承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級

5承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級5.1鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級5.1.1適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭的超聲檢測和質(zhì)量分級。1、全熔化焊對接焊接接頭1)母材厚度T=8mm～400mm2)T=6mm～8mm按照附錄G。2、支承件和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。3、鈦制承壓設(shè)備對接焊接接頭附錄M。4、奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對接焊接接頭附錄N。5、如確有需要，壁厚為4mm～6mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^6.1進(jìn)行。本條不適用于1、鑄鋼對接焊接接頭2、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^3、內(nèi)徑小于或等于200mm的管座角焊縫4、外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向?qū)雍附咏宇^05與94的技術(shù)內(nèi)容差異1、05版是承壓設(shè)備對接接頭，94版是壓力容器，所以增加了鍋爐及壓力管道；2、適用的母材厚度由8mm—300mm擴(kuò)大到8mm-400mm；3、新增加：6mm—8mm對接焊接接頭的超聲檢測可按照附錄G的規(guī)定進(jìn)行；如確有需要，壁厚為4mm—6mm的環(huán)向焊接接頭的超聲檢測可參照6．1進(jìn)行。4、鈦制壓力容器對接焊接接頭超聲檢測參照附錄M(資料性附錄)的規(guī)定進(jìn)行，奧氏體不銹鋼壓力容器對接焊接接頭超聲檢測參照附錄N(資料性附錄)的規(guī)定進(jìn)行。5.1.2超聲檢測技術(shù)等級5.1.2.1超聲檢測技術(shù)等級選擇超聲檢測技術(shù)等級分為A、B、C三個檢測級別。超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計圖樣規(guī)定。檢測技術(shù)等級本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定A、B、C三個檢測技術(shù)等級。技術(shù)等級主要根據(jù)檢測面的數(shù)量、探頭的多少、是否檢測橫向缺陷、焊縫余高是否磨平等來進(jìn)行劃分。不同的技術(shù)等級對質(zhì)量的要求是不一樣的，A級最低，C級最高。因此設(shè)計、制造、安裝和檢驗檢測部門應(yīng)根據(jù)承壓設(shè)備產(chǎn)品的重要程度進(jìn)行選用，原則上A級檢測適用于承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件焊縫檢測，B級檢測適用于承壓設(shè)備一般對接焊縫檢測，C級檢測適用于重要承壓設(shè)備對接焊縫檢測。5.1.2.2不同檢測技術(shù)等級的要求5.1.2.2.1A級1）母材厚度T=8mm～46mm的對接焊接接頭。2）探頭：可用一種K值探頭b)母材厚度大于46mm至400mm時，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°。對于單側(cè)坡口角度小于5°的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法。3）方法：采用直射波法和一次反射波法4）檢測面：單面單側(cè)進(jìn)行檢測。5）橫向缺陷：一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。5.1.2.2.2B級檢測：將母材厚度分為3段a）母材厚度T=8mm～46mm時，探頭：一般用一種K值探頭方法：采用直射波法和一次反射波法檢測面：單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。b)T＞46mm~120mm時，一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測。c)T＞120mm至400mm時，探頭：一般用兩種K值探頭，且折射角相差應(yīng)不小于10°方法：直射波法檢測面：雙面雙側(cè)10°~20°d)應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10°～20°作兩個方向的斜平行掃查，見圖12。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查，見圖13。5.1.2.2.3C級檢測：采用C級檢測時應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測，檢測方法見5.1.4.4。a)母材厚度為8mm～46mm時，一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°，其中一個折射角應(yīng)為45°。應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時，將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查，見圖13A、B、C三個檢測技術(shù)等級，其主要區(qū)別有哪些?主要區(qū)別有以下幾個方面：(1)適用的厚度范圍，A級適用于母材厚度為8mm-46mm，B級和C級適用于母材厚度為8mm-400mm。⑵使用探頭數(shù)量，A級用一種K值探頭，B級用一種或兩種K值探頭，C級用兩種K值探頭。⑶檢測面，A級為單面單側(cè)，B級和C級為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè)。(4)對橫向缺陷的檢測，A級一般不需要檢測橫向缺陷，B級和C級應(yīng)檢測橫向缺陷。(5)對焊接接頭余高的要求，A級、B級不要求將焊接接頭的余高磨平，而C級要求將焊接接頭的余高磨平。(6)對掃查區(qū)母材的檢測，C級要求用直探頭對斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域進(jìn)行檢測。A級、B級則不需要。05與94版的技術(shù)內(nèi)容差異94版無“不同檢測技術(shù)等級的要求”。94版大致與B級檢測相當(dāng)。05版B級檢測要求與94版相比，05版增加了“母材厚度大于25mm～46mm時，確有必要也可采用兩種K值探頭在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測；母材厚度大于100mm，原則上用兩種K值探頭采用直射波在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測”的規(guī)定。94版有“斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗收檢測?！钡囊?guī)定。此條實(shí)際沒得到執(zhí)行，所以05版B級去掉了母材檢測的內(nèi)容。5.1.3試塊5.1.3.1試塊制作應(yīng)符合3.5的規(guī)定。5.1.3.2采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和CSK-ⅣA。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖14、圖15、圖16、圖17和表17的規(guī)定。注：尺寸誤誤差不大于于±0.05mm圖14CSK-ⅠA試塊塊注1：L——試塊長度度，由使用用的聲程確確定注2：尺寸寸誤差不大大于±0.05mm圖15CSK-ⅡA試塊塊注：尺寸誤誤差不大于于±0.05mm圖16CSK-ⅢA試塊塊注1：L———試塊長長度，由使使用的聲程程確定注2：尺寸寸誤差不大大于±0.05mm圖17CSK-ⅣA標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)試塊CSK-Ⅳ被檢工件厚度對比試塊厚度T標(biāo)準(zhǔn)孔位置b標(biāo)準(zhǔn)孔直徑dNo.1＞120～150135T/4、T/26.4(1/4in)No.2＞150～200175T/4、T/27.9(5/16in)No.3＞200～250225T/4、T/29.5(3/8in)No.4＞250～300275T/4、T/211.1(7/16in)No.5＞300～350325T/4、T/212.7(1/2in)No.6＞350～400375T/4、T/214.3(9/16in)05與94的技術(shù)內(nèi)內(nèi)容差異05版對CSK—ⅣⅣA試塊作作了改進(jìn)，，在T／2處增加了了—個孔，，標(biāo)準(zhǔn)孔直直徑d與英英寸相對應(yīng)應(yīng)，試塊數(shù)數(shù)量由四塊塊變成六塊塊。其余基本相相同。5.1.3.31）CSK-ⅠA、CSK-ⅡA和和CSK-ⅢA試塊塊適用壁厚厚范圍為6mm～120mm的焊接接接頭，2）CSK-ⅠA和和CSK-ⅣA系列列試塊適用用壁厚范圍圍大于120mm至至400mm的焊接接接頭。3）在滿足足靈敏度要要求時，試試塊上的人人工反射體體根據(jù)檢測測需要可采采取其他布布置形式或或添加，也也可采用其其他型式的的等效試塊塊。5.1.3.4檢檢測曲面面工件時，，如檢測面面曲率半徑徑R≤W2/4時（W為探頭接接觸面寬度度，環(huán)縫檢檢測時為探探頭寬度，，縱縫檢測測時為探頭頭長度），，應(yīng)采用與與檢測面曲曲率相同的的對比試塊塊，反射孔孔的位置可可參照標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)試塊確定定。試塊寬寬度b一般般應(yīng)滿足：：WWb≥2λS/D0………………（3）式中：b——試塊寬寬度，mm；λ——超聲波波波長，mm；S——聲程，，mm；D0——聲源有有效直徑，，mm。5.1.4檢測測準(zhǔn)備5.1.4.1檢檢測面a）檢測測區(qū)的寬度度應(yīng)是焊縫縫本身，再再加上焊縫縫兩側(cè)各相相當(dāng)于母材材厚度30%的一段段區(qū)域，這這個區(qū)域最最小為5mm，最大大為10mm，見見圖18。。圖18檢檢測和探探頭移動區(qū)區(qū)b）探頭頭移動區(qū)應(yīng)應(yīng)清除焊接接飛濺、鐵鐵屑、油垢垢及其他雜雜質(zhì)。檢測測表面應(yīng)平平整，便于于探頭的掃掃查，其表表面粗糙度度Ra值應(yīng)應(yīng)小于或等等于6.3μm，一一般應(yīng)進(jìn)行行打磨。1）采用一一次反射法法檢測時，，探頭移動動區(qū)大于或或等于1.25P：P=2TK……………………（4）或P=2Ttanβ………………（5）式中：P——跨距，，mm；T——母材厚厚度，mm；K——探頭K值；β——探頭折折射角，（（°）。2）采用直直射法檢測測時，探頭頭移動區(qū)應(yīng)應(yīng)大于或等等于0.75P。c）去除除余高的焊焊縫，應(yīng)將將余高打磨磨到與鄰近近母材平齊齊。保留余余高的焊縫縫，如果焊焊縫表面有有咬邊、較較大的隆起起和凹陷等等也應(yīng)進(jìn)行行適當(dāng)?shù)男扌弈?，并作作圓滑過渡渡以免影響響檢測結(jié)果果的評定。。05與94的技術(shù)內(nèi)內(nèi)容差異“檢測區(qū)的的寬度”主主要是熱影影響區(qū)的最最大、最小小值寬度兩兩個標(biāo)準(zhǔn)規(guī)規(guī)定不同94版規(guī)定定“應(yīng)是焊焊縫本身，，再加上焊焊縫兩側(cè)各各相當(dāng)于母母材厚度30％的——段區(qū)域，，這個區(qū)域域最小為10mm””，05版版將檢測區(qū)區(qū)的寬度改改為“最小小為5mm，最大為為10mm”。其余內(nèi)容基基本相同。。5.1.4.2探探頭K值（角度））（與94版版基本相同同）斜探頭的K值（角度））選取可參參照表18的規(guī)定。。條件允許許時，應(yīng)盡盡量采用較較大K值探頭。板厚T，mmK值6～253.0～2.0（72°～60°）>25～462.5～1.5（68°～56°）>46～1202.0～1.0（60°～45°）>120～4002.0～1.0（60°～45°）5.1.4.3檢檢測頻率率（94版無無相應(yīng)規(guī)定定，頻率對對檢測結(jié)果果有重要的的影響，不不同的頻率率可能得出出不同的結(jié)結(jié)果，頻率率的選擇不不僅與母材材厚度有關(guān)關(guān)，還與驗驗收級別，，檢測缺陷陷的方向（（橫向、縱縱向）等有有關(guān)。一般般檢測用底底頻率、為為提高分辨辨力選高頻頻率。）檢測頻率一一般為2MHz～5MHz。。5.1.4.4母材的檢測測對于C級檢檢測，斜探探頭掃查聲聲束通過的的母材區(qū)域域，應(yīng)先用用直探頭檢檢測，以便便檢測是否否有影響斜斜探頭檢測測結(jié)果的分分層或其他他種類缺陷陷存在。該該項檢測僅僅作記錄，，不屬于對對母材的驗驗收檢測。。母材檢測測的要點(diǎn)如如下：a）檢測測方法：接接觸式脈沖沖反射法，，采用頻率率2MHz～5MHz的直探探頭，晶片片直徑10mm～25mm。。b）檢測測靈敏度：：將無缺陷陷處第二次次底波調(diào)節(jié)節(jié)為熒光屏屏滿刻度的的100%。c）凡缺缺陷信號幅幅度超過熒熒光屏滿刻刻度20%的部位，，應(yīng)在工件件表面作出出標(biāo)記，并并予以記錄錄。母材檢測一般情況下下認(rèn)為制造造重要設(shè)備備的鋼板一一般都經(jīng)超超聲檢測合合格，通常常不存在鋼鋼板再驗收收問題。但但由于鋼板板是按格子子線檢測，，而且一些些小缺陷是是不計的，，因此，難難免在聲束束(包括斜斜探頭和直直探頭)經(jīng)經(jīng)過的母材材區(qū)域存在在一些小分分層缺陷。。這些小缺缺陷對容器器使用不構(gòu)構(gòu)成什么威威脅，但有可能影響響焊接接頭頭缺陷的檢檢測效果。從保證無無損檢測的的可靠性考考慮，有必必要預(yù)先對對聲束經(jīng)過過的區(qū)域進(jìn)進(jìn)行超聲檢檢測，以保保證對焊接接接頭缺陷陷的檢測效效果。因此此，JB/T4730．3——2005規(guī)定：采采用靈敏度度較高的C級檢測重重要承壓設(shè)設(shè)備時，應(yīng)應(yīng)將焊接接接頭的余高高磨平，同同時對焊縫縫兩側(cè)斜探探頭掃查經(jīng)經(jīng)過區(qū)域的的母材部位位增加直探探頭超聲掃掃查。05與94的技術(shù)內(nèi)內(nèi)容差異由于94版版的9．1．3．3規(guī)定：““斜探頭掃掃查聲束通通過的母材材區(qū)域，應(yīng)應(yīng)先用直探探頭檢測””，在實(shí)際際未得到執(zhí)執(zhí)行；所以以05只規(guī)規(guī)定：對于于C級檢測測，才需要要對母材區(qū)區(qū)域用直探探頭檢測。。母材檢測測的要點(diǎn)新新舊標(biāo)準(zhǔn)相相同。5.1.5距離離－波幅曲曲線的繪制制5.1.5.1距距離－波波幅曲線應(yīng)應(yīng)按所用探探頭和儀器器在試塊上上實(shí)測的數(shù)數(shù)據(jù)繪制而而成，該曲曲線族由評評定線、定定量線和判判廢線組成成。評定線線與定量線線之間（包包括評定線線）為I區(qū)區(qū)，定量線線與判廢線線之間（包包括定量線線）為Ⅱ區(qū)區(qū)，判廢線線及其以上上區(qū)域為ⅢⅢ區(qū)，如圖圖19所示示。如果距離－－波幅曲線線繪制在熒光屏上，，則在檢測范范圍內(nèi)不低低于熒光屏屏滿刻度的的20%。。（新增94版沒有有）在熒光屏上上繪制距離離—波幅曲曲線，應(yīng)特特別注意最最大檢測距距離處的曲曲線位置不不得過低。。全跨距檢檢測時，深深度為工件件厚度的2倍的孔的的反射波幅幅最好不低低于熒光屏屏滿刻度的的40％，，至少應(yīng)不不低于熒光光屏滿刻度度的20％％。距離——波幅曲線線位置低實(shí)實(shí)際上是降降低了掃查查靈敏度。。且波幅過過低，探頭頭掃查過程程中的回波波動態(tài)變化化不宜觀察察到，容易易導(dǎo)致缺陷陷漏檢。5.1.5.2距距離－波波幅曲線的的靈敏度選選擇a）壁厚厚為6mm～120mm的焊焊接接頭，，其距離－－波幅曲線線靈敏度按按表19的的規(guī)定。試塊型式板厚，mm評定線定量線判廢線CSK-ⅡA6～46φ2×40-18dBφ2×40-12dBφ2×40-4dB＞46～120φ2×40-14dBφ2×40-8dBφ2×40+2dBCSK-ⅢA8～15φ1×6-12dBφ1×6-6dBφ1×6+2dB＞15～46φ1×6-9dBφ1×6-3dBφ1×6+5dB＞46～120φ1×6-6dBφ1×6φ×6+10dBb）壁厚厚大于120mm至至400mm的焊接接接頭，其其距離－波波幅曲線靈靈敏度按表表20的規(guī)規(guī)定。試塊型式板厚，mm評定線定量線判廢線CSK-ⅣA＞120～400φd-16dBφd-10dBφd注：d為橫孔直徑，見表17。從上述兩表表中我們可可以開出CSK-ⅡⅡA、ⅣA與ⅢA試試塊采用的的基準(zhǔn)孔不不同，如ⅡⅡA、ⅣA用孔的長長度40mm，而ⅢⅢA為6mm,我們們把40的的稱為長橫橫孔，6mm的稱為為短橫孔。。關(guān)于長短短橫孔的問問題，一直直是無損檢檢測行業(yè)的的一件大事事。94標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)制定時時國家鍋爐爐局容器處處專門發(fā)函函要求8－－120mm要采用用短橫孔，，原因是避避免大量的的ⅢA報廢廢。國外標(biāo)準(zhǔn)如如美國ASME、日日本JIS等國家標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)采用長長橫孔。05標(biāo)準(zhǔn)也也經(jīng)過長期期考慮，由由于國內(nèi)大大量使用的的是短橫孔孔積累了大大量數(shù)據(jù)，，而長橫孔孔在中薄板板中檢測案案例相對比比較少，因因此作為一一種折中方方法，本標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)對6－－8mm，，采用長橫橫孔，8－－120mm采用短短橫孔，120－400mm采用長橫橫孔。為什么采用用長橫孔？？因為與國際際接軌，另另外其人工工缺陷是長長橫孔。長長橫孔具有有軸對稱特特點(diǎn)，近場場檢測反射射波幅比較較穩(wěn)定，有有線性缺陷陷特征，一一般能代表表工件內(nèi)部部有一定長長度的裂紋紋、未焊透透、未熔合合和條狀夾夾渣，且能能適用于各各種K值探探頭。因此此CSK——ⅡA、ⅣⅣA試塊塊采用長橫橫孔。94版壁厚厚下限為8，05版版為6，上上限94為為300，，05為400；05分為6～120、＞120～400兩段。。c）檢測測橫向缺陷陷時，應(yīng)將將各線靈敏敏度均提高高6dB。。d）檢測測面曲率半半徑R≤W2/4時，距距離－波幅幅曲線的繪繪制應(yīng)在與與檢測面曲曲率相同的的對比試塊塊上進(jìn)行。。e）工件件的表面耦耦合損失和和材質(zhì)衰減減應(yīng)與試塊塊相同，否否則應(yīng)按附附錄F（規(guī)規(guī)范性附錄錄）的規(guī)定定進(jìn)行傳輸輸損失補(bǔ)償償。在一跨跨距聲程內(nèi)內(nèi)最大傳輸輸損失差小小于或等于于2dB時時可不進(jìn)行行補(bǔ)償。f）掃查查靈敏度不不低于最大大聲程處的的評定線靈靈敏度。5.1.6檢測測方法5.1.6.1平平板對接接焊接接頭頭的超聲檢檢測a）為檢測測縱向缺陷陷，斜探頭頭應(yīng)垂直于于焊縫中心心線放置在在檢測面上上，作鋸齒齒型掃查，，見圖20。探頭前前后移動的的范圍應(yīng)保保證掃查到到全部焊接接接頭截面面，在保持持探頭垂直直焊縫作前前后移動的的同時，還還應(yīng)作10°～15°的左右右轉(zhuǎn)動。不不同檢測技技術(shù)等級對對縱向缺陷陷的檢測要要求見5.1.2。。b）不同檢檢測技術(shù)等等級對橫向向缺陷的檢檢測要求見見5.1.2。c）對電渣渣焊焊接接接頭還應(yīng)增增加與焊縫縫中心線成成45°的的斜向掃查查。（因為為電渣焊容容易出現(xiàn)““八”字裂裂紋）新增增94版沒沒有d）為觀察察缺陷動態(tài)態(tài)波形和區(qū)區(qū)分缺陷信信號或偽缺缺陷信號，，確定缺陷陷的位置、、方向和形形狀，可采采用前后、、左右、轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)角、環(huán)繞繞等四種探探頭基本掃掃查方式，，見圖21。斜探頭對接接焊接接頭頭掃查方式式、作用和和地點(diǎn)對接焊接接接頭的斜探探頭掃查方方式主要有有以下幾種種：鋸齒形形掃查、左左右與前后后掃查、轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)角掃查、、環(huán)繞掃查查、平行與與斜平行掃掃查等。1）鋸齒形形掃查：這這是檢測對對接焊接接接頭中有無無缺陷的一一種主要方方法，特別別需要注意意的是鋸齒齒形掃查時時，探頭應(yīng)應(yīng)作10°°～15°°的轉(zhuǎn)動，，否則不能能發(fā)現(xiàn)與對對接焊接接接頭走向成成一定角度度的缺陷。。此外每次次前進(jìn)的齒齒距d不得得超過探頭頭晶片直徑徑，以防掃掃查間距太太大，造成成漏檢。2）左右與與前后掃查查：當(dāng)用鋸鋸齒形發(fā)現(xiàn)現(xiàn)缺陷后，，可利用左左右掃查和和前后掃查查找到缺陷陷回波幅度度的最大值值。在此基基礎(chǔ)上，用用左右掃查查來確定該該缺陷沿對對接焊接接接頭方向的的長度；用用前后掃查查來確定缺缺陷的水平平距離和深深度。3）轉(zhuǎn)角掃掃查：主要要用來判斷斷缺陷的方方向。4）環(huán)繞掃掃查：主要要用來推斷斷缺陷的形形狀，比如如在環(huán)繞掃掃查時，回回波幅度變變化較小，，則可判斷斷為點(diǎn)狀缺缺陷。5）平行與與斜平行掃掃查：主要要用來檢測測對接焊接接接頭或熱熱影響區(qū)的的橫向缺陷陷。對于余余高磨平的的對接焊接接接頭可將將斜探頭直直接放在對對接焊接接接頭上作平平行移動；；對于有余余高的對接接焊接接頭頭可在對接接焊接接頭頭兩側(cè)邊緣緣，使斜探探頭與對接接焊接接頭頭軸線成一一夾角（10°～～45°））作平行與與斜平行掃掃查，但靈靈敏度應(yīng)適適當(dāng)提高，，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)規(guī)定為提高高6dB。。5.1.6.2曲曲面工件件（直徑小于或或等于500mm（（新增的定定義其余與與94版相相同））對接焊接接接頭的超超聲檢測a）檢測測面為曲面面時，可盡盡量按平板板對接焊接接接頭的檢檢測方法進(jìn)進(jìn)行檢測。。對于受幾幾何形狀限限制，無法法檢測的部部位應(yīng)予以以記錄。b）縱縫縫檢測時，，對比試塊塊的曲率半半徑與檢測測面曲率半半徑之差應(yīng)應(yīng)小于10%。1）根據(jù)工工件的曲率率和材料厚厚度選擇探探頭K值，，并考慮幾幾何臨界角角的限制，，確保聲束束能掃查到到整個焊接接接頭。2）探頭接接觸面修磨磨后，應(yīng)注注意探頭入入射點(diǎn)和K值的變化化，并用曲曲率試塊作作實(shí)際測定定。3）應(yīng)注意意熒光屏指指示的缺陷陷深度或水水平距離與與缺陷實(shí)際際的徑向埋埋藏深度或或水平距離離弧長的差差異，必要要時應(yīng)進(jìn)行行修正。c）環(huán)縫縫檢測時，，對比試塊塊的曲率半半徑應(yīng)為檢檢測面曲率率半徑的0.9倍～～1.5倍倍。5.1.6.3管管座角焊焊縫的檢測測管座角焊縫縫的結(jié)構(gòu)型型式有插入入式和安放放式兩種。。管座角焊縫縫中，危害害最大的缺缺陷是未熔熔合和裂紋紋等縱向缺缺陷（沿焊焊縫方向）），因此一一般以直探探頭檢測為為主。對于于直探頭檢檢測不到的的區(qū)域需另另加斜探頭頭檢測。a）一般般原則。在選擇檢測測面和探頭頭時應(yīng)考慮慮到各種類類型缺陷的的可能性，，并使聲束束盡可能垂垂直于該焊焊接接頭結(jié)結(jié)構(gòu)的主要要缺陷。b）檢測測方式。根據(jù)結(jié)構(gòu)形形式，管座座角焊縫的的檢測有如如下五種檢檢測方式，，可選擇其其中一種或或幾種方式式組合實(shí)施施檢測。檢檢測方式的的選擇應(yīng)由由合同雙方商商定，并應(yīng)考慮慮主要檢測測對象和幾幾何條件的的限制。1）在接管管內(nèi)壁采用用直探頭檢檢測，見圖圖22位置置1。2）在容器器內(nèi)壁采用用直探頭檢檢測，見圖圖23位置置1。在容容器內(nèi)壁采采用斜探頭頭檢測，見見圖22位位置4。（（新增）3）在接管管外壁采用用斜探頭檢檢測，見圖圖23位置置2。4）在接管管內(nèi)壁采用用斜探頭檢檢測，見圖圖22位置置3和圖23位置3。5）在容器器外壁采用用斜探頭檢檢測，見圖圖22位置置2。c）管座座角焊縫以以直探頭檢檢測為主，，必要時應(yīng)應(yīng)增加斜探探頭檢測的的內(nèi)容。探探頭頻率、、尺寸應(yīng)按按4(直探頭選擇擇的規(guī)定）和5.1.4（斜探頭選擇擇規(guī)定）的規(guī)定執(zhí)執(zhí)行，管座座角焊縫斜斜探頭的距距離－波幅幅曲線靈敏敏度按表19的規(guī)定定，直探頭頭的距離－－波幅曲線線靈敏度按按表21的的規(guī)定。距距離－波幅幅曲線的制制作詳見5.1.5.1。明確了直、、斜探頭檢檢測靈敏度度。94版版對此規(guī)定定不統(tǒng)一，，有誤。評定線定量線判廢線φ2mm平底孔φ3mm平底孔φ6mm平底孔表21管管座角焊焊縫直探頭頭距離－波波幅曲線的的靈敏度Φ2與Φ3之間差7dB,Φ3與Φ6之間差12dB5.1.6.4T型焊接接接頭的超超聲檢測（新增94版沒有主主要參考《臥式鍋爐爐T型接頭頭對接焊縫縫超聲波檢檢測規(guī)定》》進(jìn)行修改改制訂）T型焊縫由由翼板和腹腹板焊接而而成，坡口口開在腹板板上。a）適用用范圍本條適用于厚度為為6mm～50mm的鍋爐、壓力力容器全熔化焊T型焊接接頭的超超聲檢測。其他用用途的全熔化焊T型焊接接頭的超超聲檢測也可參照照本條的規(guī)定進(jìn)行行。b）基本原則在選擇檢測面和探探頭時應(yīng)考慮到檢檢測各類缺陷的可可能性，并使聲束束盡可能垂直于該該類焊接接頭結(jié)構(gòu)構(gòu)的主要缺陷。采用斜探頭檢測時時，探頭頻率為2.5-5MHz。在翼板外側(cè)檢檢測時，一般用K1探頭。在腹板板上檢測時，應(yīng)根根據(jù)板厚來選擇。。板厚較小時，為為了避免近場區(qū)檢檢測應(yīng)選用大K值值探頭。采用直探頭在翼板板檢測時，探頭頻頻率2.5MHz，探頭直徑不易易過大。一般腹板厚＜25mm,k=2.5;25~50,k=2.5或K=2;＞50,K=1或或K=1.5。c）檢測方式直探頭根據(jù)焊接接頭結(jié)構(gòu)構(gòu)形式，T型焊接接接頭的檢測有如如下三種檢測方式式，可選擇其中一一種或幾種方式組組合實(shí)施檢測。檢檢測方式選擇應(yīng)由由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢檢測對象和幾何條條件的限制。1)用斜探頭頭從翼板外側(cè)用直直射法進(jìn)行探測（檢測縱向缺陷和和橫向缺陷，缺點(diǎn)點(diǎn)是看不到焊縫，，檢測前先標(biāo)出焊焊縫位置），見圖24位置1、圖25位置1和圖26位置1。圖24T型焊焊接接頭（型式ⅠⅠ）圖25T型焊焊接接頭（型式ⅡⅡ）圖26T型焊焊接接頭（型式ⅢⅢ）2)用斜探頭頭在腹板一側(cè)用直直射法或一次反射射法進(jìn)行探測，見見圖24位置2和和位置4，圖25位置2和位置4、圖26位置2和位置4。(與焊縫檢測相同同）圖24T型焊焊接接頭（型式ⅠⅠ）圖25T型焊焊接接頭（型式ⅡⅡ）圖26T型焊焊接接頭（型式ⅢⅢ）3)用直探頭頭或雙晶直探頭在在翼板外側(cè)沿焊接接接頭探測(腹板與翼板未焊透透或翼板側(cè)焊縫下下層狀撕裂等缺陷陷），或者用斜探頭頭（推薦使用K1探頭）在翼板外外側(cè)沿焊接接頭探探測，見圖24位位置3、圖25位位置3和圖26位位置3。位置3包包括直探頭和斜探探頭兩種掃查。圖24T型焊焊接接頭（型式ⅠⅠ）圖25T型焊焊接接頭（型式ⅡⅡ）圖26T型焊焊接接頭（型式ⅢⅢ）d）斜探頭K值的確定用斜探頭在翼板外外側(cè)進(jìn)行探測時，，推薦使用K1探頭；用斜斜探頭在腹板一側(cè)側(cè)進(jìn)行探測時，探探頭K值根據(jù)腹板板厚度按表18進(jìn)進(jìn)行選擇（同焊縫K值選擇擇）。e）距離－波幅幅曲線靈敏度的確確定用斜探頭探測時，，距離－波幅曲線線靈敏度應(yīng)以腹板板厚度按表19確確定；用直探頭探探測時，距離－波波幅曲線靈敏度應(yīng)應(yīng)以翼板厚度按表表22確定。評定線定量線判廢線φ2mm平底孔φ3mm平底孔φ4mm平底孔表22T型焊焊接接頭直探頭距距離－波幅曲線的的靈敏度f）掃查方式直探頭和斜探頭的的掃查按5.1.6的有關(guān)規(guī)定進(jìn)進(jìn)行。g）對缺陷進(jìn)行行等級評定時，均均以腹板厚度為準(zhǔn)準(zhǔn)。5.1.7缺缺陷定量檢測5.1.7.1靈靈敏度應(yīng)調(diào)到到定量線靈敏度。（明確了定量線線靈敏度為基準(zhǔn)靈靈敏度）5.1.7.2對對所有反射波波幅達(dá)到或超過定定量線的缺陷(Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上上），均應(yīng)確定其位置、、最大反射波幅和和缺陷當(dāng)量。5.1.7.3缺缺陷位置測定定缺陷位置測定應(yīng)以以獲得缺陷最大反反射波的位置為準(zhǔn)準(zhǔn)。5.1.7.4缺缺陷最大反射射波幅的測定將探頭移至缺陷出出現(xiàn)最大反射波信信號的位置，測定定波幅大小，并確確定它在距離－波波幅曲線圖中區(qū)域域。5.1.7.5缺缺陷定量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反反射波幅確定缺陷陷當(dāng)量直徑φ或缺陷指示長度ΔΔL。a）缺陷當(dāng)量直直徑φ，用當(dāng)量平底孔直直徑表示，主要用用于直探頭檢測，，可采用公式計算算，距離－波幅曲曲線和試塊對比來來確定缺陷當(dāng)量尺尺寸。b）缺陷指示長長度ΔL的檢測采用以下方方法：1)當(dāng)缺陷反射射波只有一個高點(diǎn)點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或或Ⅱ區(qū)以上時，使使波幅降到熒光屏屏滿刻度的80%后，（新增）用6dB法測其指示長度。2)當(dāng)缺陷反射射波峰值起伏變化化，有多個高點(diǎn)，，且位于Ⅱ區(qū)或ⅡⅡ區(qū)以上時，使波波幅降到熒光屏滿滿刻度的80%后后，（新增）應(yīng)以端點(diǎn)6dB法法測其指示長度。。3)當(dāng)缺陷反射射波峰位于Ⅰ區(qū)，，如認(rèn)為有必要記記錄時，將探頭左左右移動，使波幅幅降到評定線，以以此測定缺陷指示示長度。6dB法、半波高高度法反射體尺寸【長度度、高度和（或））寬度】評定方法法，將探頭從獲得得最大回波幅度位位置移動至回波幅幅度降低至其一半半（下降6dB）），以此移動范圍圍評定反射體尺寸寸。20dB法：波波幅度降低至其1/10（下降降20dB）5.1.8缺缺陷評定（與94版基本相相同）5.1.8.1超超過評定線的的信號應(yīng)注意其是是否具有裂紋等危危害性缺陷特征，，如有懷疑時，應(yīng)應(yīng)采取改變探頭K值、增加檢測面、、觀察動態(tài)波型并并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特特征作判定，如對對波型不能判斷時時，應(yīng)輔以其他檢檢測方法作綜合判判定。（本標(biāo)準(zhǔn)主要評評定的是缺陷性質(zhì)質(zhì)，以確認(rèn)是否存存在危險性缺陷。。只有當(dāng)信號幅度度超過定量線時，，才對其長度、幅幅度和位置進(jìn)行評評定。）對缺陷類型的識別別JB/T4730-2005標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)對缺陷類型主主要分為點(diǎn)狀缺陷陷、線性缺陷、體體積狀缺陷、平面面狀缺陷和多重缺缺陷等五類。缺陷陷類型的概念在國國內(nèi)主要是由CVDA-84《壓壓力容器缺陷評定定規(guī)范》和GB/T19624-2004《在用用含缺陷壓力容器器安全評定》提出出，是進(jìn)行斷裂力力學(xué)計算的基本依依據(jù)和主要參數(shù)。。為了滿足在用承承壓設(shè)備的檢驗和和斷裂力學(xué)計算的的最低要求，本標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)在附錄L中對對缺陷類型識別作作了詳盡的規(guī)定。。缺陷類型識別是通通過探頭從兩個方方向掃查（即前后后和左右掃查），，觀察其回波動態(tài)態(tài)波形來進(jìn)行的。。缺陷類型只用單單個探頭或單向掃掃查識別是不太可可能的，宜采用一一種以上聲束方向向作多種掃查，包包括前后、左右、、轉(zhuǎn)動和環(huán)繞掃查查，以此對各種超超聲信息進(jìn)行綜合合評定來識別缺陷陷?；夭▌討B(tài)波形反映映了超聲波束沿平平行或垂直焊縫掃掃查缺陷時，反射射信號高度和信號號形狀相對應(yīng)的變變化形態(tài)。本標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)規(guī)定和匯集了點(diǎn)點(diǎn)狀反射體的回波波動態(tài)波形、線性性缺陷的回波動態(tài)態(tài)波形、接近垂直直入射時光滑大平平面反射體和不規(guī)規(guī)則大反射體的回回波動態(tài)波形，傾傾斜入射時光滑大大平面反射體和不不規(guī)則大反射體的的回波動態(tài)波形以以及多重缺陷的回回波動態(tài)波形。也也考慮了曲表面對對點(diǎn)反射體和平面面型反射體對回波波動態(tài)特性的影響響。并將其作為缺缺陷尺寸和性質(zhì)確確定的一個重要依依據(jù)。缺陷性質(zhì)估判依據(jù)據(jù)1、工件結(jié)構(gòu)與與坡口形式；2、母材與焊材材；3、焊接方法和焊焊接工藝；4、缺陷幾何位置置；5、缺陷最大反射射回波高度；6、缺陷定向反射射特性；7、缺陷回波靜態(tài)態(tài)波形；8、缺陷回波動態(tài)態(tài)波形。缺陷性質(zhì)估判程序序a)反射波幅低低于評定線或按本本部分判斷為合格格的缺陷原則上不不予定性。b)對于超標(biāo)缺缺陷，首先應(yīng)進(jìn)行行缺陷類型識別，，對于可判斷為點(diǎn)點(diǎn)狀的缺陷一般不不予定性。c)對于判定為為線狀、體積狀、、面狀或多重的缺缺陷，應(yīng)進(jìn)一步測測定和參考缺陷平平面、深度位置、、缺陷高度、缺陷陷各向反射特性、、缺陷取向、缺陷陷波形、動態(tài)波形形、回波包絡(luò)線和和掃查方法等參數(shù)數(shù)，同時結(jié)合工件件結(jié)構(gòu)、坡口形式式、材料特性、焊焊接工藝和焊接方方法進(jìn)行綜合判斷斷，盡可能定出缺缺陷的實(shí)際性質(zhì)。。缺陷類型的識別和和性質(zhì)估判與缺陷陷定位、定量一般般應(yīng)同時進(jìn)行，也也可單獨(dú)進(jìn)行。缺陷類型識別的一一般方法宜采用一種或一種種以上聲束方向作作多種掃查，包括括前后、左右、轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)動和環(huán)繞掃查等等，通過對各種超超聲信息進(jìn)行綜合合評定來進(jìn)行缺陷陷類型識別。一、點(diǎn)狀缺陷陷1、概述點(diǎn)狀缺陷是指氣孔孔和小夾渣等小缺缺陷，大多屬體積積性缺陷。2、點(diǎn)狀缺陷陷回波特征回波幅度較小，探探頭左右、前后掃掃查時均顯示動態(tài)態(tài)波形Ⅰ，轉(zhuǎn)動掃掃查時情況相同。。對缺陷作環(huán)繞掃掃查時，從不同方方向、用不同聲束束角度探測，進(jìn)行行聲程差修正后，，回波高度基本相相同。波形模式Ⅰ如圖表示點(diǎn)反射體體產(chǎn)生的波形模式式Ⅰ，即在熒光屏屏上顯示出的一個個尖銳回波。當(dāng)探探頭前后、左右掃掃查時，其幅度平平滑地由零上升到到最大值，然后又又平滑地下降到零零，這是尺寸小于于分辨力極限（即即缺陷尺寸小于超超聲探頭在缺陷位位置處聲束直徑））缺陷的信號特征征。圖1點(diǎn)反射體體的回波動態(tài)波形形二、線性缺陷1、概述有明顯的指示長度度，但不易測出其其斷面尺寸。線性性夾渣、線性未焊焊透或線性未熔合合均屬這類缺陷。。這類缺陷在長度度上也可能是間斷斷的，如鏈狀夾渣渣、斷續(xù)未焊透和和斷續(xù)未熔合等。。2、回波特征征探頭對準(zhǔn)這類缺陷陷前后掃查時一般般顯示波形Ⅰ的特特征，左右掃查則則顯示波形Ⅱ，或或者有點(diǎn)象波形ⅢⅢa。轉(zhuǎn)動和環(huán)繞繞掃查時，回波高高度在與缺陷平面面相垂直方向兩側(cè)側(cè)迅速降落。只要要信號不能明顯斷斷開較大距離，則則表明缺陷基本連連續(xù)。若缺陷斷面大致為為圓柱形，只要聲聲束垂直于缺陷的的縱軸，作聲軸距距離修正后，回波波高度變化較小。。若缺陷斷面為平面面狀，從不同方向向、用不同角度探探測時，回波高度度在與缺陷平面相相垂直方向有明顯顯降落。斷續(xù)的缺陷在長度度方向上波高包絡(luò)絡(luò)有明顯降落，應(yīng)應(yīng)在明顯斷開的位位置附近作轉(zhuǎn)動和和環(huán)繞掃查，如觀觀察到在垂直方向向附近波高迅速降降落，且無明顯的的二次回波，則證證明缺陷是斷續(xù)的的。波型模式Ⅱ探頭在各個不同的的位置檢測缺陷時時，熒光屏上均顯顯示一個尖銳回波波。探頭前后和左左右掃查時，一開開始波幅平滑地由由零上升到峰值，，探頭繼續(xù)移動時時，波幅基本不變變，或只在±4dB的范圍內(nèi)變化化，最后又平滑地地下降到零。如圖圖表示聲束接近垂垂直入射時，由光光滑的大平面反射射體所產(chǎn)生的波型型模式Ⅱ。圖2接近垂直直入射時光滑大平平面反射體的回波波動態(tài)波形波形模式Ⅲa探頭在各個不同的的位置檢測缺陷時時，熒光屏上均呈呈一個參差不齊的的回波。探頭移動動時，回波幅度顯顯示很不規(guī)則的起起伏態(tài)（±6dB）。如圖表示聲聲束接近垂直入射射，由不規(guī)則的大大反射體所產(chǎn)生的的波形Ⅲa。圖3接近垂垂直入射時不規(guī)則則大反射體的回波波動態(tài)波形三、體積狀缺陷1、概述這種缺陷有可測長長度和明顯斷面尺尺寸，如不規(guī)則或或球形的大夾渣。。2、回波特征征左右掃查一般顯示示動態(tài)波形Ⅱ或ⅢⅢa，前后掃查顯顯示波形Ⅲa或ⅢⅢb。轉(zhuǎn)動掃查時，若聲聲束垂直于缺陷縱縱軸，所顯示的波波形頗似波形Ⅲb，一般可觀察到到最高回波。環(huán)繞繞掃查時，在缺陷陷軸線的垂直方向向兩側(cè)，回波高度度有不規(guī)則的變化化。這種缺陷在方向變變動較大，或更換換多種聲束角度時時，仍能被探測到到，但回波高度有有不規(guī)則變化。波型模式Ⅲb探頭在各個不同的的位置檢測缺陷時時，熒光屏上顯示示脈沖包絡(luò)呈鐘形形的一系列連續(xù)信信號（有很多小波波峰）。探頭移動動時，每個小波峰峰也在脈沖包絡(luò)中中移動，波幅由零零逐漸升到最大值值，然后波幅又下下降到零，信號波波幅起伏較大（±±6dB）。如圖圖表示聲束傾斜入入射時，由不規(guī)則則大反射體所產(chǎn)生生的動態(tài)波形Ⅲb。圖4傾斜入射射時不規(guī)則大反射射體的回波動態(tài)波波形四、平面狀缺陷1、概述這種缺陷有長度和和明顯的自身高度度。表面既有光滑滑的，也有粗糙的的。如裂紋、面狀狀未熔合或面狀未未焊透等。2、回波特征征左右、前后掃查時時顯示回波動態(tài)波波形Ⅱ或Ⅲa、ⅢⅢb。對表面光滑的缺陷陷作轉(zhuǎn)動和環(huán)繞掃掃查時，在與缺陷陷平面相垂直方向向的兩側(cè)，回波高高度迅速降落。對對表面粗糙的缺陷陷作轉(zhuǎn)動掃查時，，顯示動態(tài)波形ⅢⅢb的特征，而作作環(huán)繞掃查時，在在與缺陷平面相垂垂直方向兩側(cè)回波波高度的變化均不不規(guī)則。由于缺陷相對于波波束的取向及其表表面粗糙度不同，，通?；夭ǚ茸冏兓艽?。五、多重缺陷1、概述這是一群相隔距離離很近的缺陷，用用超聲波無法單獨(dú)獨(dú)定位、定量。如如密集氣孔或再熱熱裂紋等。2、回波特征征作左右、前后掃查查時，由各個反射射體產(chǎn)生的回波在在時基線上出現(xiàn)位位置不同，次序也也不規(guī)則。每個單單獨(dú)的信號顯示波波形Ⅰ的特征。根根據(jù)回波的不規(guī)則則性，可將此類缺缺陷與有多個反射射面的裂紋區(qū)分開開來。通過轉(zhuǎn)動和環(huán)繞掃掃查，可大致了解解密集缺陷的性質(zhì)質(zhì)是球形還是平面面型點(diǎn)狀反射體。。從不同方向、用不不同角度測出的回回波高度的平均量量值，若反射有明明顯方向性，這就就表明是一群平面面型點(diǎn)狀反射體。。波形模式Ⅳ探頭在各個不同的的位置檢測缺陷時時，熒光屏上顯示示一群密集信號（（在熒光屏?xí)r基線線上有時可分辨，，有時無法分辨）），探頭移動時，，信號時起時伏。。如能分辨，則可可發(fā)現(xiàn)每個單獨(dú)信信號均顯示波形ⅠⅠ的特征。如圖表表示由密集形缺陷陷所產(chǎn)生的反射動動態(tài)波形Ⅳ?；夭▌討B(tài)波形的區(qū)區(qū)分如要分清波形Ⅰ和和Ⅱ，聲程距離較較大時就要特別仔仔細(xì)，因為平臺式式動態(tài)波形可能很很難發(fā)現(xiàn)，除非反反射體很大。當(dāng)距距離超過200mm時，應(yīng)對反射射體標(biāo)出衰減20dB的邊界點(diǎn)，，再將其間距和20dB聲束寬度度相比較，進(jìn)行區(qū)區(qū)分。另外，探頭在有曲曲率的表面掃查時時也要特別注意，，因為回波動態(tài)波波形有可能明顯改改變。圖6和圖7所示兩例即說明明此點(diǎn)。在圖6中中，點(diǎn)反射體所顯顯示的回波動態(tài)特特征與波形Ⅱ相似似，而不像波形ⅠⅠ。在圖7中，反反射體的反射特征征為波形Ⅲa，而而在平表面上則為為波形Ⅲb。圖6曲表面對點(diǎn)點(diǎn)反射體回波動態(tài)態(tài)特性的影響圖7曲表面對平平面狀反射體回波波動態(tài)特性的影響響5.1.8.2缺缺陷指示長度度小于10mm時時，按5mm計。。5.1.8.3相相鄰兩缺陷在在一直線上，其間間距小于其中較小小的缺陷長度時，，應(yīng)作為一條缺陷陷處理，以兩缺陷陷長度之和作為其其指示長度（間距距不計入缺陷長度度）。5.1.9質(zhì)質(zhì)量分級焊接接頭質(zhì)量分級級按表23的規(guī)定定進(jìn)行等級板厚T反射波幅(所在區(qū)域)單個缺陷指示長度L多個缺陷累計長度L′Ⅰ6～400Ⅰ非裂紋類缺陷6～120ⅡL＝T/3，最小為10，最大不超過30在任意9T焊縫長度范圍內(nèi)L′不超過T>120～400L＝T/3，最大不超過50Ⅱ6～120ⅡL＝2T/3，最小為12，最大不超過40在任意4.5T焊縫長度范圍內(nèi)L′不超過T>120～400最大不超過75Ⅲ6～400Ⅱ超過Ⅱ級者超過Ⅱ級者Ⅲ所有缺陷Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ裂紋等危害性缺陷注1：母材板厚不同時，取薄板側(cè)厚度值。注2：當(dāng)焊縫長度不足9T(Ⅰ級)或4.5T(Ⅱ級)時，可按比例折算。當(dāng)折算后的缺陷累計長度小于單個缺陷指示長度時，以單個缺陷指示長度為準(zhǔn)。表23焊接接接頭質(zhì)量分級94版Ⅱ區(qū)缺陷根根據(jù)指示長度評級級，Ⅲ區(qū)不評級；；現(xiàn)改為所有缺陷陷都進(jìn)行質(zhì)量分級級；增加“裂紋等等危險性缺陷”概概念。例1壁厚為60mm的鋼制壓力容容器對接焊縫進(jìn)行行超聲波檢測時，，發(fā)現(xiàn)兩條當(dāng)量分分別為φ1×6-5dB和φ1×6的非危害性缺缺陷在一條直線上上，長度分別為12mm和11mm，間距10mm，按JB/T4730.3-2005《承壓壓設(shè)備無損檢測》》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：該焊焊縫應(yīng)評為幾級？？解體思路：1、首首先判斷是否評定定線及評定線以上上，是否是危險性性缺陷，如果是直直接評為Ⅲ。本題題已知當(dāng)量根據(jù)表表19在評定線以以上并已知非危害害性缺陷，所以要要進(jìn)行評級。2、判斷缺陷信號號幅度是否Ⅱ區(qū)以以上，如果在Ⅲ區(qū)區(qū)直接評為Ⅲ級。。本題在Ⅱ區(qū)，一一個在Ⅱ區(qū)內(nèi)，一一個在定量線上。。3、在Ⅱ區(qū)先對缺缺陷圓整合并。1）缺陷指示長度度小于10mm時時，按5mm計。。本題兩缺陷都大大于10mm不用用圓整。2）相鄰兩缺陷在在一直線上，其間間距小于其中較小小的缺陷長度時，，應(yīng)作為一條缺陷陷處理，以兩缺陷陷長度之和作為其其指示長度（間距距不計入缺陷長度度）。本題最小缺缺陷長度11mm，間距10mm，間距10mm小于11mm。。所以將兩缺陷合合并為一條缺陷，，即單個缺陷的指指示長度為L=12＋11＝23mm4、評級Ⅰ級、L＝T/3=60/3=20mm；Ⅱ級、L=2T/3=40mm，所所以該焊縫應(yīng)評為為Ⅱ級。對接焊接接頭缺陷陷超聲定量檢測1)對接焊接接頭頭缺陷超聲定量檢檢測時，應(yīng)將檢測測靈敏度調(diào)到定量量線靈敏度（包括括斜探頭和直探頭頭兩種方式）;2)并對所有反射射波幅超過定量線線的缺陷均應(yīng)測定定其位置、最大反反射波幅和缺陷當(dāng)當(dāng)量。缺陷定量主要包括括兩個內(nèi)容，即確確定缺陷當(dāng)量直徑徑φ或缺陷指示長長度△L。（1）缺陷當(dāng)量直直徑φ實(shí)際上通常常指的是當(dāng)量平底底孔直徑。主要用用于直探頭檢測，，可采用公式計算算、距離—波幅曲曲線和試塊對比等等方法來確定。（2）缺陷指示長長度△L的概念既既適用于直探頭檢檢測，也適用于斜斜探頭檢測，其數(shù)數(shù)值的測定都統(tǒng)一一采用以下方法：：A）Ⅱ區(qū)及Ⅱ區(qū)以以上的缺陷，只有有一個高點(diǎn)時，6dB法測其指示示長度；B）有多個高點(diǎn)，，在Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以以上時，端點(diǎn)6dB法測其指示長長度；C）當(dāng)缺陷反射波波峰位于Ⅰ區(qū)，如如需要記錄，應(yīng)將將探頭左右移動，，使波幅降到評定定線，以此測定缺缺陷指示長度。多個缺陷累積指示示長度的等級評定定對于條狀缺陷來說說，薄壁和厚壁對對接焊接接頭對多多個缺陷累積指示示長度控制嚴(yán)格，，供需雙方都是可可以接受的，一般般不存在問題。爭爭議主要集中在點(diǎn)點(diǎn)狀缺陷上，有些些單位認(rèn)為這樣規(guī)規(guī)定對點(diǎn)狀缺陷要要求太嚴(yán)。關(guān)于這這個問題，標(biāo)準(zhǔn)修修訂時是這樣考慮慮的，由于較小的的點(diǎn)狀缺陷反射回回波較低，許多小小缺陷往往檢測不不到，檢出率不高高，而能夠檢出的的則主要是能夠提提供較大反射界面面或較大的缺陷。。鑒于這種情況，，為了保證不漏掉掉大缺陷，提高承承壓設(shè)備的安全，，對缺陷的累計指指示長度進(jìn)行控制制，不僅對薄壁對對接焊接接頭而且且對厚壁對接焊接接接頭也是適宜的的。在計算多個缺陷累累積指示長度時，，應(yīng)先將小缺陷長長度圓整為5mm后再相加。因因為對于長度小于聲束束寬度的缺陷，超超聲檢測時誤差比比較大，往往測得得的不是缺陷自身身的長度，而是探探頭的聲束寬度。在此情況下，圓圓整后的數(shù)字通常常更具有代表性，，也更準(zhǔn)確，因此此在計算多個缺陷陷累積指示長度時時，應(yīng)先將缺陷長長度圓整后再相加加，以此來作為多多個缺陷的累積指指示長度L`。對接焊接接頭進(jìn)行行超聲檢測時，一一直線上相鄰兩缺缺陷的等級評定對接焊接接頭進(jìn)行行超聲檢測的規(guī)定定和射線檢測的規(guī)規(guī)定原則上是一致致的。由于條狀類類缺陷一般呈細(xì)條條狀，端部曲率半半徑很小而且應(yīng)力力線密度比較大，，在往復(fù)或沖擊應(yīng)應(yīng)力載荷作用下，，往往會使兩條缺缺陷連起來形成一一條大缺陷，因此此，對這類缺陷嚴(yán)嚴(yán)格控制是比較合合理的。但同時考考慮到由于聲波成成一束向外傳播，，因此，在兩缺陷陷相距比較近時，，超聲檢測方法實(shí)實(shí)際上很難將缺陷陷分開，一般認(rèn)為為兩缺陷是連在一一起；而只有在缺缺陷相距比較大時時，才有可能將兩兩缺陷分出，并測測出間距，這時如如果在計算相鄰缺缺陷長度時，再將將間距加進(jìn)去，其其控制可能就太嚴(yán)嚴(yán)格了。因此，本本標(biāo)準(zhǔn)對超聲檢測測發(fā)現(xiàn)的相鄰缺陷陷的處理，不再沿沿用射線檢測的做做法，而是明確規(guī)規(guī)定：相鄰兩缺陷陷在一直線上時，，若其間距小于其其中較小的缺陷長長度時，應(yīng)作為一一條缺陷處理，以以兩缺陷長度之和和作為其指示長度度（不考慮間距））。5.2承壓設(shè)設(shè)備堆焊層超聲檢檢測和質(zhì)量分級5.2.1檢檢測范圍和一般要要求本條適用于承壓設(shè)設(shè)備用奧氏體不銹銹鋼、鎳合金等堆堆焊層內(nèi)缺陷，堆堆焊層與母材未接接合缺陷和堆焊層層層下母材再熱裂裂紋的超聲檢測以以及檢測結(jié)果的質(zhì)質(zhì)量分級。（與94版區(qū)別別在于增加鎳合金金等堆焊層和母材材再熱裂紋的超聲聲檢測）5.2.2檢檢測方法a）使用雙晶直探探頭和縱波雙晶斜斜探頭從堆焊層側(cè)側(cè)對堆焊層進(jìn)行超超聲檢測。b）用單直探頭和和縱波單斜探頭從從母材側(cè)對堆焊層層進(jìn)行超聲檢測。（05標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定定比較明確，94標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不明確確）不銹鋼堆焊層超聲聲檢測主要有以下下幾個特點(diǎn)：1、堆焊層一般采采用(309和347超低碳奧氏氏體不銹鋼（347主要是堆焊層層，309是過渡渡層），基板可采采用鍛件或鋼板，，材質(zhì)通常為2.25Cr-1Mo鋼，制造采用用帶極堆焊。由于于防腐、耐磨的需需要，堆焊層表面面一般不加工，增增加了探頭的耦合合困難。2、超聲檢測對象象主要為堆焊層內(nèi)內(nèi)缺陷、堆焊層層層下裂紋和堆焊層層與基板間未貼合合。3、由于不銹鋼堆堆焊層的使用狀況況千差萬別，既有有用于高溫、高壓壓和監(jiān)氫介質(zhì)的場場合，也有僅用于于只有防腐要求的的低壓容器上。所所以，本標(biāo)準(zhǔn)的檢檢驗項目不是固定定的，而是可以根根據(jù)設(shè)計要術(shù)，靈靈活掌握，可以全全部采用，也可以以只采用一項或兩兩項。4、超聲檢測所采采用的探頭為雙晶晶直探頭、雙晶斜斜探頭、單直探頭頭和縱波斜探頭。。探頭的選擇應(yīng)根根據(jù)檢驗項目來確確定。5.2.3探探頭(應(yīng)當(dāng)為縱波波探頭）5.2.3.1雙雙晶探頭（雙晶探頭具有聚焦焦性，因此它只能能在一定范圍內(nèi)進(jìn)進(jìn)行檢測，偏離這這個范圍靈敏度會會很快下降，所以以如果堆焊層較厚厚應(yīng)考慮使用2個個或2個以上焦點(diǎn)點(diǎn)深度不同的探頭頭以覆蓋整個檢測測區(qū)域。）a）雙晶探頭（直直、斜）兩聲束間間的夾角應(yīng)能滿足足有效聲場覆蓋全全部檢測區(qū)域，使使探頭對該區(qū)域具具有最大的檢測靈靈敏度。探頭總面面積不應(yīng)超過325mm2，頻率2.5MHz，為了達(dá)到所所需的分辨力，也也可采用其他頻率率。兩晶片間隔聲聲效果應(yīng)保證良好好。b）縱波雙晶斜探探頭的K=2.75（折射射角β＝70°），焦點(diǎn)深度應(yīng)位于堆堆焊層和母材的結(jié)結(jié)合部位。5.2.3.2單單直探頭探頭面積一般不應(yīng)應(yīng)超過625mm2，頻率為2MHz～5MHz。5.2.3.3縱波斜探頭探頭頻率為2MHz～5MHz，，K=1（折射角β＝45°）。（縱波K1新新增其他相同）94版標(biāo)準(zhǔn)制訂時時，對于不銹鋼堆堆焊層皮下裂紋的的超聲檢測內(nèi)容，，許多制造廠認(rèn)為為由堆焊層側(cè)進(jìn)行行檢測效果比較好好。也有些廠家覺覺得，由于不銹鋼鋼堆焊層為了防腐腐不打磨，表面耦耦合差，不能保證證質(zhì)量，認(rèn)為采用用復(fù)層側(cè)縱波斜探探頭檢測，效果顯顯著。因此本標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)規(guī)定了堆焊層側(cè)側(cè)雙斜探頭檢測和和復(fù)層側(cè)縱波斜探探頭檢測兩種檢測測方式作為互相補(bǔ)補(bǔ)充，以保證高溫溫臨氫設(shè)備的安全全。對堆焊層檢測時，，縱波雙晶斜探頭頭的焦點(diǎn)深度應(yīng)位位于堆焊層和母材材的結(jié)合部位縱波雙晶斜探頭主主要用于檢測堆焊焊層下再熱裂紋，，這種裂紋一般出出現(xiàn)在奧氏體不銹銹鋼堆焊層下的母母材中，裂紋方向向垂直于表面且垂垂直于堆焊方向，，裂紋長度小于10mm，深度為為堆焊層下1mm~2．5mm，，成群出現(xiàn)，相鄰鄰裂紋之間的間隔隔為2mm-10mm。而雙晶探探頭的特點(diǎn)是在焦焦點(diǎn)區(qū)域具有較高高的靈敏度和信噪噪比。因此，為了了有效地檢測堆焊焊層下再熱裂紋，，縱波雙晶斜探頭頭的焦點(diǎn)深度應(yīng)位位于堆焊層和母材材的結(jié)合部位。對比試塊制作要求求（5.2.4.1－.2-.3-.4)1、材料與被檢工工件材質(zhì)相同或聲聲學(xué)特性相近的材材料；2、堆焊層的制作作：要與被檢工件件堆焊層加工相同同的焊接工藝；3、試塊檢測：母母材、熔合面和堆堆焊層中均不得有有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量量直徑的缺陷存在在；4、表面要求：試塊堆堆焊層表面的狀態(tài)態(tài)應(yīng)和工件堆焊層層的表面狀態(tài)相同同；（新增）5、從堆焊層側(cè)測測量用試塊（T1、T3b)：母母材厚度T至少應(yīng)為堆焊層厚厚度的兩倍；6、從母材側(cè)測量用試試塊（T2、T3a)：母材厚度度T與被檢母材的厚度度差不得超過10%(94版規(guī)定定為25mm）。。如果工件厚度比較較大，T2型試塊塊的長度L應(yīng)能滿足檢測要求求一、從堆焊層側(cè)檢檢測1、探頭－雙晶直直探頭、縱波雙晶晶斜探頭2、試塊－T1－T3b檢檢測未接合圖27T1型試塊圖29T3型試塊二、從母材側(cè)檢測測1、探頭－單直探探頭、縱波斜探頭頭2、試塊－T2－T3a檢檢測未接合圖29T3型試塊圖28T2型試塊T1、T2或T3a)、b)從母材側(cè)檢測測試塊和從堆焊焊層檢測試塊的的區(qū)別就在于鉆鉆孔的面不同。。三、靈敏度調(diào)節(jié)節(jié)根據(jù)不同的工藝藝，采用不同的的探頭，在試塊塊相應(yīng)的檢測面面對規(guī)定的孔徑徑的平底孔進(jìn)行行測量。找出最最高反射波，調(diào)整衰減器使回回波幅度為滿刻刻度的80%，，以此作為基準(zhǔn)準(zhǔn)靈敏度。1）用T1、T2試塊可用兩兩種探頭A)斜探頭測φ1.5的孔孔。B)直探頭測φ3的孔。2）用T3試塊塊只能用一種探探頭直探頭測φ10的孔。。采用T2型試塊塊校準(zhǔn)雙晶直探探頭和采用T3型試塊校準(zhǔn)單單直探頭，基準(zhǔn)準(zhǔn)靈敏度調(diào)節(jié)由由φ2mm平底底孔改為φ3mm平底孔，其其余相同。5.2.6掃掃查方法5.2.6.1檢測應(yīng)從從母材或堆焊層層一側(cè)進(jìn)行。如如對檢測結(jié)果有有懷疑時，也可可從另一側(cè)進(jìn)行行補(bǔ)充檢測。5.2.6.2掃查靈敏敏度應(yīng)在基準(zhǔn)靈靈敏度基礎(chǔ)上提提高6dB。5.2.6.3采用雙晶晶斜探頭檢測時時應(yīng)在堆焊層表表面按90°方方向進(jìn)行兩次掃掃查；采用雙晶晶直探頭檢測時時應(yīng)垂直于堆焊焊方向進(jìn)行掃查查。進(jìn)行掃查時時，應(yīng)保證分隔隔壓電元件的隔隔聲層平行于堆堆焊方向。5.2.6.4缺陷當(dāng)量量尺寸應(yīng)采用6dB法確定。。5.2.7質(zhì)質(zhì)量分級堆焊層質(zhì)量分級級見表24。缺陷等級堆焊層內(nèi)缺陷堆焊層界面缺陷堆焊層未結(jié)合缺陷Ⅰ當(dāng)量小于φ1.5－2dB的缺陷(縱波雙晶斜探頭、縱波斜頭)；當(dāng)量小于φ3mm的缺陷(單直探頭、雙晶直探頭)當(dāng)量小于φ1.5－2dB的缺陷(縱波雙晶斜探頭、縱波斜探頭)缺陷直徑小于25mm的未結(jié)合區(qū)域Ⅱ當(dāng)量φ1.5－2dB至φ1.5+2dB的缺陷(縱波雙晶斜探頭、縱波斜探頭)；當(dāng)量φ3至φ4且長度30mm的缺陷(單直探頭、雙晶直探頭)當(dāng)量φ1.