測(cè)試技術(shù)指標(biāo)協(xié)議（3篇）

第6頁(yè)共6頁(yè)測(cè)試技術(shù)指?標(biāo)協(xié)議_?____集?成電路設(shè)計(jì)?研究中心（?甲方）和_?____公?司（乙方）?經(jīng)友好協(xié)商?，對(duì)___?__項(xiàng)目的?有關(guān)測(cè)試技?術(shù)指標(biāo)問(wèn)題?達(dá)成如下協(xié)?議：一、?乙方應(yīng)在本?協(xié)議簽定_?____天?內(nèi)將芯片資?料，測(cè)試碼?提供給甲方?。二、甲?方在乙方提?供封裝好的?芯片后__?___天內(nèi)?，將測(cè)試分?析結(jié)果提交?給乙方。?三、具體測(cè)?試要求：?甲方按乙方?要求，在測(cè)?試時(shí)將pa?4、pa5?、pa6、?pa7端經(jīng)?3.3k電?阻上拉至5?伏。甲方?在測(cè)試分析?時(shí)，應(yīng)讓_?____芯?片工作在5?v。乙方?提供___?__功能測(cè)?試碼文件（?t____?_t格式）?兩份。甲?方使用乙方?提供的功能?測(cè)試碼文件?，在1mh?z下對(duì)樣品?進(jìn)行測(cè)試分?析。乙方?認(rèn)為正常情?況下，樣品?的功能測(cè)試?應(yīng)全部通過(guò)?，參數(shù)測(cè)試?結(jié)果應(yīng)在下?表給定的范?圍內(nèi)。測(cè)?試參數(shù)（常?溫）測(cè)試條?件最大值典?型值最大值?單位靜態(tài)?工作電流v?dd=5v?ua動(dòng)態(tài)?工作電流v?dd=5v?ua輸入?高電平電壓?vdd=5?vv輸入?低電平電壓?vdd=5?vv輸入?高電平電流?vdd=5?v，vih?=5vua?輸入低電?平電流vd?d=5v，?vil=0?vua輸?出高電平電?壓vdd=?5vv輸?出低電平電?壓vdd=?5vv輸?出高電平電?流vdd=?5v，vo?h=4.2?vma輸?出低電平電?流vdd=?5v，vo?l=0.4?vma如?乙方提供的?樣品中有_?____%?滿足以上要?求，甲方應(yīng)?向乙方出具?一份測(cè)試分?析報(bào)告，并?以附件形式?（磁盤文件?，t___?__t格式?）提供詳細(xì)?的測(cè)試數(shù)據(jù)?。乙方若?對(duì)甲方出具?的測(cè)試分析?報(bào)告及測(cè)試?數(shù)據(jù)有任何?疑問(wèn)，必須?在甲方測(cè)試?分析工作完?成之日起的?兩個(gè)月內(nèi)向?甲方提出。?乙方若須?增加測(cè)試分?析內(nèi)容，必?須與甲方協(xié)?商解決。?甲方：乙?方：簽訂?地點(diǎn)：__?____?____年?_____?月____?_日測(cè)試?技術(shù)指標(biāo)協(xié)?議（二）?_____?集成電路設(shè)?計(jì)研究中心?(甲方)和?_____?公司(乙方?)經(jīng)友好協(xié)?商，對(duì)__?___項(xiàng)目?的有關(guān)測(cè)試?技術(shù)指標(biāo)問(wèn)?題達(dá)成如下?協(xié)議：一?、乙方應(yīng)在?本協(xié)議簽定?_____?天內(nèi)將芯片?資料，測(cè)試?碼提供給甲?方。二、?甲方在乙方?提供封裝好?的芯片后_?____天?內(nèi)，將測(cè)試?分析結(jié)果提?交給乙方。?三、具體?測(cè)試要求：?甲方按乙?方要求，在?測(cè)試時(shí)將p?a4、pa?5、pa6?、pa7端?經(jīng)3.3k?電阻上拉至?5伏。甲?方在測(cè)試分?析時(shí)，應(yīng)讓?_____?芯片工作在?5v。乙?方提供__?___功能?測(cè)試碼文件?(t___?__t格式?)兩份。?甲方使用乙?方提供的功?能測(cè)試碼文?件，在1m?hz下對(duì)樣?品進(jìn)行測(cè)試?分析。乙?方認(rèn)為正常?情況下，樣?品的功能測(cè)?試應(yīng)全部通?過(guò)，參數(shù)測(cè)?試結(jié)果應(yīng)在?下表給定的?范圍內(nèi)。?測(cè)試參數(shù)(?常溫)測(cè)?試條件最?大值典型?值最大值?單位靜?態(tài)工作電流?vdd=?5vua?動(dòng)態(tài)工作?電流vd?d=5v?ua輸入?高電平電壓?vdd=?5vv?輸入低電平?電壓vd?d=5v?v輸入高?電平電流?vdd=5?v，vih?=5vu?a輸入低?電平電流?vdd=5?v，vil?=0vu?a輸出高?電平電壓?vdd=5?vv輸?出低電平電?壓vdd?=5vv?輸出高電?平電流v?dd=5v?，voh=?4.2v?ma輸出?低電平電流?vdd=?5v，vo?l=0.4?vma?如乙方提供?的樣品中有?_____?%滿足以上?要求，甲方?應(yīng)向乙方出?具一份測(cè)試?分析報(bào)告，?并以附件形?式(磁盤文?件，t__?___t格?式)提供詳?細(xì)的測(cè)試數(shù)?據(jù)。乙方?若對(duì)甲方出?具的測(cè)試分?析報(bào)告及測(cè)?試數(shù)據(jù)有任?何疑問(wèn)，必?須在甲方測(cè)?試分析工作?完成之日起?的兩個(gè)月內(nèi)?向甲方提出?。乙方若?須增加測(cè)試?分析內(nèi)容，?必須與甲方?協(xié)商解決。?甲方：?乙方：測(cè)?試技術(shù)指標(biāo)?協(xié)議（三）?____?_集成電路?設(shè)計(jì)研究中?心(甲方)?和____?_公司(乙?方)經(jīng)友好?協(xié)商，對(duì)_?____項(xiàng)?目的有關(guān)測(cè)?試技術(shù)指標(biāo)?問(wèn)題達(dá)成如?下協(xié)議：?一、乙方應(yīng)?在本協(xié)議簽?定____?_天內(nèi)將芯?片資料，測(cè)?試碼提供給?甲方。二?、甲方在乙?方提供封裝?好的芯片后?_____?天內(nèi)，將測(cè)?試分析結(jié)果?提交給乙方?。三、具?體測(cè)試要求?：甲方按?乙方要求，?在測(cè)試時(shí)將?pa4、p?a5、pa?6、pa7?端經(jīng)3.3?k電阻上拉?至5伏。?甲方在測(cè)試?分析時(shí)，應(yīng)?讓____?_芯片工作?在5v。?乙方提供_?____功?能測(cè)試碼文?件(t__?___t格?式)兩份。?甲方使用?乙方提供的?功能測(cè)試碼?文件，在1?mhz下對(duì)?樣品進(jìn)行測(cè)?試分析。?乙方認(rèn)為正?常情況下，?樣品的功能?測(cè)試應(yīng)全部?通過(guò)，參數(shù)?測(cè)試結(jié)果應(yīng)?在下表給定?的范圍內(nèi)。?測(cè)試參數(shù)?(常溫)?測(cè)試條件?最大值典?型值最大?值單位?靜態(tài)工作電?流vdd?=5vu?a動(dòng)態(tài)工?作電流v?dd=5v?ua輸?入高電平電?壓vdd?=5vv?輸入低電?平電壓v?dd=5v?v輸入?高電平電流?vdd=?5v，vi?h=5v?ua輸入?低電平電流?vdd=?5v，vi?l=0v?ua輸出?高電平電壓?vdd=?5vv?輸出低電平?電壓vd?d=5v?v輸出高?電平電流?vdd=5?v，voh?=4.2v?ma輸?出低電平電?流vdd?=5v，v?ol=0.?4vma?如乙方提?供的樣品中?有____?_%滿足以?上要求，甲?方應(yīng)向乙方?出具一份測(cè)?試分析報(bào)告?，并以附件?形式(磁盤?文件，t