃傷，元件體MI目測有

45、無液體溢出，有無防爆缺口。鋼尺或游標(biāo)2尺寸切合產(chǎn)品工程圖；切合實(shí)質(zhì)裝置。MA卡尺依據(jù)所測電容器容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，依據(jù)電容正負(fù)偏差設(shè)置上下偏差，而后依據(jù)電容的標(biāo)稱耐壓來設(shè)定消耗角，最后夾上待測電容，“PASS”燈亮表示為合格。2.施加額定電壓，用漏電流測試儀，施加額定電壓2分鐘/25，測出其漏電流，依據(jù)此電容種類漏電流標(biāo)電性準(zhǔn)IKCU判斷其能否合格。K：；C：電容量；U：額定電壓值用晶體管測試儀測出電容器的耐壓值。常溫下測試其電容消耗角（或）5.將其入95-105烘干箱或-18以下冰箱內(nèi)2小時,拿出丈量容量470UF(2200UF)20%。使用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在

46、2304可焊性5錫爐中，一次上錫面積大于85%。、所用資料與樣品符合。資料、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。、資料用料正確。晶體管測試儀電容測試儀CR萬用表穩(wěn)壓電源漏電流測試儀烙鐵MI小錫爐MA目測、對照樣品包裝2、小包裝方式、數(shù)目無誤。6MI目測表記3、裝箱方式、數(shù)目無誤。、（內(nèi)包裝、外箱）小標(biāo)簽內(nèi)容正確。擬制：審查：同意：日期日期日期來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)電解電容類版本：第三版文件編號：WI/HV-12-022受控狀態(tài)：改正頁：第22A頁共頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MIL-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)電解電容參數(shù)項(xiàng)

47、目特征參照耐電壓:Ur=25V(10V或16V)DC使用溫度-25+105范圍電容量20%（20100/120HZ）同意偏差LC+10取較大值,施加額定工作電壓2分鐘(25)漏電流C:標(biāo)稱靜電容量(UF)V、額定工作電壓（V）LC：漏電流（UA）UR160-4101625355063100消耗角（V）50正切值tgtg標(biāo)稱容量超出1000Uf,則每增添1000uF,消耗角正切值增添。以上參數(shù)只屬于CD110型號的電解電容。電解電容漏電流計(jì)算公式：I=KCU來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)三極管（BU406開關(guān)管）版本：第三版文件編號：WI/HV-12-023受控狀態(tài)：改正頁：第23頁共頁抽樣來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依照MI

48、L-STD-105D-；MI：AQL=；MA：AQL=；CR：AQL=MI：次要缺點(diǎn)MA：主要缺點(diǎn)CR：致命缺點(diǎn)序查驗(yàn)查驗(yàn)方查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL號項(xiàng)目法1絲印絲印能否清楚可辯，表記能否與來料符合。MI目測外觀元件體檢查三極管的引腳能否氧化，元件體能否有毛刺和損壞。MI目測游標(biāo)卡2尺寸切合產(chǎn)品工程圖MA尺7、按三極管的管腳擺列把其插到晶體管測試儀測上，測出三極管的放大倍數(shù)為955倍。晶體管8、用晶體管測試儀丈量各種三極管的集-發(fā)射極擊穿電壓VCEO測試儀3電性（200V），集-基極擊穿電壓VCBO（400V），發(fā)射結(jié)反向耐壓MA萬用表VEBO（6V）。穩(wěn)壓電9、在Ic=5A，Ib=0.5A條件下，BU406的Vce1V，Vbe。源（工作溫度范圍-55+150）用烙鐵迅速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，烙鐵4可焊性MI一次上錫面積大于85%。小錫爐1、所用資料能否已被確認(rèn)的供給商供給且與樣品符合。目測、對5資料MA2、與配料表中型號規(guī)格符合、與工程圖相符合。比樣品版本：第三版文件編號：來料查驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)WI/HV-12-024受控狀態(tài)：改正頁：4N60(4A600V-N)場效應(yīng)管第