第六章技術(shù)要求

第六章技術(shù)要求一、貨物需求一覽表包號(hào)貨物名稱數(shù)量簡(jiǎn)要技術(shù)規(guī)格是否允許采購進(jìn)口產(chǎn)品采購預(yù)算1原子力顯微鏡1套本儀器能夠從微觀機(jī)理方面對(duì)頁巖儲(chǔ)層進(jìn)行深入的研究，為頁巖油開采提供一定的理論支持，是研究頁巖油儲(chǔ)層的有效手段之一。是200萬元二、主要技術(shù)指標(biāo)（需實(shí)現(xiàn)的功能或者目標(biāo)、需滿足的質(zhì)量、安全、技術(shù)規(guī)格、物理特性等）★儀器的功能及用途壓電力顯微鏡能夠在大氣環(huán)境下準(zhǔn)確地觀測(cè)壓電/鐵電材料表面微區(qū)（納米及微米尺度）三維形貌；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理特性進(jìn)行研究。包括表面組分區(qū)別、溫度、表面電勢(shì)、磁場(chǎng)力、靜電力、摩擦力和其他表面相互作用力的測(cè)量。2.儀器的配置及主要技術(shù)指標(biāo)1.工作環(huán)境1）電壓：220V,2000W2）濕度：15%到80%2.★儀器配置（需提供應(yīng)答承諾）1）高速控制器（含高速PC,4核CPU,2.3GHz主頻，4G內(nèi)存，500G硬盤，30英寸顯示器。）2）壓電力控制鎖相放大器3）壓電力顯微鏡主機(jī)4）大范圍掃描器（120微米以上掃描范圍）5）高分辨掃描器（10微米掃描范圍）6）探針支架一組（大氣環(huán)境實(shí)現(xiàn)形貌及物理特性測(cè)試要求）7）光學(xué)系統(tǒng),含彩色高分辯CCD系統(tǒng)8）導(dǎo)電原子力顯微鏡模塊9）定量納米力學(xué)性能測(cè)試配件包10）液體環(huán)境成像模式配件11）防震臺(tái)（原廠配套氣浮防震臺(tái)）12）溫度控制模塊。2.3.附件1）標(biāo)準(zhǔn)樣品（云母片，石墨片,光柵）2）工具1套2.4.耗材1）接觸模式探針（智能成像模式探針）50只TOC\o"1-5"\h\z2）輕敲模式探針 50只3）壓電力顯微鏡探針 50只4）導(dǎo)電接觸探針 30只2.5.配置功能列表1）智能掃描模式（ScanAsyst）自動(dòng)設(shè)定掃描，用戶只需要選擇掃描速度及掃描范圍，系統(tǒng)即可自動(dòng)調(diào)整反饋，無需尋找共振峰,無需調(diào)整反饋參數(shù)gain值。2）接觸模式（ContactMode）3）輕敲模式（TappingMode）4）抬高模式（LiftMode）5）★峰值力輕敲模式（PeakForceTapping）要求采用力曲線的峰值力作反饋，可精確控制針尖與樣品之間的相互作用力W50pN,減少針尖磨損與污染。6）相位成像（Phaseimaging）7）摩擦力顯微鏡（LFM）8）磁力顯微鏡（MFM）9）靜電力顯微鏡（EFM）10）表面電勢(shì)顯微鏡（KFM）11）壓電力顯微鏡模式（PFM）#液體環(huán)境成像模式2.6.主要性能指標(biāo)⑴掃描器★掃描器個(gè)數(shù)及掃描范圍：提供兩個(gè)獨(dú)立不同范圍的掃描器。大范圍掃描器：XY方向最大掃描范圍、120um,Z方向25um高分辯掃描器：XY方向最大掃描范圍WlOum,Z方向W2.5um#掃描器噪音RMSV0.3A（垂直方向），橫向分辨率：0.2nm（XY方向），可得到穩(wěn)定的云母及石墨原子像3）掃描方式：采用樣品掃描的高分辨掃描方式，掃描管驅(qū)動(dòng)樣品掃描，探針支架、探針及激光頭掃描過程中保持位置恒定。4）進(jìn)針方式:智能自動(dòng)進(jìn)針方式（采用馬達(dá)加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針模式，保護(hù)探針及樣品,可更容易的得到高分辯的測(cè)試要求）（2）PFM控制系統(tǒng)及功能1）高速控制器：控制器應(yīng)在每根軸上至少有三個(gè)的16位的數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC（共9個(gè)），用來控制掃描尺寸、掃描形狀和偏移量，掃描數(shù)字分辨率不依賴于掃描尺寸和偏移量。可通過熱振動(dòng)方式標(biāo)定探針微懸臂彈性常數(shù)，標(biāo)定范圍：22MHz2）壓電力控制鎖相放大器：頻率范圍至少為1mHz至102.4kHz,相位控制精度W0.01°,內(nèi)置綜合參考源，自動(dòng)增益、相位、存儲(chǔ)和抵消。3）大數(shù)據(jù)壓電力測(cè)試模式：在每一數(shù)據(jù)點(diǎn)上，PFM振幅和相位都會(huì)隨著施加于探針/樣品上的直流偏壓的變化而變化并被系統(tǒng)記錄。動(dòng)態(tài)范圍＞100dBo4）#溫度控制模塊：溫度范圍至少-35℃-250℃,控制精度0.1℃。采用樣品和針尖同時(shí)加熱技術(shù)，最大程度減少樣品和針尖之間的溫差，避免造成成像失真。5）最大成像解析度達(dá)到一條線大于15000點(diǎn)。6）#定量納米力學(xué)測(cè)試功能：可軟件實(shí)時(shí)調(diào)整峰值反饋力的大小，控制精度W50pN。測(cè)試高分辨圖像的同時(shí)，可以對(duì)納米力學(xué)性能（包括彈性模量、粘附力、能量損失、樣品變形量）進(jìn)行成像。（3）系統(tǒng)配套部分1）防震：提供防震裝置（需要防止低頻共振），可實(shí)現(xiàn)AFM云母原子像及高分辨率PFM數(shù)據(jù)測(cè)試要求。#光學(xué)系統(tǒng)：500萬像素CCD,1.5微米光學(xué)分辨率。至少200um-1200um視場(chǎng)區(qū)域。BNC開放信號(hào)接口，用戶可通過開放接口提取或控制系統(tǒng)，可與其他設(shè)備信號(hào)交換。4）圖像處理及分析軟件：要求提供無安裝次數(shù)限制的離線處理及分析軟件，軟件要求以后可免費(fèi)升級(jí)。a）圖像處理功能：圖像拉平，高斯濾波，高通濾波，低通濾波，圖像清潔，圖像反轉(zhuǎn)，傅立葉變換，兩幅圖像相減，圖像旋轉(zhuǎn)，圖像縮放等功能。b）圖像分析功能：橫截面分析，臺(tái)階高度檢測(cè)，PSD分析，顆粒尺寸分析，面積計(jì)算，體積計(jì)算，粗糙度分析，斜率測(cè)量，表面紋理測(cè)量，二維圖像顯示，三維圖像顯示等功能。3、★采購標(biāo)的需執(zhí)行的國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、地方標(biāo)準(zhǔn)或者其他標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范：投標(biāo)產(chǎn)品需要符合原產(chǎn)地相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，如CE、ISO等相關(guān)認(rèn)證。需提供在售全新儀器，不得為停產(chǎn)型號(hào)或翻新機(jī)。4、售后服務(wù)要求（應(yīng)包括采購標(biāo)的需滿足的服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)、期限、效率等要求）：投標(biāo)商應(yīng)對(duì)任何由于不當(dāng)包裝或防護(hù)措施不利而導(dǎo)致的商品損壞、損失、銹蝕、費(fèi)用增長(zhǎng)等后果負(fù)責(zé)。★4.2免費(fèi)保修期為L(zhǎng)年。保修期內(nèi)，任何由制造商選材和制造不當(dāng)引起的質(zhì)量問題，廠家負(fù)責(zé)免費(fèi)維修。保修期自驗(yàn)收簽字之日起計(jì)算。保修期滿前1個(gè)月內(nèi)賣方應(yīng)負(fù)責(zé)一次免費(fèi)全面檢查，并寫出正式報(bào)告，如發(fā)現(xiàn)潛在問題，應(yīng)負(fù)責(zé)排除。3維修響應(yīng)時(shí)間：賣方應(yīng)在24小時(shí)內(nèi)對(duì)用戶的服務(wù)要求做出響應(yīng)，一般問題在48小時(shí)內(nèi)解決，重大問題或其它無法立刻解決的問題應(yīng)在一周內(nèi)解決或提出明確的解決方案,否則賣方應(yīng)賠償相應(yīng)的損失。廠商需提供迅速優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)和技術(shù)支持。提供至少一年的免費(fèi)技術(shù)支持和培訓(xùn)服務(wù)；合同期外，需提供永久的保障性服務(wù)，以保障軟件的正常使用。到貨安裝調(diào)試完成后，有專業(yè)工程師現(xiàn)場(chǎng)提供一次系統(tǒng)的使用培訓(xùn)服務(wù)，直至采購人相關(guān)人員熟練掌握為止。5、采購標(biāo)的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：設(shè)備安裝、調(diào)試完成后，由采購人組織驗(yàn)收，驗(yàn)收合格后，采購人及中標(biāo)人雙方共同簽署驗(yàn)收文件。儀器到貨：儀器到貨前應(yīng)將安裝環(huán)境要求書面通知給用戶，并與用戶協(xié)商足夠準(zhǔn)備時(shí)間。到貨時(shí)需按用戶要求免費(fèi)將設(shè)備在雙方商定的時(shí)間運(yùn)到指定安裝位置，并由儀器安裝工程師當(dāng)場(chǎng)進(jìn)行開箱檢查。儀器安裝調(diào)試：儀器經(jīng)開箱檢查確認(rèn)一切