美國杜邦kapton 耐電暈聚酰亞胺薄膜 技術(shù)參數(shù)

優(yōu)異的耐電暈性能圖一以卡普頓HN為標準，對比了卡普頓CR型薄膜的耐電暈性能。以電壓20千伏/毫米（500伏/密耳）、50赫茲交流電的條件下，卡普頓CR型薄膜的壽命時長超過100,000小時，即

小時在其他電壓條件下也可得出類似的結(jié)優(yōu)異的耐電暈性能圖一以卡普頓HN為標準，對比了卡普頓CR型薄膜的耐電暈性能。以電壓20千伏/毫米（500伏/密耳）、50赫茲交流電的條件下，卡普頓CR型薄膜的壽命時長超過100,000小時，即

小時在其他電壓條件下也可得出類似的結(jié)論。這項測試是由杜邦、瑞士ABB公司與西門子公司按照IEC343檢測標準分別單獨檢測的。圖一：卡普頓100CR與卡普頓100HN耐電暈性能對比圖，數(shù)據(jù)源于杜邦、瑞士ABB與西門子按照IEC343標準得出的檢測?？ㄆ疹D100CR電千伏毫/米壓卡普頓100HN

高性能聚酰亞胺薄膜卡普頓耐電暈CR型薄膜提高了電氣絕緣設(shè)計與安全水平

大幅提高操作安全性

杜邦卡普特聚酰亞胺CR型薄膜是專門為了應(yīng)對電暈的損害而研發(fā)的這種電暈在電壓達到一定程度時能產(chǎn)生電離并最終破壞絕緣材料和絕緣系統(tǒng)。11.5年，而卡普頓HN型產(chǎn)品的數(shù)值僅為200通過杜邦與跨國企業(yè)ABB的分公司瑞士ABB工業(yè)公司以及西門子公司（后兩者是世界上牽引電機領(lǐng)域的龍頭企業(yè)）的研制與檢測，卡普頓CR型薄膜的耐電暈壽命在20千伏/毫米（500伏/密耳）、50赫茲的條件下超過了100,000小時。同卡普頓標準薄膜相比，CR型產(chǎn)品同時具有雙倍的導(dǎo)熱性能，可達到0.385W/m·K。這些穩(wěn)定的指標提高了操作的安全性，同時也為牽引電機、變壓器、電旋轉(zhuǎn)機的研發(fā)開辟了的新的門徑。

表格一列出了卡普頓CR型薄膜的性能，表格二列出了卡普頓FCR的耐熱性能卡普特FCR經(jīng)切割后可以制成杜邦特氟隆FEP薄膜。顯而易見，新一代的絕緣材料保留了原有卡普頓產(chǎn)品出色的電氣、導(dǎo)熱、力學(xué)與物理方面的特性。

下降時間，小時（50赫茲）

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16ASTMD-257-7816

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表一16

16ASTMD-257-7816

16卡普頓100CR聚酰亞胺薄膜的特性，25微米（1密耳）檢測項目23°C(73°F)的數(shù)值檢測方法電氣方面耐電暈20千伏/毫米；50赫茲>100,000小時IEC-343絕緣強度千伏/毫米(伏/密耳)291(7,400)ASTMD-149-81電容率3.9ASTMD-150-81耗散因數(shù)0.003ASTMD-150-81體積電阻率歐姆·厘米2.3×10ASTMD-257-78表面電阻率歐姆/平方米3.6×10力學(xué)方面極限抗拉強度兆帕(磅/英寸)152(22,100)ASTMD-882-913%拉伸的屈服點兆帕(磅/英寸)66(9,500)ASTMD-882-91產(chǎn)生5%拉伸的壓力兆帕(磅/英寸)86(12,500)ASTMD-882-91斷裂伸長率%40ASTMD-882-91拉伸模量兆帕(磅/英寸)3.2(463,000)ASTMD-882-91傳導(dǎo)中撕裂強度牛頓（千克力）0.03(0.007)ASTMD-1922原始撕裂強度牛頓（千克力）11(2.5)ASTMD-1004-90密度克/立方厘米1.54ASTMD-1505-90屈服應(yīng)力平方/千克(平方英寸/磅)25.5(125)—導(dǎo)熱方面導(dǎo)熱系數(shù)W/m·K0.385特拉華州大學(xué)檢測法可燃性94V-0UL-94(杜邦檢測)熱收縮率%150°C(302°F)0.2ASTMD-5214-91400°C(752°F)0.6

表二卡普頓150FCR聚酰亞胺薄膜019的特性，37.5微米（1.5密耳）檢測項目23°C(73°F)的數(shù)值檢測方法電氣方面耐電暈20千伏/毫米；50赫茲>100,000小時IEC-343絕緣強度千伏/毫米(伏/密耳)173(4,400)ASTMD-149-81電容率2.9ASTMD-150-81耗散因數(shù)0.001ASTMD-150-81體積電阻率歐姆·厘米5.3×10ASTMD-257-78表面電阻率歐姆/平方米1.6×10ASTMD-257-78力學(xué)方面極限抗拉強度兆帕(磅/英寸)117(17,000)ASTMD-882-913%拉伸的屈服點兆帕(磅/英寸)48(7,000)ASTMD-882-91產(chǎn)生5%拉伸的壓力兆帕(磅/英寸)62(9,000)ASTMD-882-91斷裂伸長率%43ASTMD-882-91拉伸模量兆帕(磅/英寸)2.4(348,000)ASTMD-882-91傳導(dǎo)中撕裂強度牛頓（千克力）0.05(0.012)ASTMD-1922原始撕裂強度牛頓（千克力）5.3(1.2)ASTMD-1004-90

圖二卡普頓150FCR019與卡普頓FN019的耐電暈性能對比；數(shù)據(jù)源于杜邦按照IEC343標準的測試卡普頓150FCR電千伏毫/米下降時間，小時（50赫茲）壓卡普頓150FN

圖二卡普頓150FCR019與卡普頓FN019的耐電暈性能對比；數(shù)據(jù)源于杜邦按照IEC343標準的測試卡普頓150FCR電千伏毫/米下降時間，小時（50赫茲）壓卡普頓150FN屈服應(yīng)力平方/千克(平方英寸/磅)15.79(77.4)—剝離力牛頓/厘米(磅/英寸)特氟隆FEP與卡普頓CR7.7(4.4)杜邦測試特氟隆FEP與銅7.9(4.5)杜邦測試粘合膜1.2(0.7)杜邦測試

圖二以可制成特氟隆薄膜的卡普頓FN薄膜為標準，同可制成特氟隆FEP薄膜的熱封型卡普頓FCR薄膜比較耐電暈性能?？ㄆ疹DFCR薄膜的耐電暈性能如預(yù)期一樣優(yōu)于標準的性能。

用于磁線的優(yōu)異絕緣性能在研發(fā)過程中，瑞士絕緣工程公司通過一系列的磁線實驗對新一代的絕緣產(chǎn)品和標準卡普頓產(chǎn)品進行了對比。表格三對上述結(jié)果做出了總結(jié)。卡普頓FCR延續(xù)了卡普頓FN一致的優(yōu)異性能，在某些方面還優(yōu)于后者。

表三卡普頓150FCR019與卡普頓FN019的耐電暈性能對比Kapton?Kapton?Kapton?Kapton?檢測性能150FN019150FCR019150FN019150FCR019包裹層數(shù)1111重疊%50505353絕緣增強毫米0.150.150.210.21絕緣擊穿電壓；連續(xù)的IEC851-5,千伏最低值4.54.06.06.0平均值6.05.57.07.0彎曲實驗IEC851-32倍邊緣寬度千伏最低值4.54.05.05.0平均值5.55.06.06.02倍平面厚度千伏最低值4.54.05.05.0平均值5.55.06.06.0熱震后彎曲實驗(220°C[428°F]；30分鐘)IEC851-6,千伏

最低值4.54.05.04.5平均值5.55.06.05.5

*以上數(shù)據(jù)源于瑞士絕緣工程公司

圖三卡普頓?150FCR019與卡普頓?150FN019在射擊浴圖三卡普頓?150FCR019與卡普頓?150FN019在射擊浴（IEC251-3）檢測中耐擊穿電壓性能對比。磁線由西門子公司浸入在鉛珠后，在250°C(482°F)條件下老化。二者在20000小時的時長后仍保持良好性能。圖表數(shù)值也體現(xiàn)了兩種磁線的優(yōu)異結(jié)果。

卡普頓?150FCR019與卡普頓?150FN019千伏

老化時間（小時）西門子公司采用了瑞士絕緣工程公司提供的磁線，按照IEC251-3標準要求的射擊浴法，對卡普頓FCR薄膜與卡普頓FN薄膜的耐擊穿電壓性能進行了對比。磁線經(jīng)過250°C(482°F)老化后，放入鉛擊浴中并加電壓。圖三結(jié)果顯示，卡普頓FCR薄膜與卡普頓FN薄膜在2,000小時、250°C(482°F)溫度下仍保持了良好的耐擊穿電壓性能?？蓱?yīng)用的領(lǐng)域牽引電機的生產(chǎn)商正在試用卡普頓CR薄膜，瑞士ABB公司已經(jīng)在其Veridur?-Plus絕緣系統(tǒng)中采用了這一產(chǎn)