




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文檔簡介
TFT-LCD基礎知識培訓講座
1精選2021版課件第三章TFT-LCD制造技術第一節(jié)Array工藝第二節(jié)Cell工藝第三節(jié)Module工藝第四節(jié)清洗工藝2精選2021版課件總論:TFT-LCD的基本制造流程在玻璃基板上形成TFT電路、像素電極以及必要的引線和各種標記形成液晶盒,組建完整的光學系統(tǒng)組裝驅動電路和背光源,形成獨立的,標準外部接口的模塊3精選2021版課件
第一節(jié)Array工藝
1.1Sputter 1.2PECVD 1.3Photo 1.4Etch4精選2021版課件沉積清洗PR涂附曝光顯影刻蝕PR剝離檢查WetEtchDryEtchArray概論---Array工藝流程5精選2021版課件GlassGlassGateMetalDepositionGatePatterningSiNxDepositionia-SiDepositionn+a-SiDepositionActivePatterningDataMetalDepositionDataMetalPatterningn+a-SiEtchSiNxDepositionViaHolePatterningITODepositionPixelPatterningPixelDataPassivationSiNxn+a-Siia-SiGateinsulatorSiNxGateViaholeArray概論---5Mask工藝流程6精選2021版課件
1.1Sputter
1.1.1Plasma在Sputter中的應用
1.1.2Sputter設備的主要結構
1.1.3Sputter設備的真空系統(tǒng)1.1.4Sputter的測試標準及不良7精選2021版課件
Sputter和PECVD在Array的5Mask工藝中,共同承擔了各個Mask的第一步主要工序---成膜。
Sputter用于做金屬膜和ITO膜:Sputter概論S/DITOGateGLASSGATEMo)GLASSGATEITO8精選2021版課件
Plasma在電學上為通過放電而形成的陽離子和電子的集合。
Plasma就是所謂的第四種物質(zhì)狀態(tài),眾所周知,宇宙中99%都是Plasma狀態(tài),物質(zhì)中,Energy低的狀態(tài)為固態(tài),當接受Energy時,慢慢的變?yōu)橐后w,然后變成氣體,在氣體狀態(tài)下,接受更大的Energy形成陰陽離子總數(shù)相同并呈中性的Plasma狀態(tài)。固態(tài)液態(tài)氣態(tài)Plasma狀態(tài)轉化Entalpychange1.1.1Plasma在Sputter中的應用9精選2021版課件
Sputtering是通過RFPower或DCPower形成Plasma,具有高能量的GasIon撞擊Target表面,粒子從Target表面射出并貼附到基板表面的工程。1.1.1Plasma在Sputter中的應用10精選2021版課件我們使用的Sputter設備是利用相應的DCPower產(chǎn)生一個如左圖所示的Plasma區(qū),并相應的產(chǎn)生一個下圖所示的自建電場。對這個電場,我們使用的是陰極一側壓降比較大的區(qū)域作為Plasma的加速區(qū)域。1.1.1Plasma在Sputter中的應用11精選2021版課件在真空室內(nèi)通入一定壓力的ArGas,根據(jù)已設定好的電場,在電場的作用下,電子被加速并使Ar原子ion化形成GlowDischarge。
Ion與Cathode(Target)碰撞生成TargetAtom、2次電子等產(chǎn)物,TargetAtom再沉積到基板上形成THINFILM,2次電子起到維持GlowDischarge的作用。在DCSputtering過程中通過適當調(diào)節(jié)真空室內(nèi)的氣體壓力(PressureControl)可得到理想條件下的最大濺射速率。如果ArGas的壓力過大會減小濺射速率,其原因是參與Sputter的原子的運動受到Gas運動阻礙的結果。相反壓力太低就不會形成Plasma輝光放電現(xiàn)象。1.1.1Plasma在Sputter中的應用12精選2021版課件1.1.2Sputter設備主要結構13精選2021版課件左圖所示就是Sputter設備的L/ULChamber,L/ULChamber是ATM與真空狀態(tài)的一個中介,在正常工作時,該Chamber一側一直處于真空狀態(tài),一側一直處于大氣壓狀態(tài),它的作用就是在這兩種狀態(tài)之間實現(xiàn)玻璃基板的傳送。在把Substrate從Cassette送入時,要從大氣壓變到真空狀態(tài),在把Substrate從T0送出時,要從真空變到大氣壓狀態(tài)。同時L/ULChamber起到把玻璃基板進行預熱和冷卻的作用。1.1.2Sputter設備主要結構14精選2021版課件L/ULChamber的主要構成:HeatPlate:玻璃基板從Cassette進入設備后,首先要在這里進行預熱,預熱使用的是64個紅外燈。CoolingPlate:玻璃基板成膜后的溫度比較高,不可以直接進入低溫的ATM環(huán)境中,所以要進行冷卻。Motor:有可以使HeatPlate升降和使CoolingPlate的Pin升降的Motor。DoorValve:和TransferChamber及ATM之間都有DoorValve來實現(xiàn)ATM和真空的轉換。1.1.2Sputter設備主要結構15精選2021版課件
TransferChamber用于在設備內(nèi)部各個Chamber之間傳送Substrate。它里面有一個兩層的機械手,可以在x軸﹑θ軸和Z軸三個方向上進行運動。其作用就是把L/ULChamber中預熱好的玻璃基板運送到SputterChamber并把SputterChamber中已經(jīng)完成的玻璃基板送到L/ULChamber中。1.1.2Sputter設備主要結構16精選2021版課件TransferChamber的主要構成:機械手:搬送玻璃基板在各個Chamber之間移動的兩層的機械手。玻璃基板有無傳感器:在各個Chamber的入口處,都有一對可以感知玻璃基板邊緣的傳感器,可以感知玻璃基板的有無以及是否發(fā)生破碎。DoorValve:與各個Chamber之間都有一個DoorValve。1.1.2Sputter設備主要結構17精選2021版課件SputterChamber是Substrate最后進行Process的Chamber。1.1.2Sputter設備主要結構18精選2021版課件SputterChamber的主要構成有:放玻璃基板的Platen(Gate有兩個)Cathode(Gate有兩個):包括Target、Mask、Shield、MagneticBar等構成部分。Motor:有Plate轉動的Motor、Plate升降的Motor、Cathode開關的Motor、MagneticBar運動的Motor等。DoorValve:與TransferChamber之間有DoorValve。1.1.2Sputter設備主要結構19精選2021版課件為了加快成膜的速度,在Target的后面使用MagneticBar,使等離子在該區(qū)域內(nèi)集中,從而加快成膜速度。G5使用的是連在一起的9個MagneticBar。1.1.2Sputter設備主要結構20精選2021版課件GlassTargetBackingPlate共同板MagneticBar
TM值對濺射的影響非常大,而隨著Target的使用,Target會變薄,從而使TM值變小,這就要求MagneticBar在Z方向有一個運動,使MagneticBar在Z軸的位置隨著Target的使用量而進行相應的調(diào)整,而且這個運動的規(guī)律也很重要,這些都可以在GPCS中的MagneticControlRecipe中可以實現(xiàn)。1.1.2Sputter設備主要結構21精選2021版課件Sputter設備的真空系統(tǒng)主要有以下構成部分:DryPump:是一種機械Pump,主要用于對Chamber及CryoPump抽初真空用,延長CryoPump的使用壽命。CryoPump:是一種低溫Pump,靠液氦的氣化來產(chǎn)生低溫,工作時的溫度可達到20K以下,使氣體凝固,達到高真空。Compressor:把He轉化為液態(tài),提供給CryoPump使用,L/UL的兩個CP公用一個Compressor,其它每個CP一個。真空表:Sputter設備使用的真空表主要有四種,ATMSensor、PIG表、DG表、IG表,他們測量的真空度遞增。其它:各種閥門、管道等。1.1.3Sputter設備的真空系統(tǒng)22精選2021版課件S/Ddep后PI檢測1.1.4Sputter的測試標準及不良ITO沉積后particlesplash23精選2021版課件1.2PECVD
1.2.1PECVD在TFT-LCD生產(chǎn)中的作用
1.2.2PECVD工藝
1.2.3PECVD設備24精選2021版課件GlassGateSiNxa-Si:HSiNxS/DPVXOhmic多層膜(有源層)和PVX(保護層)1.2.1PECVD在TFT-LCD生產(chǎn)中的作用25精選2021版課件(一)CVD介紹1.CVD(ChemicalVaporDeposition)的定義一種利用化學反應方式,將反應物(氣體)生成固態(tài)的產(chǎn)物,并沉積在基片表面的薄膜沉積技術.如可生成:導體:W(鎢)等;半導體:Poly-Si(多晶硅),非晶硅等;絕緣體(介電材質(zhì)):SiO2,Si3N4等.
1.2.2PECVD工藝
PECVD(PlasmaEnhancedCVD)0.1~5.0Torr,200℃
~500℃
優(yōu)點是在低溫下可進行反應,成膜率高缺點是處理反應產(chǎn)物困難26精選2021版課件2.PECVD制膜的優(yōu)點及注意事項優(yōu)點:●均勻性和重復性好,可大面積成膜;●可在較低溫度下成膜;●臺階覆蓋優(yōu)良;●薄膜成分和厚度易于控制;●適用范圍廣,設備簡單,易于產(chǎn)業(yè)化;注意事項:●要求有較高的本底真空;●防止交叉污染;●原料氣體具有腐蝕性、可燃性、爆炸性、易燃性和毒性,應采取必要的防護措施。1.2.2PECVD工藝27精選2021版課件
RFPower:提供能量真空度(與壓力相關)
氣體的種類和混合比溫度
Plasma的密度(通過Spacing來調(diào)節(jié))3.PECVD主要工藝參數(shù)1.2.2PECVD工藝28精選2021版課件Layer名稱膜厚使用氣體描述Multig-SiNx:H3500±10%?SiH4+NH3+N2對Gate信號線進行保護和絕緣的作用g-SiNx:L500±10%?a-Si:L500±15%?SiH4+H2在TFT器件中起到開關作用a-Si:H1300±20%?n+a-Si500±20%?SiH4+PH3+H2減小a-Si層與S/D信號線的電阻PVXp-SiNx2500±10%?SiH4+NH3+N2對S/D信號線進行保護(二)PECVD所做各層膜概要1.2.2PECVD工藝29精選2021版課件2.幾種膜的性能要求(1)a-Si:H
低隙態(tài)密度、深能級雜質(zhì)少、高遷移率、暗態(tài)電阻率高(2)SiNxi.作為介質(zhì)層和絕緣層,介電常數(shù)適中,耐壓能力強,電阻率 高,固定電荷少,穩(wěn)定性好,含富氮材料,針孔少,厚度均勻。
ii.作為鈍化層,密度較高,針孔少。(3)n+a-Si
具有較高的電導率,較低的電導激活能,較高的參雜效率,形成微晶薄膜。1.2.2PECVD工藝30精選2021版課件1.Dep前P/TDep前P/T的辨別主要根據(jù)P/T的周圍有無Discolor,區(qū)分為在Gate和
S/D線上(A)和在像素區(qū)上(B)Spec:<=30ea/glassDep前Dep后2.Dep后P/T
一般Dep后P/T在清洗之后會去除
Spec:<=100ea/glass1.2.2PECVD工藝(三)工藝不良在Multi和PVX工程中的產(chǎn)品不良主要是P/T,Thickness不均勻,Etch后的Remain等,對工藝不良的分析與解決是生產(chǎn)中關鍵的一環(huán).
31精選2021版課件3.Wall性P/TWall性P/T為沉積產(chǎn)物落在基板上,Wall性P/T經(jīng)常會引起DGS或I/O等不良
Spec:<=5ea/glassWall性P/TBubble4.BubbleSiH4的流量不穩(wěn)時或a-Si/N+進行Redep時,Bubble容易產(chǎn)生
Bubble會引起PixelDefect,Bubble發(fā)生時對Glass進行Scrap處理
1.2.2PECVD工藝32精選2021版課件1.2.3PECVD設備
PECVD設備主要由主設備和輔助設備構成,它是立體布局,主設備和輔助設備不在同一層.33精選2021版課件(一)ACLS
ACLS(AutomaticCassetteLoadStation)是主要放置Cassette的地方.1.2.3PECVD設備
3個CassetteStageLaminarFlowHood:
Class10LightCurtain(紅外線)
設備狀態(tài)指示器
Atm機器手:34精選2021版課件真空狀態(tài)的設備內(nèi)部與外面的大氣壓間進行轉換的Chamber,通過Cassette向LoadlockCh.傳送時,首先使用N2氣使其由真空轉變?yōu)榇髿鈮?傳送結束后,使用Dry泵使其由大氣壓轉變?yōu)檎婵?而且對沉積完成的熱的Glass進行冷卻,為減少P/T(Particle)的產(chǎn)生,在進行抽真空/Vent時使用Slow方式(二)LoadlockChamber1.2.3PECVD設備基礎真空:500mTorr以下兩個LoadlockCh.公用一個
Pump
升降臺:由導軌和絲杠構成,通過直流步進電機進行驅動35精選2021版課件(三)X-FerChamber1.2.3PECVD設備X-FerChamber又稱TransferChamber,主要起傳輸?shù)淖饔没A真空:500mTorr以下
Slit閥(共7個)
真空機器手(VacuumRobot):
為3軸(R,T,Z)
各Chamber前有判斷基板有/無的Sensor(共7個)
36精選2021版課件(四)HeatChamber在HeatCh.中對Glass進行Preheating處理后傳送到ProcessChamber
基礎真空:500mTorr以下溫度控制:最大可加熱到400℃
由8個Shelf構成,并通過各Shelf對溫度進行控制,Shelf上的電阻是通過印刷方式完成的,均勻性要比電阻絲方式好
Body為不銹鋼1.2.3PECVD設備37精選2021版課件(五)ProcessChamber1.2.3PECVD設備GASINPlasmaGASOUTGlass~RFPower13.56MHzSiH4,NH3PH3等4EAGNDDiffuserSusceptor~38精選2021版課件(六)MainFrameControlRack設備的控制器
Electrical&Signal的分配
MainframeACPower的分配提供DC(±5V,±12V,±15V,±24V)電源
X-Fer,Heat,Loadlock,ACLS的VME控制器
1.2.3PECVD設備39精選2021版課件GASGASGasCabinet(Bottle)2次RegulatorChamberMFCManualValveBDACGasPanel有毒/危險氣體無毒/危險氣體SiH4(Silane)N2PH3(Phosphine)CDANH3(Ammonia)HeNF3H2ToxicRoom中央供給1次Regulator
Gas的種類(七)氣體供應系統(tǒng)氣體供應示意圖1.2.3PECVD設備40精選2021版課件
在成膜過程中,不僅會沉積到Glass上而且會沉積到Chamber的內(nèi)壁,因此需對Chamber進行定期的Dry清洗,否則會對沉積進行污染
PECVDP/Chamber內(nèi)部清洗使用DryCleaning方式,把從外面形成的F-
通入Chamber內(nèi)并通過F與Chamber內(nèi)的Film物質(zhì)反應使其由固體變成氣體.(八)RPSC系統(tǒng)1.2.3PECVD設備41精選2021版課件
DryClean的原理
DryClean主要采用RemoteClean方式進行清洗NF3→FF+Si,SiNx,SiO2,..SiF4(↑)+OtherGases(↑)PumpingOut--1.2.3PECVD設備42精選2021版課件CHAMBERThrottleValveDryPumpScrubberTrapFilterExhaustLineConvectronManometerVacuumValve(九)真空系統(tǒng)
真空系統(tǒng)示意圖1.2.3PECVD設備讀取Chamber內(nèi)的真空值
.Convectron(100mTorr~760Torr).Manometer(1mTorr~10Torr)
為防止Powder堵塞在Foreline處使用
HeatJacket,在Exhaustline使用
Filter/Trap.
被排出的氣體在Scrubber處進行處理43精選2021版課件(十)Utility的供給PECVD設備中使用的各種Utility如下:
工作氣體
SiH4,PH3,NH3,NF3,H2,N2(ProcessN2:99.999%),Ar
壓縮空氣(氣缸&電磁閥中使用)
CDA
(CleanDryAir)≥100psi
一般Purge用
GN2(GeneralN2:99.99%)
冷卻水
PCW
(ProcessCoolingWater:Min2.8kg/?,50slm,18℃~25℃)
DI
(De_IonizedWater:18℃~38℃)
電源
208VAC,500A,5線(3相,Neutral,接地)1.2.3PECVD設備44精選2021版課件1.3Photo 1.3.1光刻概述
1.3.2TRACK設備
1.3.3ALIGNER(曝光機)45精選2021版課件1.什么是光刻?Coat&ExposureDevelopmentGlassTFTPanel光刻就是以光刻膠為材料在玻璃基板表面形成TFTpattern,這個TFTpattern的作用就是保護在它下面的金屬或者其他的薄膜,使其在下一道刻蝕工序中不被刻蝕掉,從而最終形成我們所需要的TFTpattern。1.3.1光刻概述46精選2021版課件(1)涂膠Coater:將光刻膠通過涂膠這個步驟,均勻的涂在玻璃基板上。2.如何實現(xiàn)?Coat三個主要步驟:他們是涂膠Coater,曝光Exposure,顯影Development此過程通過Track機的COAT&ER單元來實現(xiàn)。1.3.1光刻概述47精選2021版課件(2)曝光ExposureExposuremask通過Mask的遮光作用,有選擇性的將光刻膠感光。此過程通過曝光機來實現(xiàn)。1.3.1光刻概述48精選2021版課件(3)顯影DevelopmentDEV此過程通過Track機的DEV單元來實現(xiàn)。通過化學作用將感光的光刻膠溶解去掉,將未感光的光刻膠固化。1.3.1光刻概述49精選2021版課件光刻具體的流程圖1.3.1光刻概述50精選2021版課件(1)光刻工序在整個陣列工序中起著承上啟下的作用,它和其他兩個陣列工序一樣,光刻工序使用5MASK工藝處理玻璃基板,具體的說,就是將最終要在玻璃基板上形成的TFTpattern分成GATE,ACTIVE,S/D,VIA,ITO(2)5個層,每次曝光形成一個層,最后疊加形成最終的TFTpattern。
Photo
Etching
ThinfilmTFT陣列基板玻璃基板5mask3.光刻與整個陣列的關系1.3.1光刻概述51精選2021版課件在PHOTO工序,除了曝光機以外的設備通稱為TRACK機,包括---清洗設備:AdvancedScrubber;涂膠設備:Coater&ER;顯影設備:Developer;烘烤設備:前烘SoftBake、后烘HardBake設備;冷卻Cooling設備等。1.3.2TRACK設備52精選2021版課件
Coater1.3.2TRACK設備53精選2021版課件
ER--Edgeremove1.3.2TRACK設備54精選2021版課件Exposure&Development1.3.2TRACK設備55精選2021版課件在PHOTO工序,除了曝光機以外的設備通稱為TRACK機,包括---清洗設備:AdvancedScrubber;涂膠設備:Coater&ER;顯影設備:Developer;烘烤設備:前烘SoftBake、后烘HardBake設備;冷卻Cooling設備等。1.3.2TRACK設備56精選2021版課件UV部分作用:用于除去玻璃基板表面的有機物質(zhì)原理:通過紫外光(UV)照射使O2電離生成O3,進而將有機物氧化關鍵點:紫外光的強度,均勻度,燈與玻璃基板的距離。1.3.2TRACK設備57精選2021版課件A.SCR部分和DHP烘烤及烘烤后冷卻設備A.SCR:涂膠前對玻璃基板進行的清洗。清洗方法:
Brush:除去大的particle.MegaSonic:超聲波清洗,除去較小particle.LineShower:噴出高壓DIW除去較小particle.TMAH:化學清洗,除去表面氧化物。DHP:A.SCR后使用,除去玻璃基板上的水份.
StepCoolExtension:對加熱的玻璃進行冷卻處理.
StepCool:對加熱過的玻璃進行冷卻處理.1.3.2TRACK設備58精選2021版課件Coater&ER部分Coater原理:在玻璃基板上以旋轉的方式涂上光刻膠,然后在ER部分將玻璃基板周圍的PR膠去除,以免滴落污染設備,光刻膠是見光后性質(zhì)就發(fā)生改變的物質(zhì),曝光后再顯影便形成與MASK一樣的圖形(正性光刻膠)1.3.2TRACK設備59精選2021版課件SoftBake:CT&ER后使用,除去PR中的有機溶劑和水份。StepCoolExtension(NOTEMP.):此處為玻璃基板的接送處,兼起冷卻作用。SoftBake及冷卻部分1.3.2TRACK設備60精選2021版課件Develop顯影和HardBake及冷卻部分Develop原理:曝光后,被光照射過的PR膠性質(zhì)發(fā)生變化而溶于顯影液。此處就是將已經(jīng)曝光的光刻膠溶解掉,使PR形成據(jù)有TFT形狀的薄膜。HardBake:除去PR中的水份并硬化PR。StepCoolExtension:將玻璃基板溫度冷卻至室溫。1.3.2TRACK設備61精選2021版課件曝光機的基本工作原理:曝光機的全稱是MIRRORPROJETIONMASKALIGNER(鏡像投影MASK對位儀)他的作用是對涂好光刻膠的玻璃基板進行曝光,他所采用的方式就是利用光刻膠的光敏性將MASK上的圖像格式投影到玻璃基板上.1.3.3ALIGNER(曝光機)62精選2021版課件1.3.3ALIGNER(曝光機)曝光機的原理63精選2021版課件C/DBOXLAMPHOUSE空調(diào)控制臺MASK儲存箱MASK傳送道Mainbody導光系統(tǒng)曝光機按功能可以劃分為以下幾部分:1.空調(diào)系統(tǒng):負責保持整個曝光機內(nèi)部恒溫在22度左右。2.Console:控制臺,主要由一臺裝有
MPA5000控制軟件的工作站構成,它的作用是將人的指令程序輸入曝光機,并反饋機器運行狀況。3.Mainbody:集成maskstage和platestage,這里是進行曝光的地方。4.illuminationsystem:提供曝光光源,燈房,導光系統(tǒng),光轉換系統(tǒng)。5.Mask儲存箱:儲備常用mask,A-I9
個.I一般為中轉用。6.C/Dbox:集成了電源以及主機的機電控制電路。7.Maskchanger:更換mask。曝光機結構概述:1.3.3ALIGNER(曝光機)64精選2021版課件現(xiàn)在的曝光機的工作方式是,SCAN方式,這兩種曝光機的工作方式如下圖所示:SCAN:SCAN工作方式的基本原理就是:使玻璃基板和MASK在一個光束下同時移動,光束掃描過的部分就算完成了曝光。光學系統(tǒng)光maskplate同步移動scan1.3.3ALIGNER(曝光機)65精選2021版課件maskMSplatePS光源系統(tǒng)aligner功能示意(動畫)1.3.3ALIGNER(曝光機)66精選2021版課件曝光光帶PS搭載glass進行曝光動畫演示1.3.3ALIGNER(曝光機)67精選2021版課件1.3.3ALIGNER(曝光機)五代線曝光機MPA78005510(W)×6091(L)×3349(H)
Weight:26970kg
68精選2021版課件1.4Etch
1.4.1干法刻蝕概述
1.4.2干法刻蝕應用的工序
1.4.3濕法刻蝕概要
1.4.4濕法剝離概要
69精選2021版課件1.4.1干法刻蝕概述Dry
Etch?
利用真空氣體和RFPower生成的GasPlasma反應產(chǎn)生原子和原子團,該原子和原子團與淀積在基板上的物質(zhì)反應生成揮發(fā)性物質(zhì)。利用該原理可進行干法刻蝕。CDBiasProfileSelectivityUniformityEtchRate
RequirementItemsofDryEtch70精選2021版課件
PlasmaEtch
利用通過Plasma形成的ReactiveIon和Radical進行Etch。1.4.1干法刻蝕概述71精選2021版課件
ReactiveIonEtch
由Plasma形成的Ion在下部電極電場的作用下,與下部電極沖撞進行刻蝕反應。1.4.1干法刻蝕概述72精選2021版課件
ActiveEtch
形成TFTCHANNEL的ActiveLayer(包括n+a-Si,a-Si)的刻蝕工序。
GlassGateG-SiNx:H(3500?)a-Si:H(1300?)G-SiNx:L(500?)n+a-Si(500?)a-Si:L(500?)DepositionMaskEtchStrip1.4.2干法刻蝕應用的工序73精選2021版課件
N+Etch
在TFT-LCD中形成Channel的Active層的N+層(500A)、a-Si層的刻蝕過程。N+EtchDepositionMaskEtchStripGlassGatea-Si:HS/DMo/Al/Mo(900/1100/700?)G-SiNx:H(3500?)G-SiNx:L(500?)a-Si:L(500?)n+a-Si(500?)1.4.2干法刻蝕應用的工序74精選2021版課件
VIAHoleEtch
刻蝕象素電極(ITO)和TFT連接部分及PAD部分的Gate、S/D間絕緣層的工序。
PVXDepMaskStripEtchGlassGateG-SiNxS/DP-SiNx(2500?)n+a-Sia-SiViahole1.4.2干法刻蝕應用的工序75精選2021版課件
VIAHoleEtch干法刻蝕方式
VIAHoleEtchTarget刻蝕深度:6000A過刻蝕率:70%1.4.2干法刻蝕應用的工序76精選2021版課件①PRMask后,利用化學藥劑去除薄膜形成Pattern,主要適于金屬膜或ITOPATTERN的形成。②有利于選擇比和大面積刻蝕的均勻度,生產(chǎn)性的提高,成本的降低。濕法刻蝕?1.4.3濕法刻蝕概要77精選2021版課件GATEETCHS/DETCHITOETCH1.4.3濕法刻蝕概要濕法刻蝕各工序刻蝕后圖形78精選2021版課件Etch中的各向同性:在各個方向上具有相同的刻蝕速率.Features擴大。WetEtch及部分PlasmaEthc屬于各向同性。SubstrateOxideOxideResi
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