掃描電子顯微方法及其工程應(yīng)用

附：掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用

掃描電子顯微圖象分析（SEM,黃銅管金相樣品二次電子象）微區(qū)成分能譜分析（EDS-銅基體）微區(qū)成分能譜分析（EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕）AlKPk●EDS

,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布5.1掃描電鏡成象原理和方法

滴狀作用體積5.1.1二次電子象（SE）成象原理5.1.2背反射電子子象（BE）成象原理理原子序數(shù)和背散射電子產(chǎn)額之間的關(guān)系●點(diǎn)分辨率測(cè)測(cè)量●粉末外部形形貌和內(nèi)部部顯微特征征觀察●WC-CO硬質(zhì)合金顯顯微組織觀觀察5.1.3掃描電鏡SEIandBEI的應(yīng)用SpotResolutionMeasurement●掃描電鏡成成象點(diǎn)分辨辨率測(cè)量●Al-Li-Cu-Mg-Zr合金粉末外部形形貌觀察●粉末內(nèi)內(nèi)部顯微特特征觀察（（OM+SEM）●粉末內(nèi)內(nèi)部顯微特特征觀察（（TEM）●WC-CO硬質(zhì)合金顯顯微組織觀觀察二次電子像像（SEI）背反電子像像（BEI）5.2掃描電電鏡微微區(qū)成成分分分析原原理和和方法法滴狀作用體積●微區(qū)成成分分分析技技術(shù)-EDS工作原原理SEM+WDS工作原原理理分光晶體5.3掃描電電子顯顯微分分析、、微區(qū)區(qū)成分分分析析技術(shù)術(shù)工程應(yīng)應(yīng)用舉舉例●高硅鑄鑄造鋁鋁合金金●不不同同試驗(yàn)驗(yàn)溫度度下Al-Mg-Sc合金的的力學(xué)學(xué)性能能和斷口口分析析●Al-Mg-Si合金管管材表表面缺缺陷分分析BEI實(shí)例1Al-22Si-1.2Cu-0.9Mg-1.0Ni合金物物相分分析●Al-22Si-1.2Cu-0.9Mg-1.0Ni合金顯顯微組組織觀觀察（（OM）SPOT圖●Al-22Si-1.2Cu-0.9Mg-1.0Ni合金顯顯微組組織觀觀察（（SEM）●Al-22Si-1.2Cu-0.9Mg-1.0Ni合金顯顯微組組織觀觀察（（SEM）●Al-22Si-1.2Cu-0.9Mg-1.0Ni合金顯顯微組組織觀觀察（（SEM）圖PkαAlKα●Al-22Si-1.2Cu-0.9Mg-1.0Ni合金物物相分分析AlKPkALkareacompositiondistribution●Alk的線分布布和面面分布布●Pk面分布布●Sik面分布布BaselineAlkPk●Alk的線分布布TEM-αα(Al)Matrix+Mg2Si實(shí)例2●Steel/Cu●30#Steel/Cr,Mo,W●30#Steel/Cr,Mo,W圖不不同同溫度度下的的強(qiáng)度度與延延伸率率實(shí)例3不同試試驗(yàn)溫溫度下下Al-Mg-Sc合金的的力學(xué)學(xué)性能能和斷斷口分分析圖熱熱塑塑性斷斷口掃掃描電電鏡圖圖片a）250℃；b）300℃℃；c）350℃℃；d）400℃℃a）b）c）d）圖熱熱塑塑性斷斷口掃掃描電電鏡圖圖片e）450℃；f）475℃℃；g）500℃℃；h）550℃℃e）f）g）h）圖管管材材表面面缺陷陷掃描描電鏡鏡圖片片a）缺陷陷A；b）缺陷陷B；c）缺陷陷C；d）缺陷陷Da）b）c）d）實(shí)例4Al-Mg-Si合金管管材表表面缺缺陷分分析圖管管材表表面缺缺陷A能譜分分析圖管管材表表面缺缺陷B能譜分分析圖管管材表表面缺缺陷缺缺陷C附近基基材能能譜分分析圖管管材表表面缺缺陷C能譜分分析圖管管材表表面缺缺陷D能譜分分析謝謝觀觀看/歡迎下下載BYFAITHIMEANAVISIONOFG