標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17626.14-2005 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓波動抗擾度試驗》。這項標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子及電氣設(shè)備在受到電壓波動影響時的抗擾度測試方法，目的是確保設(shè)備在實際運行環(huán)境中能夠穩(wěn)定工作，不受電壓波動干擾的影響。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

該標(biāo)準(zhǔn)適用于對供電電源質(zhì)量敏感的設(shè)備和系統(tǒng)，包括但不限于家用電器、工業(yè)控制設(shè)備、信息技術(shù)設(shè)備等，用以評估它們在電壓波動條件下的性能穩(wěn)定性與可靠性。

主要內(nèi)容概述

  1. 定義與術(shù)語：首先明確了電壓波動、電壓驟降、電壓中斷等一系列基本概念，為后續(xù)測試提供明確的術(shù)語基礎(chǔ)。

  2. 測試方法：詳細(xì)描述了進(jìn)行電壓波動抗擾度試驗的具體步驟，包括測試設(shè)備的設(shè)置、試驗電壓波形的生成、試驗等級的確定以及試驗持續(xù)時間等。

  3. 試驗配置：規(guī)定了試驗回路的連接方式、參考接地點的選擇、以及如何模擬實際使用中的供電條件。

  4. 試驗等級和嚴(yán)酷程度：根據(jù)不同的應(yīng)用場合和設(shè)備類型，設(shè)置了不同級別的電壓波動幅度和頻率，以覆蓋廣泛的干擾情況。

  5. 評價準(zhǔn)則：闡述了判斷受試設(shè)備是否通過測試的標(biāo)準(zhǔn)，通常包括功能正常、無數(shù)據(jù)丟失、無損壞等要求。

  6. 試驗報告：要求記錄詳細(xì)的試驗過程、測試結(jié)果和觀察到的現(xiàn)象，以便于評估和追溯。

測試目的

通過實施GB/T 17626.14-2005標(biāo)準(zhǔn)的測試，可以幫助制造商和用戶了解產(chǎn)品在電壓不穩(wěn)環(huán)境下的表現(xiàn)，進(jìn)而改進(jìn)設(shè)計或選擇合適的防護(hù)措施，保證設(shè)備的穩(wěn)定性和安全性。

注意事項

  • 實驗室需具備相應(yīng)的測試能力和資質(zhì)。
  • 試驗前應(yīng)充分了解設(shè)備的工作原理和預(yù)期行為，以正確設(shè)置試驗參數(shù)。
  • 在整個測試過程中，安全措施必須到位，防止電擊或其他安全事故。

此標(biāo)準(zhǔn)為企業(yè)提供了統(tǒng)一的測試依據(jù)，有助于提升產(chǎn)品的電磁兼容性，滿足國內(nèi)外市場準(zhǔn)入要求及用戶需求。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2005-02-06 頒布
  • 2005-12-01 實施
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GB/T 17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗_第1頁
GB/T 17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗_第2頁
GB/T 17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗_第3頁
GB/T 17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗_第4頁
GB/T 17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗_第5頁
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文檔簡介

ICS33.100.20L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.14-2005/IEC61000-4-14:2002電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗Eleetromagneticcompatibility-Testingandmeasurementtechniques-Voltagefluctuationimmunitytest（IEC61000-4-14:2002,IDT)2005-02-06發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17626.14-2005/IEC61000-4-14:2002次前言IEC引言1范圍2規(guī)范性引用文件3概述4術(shù)語和定義5試驗等級6試驗設(shè)備7試驗布置8試驗程序9試驗結(jié)果的評定10試驗報告…附錄A(資料性附錄）電磁環(huán)境分類圖1電壓波動的試驗順序的舉例·圖2連續(xù)施加電壓波動的舉例…圖3帶功率放大器的電壓波動試驗發(fā)生器(單相)框圖表1試驗等級表2試驗發(fā)生器的特性

GB/T17626.14-2005/IEC61000-4-14:2002本部分等同采用IEC61000-4-14:2002《電磁兼容第4部分：試驗和測量技術(shù)第14分部分：電壓波動抗擾度試驗》。本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備對電壓波動抗擾度試驗的試驗等級和測量方法。本部分是《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)之一,該系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下部分GB/T17626.1—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論(idtIEC61000-4-1:1992)GB/T17626.2—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗（idtIEC61000-4-2：1995）GB/T17626.3-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗（idtIEC61000-4-3:1995)GB/T17626.4-1998電電磁兼容武驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗（idtIEC61000-4-4:1995）GB/T17626.5—1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(idtIEC61000-4-5：1995）GB/T17626.6—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(idtIEC61000-4-6:1996）GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則（idtIEC61000-4-7：1991）GB/T17626.8—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗（idtIEC61000-4-8:1993）GB/T17626.9-1998電電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗（idtIEC61000-4-9:1993)GB/T17626.10-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)祖尼振蕩磁場抗擾度試驗(idtIEC61000-4-10:1993)GB/T17626.11—1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(idtIEC61000-4-11:1994）GB/T17626.12—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(idtIEC61000-4-12:1995）GB/T17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗（IEC61000-4-14：2002,IDT)GB/T17626.17-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸人端口紋波抗擾度試驗（IEC61000-4-17:2002.IDT)電磁兼容試驗和測量技術(shù)0～150kHz傳導(dǎo)共模強擾抗擾度試驗電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗電磁兼容：試驗和測量技術(shù)電源頻率變化抗擾度試驗電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸人端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中國電力企業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)歸口并解釋。本部分起草單位：國家電力公司武漢高壓研究所。本部分主要起草人：王勤、郎維川、萬保權(quán)、張廣州、鄒雄、楊敬梅

GB/T17626.14-2005/IEC61000-4-14:2002IEC引言本標(biāo)準(zhǔn)是IEC61000系列出版物的一部分,該系列出版物的構(gòu)成如下第一部分：綜述總的考慮(概述、基本原理)定義、術(shù)語第二部分：環(huán)境環(huán)境的描述環(huán)境的分類兼容性水平第三部分：限值發(fā)射限值坑擾度限值(當(dāng)它們不屬于產(chǎn)品委員會的責(zé)任范圍時）第四部分：試驗和測量技術(shù)測量技術(shù)試驗技術(shù)第五部分：安裝和減緩導(dǎo)則安裝導(dǎo)則減緩方法和裝置第六部分：通用標(biāo)準(zhǔn)第九部分：其他每一部分又可分為若干分部分,它們作為國際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)報告出版。

GB/T17626.14-2005/IEC61000-4-14:2002電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗1范圍本部分規(guī)定了電氣和/或電子設(shè)備在其所處的電磁環(huán)境下的抗擾度試驗。本部分僅考慮傳導(dǎo)現(xiàn)象包括連接到公用和工業(yè)供電網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的抗擾度試驗本部分的目的是給出一個基準(zhǔn),用以評估電氣和電子設(shè)備在遭受正和負(fù)的低幅值電壓波動時的抗批性能。本部分所涉及的電壓波動不包括閃煉,它是由燈光亮度波動產(chǎn)生的生理現(xiàn)象。本部分適用于每相額定電流不大于16A的電氣和/或電子設(shè)備。不適用于連接到直流或400Hz交流配電網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。有關(guān)連接到這些網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的試驗在其他的國家標(biāo)準(zhǔn)中給出。特殊電磁環(huán)境下要求的抗擾度試驗水平及相關(guān)的性能判據(jù),在適用的產(chǎn)品、產(chǎn)品類或通用標(biāo)準(zhǔn)中給。但是很多類型的產(chǎn)品對電壓波動不敏感.因此這些設(shè)備不需要進(jìn)行本項試驗2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17626的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分GB/T4365電磁兼容術(shù)語（GB/T4365-2003IEV60050(161):1990.IDT)試驗和測量技術(shù)GB/T17626.11電磁兼容電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗（GB/T17626.11-1999.idtIEC61000-4-11:1994）3概述電壓波動的影響電氣和電子設(shè)備可能受到電壓波動的影響。這些影響包括：設(shè)備作為儲能器件(如電容器)使用時性能降低；控制系

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