無損檢測基礎(chǔ)知識(新)

無損檢測基礎(chǔ)知識質(zhì)量檢驗處探傷技術(shù)管理室2/5/20231一、射線檢測基礎(chǔ)知識二、超聲波檢測基礎(chǔ)知識三、磁粉檢測基礎(chǔ)知識四、滲透檢測基礎(chǔ)知識五、無損檢測的應(yīng)用2/5/20232概論：1、定義和分類：什么是無損檢測？就是指在不損壞試件的前提下，對試件進行檢查和測試的方法?，F(xiàn)代無損檢測的定義是：在不損壞試件的前提下，以物理或化學方法為手段，借助先進的技術(shù)和設(shè)備器材，對試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)進行檢查和測試的方法。2/5/20233無損檢測是在現(xiàn)代科學技術(shù)發(fā)展的基礎(chǔ)上產(chǎn)生的。例如：用于檢測工業(yè)產(chǎn)品缺陷的X射線照相法是在德國物理學家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線后才產(chǎn)生的；超聲波檢測是在兩次世界大戰(zhàn)中迅速發(fā)展的聲納技術(shù)和雷達技術(shù)的基礎(chǔ)上開發(fā)出來的；磁粉檢測建立在電磁學理論的基礎(chǔ)上。而滲透檢測得益于物理化學的進展等等。2/5/20234在無損檢測技術(shù)發(fā)展過程中出現(xiàn)過三個名稱，無損探傷、無損檢測和無損評價。體現(xiàn)了無損檢測技術(shù)發(fā)展的三個階段，其中無損探傷是早期階段的名稱，其涵義是探測和發(fā)現(xiàn)缺陷；無損檢測是當前階段的名稱，其內(nèi)涵不僅僅是探測缺陷，還包括探測試件的一些其他信息，如結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)等，并試圖通過測試，掌握更多的信息；而無損評價則是即將進入或正在進入的新的發(fā)展階段，包含更廣泛、更深刻的內(nèi)容，它不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷，探測試件的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)，還要求獲得更全面，更準確的，綜合的信息，如缺陷的形狀、尺寸、位置、取向、內(nèi)含物、缺陷部位的組織、殘余應(yīng)力等，結(jié)合成像技術(shù)、自動化技術(shù)、計算機數(shù)據(jù)分析和處理等技術(shù)，與材料力學、斷裂力學等知識綜合應(yīng)用，對產(chǎn)品或試件的質(zhì)量和性能給出全面、準確的評價。2/5/20235無損檢測方法有：射線檢測（RT）、超聲波檢測（UT）、磁粉檢測（MT）、滲透檢測（PT）、渦流檢測（ET）和聲發(fā)射檢測（AT）等。在目前核工業(yè)上還有目視檢測（VT）、檢漏檢測(LT)等。2/5/202362、無損檢測的目的：應(yīng)用無損檢測技術(shù)，是為了達到以下目的A、保證產(chǎn)品質(zhì)量。應(yīng)用無損檢測技術(shù)，可以探測到肉眼無法看到的試件內(nèi)部的缺陷；在對試件表面質(zhì)量進行檢驗時，通過無損檢測方法可以探測出許多肉眼很難看見的細小缺陷。2/5/20237B、保障使用安全。即使是設(shè)計和制造質(zhì)量完全符合規(guī)范要求的設(shè)備，在經(jīng)過一段時間使用后，也有可能發(fā)生破壞事故，這是由于苛刻的運行條件使設(shè)備狀態(tài)發(fā)生變化，由于高溫和應(yīng)力的作用導致材料蠕變；由于溫度、壓力的波動產(chǎn)生交變應(yīng)力，使設(shè)備的應(yīng)力集中部位產(chǎn)生疲勞；由于腐蝕作用使材質(zhì)劣化；這些原因有可能使設(shè)備中原來存在的制造規(guī)范允許的缺陷擴展開裂，或使設(shè)備中原來沒有缺陷的地方產(chǎn)生新生的缺陷，最終導致設(shè)備失效。而無損檢測就是在用設(shè)備定期檢驗的主要內(nèi)容和發(fā)現(xiàn)缺陷最有效的手段。2/5/20238C、改進制造工藝。在產(chǎn)品生產(chǎn)中，為了了解制造工藝是否適宜，必須事先進行工藝試驗。在工藝試驗中，經(jīng)常對工藝試樣進行無損檢測，并根據(jù)檢測結(jié)果改進制造工藝，最終確定理想的制造工藝。如，為了確定焊接工藝規(guī)范，對焊接試驗的焊接試樣進行射線照相，并根據(jù)檢測結(jié)果修正焊接參數(shù)，最終得到能夠達到質(zhì)量要求的焊接工藝。D、降低生產(chǎn)成本。在產(chǎn)品制造過程中進行無損檢測，往往被認為要增加檢查費用，從而使制造成本增加?？墒侨绻谥圃爝^程中間的環(huán)節(jié)正確地進行無損檢測，就是防止以后的工序浪費，減少返工，降低廢品率，從而降低制造成本。2/5/20239射線的種類很多，其中易穿透物質(zhì)的X射線、γ射線、中子射線三種。這三種射線都被用于無損檢測，其中X射線和γ射線廣泛用于鍋爐壓力容器壓力管道焊縫和其他工業(yè)產(chǎn)品、結(jié)構(gòu)材料的缺陷檢測，而中子射線僅用于一些特殊場合。

射線檢測是工業(yè)無損檢測的一個重要專業(yè)。最主要的應(yīng)用是探測試件內(nèi)部的宏觀幾何缺陷（探傷）。按照不同特征可將射線檢測分為許多種不同的方法，例如使用的射線種類、記錄的器材、探傷工藝和技術(shù)特點等。

射線照相法是指X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的無損檢測方法，是最基本、應(yīng)用最廣泛的一種射線檢測方法。一、射線檢測基礎(chǔ)知識2/5/2023101、射線照相的原理：X射線和γ射線都是波長極短的電磁波。X射線是從X射線管中產(chǎn)生的，X射線管是一種二極電子管，將陰極燈絲通電，使之白熾，電子就在真空中放出，如果兩極之間加幾十千伏以至幾百千伏的電壓（管電壓）時，電子就從陰極向陽極方向加速飛行，獲得很大的動能，當這些高速電子撞擊陽極時，與陽極金屬原子的核外庫侖場作用，發(fā)生軔致輻射而放出X射線。電子的動能一部分轉(zhuǎn)變?yōu)閄射線能，其中大部分都轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮?。附件受電子撞擊的地方即產(chǎn)生X射線的地方叫做焦點。X射線管所發(fā)出的波長分布是連續(xù)的，能譜為連續(xù)譜。2/5/202311γ射線是從放射性同位素的原子核中放射出來的。γ射線的波長是一定的，能譜都是連續(xù)譜。γ射線的能量隨著同位素的種類的不同而不同。因為同位素時刻不停的衰變并放出射線，所以射線源的放射強度隨著時間的推延而逐漸減弱，強度減到初始強度一半的時間叫做半衰期。在無損檢測中常用的同位素有Co60（鈷60）、Cs137（銫137）、Ir192（銥192）、Se75（硒75）等。2/5/202312射線照相法是利用射線透過物質(zhì)時，會發(fā)生吸收和散射這一特征，通過測量材料中因缺陷存在影響射線的吸收來探測缺陷的。X射線和γ射線通過物質(zhì)時，其強度逐漸減弱。一般認為是由光電效應(yīng)引起的吸收、康普頓效應(yīng)引起的散射和電子對效應(yīng)引起的吸收三種原因造成的。射線還有一個重要性質(zhì)，就是能使膠片感光，當X射線或γ射線照射膠片時，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛象中心，經(jīng)過顯影和定影后就黑化，接收射線越多的部位黑化程度越高，這個作用叫做射線的照相作用。因為X射線或γ射線使鹵化銀感光作用比普通光線小得多，所以必須使用特殊的X射線膠片，還使用一種能加強感光作用的增感屏。2/5/202313

射線照相的探傷原理為，厚度為T毫米的物體中有厚度為ΔT毫米的缺陷時，x射線透過無缺陷部位的底片的黑度為D，而x射線透過有缺陷部位的底片黑度應(yīng)為D+ΔD。把這種曝過光的膠片在暗室中經(jīng)過顯影、定影、水洗和干燥。再將底片在觀片燈上觀察，根據(jù)底片上有缺陷部位與無缺陷部位的黑度圖象不一樣，就可判斷出缺陷的種類、數(shù)量、大小等結(jié)構(gòu)內(nèi)部的信息。這就是射線照相探傷的原理。2/5/2023142、射線檢測設(shè)備：射線照相設(shè)備可分為：①

x射線探傷機可分為攜帶式、移動式兩類。移動式x射線探傷機用在曝光室內(nèi)的射線探傷，它具有較高的管電壓和管電流，管電壓可達450Kv，管電流可達20mA，最大穿透厚度約100mm。攜帶式x射線探傷機主要用于現(xiàn)場射線照相，管電壓一般小于320Kv，最大穿透厚度約50mm。高能射線探傷設(shè)備為了滿足大厚度工件射線探傷的要求，使對鋼件的x射線探傷厚度擴大到500mm。分為直線加速器、電子回旋加速器。其中直線加速器可產(chǎn)生大劑量射線，探傷效率高，透照厚度大。γ射線探傷機因射線源體積小，可在狹窄場地、高空、水下工作，并可全景曝光等優(yōu)點，已成為射線探傷重要組成部分。2/5/2023153、射線照相工藝要點：①

照相操作步驟：把被檢的物體安放在離X射線裝置或γ射線裝置500mm以上的位置處，將膠片盒緊貼在被檢物體的背后，讓射線照射適當?shù)臅r間進行曝光。把曝光后的膠片在暗室進行顯影、定影、水洗和干燥后得到射線底片，將底片放在觀片燈上進行觀察，根據(jù)底片的黑度和圖象來判斷存在缺陷的種類、大小和數(shù)量，按相關(guān)標準對缺陷進行評定和分級。這是射線照相探傷的一般步驟。按射線源、工件和膠片之間的相互位置關(guān)系，透照方式分為縱縫透照法、環(huán)縫外透法、環(huán)縫內(nèi)透法、雙壁單影法和雙壁雙影法五種。附件1其中雙壁單影法用于小直徑的容器或大口徑管子焊縫；雙壁雙影用于Φ89以下管子對接焊縫。2/5/202316②照相規(guī)范的確定：要得到好的射線照相底片，除了合理的選擇透照方式外，還必須選擇好的透照規(guī)范，使小缺陷能夠在底片上盡可能明顯地辨別出來，就是說照相要達到高靈敏度。為了達到這一目的，除了選擇質(zhì)量好的細顆粒膠片外，還要取得好的射線照相對比度和清晰度。2/5/202317射線照相清晰度是指底片上的圖象的清晰程度，它主要由兩部分組成，即固有不清晰度Ui和幾何不清晰度Ug，X射線管的焦點和γ射線源是有一定大小的，由于射線源具有一定的大小，在缺陷的圖象周圍就產(chǎn)生半影，假如缺陷橫向尺寸較小時，缺陷圖象就會淹沒于半影中，缺陷就難以看清了。缺陷的最大半影尺寸稱為缺陷的幾何不清晰度。幾何不清晰度Ug表示式：Ug=b*df/F-b

b—工件表面到膠片的距離

df—射線源的大?。ń裹c尺寸）

F—焦距（射線源到膠片的距離）從式中看出，射線源到膠片的距離F愈大，半影愈?。簧渚€源尺寸df愈小，半影愈小，b（工件表面到膠片的距離）愈小，半影愈小。也就是說工件愈薄，膠片貼得愈緊，清晰度愈好，射線源愈小，焦距愈大，清晰度愈好。2/5/202318為得到高的缺陷檢出率。射線照相規(guī)范的選擇應(yīng)注意以下幾點：A、

透照方式的選擇和K值控制。除了管道和無法進入內(nèi)部的小直徑容器只能采用雙壁透照外，大多數(shù)容器殼體的焊縫射線照相都采用單壁透照，既外透法和內(nèi)透法。外透法的優(yōu)點是操作比較方便，內(nèi)透法的優(yōu)點是透照厚度差小，在滿足透照厚度比K值的情況下，一次透照長度較大。

B、射線源的選擇。應(yīng)在能穿透檢測工件的前提下盡可能地降低射線的管電壓。應(yīng)選擇小尺寸的射線源，可以得到清晰度好的底片。C、透照焦距的選擇。焦距愈大，被檢物體與膠片貼得愈緊，半影就愈小，在選擇透照焦距時，應(yīng)將焦距選得大一些。但是由于射線的強度與焦距的平方成反比，所以不能把焦距選得過大，不然透照時射線強度將不夠，所以焦距的選擇應(yīng)在滿足幾何不清晰度要求的前提下合理選擇。2/5/202319D、曝光量的選擇。曝光量E為射線強度I與曝光時間T的乘積，曝光量的大小要能保證足夠的底片黑度。如果管電壓偏高，那么小的曝光量也能使底片達到規(guī)定黑度，但這樣的底片靈敏度不夠好，所以一般情況下X射線照相的曝光量選擇15mA·min以上。E、

膠片、增感屏的選擇與底片黑度控制。F、象質(zhì)計的應(yīng)用。用底片上必須顯示的最小鋼絲直徑與相應(yīng)的象質(zhì)指數(shù)來表示照相的靈敏度。所謂射線照相的靈敏度是射線照相能發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力。射線照相靈敏度分為絕對靈敏度和相對靈敏度。G、底片評定。2/5/2023204、射線檢測的優(yōu)點和局限性1）檢測結(jié)果有直接記錄—底片。由于底片上記錄的信息十分豐富，且可以長期保存，從而使射線照相法成為各種無損檢測方法中記錄最真實、最直觀、最全面、可追蹤性最好的檢測方法。2）可以獲得缺陷的投影圖象，缺陷定性定量準確。各種無損檢測方法中，射線照相對缺陷定性是最準確的。在定量方面，對體積型缺陷的長度、寬度尺寸的確定也很準，其誤差大致零點幾毫米。但對面積型缺陷，如裂紋、未熔合等類似缺陷，缺陷端部尺寸很小，則底片上影象尖端延伸可能辨別不清，定量數(shù)據(jù)偏小。2/5/2023213）體積型缺陷檢出率很高，而面積型缺陷的檢出率受到多種因素影響。體積型缺陷是指氣孔、夾渣類缺陷。一般情況下，射線照相大致可以檢出直徑在試件厚度1%以上的體積型缺陷，但人眼分辨率的限制，可檢出缺陷的最小尺寸大致為0.5mm左右。面積型缺陷是指裂紋、未熔合類缺陷，其檢出率的影響因素包括缺陷形狀尺寸，透照厚度、透照角度、透照幾何條件、射線源和膠片種類、像質(zhì)計靈敏度等。4）適宜檢驗厚度較薄的工件而不適宜較厚的工件。因為檢驗厚工件需要高能量的射線探傷設(shè)備。300Kv便攜式X射線機透照厚度一般小于40mm，420Kv移動式X射線機和Ir192γ射線機透照厚度均小于100mm，對于厚度大于100mm的工件射線照相需使用加速器和Co60。此外，板厚增大，射線照相絕對靈敏度下降。也就是說厚工件采用射線照相，小尺寸缺陷以及一些面積型缺陷漏檢的可能性增大。2/5/2023225）適宜檢測對接焊縫，檢測角焊縫效果較差，不適宜檢測板材、棒材、鍛件。檢測角焊縫的透照布置比較困難，攝得底片的黑度變化大，成像質(zhì)量不夠好；不適宜檢測板材、棒材、鍛件的原因是板材、鍛件中的大部分缺陷與板面平行，射線照相無法檢出。6）有些試件結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場條件不適合射線照相。由于射線檢測是穿透檢驗，檢測時需要接近工件的兩面，因此結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場條件有時會限制檢測的進行。此外射線照相對射線源至膠片的距離（焦距）有一定要求，如果焦距太短，則底片清晰度會很差。7）對缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸的確定比較困難。除了一些根部缺陷可結(jié)合焊接知識和圖象規(guī)律來確定其在工件中厚度方向的位置，大多數(shù)缺陷無法用底片提供信息定位；缺陷高度可通過黑度對比的方法作出判斷，但精確度不高。8）檢測成本高。射線照相設(shè)備和曝光間的建設(shè)投資巨大；輔料的成本、人工成本也很高。9）射線照相檢測速度慢。10）射線對人體有傷害。2/5/2023232/5/2023242/5/2023252/5/202326超聲波檢測主要用于探測試件的內(nèi)部缺陷，它的應(yīng)用十分廣泛。所謂超聲波是指超過人耳聽覺，頻率大于20千赫茲的聲波。用于檢測的超聲波，頻率為0.4～25兆赫茲，其中用得最多的是1～5兆赫茲。在金屬的探測中用的是高頻率的超聲波。這是因為：1、超聲波的指向性好，能形成窄的波束；2、波長短，小的缺陷也能夠較好地反射；3、距離的分辨力好，缺陷的分辨率高。

超聲波探傷方法很多，目前用得最多的是脈沖反射法，在顯示超聲信號方面，大多采用較為成熟的A型顯示。二、超聲波檢測基礎(chǔ)知識：2/5/2023271、超聲波的發(fā)生及其性質(zhì)1）超聲波的發(fā)生和接收：超聲波是一種高頻機械波。發(fā)生超聲波探傷用的高頻超聲波用的是壓電換能器。壓電材料主要采用石英、鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛和硫酸鋰等。主要是它們具有壓電效應(yīng)，可以將電振動轉(zhuǎn)換成機械振動，也能將機械振動轉(zhuǎn)換成電振動。要使壓電材料產(chǎn)生超聲波，將它切成能在一定頻率下共振的晶片，當高頻電壓加到晶片的兩個電極上時，晶片就在厚度方向產(chǎn)生伸縮（振動），這樣就把電振動轉(zhuǎn)換成機械振動了。其發(fā)生的超聲波可傳播到被檢物體中去。反之，將高頻機械振動傳到晶片上時，晶片就被振動，在晶片兩電極之間就產(chǎn)生頻率與超聲波相等、強度與超聲波成正比的高頻電壓，這個高頻電壓經(jīng)放大、檢波、顯示在示波屏上。這就是超聲波的接收。通常在超聲波探傷中只使用一個晶片，這個晶片即作發(fā)射又作接收。2/5/2023282）超聲波的種類：

超聲波在介質(zhì)中傳播有不同的方式，波形不同，其振動方式不同，傳播速度也不同。

根據(jù)波動傳播時介質(zhì)質(zhì)點的振動方向相對于波的傳播方向的不同，可將波動分為縱波、橫波、表面波和板波等。A、縱波：介質(zhì)中質(zhì)點的振動方向與波的傳播方向互相平行的波。凡能承受拉伸或壓縮應(yīng)力的介質(zhì)都能傳播縱波。B、橫波：介質(zhì)中質(zhì)點的振動方向與波的傳播方向互相垂直的波。當介質(zhì)質(zhì)點受到交變的剪切應(yīng)力作用時，產(chǎn)生切變形變，從而形成橫波。橫波只能在固體介質(zhì)中傳播，不能在液體和氣體介質(zhì)中傳播。C、表面波：當介質(zhì)表面受到交變應(yīng)力作用時，產(chǎn)生沿介質(zhì)表面?zhèn)鞑サ牟ā？梢砸暈榭v波與橫波的合成。只能在固體介質(zhì)中傳播，不能在液體和氣體介質(zhì)中傳播。D、板波：在板厚與波長相當?shù)谋“逯袀鞑サ牟ā０促|(zhì)點的振動方向不同分為SH波和蘭姆波。2/5/2023293）聲速：聲波在介質(zhì)中是以一定的速度傳播，空氣中的聲速為3400米/秒，水中的聲速為1500米/秒，鋼中縱波的聲速為5900米/秒，橫波的聲速為3230米/秒，表面波的聲速為3007米/秒。聲速是由傳播介質(zhì)的彈性系數(shù)、密度以及聲波的種類決定的，它與頻率和晶片沒有關(guān)系。橫波的聲速大約是縱波聲速的一半，而表面波聲速大約是橫波的0.9倍。在超聲波探傷中，通常用直探頭來產(chǎn)生縱波，縱波是向探頭接觸面相垂直的方向傳播。橫波通常是用斜探頭來發(fā)生的，斜探頭是將晶片貼在有機玻璃制的斜楔上，晶片振動發(fā)生的縱波在斜楔中前進，在探傷面上發(fā)生折射，聲波斜射入被檢物中。通常折射縱波反射不進入被檢物，只有折射橫波傳入被檢物中。2/5/2023304）波長：波在一個周期內(nèi)或者說質(zhì)點完成一次振動所經(jīng)過的路程稱為波長。用λ表示，根據(jù)頻率f和波速C的定義，三者有下列關(guān)系：

C=fλ5）超聲場及其特征量：充滿超聲波的空間叫做超聲場，描述超聲場的特征量有聲壓、聲強和聲阻抗。A、聲壓：超聲場中某一點在某一瞬時具有的壓強P1與沒有超聲波存在時同一點的靜態(tài)壓強P0之差。

B、聲強：在垂直于超聲波傳播方向上單位面積、單位時間內(nèi)通過的超聲能量。用I表示。聲壓P、聲強I之間的關(guān)系：I=1/2P2m/ρC

C、聲阻抗：由公式P=ρCν可知，在同一聲壓P情況下，ρC越大，質(zhì)點振動速度ν越小；反之ρC越小，質(zhì)點振動速度ν越大。所以把ρC稱為介質(zhì)的聲阻抗，以符號Z表示。聲阻抗能直接表示介質(zhì)的聲學性質(zhì)。ρ為介質(zhì)密度；C為聲速。

D、分貝：分貝是計算聲強和聲壓的單位。超聲波探傷中，通常是采用比較兩個信號的聲壓值的方法來描述缺陷的大小，分貝值的計算公式為

Δ=20lg（P2/P1）

式中，P1、P2為兩個不同信號的聲壓。由公式可以算出，如果P2比P1大一倍，則兩信號的分貝差值為6dB。由于超聲波信號的示波屏上的波高H與聲壓成正比，所以不同波高的分貝差值的計算公式為：Δ=20lg（H2/H1）2/5/2023316）界面的反射和透射：垂直入射時的反射和透射：當超聲波垂直地傳到界面上時，一部分超聲波被反射，而剩余的部分就穿透過去，這兩部分的比率取決于兩種介質(zhì)的聲阻抗。計算聲壓反射率R和聲壓透射率D的公式為：R=Z2-Z1/Z2+Z1D=2Z2/Z2+Z1式中Z1、Z2為兩種介質(zhì)的聲阻抗例如當鋼中的超聲波傳到底面遇到空氣界面時，由于空氣與鋼的聲速和密度相差很大，超聲波在界面上接近100%地反射，幾乎完全不會傳到空氣中（只傳約0.002%），而鋼同水接觸時，則有88%的聲能被反射，有12%的聲能穿透進入水中。通過超聲波在界面上反射和透射特性得知，如果探頭與被檢物之間有空氣時，超聲波因在界面上全部被反射而不能進入工件，這就是為什么在探傷時，必須在探頭與工件之間涂機油或甘油等耦合劑的原因。2/5/202332B、斜射時的反射和折射：當超聲波斜射到界面上時，在界面上會產(chǎn)生反射和折射。假如介質(zhì)為液體、氣體時，反射波和折射波只有縱波。當斜探頭接觸鋼件時，因為兩者都是固體，所以反射波和折射波都存在縱波和橫波。此時，反射角和折射角是由兩種介質(zhì)中的聲速來決定。折射角的計算公式為：sini1/C1=sinθL/CL2=sinθS/Cs2式中i1入射角；C1入射波聲速；θL縱波折射角；CL2第二介質(zhì)的縱波聲速；θS橫波折射角；Cs2第二介質(zhì)的橫波聲速。用斜探頭時，從晶片發(fā)出的縱波傳入斜楔后，斜射到探傷面上，如果傳入第二介質(zhì)中同時存在縱波和橫波時，對判別會發(fā)生困難。入射角的角度大于第一臨界角（就是使縱波全部反射，而不進入第二介質(zhì)），使被檢物中只有橫波射入。當入射角大于第二臨界角時，第二介質(zhì)中的折射橫波也將不存在，波將沿工件表面?zhèn)鞑ァ＿@就要求縱波的入射角必須在第一臨界角與第二臨界角之間。如斜楔采用有機玻璃（縱波聲速為2.73×103米/秒），被檢材料為鋼（縱波聲速為5.9×103米/秒），則第一臨界角α1=27o36′，第二臨界角α2=57o48′。實際用的折射角范圍為38o～80o。折射角大小也可以用其正切值表示，稱為K值，例如折射角45o的探頭K值為1，K2就是折射角為63.4o的探頭。2/5/2023337）指向性：A、聲波的指向性：聲束集中向一個方向輻射的性質(zhì)，叫做聲波的指向性。探傷采用高頻超聲波，其理由之一就是希望它具有指向性，才便于超聲波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷，確定缺陷位置。b晶片aθ0如圖聲束的指向性2/5/202334晶片發(fā)出的超聲波，其方向在某一個范圍內(nèi)，聲束是不擴散的，可是，發(fā)射到一定程度時，由于晶片的制約力減弱，聲束就擴散了。B、指向角：超聲波探頭的聲場中，在一定角度θ中包含了大部分的超聲波能量，這個角度就叫做指向角（或叫半擴散角）。指向角θ0與超聲波波長λ，晶片直徑D的關(guān)系為：

θ0=arcsin(1.12λ/D)頻率愈高（波長愈短），晶片愈大，則指向角就愈小。8）近場區(qū)與遠場區(qū)：在超聲波探頭的聲場中，按聲壓變化規(guī)律分為近場區(qū)和遠場區(qū)。在近場區(qū)內(nèi)，由于波的干涉效應(yīng)使某些地方聲壓相互干涉而加強，另一些地方相互干涉而減弱，其結(jié)果是聲壓起伏變化很大，出現(xiàn)許多個聲壓極大和極小點。在聲束軸線上最后一個聲壓極大值至聲源的距離稱為近場長度，用N表示。N值大小與晶片直徑D以及波長有關(guān)：N≈D2/4λ近場區(qū)內(nèi)探測缺陷在定量上會出現(xiàn)誤差，聲壓極大值處即使小缺陷的回波也可能較高，而聲壓極小值處，有可能發(fā)生較大缺陷的回波較低的情況。因此要避免在近場區(qū)對缺陷定量。聲場中近場區(qū)以外的區(qū)域稱為遠場區(qū)，遠場區(qū)內(nèi)聲束軸線上的聲壓隨距離的增大而降低2/5/2023359）小物體上的超聲波反射：當超聲波碰到缺陷時，會反射和散射?？墒?，如果缺陷尺寸小于波長的一半時，由于衍射，波就會繞過缺陷傳播，這樣波的傳播就與缺陷的存在與否沒有關(guān)系了。因此，在超聲波探傷中，缺陷尺寸的檢出極限約為超聲波波長的一半。缺陷的尺寸愈大，愈容易反射。但由于缺陷形狀和方向不同，其反射的方式也有所不同。超聲波與光波十分相似，具有直線前進的性質(zhì)。如果超聲波垂直地入射到平面狀的反射體時，大部分反射波都返回晶片，可以得到很高的缺陷回波，可是球形缺陷的反射波，因為是各個方向的反射，回到晶片的反射波較少，所以缺陷回波較低。另外，雖然是平面缺陷，但如果是傾斜的話（與超聲波入射波成一定的夾角），也可能幾乎沒有反射波返回晶片。從超聲波入射面（探傷面）對面，即工件的底面，反射回來的超聲波叫底面回波。附件2/5/2023362、超聲波檢測的原理：超聲波檢測可以分為超聲波探傷和超聲波測厚，以及超聲波測晶粒度、測應(yīng)力等。在超聲波探傷中，有根據(jù)缺陷的回波和底面的回波進行判斷的脈沖反射法；有根據(jù)缺陷的陰影來判斷缺陷情況的穿透法；還有由被檢物產(chǎn)生駐波來判斷缺陷情況或者判斷板厚的共振法。目前用得最多的方法是脈沖反射法。脈沖反射法在垂直探傷時用縱波，在斜入射探傷時用橫波。把超聲波射入被檢物的一面，然后在同一面接收從缺陷處反射回來的回波，根據(jù)回波情況來判斷缺陷的情況。超聲波的垂直入射縱波探傷和傾斜入射的橫波探傷是超聲波探傷中兩種主要探傷方法。兩種方法各有用途互為補充，縱波探傷主要能發(fā)現(xiàn)與探測面平行或稍有傾斜的缺陷，主要用于鋼板、鍛件、鑄件的探傷。而傾斜入射的橫波探傷，主要能發(fā)現(xiàn)垂直于探傷面或傾斜較大的缺陷，主要用于焊縫的探傷。2/5/2023371）垂直探傷法：垂直探傷法的原理如圖：當把脈沖振蕩器發(fā)生的電壓加到晶片上時，晶片振動，產(chǎn)生超聲波脈沖。如果被檢物是鋼工件的話，超聲波以5900米/秒的固定速度在鋼工件內(nèi)傳播，聲波碰到缺陷時，一部分從缺陷反射回到晶片，而另一部分未碰到缺陷的超聲波繼續(xù)前進，一直到被檢物底面才反射回來。因此，缺陷處反射的超聲波先回到晶片，底面反射后回到晶片?；氐骄系某暡ㄓ址催^來被轉(zhuǎn)換成高頻電壓，通過接收、放大進入示波器，示波器將缺陷回波和底面回波顯示在熒光屏。因此，在示波器上可以得到如圖的圖形，從這個圖形上可以看出有沒有缺陷，缺陷的位置及其大小。2/5/202338對于脈沖反射式超聲波探傷儀，熒光屏的時基線和激勵脈沖是被同時觸發(fā)的，即處于同步狀態(tài)下工作。當探頭被激勵而向工件發(fā)射超聲波時，激勵脈沖也被饋致接收電路觸發(fā)時基電路開始掃描，在時基線的始端出現(xiàn)一個很強的脈沖波，這個波稱為“始波”用T表示；當探頭接收到底面反射回來的聲波時，時基線上右邊相應(yīng)呈現(xiàn)一個表示底面反射的脈沖波，稱為“底波”，用B表示。時基線由T掃描到B的時間正等于超聲波脈沖從探頭到底面又返回探頭的傳播時間，因此，可以說從T到B的之間的距離代表了工件的厚度。如果工件中有缺陷，探頭接收到缺陷反射回來的聲波時，時基線上相應(yīng)呈現(xiàn)出一個代表缺陷的脈沖波，稱為“缺陷波”，用F表示。顯然，缺陷波所經(jīng)過時間短于底波所經(jīng)過的時間，故缺陷波F應(yīng)處于T與B之間。我們可以利用T、F、B之間的距離關(guān)系，對缺陷進行定位。因缺陷回波高度hf是隨缺陷尺寸的增大而增高的。所以可由缺陷回波高度hf來估計缺陷大小。當缺陷很大時，可以移動探頭，按顯示缺陷的范圍來求出缺陷的延伸尺寸。2/5/202339如果工件中有缺陷，探頭接收到缺陷反射回來的聲波時，時基線上相應(yīng)呈現(xiàn)出一個代表缺陷的脈沖波，稱為“缺陷波”，用F表示。顯然，缺陷波所經(jīng)過時間短于底波所經(jīng)過的時間，故缺陷波F應(yīng)處于T與B之間。我們可以利用T、F、B之間的距離關(guān)系，對缺陷進行定位。因缺陷回波高度hf是隨缺陷尺寸的增大而增高的。所以可由缺陷回波高度hf來估計缺陷大小。當缺陷很大時，可以移動探頭，按顯示缺陷的范圍來求出缺陷的延伸尺寸。2）斜射探傷法：在斜射法探傷中，由于超聲波在被檢物中是斜向傳播的，斜向射到被檢物底面，所以不會有底面回波。因此，不能再用底面回波調(diào)節(jié)來對缺陷進行定位。而要知道缺陷位置，需要用適當?shù)臉藴试噳K來把示波管橫坐標調(diào)整到適當狀態(tài)。通常采用CSK-1A和橫孔試塊來進行調(diào)整。在測定范圍作了適當調(diào)整后，探測到缺陷時，從示波管上顯示的探頭到缺陷的距離W與缺陷位置的關(guān)系如圖所示。2/5/202340從以下關(guān)系式可以求出缺陷位置水平距離x和缺陷深度（垂直距離）dX=W·sinθD=W·cosθ橫波探傷中的缺陷位置不僅決定于聲程W，還取決于折射角θ，所以橫波探傷中掃描線的調(diào)節(jié)比縱波要復雜一些。對掃描線的調(diào)節(jié)，往往是橫波探傷中一個重要的不可缺少的步驟。

2/5/202341目前對掃描線的調(diào)節(jié)有三種方法：A、按水平距離調(diào)整掃描線。通過調(diào)整，使時基線刻度按一定比例代表反射點的水平距離x，在探傷時，根據(jù)缺陷波在熒光屏上水平刻度位置可直接讀出缺陷的水平距離。B、按深度調(diào)整掃描線。通過調(diào)整，使時基線刻度按一定比例代表反射點的深度d。在探傷時，根據(jù)缺陷波在熒光屏上水平刻度線上的位置可直接讀出缺陷的深度。C、按聲程調(diào)整掃描線。通過調(diào)整，使時基線刻度按一定比例代表反射點的聲程W。在探傷時，根據(jù)缺陷波在熒光屏上刻度上的位置可直接讀出缺陷的聲程。以上三種掃描線調(diào)節(jié)方法，第一種主要用于薄板焊縫探傷中，第二種用于厚板焊縫探傷中，第三種用于形狀復雜的工件，例如發(fā)電廠汽輪機部件的探傷。2/5/2023423、試塊1）用途：在無損檢測技術(shù)中，常常采用與已知量相比較的方法來確定被檢物的狀況。超聲波探傷中是以試塊作為比較的依據(jù)。試塊上有各種已知的特征，例如特定的尺寸，規(guī)定的人工缺陷某一尺寸的平底孔、橫通孔、凹槽等。用試塊作為調(diào)節(jié)儀器、定量缺陷的參考依據(jù)，是超聲波探傷的一個特點。超聲波探傷技術(shù)的發(fā)展，一直與試塊的研制、使用分不開的。2/5/202343試塊在超聲波探傷中的用途主要有三方面：A、確定合適的探傷方法。在超聲波探傷中，可以應(yīng)用在某個部位有某種人工缺陷的試塊來摸索探傷方法。在這種試塊上摸索到的探傷規(guī)律和方法，可應(yīng)用到與試塊同材質(zhì)、同形式、同尺寸的工件探傷中去。B、確定探傷靈敏度和評價缺陷大小。對于不同種類、不同厚度、不同要求的工件，需要不同的探傷靈敏度。為了確定探傷時的靈敏度，就需要帶各種人工缺陷的試塊，用人工缺陷的波高來表示探傷靈敏度，是試塊常用的一種方法。為了評價工件中某一深度處的缺陷大小，用試塊中同一深度各種尺寸的人工缺陷與之比較，這就是探傷中應(yīng)用的缺陷當量法。C、校驗儀器和測試探頭性能。通過試塊可以測試儀器或探頭的性能，以及儀器和探頭連接在一起的系統(tǒng)綜合性能。2/5/2023443）試塊的種類：根據(jù)試塊的用途，可分為三大類：A、調(diào)節(jié)儀器及測試探頭的試塊。如圖B、縱波探傷用試塊，人工缺陷為平底孔。C、橫波探傷用試塊。如圖4、超聲波探傷工藝要點：1）超聲波探傷的分類：A、按原理分類：有脈沖反射法、穿透法和共振法三中。目前探傷用得最多的是脈沖反射法。B、按顯示方式分類：有A型顯示、B型顯示、C型顯示等。目前使用最多的是A型顯示探傷法。C、按探傷波型分類：脈沖反射法大致可分為直射探傷法（縱波探傷法）、斜射探傷法（橫波探傷法）、表面波探傷法和板波探傷法。用得較多的是縱波和橫波探傷法。D、按探頭數(shù)目分類：有單探頭法、雙探頭法、多探頭法。用得最多的是單探頭法。E、按接觸方法分類：有直接接觸法和水浸法兩種。直接接觸法的操作要領(lǐng)是，在探頭和工件表面之間要涂布耦合劑，以消除空隙，讓超聲波能順利地進入工件。耦合劑可以用機油、水、甘油和水玻璃等。用水浸法時，探頭和工件之間介有水層，超聲波通過水層傳播，受表面狀態(tài)影響不大，可以進行穩(wěn)定的探傷。2/5/2023452）基本操作：超聲波脈沖反射A型顯示探傷操作要點敘述如下：A、探傷時機選擇。根據(jù)要達到的檢測目的，選擇最適當?shù)奶絺麜r機，例如：為減小晶粒的影響，電渣焊焊縫應(yīng)在正火處理后探傷；鍛件在鍛造后可能產(chǎn)生鍛造缺陷，應(yīng)在鍛造全部完成后對鍛件進行探傷。B、探傷方法選擇。根據(jù)工件情況，選定探傷方法，如：對焊縫，選擇單斜探頭接觸法，對軸類鍛件探傷，選用單探頭垂直探傷法。C、探傷儀器的選擇。根據(jù)探傷方法及工件情況，選定能滿足工件探傷要求的探傷儀器進行探傷。D、探傷方向和掃查面的選定。進行超聲波探傷時，探傷方向很重要，探傷方向應(yīng)以能發(fā)現(xiàn)缺陷為準。應(yīng)以缺陷的種類和方向來決定，以使超聲波波束垂直射向缺陷上，其反射回波最大。如：焊縫探傷時，應(yīng)根據(jù)焊縫坡口形式和厚度選擇掃查面，從一面兩側(cè)還是兩面四側(cè)探傷？E、頻率的選擇。根據(jù)工件的厚度和材料的晶粒大小，合理的選擇探傷頻率，例如：對粗晶的探傷，不宜選用高頻，因為高頻衰減大，往往達不到足夠的穿透力。F、晶片直徑、折射角的選定。根據(jù)探傷的對象和目的，合理選用晶片尺寸和折射角。2/5/202346被檢物F缺陷探頭探傷面脈沖反射法的原理2/5/2023472/5/2023482/5/2023492/5/2023502/5/202351缺陷回波探頭工件缺陷底面探傷面縱波探傷法原理示意圖2/5/202352WX=WsinθD=Wcosθ缺陷W斜射法探傷的幾何關(guān)系2/5/2023532/5/2023542/5/202355三、磁粉檢測2/5/2023561、磁粉檢測原理：1）定義：自然界有些物質(zhì)具有吸引鐵、鈷、鎳等物質(zhì)的特性，我們把這些具有磁性的物質(zhì)稱為磁體。使原來不帶磁性的物質(zhì)變得具有磁性叫磁化，能夠被磁化的材料稱為磁性材料。磁體各處的磁性大小不同，在它的兩端最強，這兩端稱為磁極。每一磁體都有一對磁極即N極和S極。它們具有不可分割的特性，即使把磁體分割成無數(shù)小磁體，每一個小磁體同樣存在N極和S極。三、磁粉檢測基礎(chǔ)2/5/202357如果把兩塊磁鐵的的同性磁極靠在一起，兩個磁體之間就存在一個相斥的力使磁體分離；而把磁體的異性磁極靠在一起，則兩塊磁鐵之間就存在一個相吸的力，使磁鐵靠近。這說明磁體周圍空間存在有力的作用，我們把磁力作用的空間稱為磁場。為了形象地描述磁場，人們采用了磁力線的概念，并且規(guī)定①磁力線密度表示磁感應(yīng)強度大小，磁力線密度大的地方表示磁感應(yīng)強度大，磁力線密度小的地方表示磁感應(yīng)強度??；②磁力線方向表示磁場的方向；③磁力線永遠不會相交；④磁力線由磁鐵的N極出發(fā)經(jīng)外部空間到達S極，再由S極經(jīng)磁體內(nèi)部回到N極，形成閉合曲線。2/5/2023583）通電導體產(chǎn)生的磁場：當電流通過導體時，會在導體的周圍產(chǎn)生磁場。通電導體產(chǎn)生的磁場方向與電流方向的關(guān)系可用右手定則來描述。如圖，用右手握住導線，大拇指表示電流方向，其余四指的彎曲方向即為導線產(chǎn)生周向磁場方向。如通電導體是一個螺管線圈，也可用右手定則來判斷磁場方向，其方法是：用右手握住線圈，彎曲的四指表示電流在線圈中的方向，伸直的大拇指則表示磁場的方向。如圖：2/5/2023593）描述磁場的幾個物理量：A、磁場強度H：表征磁化強度的物理量，其數(shù)值大小取決于電流I，I越大，H值也越大。單位：安培/米B、磁感應(yīng)強度B：表征被磁化了的磁介質(zhì)中磁場強度大小的物理量，單位：特斯拉C、磁導率μ：表征介質(zhì)磁特性的物理量。μ=μ0·μr，其中μ0為真空中的磁導率，μ0=4π×10-7安培/米。μr為相對磁導率，不同介質(zhì)的μr值不同，其中非鐵磁材料的μr值約等于1，鐵磁材料的μr值在幾十到幾千之間。磁感應(yīng)強度B，磁導率μ，磁場強度H三者之間有以下關(guān)系：B=μH=μ0·μr·H在磁場強度H（電流I）一定的情況下，不同介質(zhì)中感生的磁感應(yīng)強度B各不同，鐵磁材料中的B值比非鐵磁材料可大幾百甚至幾千倍。2/5/2023604）鐵磁材料的磁化曲線：通常用B-H曲線來描述鐵磁性材料的磁化過程。B-H曲線又稱為磁化曲線。5）磁粉檢測原理：鐵磁性材料被磁化后，其內(nèi)部產(chǎn)生很強的磁感應(yīng)強度，磁力線密度增大幾百倍到幾千倍，如果材料中存在不連續(xù)性（包括缺陷造成的不連續(xù)性和結(jié)構(gòu)、形狀、材質(zhì)等原因造成的不連續(xù)性），磁力線會發(fā)生畸變，部分磁力線有可能逸出材料表面，從空間穿過，形成漏磁場，漏磁場的局部磁極能夠吸引鐵磁物質(zhì)。如圖試件中裂紋造成的不連續(xù)性使磁力線畸變，由于裂紋中空氣介質(zhì)的磁導率遠遠低于試件的磁導率，使磁力線受阻，一部分磁力線擠到缺陷的底部，一部分穿過裂紋，一部分排擠出工件的表面后再進入工件。如果這時在工件上撒上磁粉，漏磁場就會吸附磁粉，形成與缺陷形狀相近的磁粉堆積。我們稱其為磁痕，從而顯示缺陷。當裂紋方向平行于磁力線的傳播方向時，磁力線的傳播不會受到影響，這時缺陷也不可能檢出。2/5/2023615）磁粉檢測原理：鐵磁性材料被磁化后，其內(nèi)部產(chǎn)生很強的磁感應(yīng)強度，磁力線密度增大幾百倍到幾千倍，如果材料中存在不連續(xù)性（包括缺陷造成的不連續(xù)性和結(jié)構(gòu)、形狀、材質(zhì)等原因造成的不連續(xù)性），磁力線會發(fā)生畸變，部分磁力線有可能逸出材料表面，從空間穿過，形成漏磁場，漏磁場的局部磁極能夠吸引鐵磁物質(zhì)。如圖試件中裂紋造成的不連續(xù)性使磁力線畸變，由于裂紋中空氣介質(zhì)的磁導率遠遠低于試件的磁導率，使磁力線受阻，一部分磁力線擠到缺陷的底部，一部分穿過裂紋，一部分排擠出工件的表面后再進入工件。如果這時在工件上撒上磁粉，漏磁場就會吸附磁粉，形成與缺陷形狀相近的磁粉堆積。我們稱其為磁痕，從而顯示缺陷。當裂紋方向平行于磁力線的傳播方向時，磁力線的傳播不會受到影響，這時缺陷也不可能檢出。2/5/2023626）影響漏磁場的幾個因素：A、外加磁場強度越大，形成的漏磁場強度也越大；B、在一定外加磁場強度下，材料的磁導率越高，工件越易被磁化，材料的磁感應(yīng)強度越大，漏磁場強度也越大。C、當缺陷的延伸方向與磁力線的方向成90°時，由于缺陷阻擋磁力線穿過的面積最大，形成的漏磁場強度也最大。隨著缺陷的方向與磁力線的方向從90°逐漸減?。ɑ蛟龃螅┞┐艌鰪姸让黠@下降；因此，磁粉探傷時，通常需要在兩個（兩次磁力線的方向互相垂直）或多個方向上進行磁化。D、隨著缺陷的埋藏深度增加，逸出工件表面的磁力線迅速減少。缺陷的埋藏深度越大，漏磁場就越小。因此，磁粉探傷只能檢測鐵磁材料制成的工件表面或近表面的裂紋及其他缺陷。

2/5/2023632、磁粉檢測設(shè)備器材1）磁力探傷機分類：按設(shè)備體積和重量，磁力探傷機可分為固定式、移動式、攜帶式三類。A、固定式探傷機：最常見的固定式探傷機為臥式濕法探傷機，設(shè)有放置工件的床身，可以進行包括通電法、線圈法多種磁化，配置了退磁裝置和磁懸液攪拌噴灑裝置等，最大磁化電流可達12KA，主要用于中小型工件探傷。B、移動式探傷機：體積重量中等，配有輪子，可運至檢測現(xiàn)場作業(yè)，能進行多種方式磁化，磁化電流為3～6KA。檢測對象為不易搬動的大型工件C、便攜式探傷機：體積小、重量輕；適合野外和高空作業(yè)，多用于鍋爐壓力容器焊縫和大型工件局部探傷，最常用的是電磁軛探傷機。電磁軛探傷機是一個繞有線圈的U型鐵芯，當線圈中通過電流，鐵芯中產(chǎn)生大量的磁力線，軛鐵放在工件上，兩極之間的工件局部被磁化。軛鐵兩極可做成活動式的，極間距和角度可調(diào)，磁化強度指標是磁軛能吸起的鐵塊重量，稱作提升力。2/5/2023642）靈敏度試片：用于檢查磁粉探傷設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能。3）磁粉和磁懸液：磁粉是具有高磁導率和低剩磁的四氧化三鐵或三氧化二鐵粉末。濕法磁粉平均粒度為2～10μm，干法磁粉平均粒度不大于90μm。按加入的染料可將磁粉分為熒光磁粉和非熒光磁粉，非熒光磁粉有黑、紅、白幾種不同顏色供選用。由于熒光磁粉的顯示對比度比非熒光磁粉高得多，所以采用熒光磁粉進行檢測具有磁痕觀察容易，檢測速度快，靈敏度高的優(yōu)點。但熒光磁粉檢測需一些附加條件：暗環(huán)境和黑光燈。磁懸液是以水或煤油為分散介質(zhì)，加入磁粉配置成的懸浮液。2/5/2023653、磁粉檢測工藝要點：3、磁粉檢測工藝要點：1）磁化方式：常用的磁化方法有①線圈法②磁軛法③軸向通電法④觸頭法⑤中心導體法⑥復合磁化。按磁力線方向分類①②為縱向磁化；③～⑤為周向磁化。實際工作中可根據(jù)試件的情況選擇適當?shù)拇呕椒ā?)磁粉探傷方法分類：磁粉探傷方法有多種分類方式，按檢測時機分為連續(xù)法和剩磁法。磁化、施加磁粉和觀察同時進行的方法稱為連續(xù)法；先磁化，后施加磁粉和觀察的方法稱為剩磁法，只適用于剩磁很大的硬磁材料。按使用的電流種類可分為交流電、直流電兩大類。交流電因有集膚效應(yīng)，對表面缺陷檢測靈敏度高。按施加磁粉的方法分類可分為濕法和干法，其中濕法采用磁懸液，干法則直接噴灑干粉。前者適宜檢測表面光滑的工件上的細小缺陷，后者多用于粗糙表面。3）磁粉探傷的一般程序：探傷操作包括：預處理、磁化和施加磁粉、觀察、記錄以及后處理（退磁）等。2/5/2023664、磁粉檢測的特點磁粉檢測的特點（優(yōu)點和局限性）：1）適宜鐵磁材料探傷，不能用于非鐵磁材料檢測；2）可以檢出表面和近表面缺陷，不能用于檢測內(nèi)部缺陷；3）檢測靈敏度很高，可以發(fā)現(xiàn)極細小的裂紋以及其他缺陷；4）檢測成本很低，速度快；5）工件的形狀和尺寸有時對探傷有影響，因起難以磁化而無法探傷。2/5/2023672/5/2023682/5/2023692/5/2023702/5/2023712/5/202372

軸向通電法觸頭法2/5/202373線圈法磁軛法2/5/202374中心導體法交叉磁軛法和交叉線圈法2/5/2023751、滲透檢測的基本原理：工件表面被施涂含有熒光染料或著色染料的滲透液后，在毛細管作用下，經(jīng)過一定時間，滲透液可以滲進表面開口的缺陷中；經(jīng)去除工件表面多余的滲透液后；再在工件表面施涂顯像劑，同樣，在毛細管作用下，顯像劑將吸引缺陷中保留的滲透液，滲透液回滲到顯像劑中；在一定的光源下（紫外線光或白光），缺陷處的滲透液痕跡被顯示（黃綠色熒光或鮮艷紅色），從而探測出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。如圖2、滲透檢測操作的基本步驟：滲透、清洗、顯像、觀察。滲透探傷能檢測出的缺陷的最小尺寸，是由探傷劑的性能、探傷方法、探傷操作的好壞和工件表面的狀況等因素決定的，不能一概而論，但一般能將深0.02㎜、寬0.001㎜的缺陷檢測出來。四、滲透檢測基礎(chǔ)知識2/5/2023763、滲透檢測的分類1）根據(jù)滲透液所含染料成分分類可分為熒光法和著