標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 14999.7-2010是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，專注于規(guī)定了高溫合金鑄件在顯微組織層面的檢測與評估方法。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)闡述了如何測定三個關(guān)鍵的顯微組織特征：晶粒度、一次枝晶間距以及顯微疏松情況。這些參數(shù)對于理解并控制高溫合金鑄件的性能至關(guān)重要，尤其是在航空航天、能源以及化工等對材料性能有嚴(yán)格要求的領(lǐng)域。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的具體闡釋：

  1. 晶粒度測定：晶粒度是指構(gòu)成合金內(nèi)部的晶體顆粒大小。標(biāo)準(zhǔn)中明確了測量晶粒度應(yīng)采用的標(biāo)準(zhǔn)測試方法，通常涉及樣品的適當(dāng)制備（如鑲嵌、磨光、拋光）后，在光學(xué)或電子顯微鏡下觀察。通過比較法或截點法等國際認(rèn)可的方法來量化晶粒尺寸，以評估材料的熱處理狀態(tài)、塑性變形能力及潛在的力學(xué)性能。

  2. 一次枝晶間距測定：一次枝晶是合金凝固初期形成的樹枝狀結(jié)構(gòu)。其間距是指相鄰一次枝晶臂之間的平均距離，是衡量合金凝固條件及冷卻速率的重要指標(biāo)。標(biāo)準(zhǔn)提供了詳細(xì)的制樣和測量步驟，確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，這對于控制合金的微觀結(jié)構(gòu)和避免鑄造缺陷至關(guān)重要。

  3. 顯微疏松測定：顯微疏松是指材料內(nèi)部存在的微小孔隙或空洞，這直接影響到鑄件的致密性、強度和耐蝕性。該部分規(guī)定了利用適宜的顯微技術(shù)（如掃描電子顯微鏡結(jié)合背散射電子圖像或X射線計算機斷層掃描）來識別和量化這些微觀缺陷。通過分析疏松的分布、尺寸和數(shù)量，可以評估鑄造工藝的效果并指導(dǎo)工藝優(yōu)化。

整個標(biāo)準(zhǔn)旨在為高溫合金鑄件的質(zhì)量控制提供統(tǒng)一的測試準(zhǔn)則，確保不同實驗室間結(jié)果的一致性和可靠性，從而促進材料科學(xué)的進步和相關(guān)工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量提升。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2010-12-23 頒布
  • 2011-09-01 實施
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GB/T 14999.7-2010高溫合金鑄件晶粒度、一次枝晶間距和顯微疏松測定方法_第1頁
GB/T 14999.7-2010高溫合金鑄件晶粒度、一次枝晶間距和顯微疏松測定方法_第2頁
GB/T 14999.7-2010高溫合金鑄件晶粒度、一次枝晶間距和顯微疏松測定方法_第3頁
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文檔簡介

ICS7714099

H57..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T149997—2010

.

高溫合金鑄件

晶粒度一次枝晶間距和顯微疏松

、

測定方法

Testmethodsforrainsizesrimardendritesacin

g,pypg

andmicroshrinkageofsuperalloycastings

2010-12-23發(fā)布2011-09-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T149997—2010

.

前言

本標(biāo)準(zhǔn)附錄為資料性附錄附錄為規(guī)范性附錄

A,B。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位鋼鐵研究總院冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人袁英燕平欒燕趙明漢馮滌吳劍濤韓鳳奎陳惠霞戴強

:、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T149997—2010

.

引言

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高溫合金鑄件晶粒度一次枝晶間距和顯微疏松的評定方法由于基本上以原實物

、。

照片的幾何圖形為基礎(chǔ)因此與合金本身無關(guān)如果材料的組織形貌接近于某一個標(biāo)準(zhǔn)圖片可以使用

,。,

本標(biāo)準(zhǔn)提供的比較法進行測定也可以用標(biāo)準(zhǔn)圖片對應(yīng)的量化指標(biāo)用其他適用方法進行測定

,。

本標(biāo)準(zhǔn)提供的方法僅適用二維平面截面的測定即鑄件等軸晶宏觀平均和顯微平均晶粒度柱狀

(),、

晶晶粒度柱狀晶和單晶一次枝晶平均間距鑄件顯微疏松的二維平面的尺度測定不適于三維立體形

、、,

態(tài)和尺度的測定

。

Ⅱ

GB/T149997—2010

.

高溫合金鑄件

晶粒度一次枝晶間距和顯微疏松

、

測定方法

1范圍

11本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高溫合金鑄件等軸晶宏觀和顯微平均晶粒度柱狀晶晶粒度柱狀晶和單晶一次枝

.、、

晶平均間距顯微疏松的測定方法及結(jié)果表示方法

、。

12本標(biāo)準(zhǔn)適用于普通精密鑄造鑄件定向凝固柱晶鑄件中晶粒度的測定定向凝固柱晶和單晶鑄件

.、;

中一次枝晶間距的測定普通精密鑄造鑄件定向凝固柱晶和單晶鑄件中顯微疏松的測定

;、。

13本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性測定方法不對高溫合金鑄件驗收測試的合格級別范圍進行規(guī)定

.,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

金屬平均晶粒度測定方法

GB/T6394

高溫合金和金屬間化合物高溫材料的分類和牌號

GB/T14992

3術(shù)語和定義

和確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)

GB/T14992GB/T6394。

31

.

等軸晶equiaxedgrain

三維尺寸大致相同無方向性排列的晶粒

、。

32

.

柱狀晶columnargrain

沿一維方向定向生長形成的平行于鑄件主應(yīng)力軸線或整個試樣沿著縱向排列的晶粒

、、。

321

..

偏離度deviationangle

α

單個柱狀晶生長方向柱狀晶軸線與鑄件主應(yīng)力軸線的夾角

()。

322

..

發(fā)散度divergenceangle

β

兩個相鄰柱狀晶軸線的夾角

。

323

..

斷晶interruptedcolumnargrain

帶有橫向接近垂直于定向凝固方向晶界的柱狀晶

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