有源器件的選型

第一層有源器件的選型和印制板設(shè)計翟麗北京理工大學(xué)電動車輛工程技術(shù)中心

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在進行電磁兼容設(shè)計時，可根據(jù)所采取的措施在實現(xiàn)電磁兼容時的重要性，分層依次進行設(shè)計。第一層為有源器件的選型和印制板設(shè)計。第二層為接地設(shè)計。第三層為屏蔽設(shè)計。第四層為濾波設(shè)計和瞬態(tài)騷擾抑制.并且在每一層進行接地、屏蔽和濾波的綜合設(shè)計和軟件抗騷擾。這稱為“分層與綜合設(shè)計法〞。電磁兼容設(shè)計的方法產(chǎn)品EMC設(shè)計,需要在不同級別上實現(xiàn).包括:元器件,部件級,PCB級,模塊級,產(chǎn)品級,集成系統(tǒng)級.解決元器件,部件級,PCB級的EMC問題,終究比解決模塊級,產(chǎn)品級,集成系統(tǒng)級更容易,更有效,本錢更低.

在電子設(shè)備或系統(tǒng)的EMC設(shè)計中,關(guān)鍵是有源器件的正確選型和印制電路板(PCB)設(shè)計。

它是分層與綜合設(shè)計法的第一層。越接近EMI源和敏感源,實現(xiàn)EMC所需本錢就越低,效果越好.芯片是主要的EMI源和敏感源,深入了解這個機理,掌握芯片的封裝類型,偏置電壓和工藝技術(shù),準確選擇芯片,是EMC設(shè)計的首要步驟.

一、有源器件的敏感度特性與發(fā)射特性

1.電磁敏感度特性

模擬器件的靈敏度和帶寬是評價電磁敏感度特性最重要的參數(shù)，靈敏度越高，帶寬越大，抗擾度越差模擬器件:帶內(nèi)敏感度特性取決于靈敏度和帶寬;

帶外敏感度特性用帶外抑制特性表示.邏輯器件:帶內(nèi)敏感度特性取決于噪聲容限或噪聲抗擾度;噪聲容限即疊加在輸入信號上的噪聲最大允許值，

帶外敏感度特性用帶外抑制特性表示.噪聲抗擾度為：各種邏輯器件族單個門的典型特性集成電路電磁兼容試驗標準:

IEC61967集成電路電磁發(fā)射

IEC62132集成電路電磁抗擾度

IEC62132標準：集成電路電磁抗擾度

包括以下5局部：

1，

通用條件和定義；

2，輻射抗擾度測量方法--橫電磁波室法〔TEMCell〕；

3，傳導(dǎo)抗擾度測量方法--電流注入法〔BCI〕；

4，傳導(dǎo)抗擾度測量方法--直接鼓勵注入法〔DPI〕；

5，傳導(dǎo)抗擾度測量方法--WFC〔WorkbenchFaradayCage〕法。

2.電磁發(fā)射特性

電子噪聲主要來自設(shè)備內(nèi)部的元器件。

包括熱噪聲、散彈噪聲、1/f噪聲和天線噪聲等

邏輯器件的電磁騷擾發(fā)射包括傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾*傳導(dǎo)騷擾可通過電源線、信號線、接地線等金屬導(dǎo)線傳輸；*輻射騷擾可由器件輻射或通過充當天線的互連線進行輻射。

輻射發(fā)射與f2成正比,傳導(dǎo)發(fā)射與f成正比.但凡有騷擾電流經(jīng)過的導(dǎo)線都會產(chǎn)生輻射發(fā)射

邏輯器件是一種騷擾發(fā)射較強的最常見的寬帶騷擾源.器件翻轉(zhuǎn)時間tr越短，對應(yīng)邏輯脈沖所占頻譜越寬。

BW=1/tr實際輻射頻率范圍可能到達BW的十倍以上.在保證電路性能要求的前提下,應(yīng)盡量選用tr長,功耗低,集成度高的邏輯器件.二、△I噪聲電流和瞬態(tài)負載電流是傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾的初始源1.△I噪聲電流的產(chǎn)生和危害當數(shù)字集成電路在加電工作時，它內(nèi)部的門電路將會發(fā)生“0〞和“1〞的變換。在變換的過程中，該門電路中的晶體管將發(fā)生導(dǎo)通和截止狀態(tài)的轉(zhuǎn)換，會有電流從所接電源流入門電路，或從門電路流入地線，這個變化的電流就是△I噪聲的初始源，亦稱為△I噪聲電流。由于電源線和地線存在一定的引線電感，電流的變化將通過感阻抗引起尖峰電壓，并引發(fā)其電流電壓的波動，這個電源電壓的變化就是△I噪聲電壓，會引起誤操作.△I噪聲電壓和△I噪聲電流會產(chǎn)生電場和磁場,其最高頻率就是發(fā)射帶寬.所以,引線電感是產(chǎn)生傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾的根源。1、ΔI噪聲電流

在導(dǎo)通狀態(tài)和截止狀態(tài)轉(zhuǎn)換期間(tr期間),會有大的電流涌動從電源流入門電路,或由門電路流入地線.使電源線或地線上的電流發(fā)生瞬變,這個瞬變電流即ΔI噪聲電流。

設(shè)：△I=4mA，tr=2ns,L=500nH(p47)那么：13CS24LVcc噪聲電壓不僅引起了傳導(dǎo)和輻射發(fā)射，還造成電路的誤動作，要想減少噪聲電壓的幅度，需要減小地線電感。設(shè)驅(qū)動線對地電容與驅(qū)動門輸入電容之和為Cs，平時被充電，其值為電源電壓。門1由高電位翻轉(zhuǎn)為低電位時，放電電流即：當?shù)湫洼敵龇D(zhuǎn)電壓為3.5V，翻轉(zhuǎn)時間為3ns時，設(shè)單面板上驅(qū)動線長度為5cm，門電路共5個端口，每個端口輸入電容為5×10-12f/門，那么瞬態(tài)負載電流為：IL=〔5cm×0.3pF/cm+5×5pF/門〕×3.5V/3ns=30mA3.瞬態(tài)負載電流IL與△I噪聲電流的復(fù)合2.瞬態(tài)負載電流很高的開關(guān)速度和存在引線電感及驅(qū)動線對地電容，產(chǎn)生很高的瞬態(tài)電壓和電流，它們是傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾的初始源?？朔椒ǎ簻p小電感、電容、噪聲電流、翻轉(zhuǎn)電壓，增加dt；應(yīng)優(yōu)選多層板，盡可能減小引線電感；減小驅(qū)動線對地分布電容和驅(qū)動門輸入電容；正確選擇信號參數(shù)和脈沖參數(shù)；安裝去耦電容，是抑制噪聲電流的一種方法。三、去耦電容對△I噪聲電流的抑制作用

選擇安裝去耦電容可提供一個動態(tài)電流源,以補償邏輯器件工作時所產(chǎn)生的△I噪聲電流,防止造成電源電壓和地電位的波動。將去耦電容安裝在芯片封裝內(nèi)可以有效控制EMI并提高信號完整性。

電容可分為去耦電容、旁路電容和容納電容三類。去耦電容用來濾除高速器件在電源板上引起的騷擾電流，為器件提供一個局域化的直流，還能減低印制電路中的電流沖擊的峰值。旁路電容能消除印制板上的高頻輻射噪聲,又稱為整體去耦電容.一般為去耦電容量的10倍以上.容納電容那么配合去耦電容濾除△I噪聲。a)去耦電容的典型位置b)推薦的去耦電容的位置去耦電容的位置去耦電容抑制作用的破壞

當CMOS器件工作于較低速率時，△I噪聲電流的能量主要集中于較低頻率，CMOS器件工作速率提高以后，△I噪聲的能量也向高頻擴展。

當f>100MHz后,去耦電容的引線電感與去耦電容發(fā)生諧振,在高于諧振頻率的范圍等效為電感,極大地增大了電路中電源線地線系統(tǒng)的阻抗嚴重破壞了去耦電容對△I噪聲的抑制作用。因此,去耦電容的應(yīng)用存在局限性.

當f>100MHz后,應(yīng)采用電源完整性方法.四、掌握IC設(shè)計和封裝特性抑制EMIIC封裝也是產(chǎn)生電磁騷擾的原因之一.IC封裝包括芯片,內(nèi)部PCB以及焊盤.直接影響IC封裝的電容和電感.目前,BGA(球柵陣列封裝)具有最小的電容和電感.EMI可抑制到最小.隨著全球IC技術(shù)的開展,封裝已進步到CSP(ChipSizePackage),已做到裸芯片有多大,封裝就多大.

封裝是指安裝半導(dǎo)體集成電路芯片用的外殼,它不僅起著安放,固定,密封,保護芯片和增強電熱性能的作用,而且還是溝通芯片內(nèi)部世界與外部電路的橋梁--芯片上的接點用導(dǎo)線連接到封裝外殼的引腳上,這些引腳又通過印制板上的導(dǎo)線與其它器件建立連接.衡量一個芯片封裝技術(shù)先進與否的重要指標是芯片面積與封裝面積之比,這個比值越接近1越好.封裝技術(shù)已經(jīng)歷了好幾代的變遷:一,DIP(DualIn-linePackage)封裝:70年代流行的雙列直插封裝,其芯片面積/封裝面積=1:8.6,離1相差很遠,說明封裝效率很低.二,芯片載體封裝:80年代出現(xiàn)了芯片載體封裝,有陶瓷無引線芯片載體LCCC(LeadlessCeramicChipCarrier),塑料有引線芯片載體PLCC(PlasticLeadedChipCarrier),小尺寸封裝SOP(SmallOutlinePackage),塑料四邊引出扁平封裝PQFP(PlasticQuadFlatPackage).芯片面積/封裝面積=1:7.8

一〕、雙列直插封裝-DIP

(Dual

In-line

Package)

[特點]

常見封裝方法，可以插入插座中(易于測試)，也可永久焊接到印刷電路板的小孔上。70年代流行，有多層或單層陶瓷材料。芯片面積與封裝面積的比值較小。

[圖示]

[其他]

SDIP

(Shrink

DIP)

緊縮式雙列直插封裝，比常規(guī)DIP針腳密度高

PDIP

(Plastics

DIP)

塑料雙列直插封裝,兩管腳間距比常規(guī)小，俗稱廋型DIP二).芯片載體封裝為適應(yīng)SMT高密度的需要，集成電路的引線由兩側(cè)開展到四側(cè)，這種在封裝主體四側(cè)都有引線的形式稱為芯片載體,通常有塑料及陶瓷封裝兩大類。(1)塑料有引線封裝〔PlasticLeadedChipCarrier〕(簡稱:PLCC)引線形狀：J型引線間距：1.27mm引線數(shù)：18-84條(2)陶瓷無引線封裝〔LeadlessCeramicChipCarrier〕(簡稱:LCCC)它的特點是：無引線引出端是陶瓷外殼四側(cè)的鍍金凹槽(常被稱作：城堡式)，凹槽的中心距有1.0mm、1.27mm兩種。3.方型扁平封裝〔QuadFlatPackage〕它是專為小引線距〔又稱細間距〕外表安裝集成電路而研制的。引線形狀：帶有翼型引線的稱為QFP；帶有J型引線的稱為QFJ。引線間距：0.65mm、0.5mm、0.4mm、0.3mm、0.25mm。引線數(shù)范圍：80—500條。

三).BGA封裝90年代隨著集成技術(shù)的進步和深亞微米技術(shù)的使用,LSI,VLSI,ULSI相繼出現(xiàn),芯片集成度不斷提高,對封裝要求更加嚴格,I/O引腳數(shù)急劇增加,功耗也隨之增大.為滿足開展的需要,在原有封裝品種根底上,又增添了新的品種--球柵陣列封裝簡稱BGA(BallGridArrayPackage).成為CPU南北橋等VLSI芯片的高密度,高性能,多功能及高I/O引腳封裝的最正確選擇.芯片面積/封裝面積的比為1:4四).面向未來的新的封裝技術(shù)

BGA封裝比QFP先進更比PGA好但它的芯片面積/封裝面積的比值仍很低.1994年9月誕生了一種新的封裝形式命名為芯片尺寸封裝,簡稱CSP(ChipSizePackage或ChipScalePackage),芯片面積/封裝面積=1:1.1.也就是說,單個芯片有多大,封裝尺寸就有多大。4.球柵陣列封裝(BallGridArray)(簡稱:BGA)

集成電路的引線從封裝主體的四側(cè)又擴展到整個平面，有效地解決了QFP的引線間距縮小到極限的問題，被稱為新型的封裝技術(shù)。

5.裸芯片組裝隨著組裝密度和IC的集成度的不斷提高，為適應(yīng)這種趨勢，IC的裸芯片組裝形式應(yīng)運而生，并得到廣泛應(yīng)用。它是將大規(guī)模集成電路的芯片直接焊接在電路基板上，焊接方法有以下幾種。板載芯片(簡稱:COB)COB是將裸芯片直接粘在電路基板上，用引線鍵合到達芯片與SMB的連接，然后用灌封材料包封，這種形式主要用在消費類電子產(chǎn)品中。當前,電子產(chǎn)品正朝著便攜式、小型化、網(wǎng)絡(luò)化和多媒體化方向開展，單位體積信息的提高(高密度)和單位時間處理速度的提高(高速化)成為促進微電子封裝技術(shù)開展的重要因素。在小型化方面，規(guī)格尺寸從3216→2125→1608→1005開展，目前最新出現(xiàn)的是0603(長0.6mm，寬0.3mm)，體積縮小為原來的0.88%.。集成化的元件可使Si效率(芯片面積/基板面積)到達80%以上.微組裝技術(shù)是90年代以來在半導(dǎo)體集成電路技術(shù)、混合集成電路技術(shù)和外表組裝技術(shù)(SMT)的根底上,形成的高密度、高速度、高可靠的三維立體機構(gòu)的高級微電子組件技術(shù)。多芯片組件(MCM)就是當前微組裝技術(shù)的代表產(chǎn)品。它將多個集成電路芯片和其他片式元器件組裝在一塊高密度多層互連基板上，然后封裝