標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJF 1702-2018 α、β平面源校準(zhǔn)規(guī)范》是一項(xiàng)針對(duì)α粒子和β粒子發(fā)射平面源進(jìn)行校準(zhǔn)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布,旨在確保此類放射性平面源在使用過(guò)程中的準(zhǔn)確性和一致性,適用于計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)以及相關(guān)單位對(duì)α、β平面源的校準(zhǔn)工作。

根據(jù)此規(guī)范,α、β平面源是指能夠穩(wěn)定地發(fā)射α或β射線,并且其表面活性物質(zhì)分布均勻的放射性材料。這些源廣泛應(yīng)用于核物理研究、環(huán)境監(jiān)測(cè)、輻射防護(hù)等領(lǐng)域。為了保證測(cè)量結(jié)果的可靠性與可比性,《JJF 1702-2018》規(guī)定了一系列詳細(xì)的操作流程和技術(shù)要求,包括但不限于:

  • 校準(zhǔn)條件:明確了進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境參數(shù),如溫度、濕度等。
  • 測(cè)量設(shè)備:指定了用于檢測(cè)α、β粒子的儀器類型及其性能指標(biāo)。
  • 源制備方法:提供了如何準(zhǔn)備符合要求的α、β平面源的具體步驟。
  • 測(cè)量程序:描述了從樣品放置到數(shù)據(jù)讀取整個(gè)過(guò)程中需要注意的關(guān)鍵點(diǎn)。
  • 數(shù)據(jù)處理:給出了計(jì)算不確定度的方法以及其他必要的數(shù)據(jù)分析指導(dǎo)原則。
  • 結(jié)果表達(dá):規(guī)定了最終報(bào)告中應(yīng)包含的信息內(nèi)容及格式要求。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2018-02-27 頒布
  • 2018-08-27 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1702—2018

α、β平面源校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationforα、βPlanesSource

2018-02-27發(fā)布2018-08-27實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1702—2018

、平面源校準(zhǔn)規(guī)范??

αβ??????????????

?JJF1702—2018?

CalibrationSecificationfor??

?????????????

p?

?代替JJG788—1992?

??

α、βPlanesSources

歸口單位全國(guó)電離輻射計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

:

起草單位上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

:

中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

本規(guī)范委托全國(guó)電離輻射計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

JJF1702—2018

本規(guī)范起草人

:

唐方東上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

()

何林鋒上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

()

梁珺成中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

()

徐一鶴上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

()

張明中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

()

劉皓然中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

()

JJF1702—2018

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位

3………………………(1)

術(shù)語(yǔ)

3.1…………………(1)

計(jì)量單位

3.2……………(1)

概述

4……………………(1)

計(jì)量特性

5………………(1)

表面發(fā)射率

5.1…………(1)

表面發(fā)射率的不均勻性

5.2……………(2)

校準(zhǔn)條件

6………………(2)

環(huán)境條件

6.1……………(2)

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

6.2……………(2)

校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法

7…………………(2)

表面發(fā)射率

7.1…………(2)

表面發(fā)射率的不均勻性

7.2……………(3)

校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)

8…………(4)

復(fù)校時(shí)間間隔

9…………(4)

附錄平面源校準(zhǔn)記錄推薦格式

Aα、β………………(5)

附錄平面源校準(zhǔn)證書(shū)內(nèi)頁(yè)內(nèi)容

Bα、β………………(6)

附錄平面源表面發(fā)射率校準(zhǔn)結(jié)果不確定度評(píng)定示例

Cβ…………(7)

JJF1702—2018

引言

本規(guī)范按照國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則編寫

JJF1071—2010《》。

與相比除編輯性修改外本規(guī)范主要技術(shù)變化如下

JJG788—1992,,:

由檢定規(guī)程改為校準(zhǔn)規(guī)范

———;

名稱由標(biāo)準(zhǔn)平面源改為平面源校準(zhǔn)規(guī)范

———“α、β”“α、β”;

將原規(guī)程檢定項(xiàng)目表面發(fā)射率和活度修改為校準(zhǔn)項(xiàng)目表面發(fā)射率

———“”“”;

適用范圍中增加對(duì)粒子能量范圍的限定

———β;

平面源表面發(fā)射率的計(jì)算由絕對(duì)測(cè)量的計(jì)算方式修改為適用于絕對(duì)和相對(duì)測(cè)量

———

的計(jì)算方式

;

刪除原規(guī)程檢定項(xiàng)目非活性面的放射性污染

———“”;

修改了標(biāo)準(zhǔn)平面源表面發(fā)射率不均勻性的測(cè)量條件要求與計(jì)算方法

———。

本規(guī)范的歷次發(fā)布情況如下

:

JJG788—1992。

JJF1702—2018

、平面源校準(zhǔn)規(guī)范

αβ

1范圍

本規(guī)范適用于表面發(fā)射率為26-1的平面源和表面發(fā)射率為3

(10~10)minα(10~

6-1的平面源的校準(zhǔn)粒子的最大能量大于等于

10)minβ,β150keV。

2引用文件

本規(guī)范引用下列文件

:

通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義

JJF1001—2011

核科學(xué)技術(shù)術(shù)語(yǔ)第部分核物理與核化學(xué)

GB/T4960.1—20101:

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范

,()。

3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位

術(shù)語(yǔ)

3.1

界定的及以下術(shù)語(yǔ)和定義適用于本規(guī)范

JJF1001—2011、GB/T4960.1—2010。

平面源

3.1.1planesource

一種帶襯底的板狀放射源

源表面發(fā)射率

3.1.2[]surfaceemissionrate

單位時(shí)間內(nèi)從平面源表面球面度發(fā)射的特定種類能量超過(guò)特定值的粒

,(2π)、

子數(shù)

計(jì)量單位

3.2

源表面發(fā)射率平面源球面度上每分鐘的粒子數(shù)符號(hào)-1

[]:(2π);:min

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