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--內(nèi)頁可以根據(jù)需求調(diào)整合適字體及大小--期末復(fù)習(xí)資料匯總(總7頁)PAGE12第三章雙極結(jié)型晶體管填空題1、晶體管的基區(qū)輸運系數(shù)是指(基區(qū)中到達集電結(jié)的少子)電流與(發(fā)射結(jié)注入基區(qū)的少子
)電流之比。由于少子在渡越基區(qū)的過程中會發(fā)生(
擴散
),從而使基區(qū)輸運系數(shù)(
變大
)。為了提高基區(qū)輸運系數(shù),應(yīng)當使基區(qū)寬度(
小于
)基區(qū)少子擴散長度。2、晶體管中的少子在渡越(
)的過程中會發(fā)生(
),從而使到達集電結(jié)的少子比從發(fā)射結(jié)注入基區(qū)的少子(
)。3、晶體管的注入效率是指(
)電流與(
)電流之比。為了提高注入效率,應(yīng)當使(
)區(qū)摻雜濃度遠大于(
)區(qū)摻雜濃度。4、晶體管的共基極直流短路電流放大系數(shù)α是指發(fā)射結(jié)(正
)偏、集電結(jié)(
零)偏時的(
集電結(jié)
)電流與(
發(fā)射結(jié)
)電流之比。5、晶體管的共發(fā)射極直流短路電流放大系數(shù)β是指(
發(fā)射
)結(jié)正偏、(
集電
)結(jié)零偏時的(
集電結(jié)
)電流與(
基區(qū))電流之比。6、在設(shè)計與制造晶體管時,為提高晶體管的電流放大系數(shù),應(yīng)當(
)基區(qū)寬度,(
)基區(qū)摻雜濃度。7、某長方形薄層材料的方塊電阻為100Ω,長度和寬度分別為300μm和60μm,若要獲得1kΩ的電阻,則該材料的長度應(yīng)改變?yōu)椋?/p>
600μm
)。8、在緩變基區(qū)晶體管的基區(qū)中會產(chǎn)生一個(
),它對少子在基區(qū)中的運動起到(
)的作用,使少子的基區(qū)渡越時間(
)。9、小電流時α?xí)?/p>
)。這是由于小電流時,發(fā)射極電流中(
)的比例增大,使注入效率下降。10、發(fā)射區(qū)重摻雜效應(yīng)是指當發(fā)射區(qū)摻雜濃度太高時,不但不能提高(
),反而會使其(
)。造成發(fā)射區(qū)重摻雜效應(yīng)的原因是(
)和(
)。11、在異質(zhì)結(jié)雙極晶體管中,發(fā)射區(qū)的禁帶寬度(
)于基區(qū)的禁帶寬度,從而使異質(zhì)結(jié)雙極晶體管的(
)大于同質(zhì)結(jié)雙極晶體管的。12、當晶體管處于放大區(qū)時,理想情況下集電極電流隨集電結(jié)反偏的增加而(
)。但實際情況下集電極電流隨集電結(jié)反偏增加而(
),這稱為(
)效應(yīng)。13、當集電結(jié)反偏增加時,集電結(jié)耗盡區(qū)寬度會(
),使基區(qū)寬度(
),從而使集電極電流(
),這就是基區(qū)寬度調(diào)變效應(yīng)(即厄爾利效應(yīng))。14、IES是指(集電
)結(jié)短路、(
發(fā)射)結(jié)反偏時的(發(fā)射)極電流。15、ICS是指(發(fā)射
)結(jié)短路、(集電
)結(jié)反偏時的(集電)極電流。16、ICBO是指(
發(fā)射)極開路、(集電
)結(jié)反偏時的(共基極反向截止)極電流。17、ICEO是指(
基
)極開路、(集電結(jié))結(jié)反偏時的(共發(fā)射極反向截止
)極電流。18、IEBO是指(
集電
)極開路、(
發(fā)射
)結(jié)反偏時的(共基
)極電流。19、BVCBO是指(
發(fā)射
)極開路、(
)結(jié)反偏,當(
I‘cbo
)→∞時的VCB。20、BVCEO是指(
基
)極開路、(
)結(jié)反偏,當(
I‘ceo
)→∞時的VCE。21、BVEBO是指(集電
)極開路、(
)結(jié)反偏,當(
I‘ebo
)→∞時的VEB。22、基區(qū)穿通是指當集電結(jié)反向電壓增加到使耗盡區(qū)將(
)全部占據(jù)時,集電極電流急劇增大的現(xiàn)象。防止基區(qū)穿通的措施是(
)基區(qū)寬度、(
)基區(qū)摻雜濃度。23、比較各擊穿電壓的大小時可知,BVCBO(
大于
)BVCEO,BVCBO(
遠遠大于
)BVEBO。24、隨著信號頻率的提高,晶體管的αω,βω的幅度會(
減小
),相角會(
滯后
)。25、在高頻下,基區(qū)渡越時間τb對晶體管有三個作用,它們是:(
)、(
)和(
)。26、基區(qū)渡越時間τb是指(
)。當基區(qū)寬度加倍時,基區(qū)渡越時間增大到原來的(
)倍。27、晶體管的共基極電流放大系數(shù)|αω|隨頻率的(
減小
)而下降。當晶體管的|αω|下降到(
α0
)時的頻率,稱為α的截止頻率,記為(
fa)。28、晶體管的共發(fā)射極電流放大系數(shù)|βω|隨頻率的(
)而下降。當晶體管的|βω|下降到β0時的頻率,稱為β的(
),記為(
)。29、當f>>fβ時,頻率每加倍,晶體管的|βω|降到原來的(
);最大功率增益Kpmax降到原來的(
)。30、當(
)降到1時的頻率稱為特征頻率fT。當(
Kp
)降到1時的頻率稱為最高振蕩頻率fM。31、當|βω|降到(1
)時的頻率稱為特征頻率fT。當Kpmax降到(1
)時的頻率稱為最高振蕩頻率fM。32、晶體管的高頻優(yōu)值M是(
)與(
)的乘積。33、晶體管在高頻小信號應(yīng)用時與直流應(yīng)用時相比,要多考慮三個電容的作用,它們是(
)電容、(
)電容和(
)電容。34、對于頻率不是特別高的一般高頻管,τec中以(
)為主,這時提高特征頻率fT的主要措施是(
)。35、為了提高晶體管的最高振蕩頻率fM,應(yīng)當使特征頻率fT(
),基極電阻rbb'(
),集電結(jié)勢壘電容CTC(
)。問答與計算題1、畫出NPN晶體管在飽和狀態(tài)、截止狀態(tài)、放大狀態(tài)和倒向放大狀態(tài)時的少子分布圖。2、畫出共基極放大區(qū)晶體管中各種電流的分布圖,并說明當輸入電流Ie經(jīng)過晶體管變成輸出電流IC時,發(fā)生了哪兩種虧損?
3、倒向晶體管的電流放大系數(shù)為什么小于正向晶體管的電流放大系數(shù)?
6、先畫出雙極晶體管的理想的共發(fā)射極輸出特性曲線圖,并在圖中標出飽和區(qū)與放大區(qū)的分界線,然后再分別畫出包括厄爾利效應(yīng)和擊穿現(xiàn)象的共發(fā)射極輸出特性曲線圖。7、什么是雙極晶體管的特征頻率fT寫出fT的表達式,并說明提高fT的各項措施。8、寫出組成雙極晶體管信號延遲時間τec的4個時間的表達式。其中的哪個時間與電流Ie有關(guān)?這使fT隨Ie的變化而發(fā)生怎樣的變化?9、什么是雙極晶體管的最高振蕩頻率fM寫出fM的表達式,說明提高fM的各項措施。12、某均勻基區(qū)晶體管的WB=2μm,LB=10μm,試求此管的基區(qū)輸運系數(shù)β*之值。若將此管的基區(qū)摻雜改為指數(shù)分布,場因子η=6,則其β*變?yōu)槎嗌伲?/p>
13、某均勻基區(qū)NPN晶體管的WB=2μm,NB=1017cm-1,DB=18cm2s-1,τB=5×10–7s,試求該管的基區(qū)輸運系數(shù)β*之值。又當在該管的發(fā)射結(jié)上加的正向電壓,集電結(jié)短路時,該管的JnE和J15、某雙極型晶體管的R□B1=1000Ω,R□E=5Ω,基區(qū)渡越時間τb=10–9s,當IB=時,IC=10mA,求該管的基區(qū)少子壽命τb。16、某晶體管的基區(qū)輸運系數(shù)β*=,注入效率γ=,試求此管的α與β。當此管的有源基區(qū)方塊電阻R□B1乘以3,其余參數(shù)均不變時,其α與β變?yōu)槎嗌伲?/p>
17、某雙極型晶體管當IB1=時測得IC1=4mA,當IB2=時測得IC2=5mA,試分別求此管當IC=4mA時的直流電流放大系數(shù)β與小信號電流放大系數(shù)βO。18、某緩變基區(qū)NPN晶體管的BVCBO=120V,β=81,試求此管的BVCEO。21、某高頻晶體管的fβ=5MHz,當信號頻率為f=40MHz時測得其|βω|=10,則當f=80MHz時|βω|為多少?該管的特征頻率fT為多少?該管的β0為多少?22、某高頻晶體管的β0=50,當信號頻率f為30MHz時測得|βω|=5,求此管的特征頻率fT,以及當信號頻率f分別為15MHz和60MHz時的|βω|之值。23、某高頻晶體管的基區(qū)寬度WB=1μm,基區(qū)渡越時間τb=×10-10s,fT=550MHz。當該管的基區(qū)寬度減為μm,其余參數(shù)都不變時,fT變?yōu)槎嗌伲?/p>
27、某晶體管當IB1=時測得IC1=4mA,當IB2=時測得IC2=5mA,試分別求此管當IC=4mA時的直流電流放大系數(shù)β與增量電流放大系數(shù)β0。28、已知某硅NPN均勻基區(qū)晶體管的基區(qū)寬度WB=2μm,基區(qū)摻雜濃度nB=5×1016cm-3,基區(qū)少子壽命tB=1μs,基區(qū)少子擴散系數(shù)DB=15cm2s-1,以及從發(fā)射結(jié)注入基區(qū)的少子電流密度JnE=cm2。試計算基區(qū)中靠近發(fā)射結(jié)一側(cè)的非平衡少子電子濃度nB(0)、發(fā)射結(jié)電壓VBE和基區(qū)輸運系數(shù)β*29、已知某硅NPN緩變基區(qū)晶體管的基區(qū)寬度WB=μm,基區(qū)少子擴散系數(shù)DB=20cm2s-1,基區(qū)自建場因子η=20,試計算該晶體管的基區(qū)渡越時間tb。33、在N型硅片上經(jīng)硼擴散后,得到集電結(jié)結(jié)深xjc=μm,有源基區(qū)方塊電阻R□B1=800Ω,再經(jīng)磷擴散后,得發(fā)射結(jié)結(jié)深xje=μm,發(fā)射區(qū)方塊電阻R□e=10Ω。設(shè)基區(qū)少子壽命tB=10-7s,基區(qū)少子擴散系數(shù)DB=15cm2s-1,基區(qū)自建場因子η=8,試求該晶體管的電流放大系數(shù)α與β分別為多少?
35、已知某硅NPN均勻基區(qū)晶體管的基區(qū)寬度WB=μm,基區(qū)摻雜濃度nB=1017cm-3,集電區(qū)摻雜濃度nC=1016cm-3,試計算當VCB第五章絕緣柵場效應(yīng)晶體管填空題1、N溝道MOSFET的襯底是(
)型半導(dǎo)體,源區(qū)和漏區(qū)是(
)型半導(dǎo)體,溝道中的載流子是(
)。2、P溝道MOSFET的襯底是(
)型半導(dǎo)體,源區(qū)和漏區(qū)是(
)型半導(dǎo)體,溝道中的載流子是(
)。3、當VGS=VT時,柵下的硅表面發(fā)生(
),形成連通(
)區(qū)和(
)區(qū)的導(dǎo)電溝道,在VDS的作用下產(chǎn)生漏極電流。4、N溝道MOSFET中,VGS越大,則溝道中的電子就越(
),溝道電阻就越(
),漏極電流就越(
)。5、在N溝道MOSFET中,VT>0的稱為增強型,當VGS=0時MOSFET處于(
)狀態(tài);VT<0的稱為耗盡型,當VGS=0時MOSFET處于(
)狀態(tài)。6、由于柵氧化層中通常帶(
)電荷,所以(
)型區(qū)比(
)型區(qū)更容易發(fā)生反型。7、要提高N溝道MOSFET的閾電壓VT,應(yīng)使襯底摻雜濃度nA(
),使柵氧化層厚度Tox(
)。8、N溝道MOSFET飽和漏源電壓VDsat的表達式是(
)。當VDS>=VDsat時,MOSFET進入(
)區(qū),漏極電流隨VDS的增加而(
)。9、由于電子的遷移率μn比空穴的遷移率μp(
),所以在其它條件相同時,(
)溝道MOSFET的IDsat比(
)溝道MOSFET的大。為了使兩種MOSFET的IDsat相同,應(yīng)當使N溝道MOSFET的溝道寬度(
)P溝道MOSFET的。10、當N溝道MOSFET的VGS<VT時,MOSFET(
)導(dǎo)電,這稱為(
)導(dǎo)電。11、對于一般的MOSFET,當溝道長度加倍,而其它尺寸、摻雜濃度、偏置條件等都不變時,其下列參數(shù)發(fā)生什么變化:VT(
)、IDsat(
)、Ron(
)、gm(
)。12、由于源、漏區(qū)的摻雜濃度(
)于溝道區(qū)的摻雜濃度,所以MOSFET源、漏PN結(jié)的耗盡區(qū)主要向(
)區(qū)擴展,使MOSFET的源、漏穿通問題比雙極型晶體管的基區(qū)穿通問題(
)。13、MOSFET的跨導(dǎo)gm的定義是(
),它反映了(
)對(
)的控制能力。14、為提高跨導(dǎo)gm的截止角頻率ωgm,應(yīng)當(
)μ,(
)L,(
)VGS。問答與計算題1、畫出MOSFET的結(jié)構(gòu)圖和輸出特性曲線圖,并簡要敘述MOSFET的工作原理。2、什么是MOSFET的閾電壓VT寫出VT的表達式,并討論影響VT的各種因素。4、什么是有效溝道長度調(diào)制效應(yīng)如何抑制有效溝道長度調(diào)制效應(yīng)5、什么是MOSFET的跨導(dǎo)gm寫出gm的表達式,并討論提高gm的措施。6、提高MOSFET的最高工作頻率fT的措施是什么?
9、在nA=1015cm-3的P型硅襯底上制作Al柵N溝道MOSFET,柵氧化層厚度為50nm,柵氧化層中正電荷數(shù)目的面密度為1011cm-211、某N溝道MOSFET的VT=1V,β=4×10-3AV-2,求當VGS=6V,VDS分別為2V、4V、6V、8V和10V時的漏極電流之值。12、某N溝道MOSFET的VT=,β=6×10-3AV-2,求當VDS=6V,VGS分別為、、、和時的漏極電流之值。14、某N溝道MOSFET的VT=1V,β=4×10-3AV-2,求當VGS=6V,VDS分別為2V、4V、6V、8V和10V時的跨導(dǎo)gm之值。15、某N溝道MOSFET的VT=1V,β=6×10-3AV-2,求當VDS=4V,VGS分別為2V、4V、6V、8
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