標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 15450-1995 是一項(xiàng)中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《硅雙柵場效應(yīng)晶體管 空白詳細(xì)規(guī)范》。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了硅雙柵場效應(yīng)晶體管(Silicon Double Gate Field Effect Transistor)的技術(shù)要求、測試方法以及質(zhì)量評定規(guī)則,旨在為該類器件的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)及應(yīng)用提供統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽
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范圍:明確了本標(biāo)準(zhǔn)適用的硅雙柵場效應(yīng)晶體管類型,包括其基本結(jié)構(gòu)、工作原理及預(yù)期使用環(huán)境。
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引用標(biāo)準(zhǔn):列出了實(shí)施本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)或國際標(biāo)準(zhǔn),確保各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)和測試方法的一致性和準(zhǔn)確性。
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術(shù)語和定義:對標(biāo)準(zhǔn)中涉及的專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了解釋和定義,幫助讀者準(zhǔn)確理解標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。
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分類與命名:根據(jù)硅雙柵場效應(yīng)晶體管的不同特性(如溝道類型、極性、封裝形式等)進(jìn)行分類,并規(guī)定了相應(yīng)的命名規(guī)則。
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技術(shù)要求:
- 電氣參數(shù):規(guī)定了諸如開啟電壓、漏源飽和電流、跨導(dǎo)、輸入輸出特性曲線等關(guān)鍵電氣性能指標(biāo)及其允許的偏差范圍。
- 機(jī)械與物理特性:包括封裝尺寸、引腳排列、耐壓強(qiáng)度、溫度特性等要求。
- 可靠性要求:設(shè)定了器件在特定條件下的壽命、穩(wěn)定性及抗干擾能力等標(biāo)準(zhǔn)。
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試驗(yàn)方法:詳細(xì)描述了如何進(jìn)行各項(xiàng)性能測試,確保測試結(jié)果的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。包括測試環(huán)境、測試儀器、測試步驟等。
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檢驗(yàn)規(guī)則:規(guī)定了產(chǎn)品檢驗(yàn)的程序、抽樣方案、合格判定準(zhǔn)則等,確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
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標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存:對產(chǎn)品的標(biāo)識信息、包裝要求、在運(yùn)輸和貯存過程中的保護(hù)措施進(jìn)行了規(guī)定,以防止損壞并便于追溯。
實(shí)施意義
該標(biāo)準(zhǔn)的制定和實(shí)施有助于提升硅雙柵場效應(yīng)晶體管的產(chǎn)品質(zhì)量,促進(jìn)產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程,方便國內(nèi)外貿(mào)易交流,同時(shí)為用戶提供可靠的質(zhì)量評估依據(jù),保障電子設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行和長期可靠性。
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- 廢止
- 已被廢除、停止使用,并不再更新
- 1995-01-05 頒布
- 1995-08-01 實(shí)施



文檔簡介
UDC.621.382.33L44中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T15450-1995硅雙柵場效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范Blankdetailspecificationforsilicondual-gatefield-effecttransistors1995-01-05發(fā)布1995-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
(京)新登字023號中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)硅雙柵場效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范GB/T15450-1995中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼:10XX45電話:63787337、637874471995年7月第一版2004年12月電子版制作書號:155066·1-11559版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話:(010)68533533
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)硅雙柵場效應(yīng)晶體管cB/T15450-1995空Blankdetailspecificationforstlicondual-gatefield-effecttransistors本空白詳細(xì)規(guī)范規(guī)定了制訂硅雙柵場效應(yīng)品體管詳細(xì)規(guī)范的基本原則,制訂該范圍內(nèi)的所有詳細(xì)規(guī)范應(yīng)與本空白詳細(xì)規(guī)范一致。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件空白詳細(xì)規(guī)范系列中的一個(gè),并應(yīng)與下列規(guī)范一起使用:GB4589.1《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》,GB12560《半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范》要求資料:本頁及下頁括號內(nèi)所示的數(shù)字,對應(yīng)于以下要求資料的項(xiàng)目,并列入規(guī)定的欄目中。詳細(xì)規(guī)范的識別:(1)批準(zhǔn)發(fā)布本詳細(xì)規(guī)范的組織:國家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)的名稱(2)詳細(xì)規(guī)范的IECQ號。(3)總規(guī)范號,分規(guī)范號和版本號。(4)詳細(xì)規(guī)范號,發(fā)布日期及國家體系要求的任何更多的資料。器件的識別:(5)器件類型的簡單說明。(6)典型結(jié)構(gòu)和應(yīng)用的資料.如果設(shè)計(jì)一種器件滿足若干應(yīng)用,則應(yīng)在詳細(xì)規(guī)范中指出。對于這些應(yīng)用特性、極限值及檢驗(yàn)要求均應(yīng)滿足。對靜電敏感器件,應(yīng)寫上警告說明,(7)外形圖和(或)引用有關(guān)的外形文件,(8)質(zhì)量評定類別。(9)能在器件類型之
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