高壓開關設備X射線數(shù)字成像檢測應用導則

T/CECXXXXPAGEIIIT/CECXXXXPAGE22中國電力企業(yè)聯(lián)合會標準T/CEC中國電力企業(yè)聯(lián)合會標準T/CEC20XX—XX—XX實施20XX—XX—XX發(fā)布高壓開關設備X射線數(shù)字成像檢測應用導則ApplicationGuideforX-rayDigitalradiosocpicexaminationofHVSwitchgearEquipment（20XX—XX—XX實施20XX—XX—XX發(fā)布高壓開關設備X射線數(shù)字成像檢測應用導則ApplicationGuideforX-rayDigitalradiosocpicexaminationofHVSwitchgearEquipment（征求意見稿）T/CECXXXX發(fā)布中國電力企業(yè)聯(lián)合會協(xié)會發(fā)布中國電力企業(yè)聯(lián)合會協(xié)會T/CEEIAXXXPAGE21高壓開關設備X射線數(shù)字成像檢測應用導則1范圍本文件規(guī)定了72.5kV及以上高壓開關設備X射線數(shù)字成像的檢測人員、檢測環(huán)境、檢測裝置、安全要求、檢測方法、檢測圖像、缺陷分析方法、檢測記錄和報告等要求。本文件適用于額定電壓等級為72.5kV及以上高壓開關設備的X射線成像檢測。其他電力設備可參照執(zhí)行。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GBZ117-2015工業(yè)X射線探傷放射防護要求GB18871-2002電離輻射防護與輻射源安全基本標準GB/T12604.11-2015無損檢測術語X射線數(shù)字成像檢測GB/T23901.5-2019無損檢測射線照相檢測圖像質量第5部分：雙絲型像質計圖像不清晰度的測定NB/T47013.11-2015承壓設備無損檢測第11部分：X射線數(shù)字化成像檢測DL/T1785-2017電力設備X射線數(shù)字成像檢測技術導則DL/T1946-2018氣體絕緣金屬封閉開關設備X射線透視成像現(xiàn)場檢測技術導則Q/GDW1906-2013輸變電一次設備缺陷分類標準3術語與定義GB/T12604.11-2015、GB18871-2002、NB/T47013.11-2015和DL/T1785-2017界定的以及下列術語和定義適用于本文件。3.1數(shù)字探測器digitaldetector把X射線光子轉換成數(shù)字信號的電子裝置，以下簡稱為探測器。［NB/T47013.11-2015定義3.7］3.2X射線數(shù)字成像檢測X-raydigitalradiography采用數(shù)字探測器接收射線，輸出數(shù)字圖像并進行圖像處理的一種X射線成像方法。［GB/T12604.11-2015定義2.1］3.3IP板IPimagingplate一種涂有光致磷光晶體的柔性板，曝光后能以潛影形式儲存信息，可以代替膠片用于射線照相成像。［NB/T47013.14-2016定義3.1］3.4X射線計算機輔助成像系統(tǒng)CRX-raycomputedradiographysystemIP、專用激光掃描儀、計算機硬件和軟件等組成，能將IP上的信息轉換成數(shù)字圖像的系統(tǒng)，簡稱“CR系統(tǒng)”。［NB/T47013.14-2016定義3.2］3.5像素pixelX射線數(shù)字成像的基本單元。X射線數(shù)字圖像都是由點組成的，組成圖像的每一個點稱為像素。［NB/T47013.11-2015定義3.1］3.6圖像靈敏度imagesensitivity檢測系統(tǒng)所能發(fā)現(xiàn)的被檢工件圖像中最小細節(jié)的能力。［NB/T47013.11-2015定義3.2］3.7圖像分辨率imagerevolutionrate檢測系統(tǒng)所能分辨的被檢工件圖像中單位長度上兩個相鄰細節(jié)最小間距的能力，也稱為圖像空間分辨率，可以用圖像不清晰度值來表示。［GB/T12604.11-2015定義2.15］3.8灰度等級graylevel對X射線數(shù)字成像系統(tǒng)獲得的黑白圖像明暗程度的定量描述，它由系統(tǒng)A/D轉換器（模/數(shù)轉換器）的位數(shù)決定。A/D轉換器的位數(shù)越高，灰度等級越高。例如，A/D轉化器為14bit時，圖像的灰度等級為214=16384。［NB/T47013.11-2015定義3.8］3.9信噪比signalnoiseratio圖像感興趣區(qū)域的信號平均值與信號標準差之比。［NB/T47013.11-2015定義3.13］3.10數(shù)字圖像處理digitalimageprocessing提高X射線圖像的對比度、分辨率和細節(jié)識別能力的數(shù)字變換方法。［NB/T47013.11-2015定義3.17］3.11曝光量amountofexposure曝光時間和管電流的乘積，用mA·s或mA·min表示。［DL/T1785-2017定義3.14］3.12圖像不清晰度imageunsharpness一個明銳的邊界成像后的影像會變得模糊，模糊區(qū)域的寬度即為圖像不清晰度，單位是毫米（mm）。它是固有不清晰度、幾何不清晰度和運動不清晰度等因素的綜合作用結果。［GB/T12604.11-2015定義2.18］3.13固有不清晰度inherentunsharpness由系統(tǒng)的固有參數(shù)和特性決定的不清晰度。［GB/T12604.11-2015定義2.19］3.14幾何不清晰度geometricunsharpness透照工件時，由于X射線管焦點的幾何尺寸使工件表面輪廓或工件中缺陷的邊緣在檢測圖像上產(chǎn)生的半影寬度。［GB/T12604.11-2015定義2.20］3.15運動不清晰度movementunsharpness由于射線源、探測器和工件之間的相對運動而產(chǎn)生的不清晰度。［GB/T12604.11-2015定義2.21］3.16比釋動能kerma比釋動能定義為：式中：dEtr—不帶電電離粒子在質量為dm的某一物質內(nèi)釋出的全部帶電電粒子的初始動能的總和。比釋動能的SI單位是焦耳每千克（J·kg-1），稱為戈[瑞]（Gy）。［GB18871-2002附錄術語和定義J4.2］3.17空氣比釋動能率airkermarate單位時間內(nèi)對空氣作用的比釋動能，用μGy·h-1表示。［GB18871-2002附錄術語和定義J4.3］3.18雙絲型像質計duplexwire-typeimagequalityindicator由一系列成對高密度金屬絲組成，用于測定射線照相圖像的不清晰度和空間分辨率的像質計。［GB/T23901.5-2019術語和定義3.1］3.19本文件中使用的其它符號與說明見附錄A中的表A.1。4檢測人員4.1檢測人員應具備特種設備無損檢測射線RT-I級資質，且相關資質在有效期內(nèi)。4.2檢測人員應了解X射線數(shù)字成像檢測技術的基本原理和檢測程序，熟悉檢測系統(tǒng)的工作原理、技術參數(shù)和性能，掌握其操作程序和使用方法。4.3檢測人員應了解被檢測設備的結構特點、工作原理、運行狀況和導致設備故障的基本因素。5檢測環(huán)境5.1檢測場所和環(huán)境應滿足檢測工作實施的需要，能見度低于100m、6級及以上的大風或檢測環(huán)境溫度低于零下5℃時，工作人員應停止檢測作業(yè)。5.2若檢測場所和環(huán)境對檢測質量有影響時，應采取有效的控制措施，同時監(jiān)測和記錄環(huán)境條件；當環(huán)境條件嚴重影響到檢測結果時，應停止檢測。5.3應將非工作場所的相鄰區(qū)域進行有效隔離，采取措施防止相互干擾。如不能實現(xiàn)活動區(qū)域隔離，應停止檢測。5.4檢測場所和環(huán)境除應符合國家和地方有關環(huán)境衛(wèi)生和勞動保護的法規(guī)外，還應盡量避免對人體有較大影響或者可能干擾正常操作、觀察和判斷。6檢測裝置6.1裝置組成6.1.1X射線檢測裝置一般由X射線源、探測器、檢測工裝、圖像處理軟件和安全防護裝置組成。6.1.2X射線檢測裝置具有多種設備配置方案，以滿足不同結構形式高壓開關設備的檢測需要。6.2X射線源6.2.1X射線源應滿足以下要求：有效焦點不宜大于3mm×3mm，且與所采用的探測器相匹配；應具有一定的劑量穩(wěn)定性，避免檢測圖像出現(xiàn)明顯的干擾條紋或閃爍。6.2.2X射線源根據(jù)焦距和被檢部位的透照厚度和材質進行能量范圍選擇。具體選擇依據(jù)如下：X射線源宜選用便攜定向式高頻恒壓型X射線源；對超特高壓開關設備檢測時，可采用高穿透性的小型化電子加速器。6.3探測器6.3.1探測器系統(tǒng)應滿足以下基本要求：動態(tài)范圍不小于2000：1；A/D轉換位數(shù)不小于14bit；像素尺寸不大于0.2mm；面陣列探測器成像面積不小于300mm×300mm；按照具體探測器系統(tǒng)的規(guī)定對探測器進行校正。6.3.2檢測大厚度的高壓開關設備時，宜選用像素尺寸較小的高分辨率探測器，以提高圖像分辨率。6.3.3數(shù)字探測器宜具備遠程無線控制功能，以盡量減少檢測現(xiàn)場布線并提高數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定性，無線控制距離不低于輻射控制區(qū)最小距離。6.4檢測工裝6.4.1能承載X射線源、探測器等設備。6.4.2宜具備平移、旋轉、升降、速度連續(xù)可調(diào)等功能。6.4.3應運動平穩(wěn)、啟動/停止時無沖擊、卡頓現(xiàn)象，保障在檢測過程中不跌落、傾倒和發(fā)生碰撞。6.4.4對安全防護要求較高的帶電檢測，可采用計算機控制技術或工業(yè)機器人技術等自動化檢測裝置。6.5X射線圖像采集及處理系統(tǒng)6.5.1硬件系統(tǒng)X射線圖像采集及處理系統(tǒng)應與采用的X射線數(shù)字成像部件相匹配，并依其對性能和速度的要求確定基本配置。6.5.2軟件系統(tǒng)應滿足以下基本要求：具備系統(tǒng)校正、像素響應不一致性校正、參數(shù)設置、圖像存儲、對比度調(diào)整和正/負像轉換等功能；具備幾何尺寸測量、幾何校正、缺陷標注、圖像放大、圖像一鍵增強、輔助評定和檢測報告生成等功能；具備信噪比測量、圖像分辨率測量、疊加降噪、銳化降噪、灰度值變換和對比度增強等功能；具備采集圖像的瀏覽和查找功能；宜具備高壓開關設備部件專業(yè)圖像濾波、校準算法等功能；具備原始圖像數(shù)據(jù)的存儲功能，且采用任何圖像處理方法均不應改變原始圖像數(shù)據(jù)。7安全要求7.1輻射安全7.1.1現(xiàn)場檢測的射線防護應符合GB18871-2002和GBZ117-2015標準的要求。7.1.2現(xiàn)場進行X射線檢測時，應劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設置警告標志。檢測工作人員應佩戴輻射個人劑量計，并攜帶劑量報警儀，必須在安全范圍內(nèi)操作檢測設備。7.1.3檢測正前方和正后方應配備鉛屏風，現(xiàn)場檢測人員應配置鉛衣、鉛帽等防護裝置。7.1.4當檢測人員使用輻射劑量儀檢測輻射劑量小于安全值（15μSv/h）時，檢測人員可以不穿戴鉛衣、鉛帽等防護裝置。7.1.5將作業(yè)時被檢物體周圍的空氣比釋動能率大于15μSv/h的范圍內(nèi)劃為控制區(qū)，并在其邊界上應懸掛清晰可見的“禁止進入X射線區(qū)”警告牌，作業(yè)人員應在控制區(qū)邊界外操作，否則應采取專門的防護措施。7.1.6在控制區(qū)邊界外將作業(yè)時空氣比釋動能率大于2.5μSv/h的范圍劃為監(jiān)督區(qū)，并在其邊界上懸掛清晰可見的“輻射作業(yè)，無關人員禁止入內(nèi)”警告牌，必要時設專人警戒。在監(jiān)督區(qū)邊界附近不應有經(jīng)常停留的非作業(yè)人員。監(jiān)督區(qū)及控制區(qū)的劃定范圍見DL/T1946-2018附錄F。7.1.7在X射線源訓機時，機器的發(fā)射口應用專用鉛塞塞住，如條件許可，可同時用鉛服將X射線源蓋住。7.1.8在X射線源訓機開始至結束整個期間均應嚴密監(jiān)測X射線輻射劑量值，確保工作人員的安全。7.1.9檢測工作人員均應佩戴個人輻射劑量片，佩戴標準參加衛(wèi)生部門發(fā)布的《放射工作人員職業(yè)健康管理辦法》。7.1.10輻射劑量儀建議每12個月校準1次，個人輻射劑量片應每3個月監(jiān)測1次，并具備相應的檢定報告，在如下情況下應當對輻射安全裝置進行核查：在檢測裝置有改變時；正常使用條件下，每3個月應至少核查1次；在裝置停止使用超過1個月后重新使用時。7.2電力安全7.2.1X射線檢測工作可在停電或做好安全措施的帶電狀態(tài)下進行。7.2.2檢測工作應遵守電力安全工作規(guī)程的有關規(guī)定，當檢測條件符合作業(yè)安全要求時方可進行。7.2.3檢測裝置應能提供符合資質的第三方出具的測試證明文件。首次使用前應進行驗收，驗收合格后方可使用。7.2.4檢測過程中用電設備應注意接地。8檢測方法8.1透照布置方式的選擇透照布置時，X射線源和探測器應分別放置在高壓開關設備被檢部位的兩側。X射線源、被檢工件和X射線探測器三者之間相互位置如圖1所示。典型的X射線數(shù)字成像透照布置參見附錄B。X射線管焦點被檢工件X射線束電力設備X射線機X射線管焦點被檢工件X射線束電力設備X射線機X射線探測器F說明：F—焦距，mm；f1—X射線管焦點至被檢工件表面的距離，mm；f2—被檢工件表面至X射線探測器表面的距離，mm。圖1電力設備X射線數(shù)字成像檢測透照布置圖8.2透照方向的選擇8.2.1應優(yōu)先采用垂直投影方式，在垂直投影不能實現(xiàn)的情況可以采用傾斜透照。8.2.2當受到高壓開關設備結構或空間布置限制時，允許射線束中心與探測器區(qū)域中心傾斜不超過30°的角度。傾斜透照引起的圖像變形應不影響缺陷的識別。8.2.3當檢測區(qū)域需要兩幅以上的圖像才能覆蓋時，應采用兩次以上不同角度成像，為確保檢測區(qū)域的完整性，相鄰圖像之間應搭接，以利于缺陷的識別與判斷。8.3成像幾何參數(shù)的選擇8.3.1幾何不清晰度（Ug）控制按照檢測設備筒體的直徑區(qū)分，筒體直徑小于1000mm時，Ug不大于1mm，筒體直徑大于等于1000mm時，Ug不大于2mm。具體計算公式見DL/T1785-2017中7.14。8.3.2透照幾何參數(shù)的估算：高壓開關設備大部分部件進行X射線檢測時存在著放大比，可使用最佳放大比確定透照幾何參數(shù)，此時的幾何不清晰度最小。對于給定的檢測系統(tǒng)，最佳放大比計算公式見NB/T47013.11-2015中5.24。8.3.3檢測過程中，采用靜態(tài)成像模式時，應避免射線源和探測器的相對運動產(chǎn)生運動不清晰度。8.4透照參數(shù)的選擇8.4.1X射線能量的選擇為了實現(xiàn)材質類缺陷的檢出，減少X射線輻射，在保證穿透力的前提下，應選用盡可能低的管電壓。高壓開關設備材質主要為鋼、銅、銅合金、鋁及鋁合金。X射線穿透不同材料和不同厚度時，所允許使用的最高管電壓應按圖2規(guī)定選擇。對于截面厚度變化大的設備，如超特高壓GIS斷路器等，允許采用高于圖2所規(guī)定的X射線最高管電壓。說明：1—銅及銅合金；2—鋼；3—鋁及鋁合金。圖2不同透照厚度允許的X射線最高透照管電壓8.4.2曝光量的選擇8.4.2.1在滿足圖像質量和檢測效率要求的前提下，可選擇較低的曝光量。8.4.2.2實際檢測時，應按檢測速度和檢測質量的要求，來選擇合適的曝光量：平板探測器數(shù)字射線照相(DR)通過合理選擇采集幀數(shù)和管電流控制曝光量；計算機輔助射線照相(CR)通過合理選擇曝光時間和管電流來控制曝光量。8.4.3透照部位的選擇依據(jù)檢測需求對高壓開關設備X射線檢測進行透照部位的選擇，高壓開關設備常見X射線檢測部件詳見附錄C。9檢測圖像9.1圖像質量9.1.1一般要求9.1.1.1檢測圖像質量滿足下列要求時，方可進行圖像分析：缺陷檢測圖像應能區(qū)分被檢部位的物理結構，層次清晰；焊接接頭檢測圖像質量應符合NB/T47013.11–2015中6.11的規(guī)定。9.1.1.2測定圖像質量的雙絲型像質計識別方法檢測見NB/T47013.11-2015附錄C。9.1.2圖像灰度值范圍要求圖像有效評定區(qū)域內(nèi)的灰度值（GV）應按照技術等級控制，具體規(guī)定如下：AB級圖像的灰度值應控制在滿量程的20%-80%；B級圖像的灰度值應控制在滿量程的40%-80%；應通過測量圖像灰度直方圖的方法確定圖像灰度值分布范圍。9.1.3圖像分辨率要求9.1.3.1采用雙絲型像質計測定圖像分辨率，圖像分辨率不低于3Lp/mm。9.1.3.2雙絲型像質計應放置在被檢測金具靠近探測器側表面的1/4位置，金屬絲與圖形的行或列成較小的夾角（2°-5°），且細絲置于外側。9.1.3.3AB級技術的圖像質量應達到NB/T47013.11-2015表4中的圖像分辨率要求。9.1.3.4B級技術的圖像質量應達到NB/T47013.11-2015表5中的圖像分辨率要求。9.1.3.5下列情況下應核查檢測裝置分辨率，核查方法按NB/T47013.11-2015附錄A的規(guī)定執(zhí)行。檢測裝置有改變時；裝置停止使用1個月后重新使用時；正常使用條件下，每2個月應至少核查一次。9.2圖像拼接當被檢測設備大小超過探測器或IP板的最大成像面積時，宜通過多次成像后，圖像拼接的方式保證成像完整性：圖像拼接的拍攝方法參照本文件附錄D.1；圖像拼接的案例見本文件附錄D.2；圖像拼接的流程參照本文件附錄D.3。9.3圖像評定圖像質量滿足一般要求后，方可進行被檢測工件質量的評定?？蛇x擇人工評定或計算機軟件自動輔助評定：人工評定應在光線柔和的環(huán)境下觀察圖像；顯示器表面應清潔，無影響圖像觀察的斑痕、污漬，且顯示器應無明顯可見白點、黑點等缺陷。觀察時應無明顯的反射光線；人工評定可通過軟件工具對圖像進行線性拉伸來改變圖像顯示的灰度值范圍，達到人員的最佳識別效果，對缺陷進行評定；圖像有效評定區(qū)域內(nèi)不應存在干擾影像識別的偽像或遮擋物。9.4圖像管理9.4.1檢測圖像存儲格式宜按照DICONDE格式，并可轉換為通用圖像格式。9.4.2檢測圖像文件的描述中應包括站點名稱、部件編號、透照厚度、透照工藝參數(shù)等信息，應寫入圖像描述字段，并具備不可更改性和可讀性。9.4.3應在省電科院建立X射線檢測圖譜庫，圖像的保存期限不小于對應設備的全壽命周期。9.4.4檢測圖像對應的原始記錄和檢測報告應同期保存。10缺陷分析方法10.1缺陷測量在缺陷尺寸測量時，應結合實際檢測要求，根據(jù)已知設備構件尺寸，利用垂直照射的X射線數(shù)字圖像并且基于同一景深條件下進行缺陷尺寸標定和校準。影像的測量結構尺寸的計算見公式(1)。(1)Ni—由計算機測量標定用結構尺寸得到的像素個數(shù)。Ns－由計算機測量缺陷尺寸得到的像素個數(shù)。L－標定用結構的實際尺寸（mm）。S－待測量結構的尺寸(mm)10.2典型缺陷分級及處理意見 高壓開關設備缺陷類型多種多樣，主要分為材質類缺陷、裝配類缺陷及異物類缺陷三類。依據(jù)Q/GDW1906-2013的要求，將材質類缺陷、裝配類缺陷及異物類缺陷按照對高壓開關設備運行安全的影響程度，分為3個等級：危急缺陷、嚴重缺陷和一般缺陷。典型缺陷的分級和處理意見參見表2，其他未包括缺陷可參照執(zhí)行。各種典型缺陷X射線數(shù)字成像檢測圖譜見附錄E。表2典型缺陷分級及處理措施序號缺陷類型缺陷描述缺陷級別處理措施1材質類缺陷觸頭、觸指、屏蔽罩、導電桿等表面嚴重磨損、劃痕及異常燒蝕危急停電解體檢修2絕緣拉桿、絕緣盆子、絕緣子及導電桿存在裂紋危急停電解體檢修3罐體鑄體疏松或凹坑、焊縫存在裂紋嚴重結合停電補焊，出現(xiàn)漏氣或氣體組分異常時停電解體檢修吸附劑罩材質非金屬嚴重吸附劑罩松脫時，停電解體檢修4絕緣拉桿、絕緣盆子、絕緣操作軸等存在明顯氣隙、空穴嚴重局放嚴重時，停電解體檢修5導電桿、罐體內(nèi)壁表面尖端嚴重局放嚴重時，停電解體檢修6裝配類缺陷電流互感器二次線纜斷股危急停電解體檢修7屏蔽罩、吸附劑罩等零部件缺失危急停電解體檢修8拐臂、絕緣拉桿等內(nèi)部傳動連接件及其緊固件斷裂、松動的，墊片未壓緊危急停電解體檢修9導電桿插入深度不足危急停電解體檢修10斷路器、隔離開關、接地刀閘合閘不到位危急結合停電調(diào)整11斷路器、隔離開關、接地刀閘分閘不到位危急結合停電調(diào)整12動、靜觸頭不對中或觸指偏斜危急結合停電調(diào)整13均壓環(huán)表面劃傷痕跡一般局放嚴重時，停電解體檢修14異物類缺陷掉落的拐臂、絕緣拉桿等內(nèi)部傳動連接件及其緊固件危急停電解體檢修15罐體內(nèi)壁、絕緣件表面、導電銅桿表面存在異物嚴重存在局放時，停電解體檢修16粒子捕捉器、屏蔽罩等非傳動連接件的緊固螺栓脫落嚴重存在局放時，停電解體檢修17屏蔽罩內(nèi)部存在異物一般局放嚴重時，停電解體檢修18絕緣盆子臟污或表面殘留導電膏一般局放嚴重時，停電解體檢修10.3缺陷檢測周期10.3.1新設備投運滿一年，宜對550kV及以上GIS斷路器、隔離開關、母線等傳動連接部位、電聯(lián)接插接深度、觸指彈簧、觸頭等部位全部進行X射線檢測；126-252kVGIS設備上述部位抽取10%進行X射線檢測。10.3.2首次X射線檢測后，每3年宜對1100kVGIS斷路器、隔離開關、母線等的軸銷、緊固螺釘?shù)葌鲃舆B接部位、電聯(lián)接插接深度、觸指彈簧、觸頭、合閘電阻表面等進行復測；550kV及以下設備，宜每6年對同類部位進行檢測。11檢測記錄和報告11.1檢測記錄11.1.1檢測記錄宜包含以下內(nèi)容：——委托單位；——記錄編號；——檢測日期和地點；——依據(jù)的檢測標準、工藝規(guī)程名稱和編號；——被檢設備：站點名稱、運行編號、電壓等級、制造廠家、設備型號、檢測部位等?！獧z測設備和器材：射線源、探測器、像質計、工裝、軟件等；——檢測工藝參數(shù)：透照布置參數(shù)、射線能量參數(shù)、曝光量等；——檢測工藝示意圖；——原始檢測數(shù)據(jù)存儲；——圖像評定：圖像質量、缺陷性質、尺寸、位置、缺陷分級等；——檢測人員；——檢測記錄編制、審核人員及技術資格；——輻射劑量監(jiān)測。11.1.2檢測記錄應真實、準確、完善、有效，并經(jīng)相關責任人員簽字認可。11.1.3檢測記錄的存儲方式、保存期限應符合國家規(guī)定的檢測機構準則要求。11.2檢測報告11.2.1應根據(jù)檢測記錄出具檢測報告，宜包含以下內(nèi)容：——委托單位或制造單位；——報告編號；——檢測日期和地點；——檢測報告編制日期；——檢測技術要求：執(zhí)行標準、質量分級；——被檢設備：站點名稱、設備運行編號、制造廠家、設備型號、檢測部位等；——檢測設備和器材：射線源、探測器、像質計、工裝、軟件等；——檢測工藝：檢測技術等級、透照布置、射線參數(shù)、曝光量、軟件處理方式等；——檢測工藝示意圖；——圖像評定結果：缺陷性質、尺寸、位置、質量分級等；——檢測結果和檢測結論；——檢測報告的編制、審核和簽發(fā)人及技術資格；——檢測單位。11.2.2檢測報告的編制、簽發(fā)人員應具備相應的檢測資格證書。11.2.3檢測報告格式參考附錄F。（資料性）符號本文件使用的符號如表A.1所示。符號與說明符號說明d焦點尺寸，單位為mmF焦點到探測器成像面的距離，即焦距，單位為mmf1焦點到被檢物體表面的距離，單位為mmf2物體表面到探測器成像面的距離，單位為mmkV射線管電壓mA射線管電流mA.s曝光量GV圖像灰度值Lp/mm每毫米范圍內(nèi)可識別的線對數(shù)，圖像分辨率的表示單位Ug幾何不清晰度K比釋動能

（資料性）典型高壓開關設備部件透照方式高壓開關設備箱體透照方式高壓開關設備箱體透照時應避免箱體內(nèi)部部件在探測器上成像，宜選用傾斜透照法進行照射。通過調(diào)整X射線源與探測器的相對位置來消除箱體內(nèi)部部件的干擾，見圖B.1所示。說明：1——射源；2——探測器。高壓開關設備箱體傾斜透照法的透照布置對于小直徑（直徑Ф≤600mm）的高壓開關設備箱體，或內(nèi)部結構較為緊湊的設備箱體，在無法避開內(nèi)部部件時，可采用多張搭接透照方式進行照射。母線、斷路器及導電桿（觸頭）透照方式單相單箱單相單箱的母線、斷路器及導電桿的透照布置見圖B.2。單相單箱的隔離開關、接地開關、（動、靜觸頭）等部件可參考母線、斷路器導電桿的透照布置方式。X射線管焦點X射線管焦點F被檢元件殼體探測器單相單箱母線、斷路器及導電桿的透照布置三相共箱三相共筒高壓開關設備的母線、斷路器及導電桿的透照布置見圖B.3，隔離開關、接地開關（動、靜觸頭）可參考母線、斷路器導電桿的透照布置方式。X射線源及X射線探測器放置在位置1、位置2、位置3可分別透照斷路器的A、B、C三相。X射線探測器宜緊貼筒體外壁并盡量與X射線束方向保持垂直。當被檢部位出現(xiàn)影像重疊影響判斷時，可適當調(diào)整X射機位置及X射線探測器方向，以滿足檢測要求。三相共箱母線、斷路器及導電桿的透照布置射線源與平板探測器的布置位置應盡量做到使要拍攝的目標導電桿在探測器上的圖像不與其他導電桿或其它部件相重疊。盆式絕緣子透照方式單相單箱單相單箱盆式絕緣子的透照一般同時采用傾斜透照和垂直透照兩種方式，實現(xiàn)盆式絕緣子的完整檢測。傾斜透照時，射線束中心應垂直于盆式絕緣子盆面，以利于裂紋缺陷的檢出，見圖B.4所示。垂直透照方式見圖B.5。單相單箱盆式絕緣子傾斜透照方式單相單箱盆式絕緣子垂直透照方式說明：d——射線源焦點；F——焦距。單相單箱盆式絕緣子透照時，應以盆式絕緣子軸心線為中心旋轉一定角度成像，采用多張搭接透照方式進行照射。三相共箱A、B、C三相共箱的盆式絕緣子曲率較小或無曲率，也稱作盤式絕緣子。射線源與平板探測器的布置位置應盡量做到使要拍攝的目標導電桿在探測器上的圖像不與其他導電桿或其它部件相重疊，A、B、C三相導桿及底座影像應不相互重疊。三相共箱的盆式絕緣子應同時采用垂直透照和傾斜透照方式。傾斜透照時，射線束中心與盆式絕緣子平面夾角45°為宜，見圖B.6。垂直透照方式見圖B.7。三相共箱盆式絕緣子傾斜透照方式三相共箱盆式絕緣子垂直透照方式單三相共箱盆式絕緣子透照時，應以盆式絕緣子軸心線為中心多次旋轉成像，采用多張搭接透照方式進行照射，盡量實現(xiàn)盆式絕緣子的全檢。三工位開關透照方式三工位開關垂直透照三工位開關傾斜透照三工位開關屬于復雜的GIS組件，應采用多角度透照法。應同時采用垂直透照和射線與三工位開關成45°夾角的傾斜透照方式；射線源焦點靠近GIS殼體，位于兩個法蘭夾角的上方空缺位置。通過不同角度對三工位開關進行X射線檢測透照，并將檢測圖像多角度拼接，盡量實現(xiàn)對三工位開關的全檢。吸附劑罩透照方式吸附劑罩傾斜透照吸附劑罩垂直透照吸附劑罩水平透照對吸附劑罩進行檢測時必須放置3mm厚度的鋁或鐵質對比試塊，試塊位置不應與吸附劑罩相互重疊，采用低電壓、大電流和大焦距工藝，吸附劑罩射線透照方式依據(jù)吸附劑罩實際場景選擇圖B.10-12中的一種進行。支撐絕緣子透照方式支撐絕緣子支撐絕緣子刀閘操作機構干燥劑固定螺栓動觸頭導向桿靜觸頭支撐絕緣子透照支撐絕緣子檢測時應采用垂直透射，整體成像，管電壓不宜調(diào)節(jié)的過高，采用低電壓、大電流、大焦距成像工藝，以有利于絕緣子裂紋或內(nèi)部材質類缺陷的檢出。多角度成像檢測X射線檢測對超特高壓開關設備拍攝存在技術難點，如GIS殼體易被機構箱體遮擋、B相空間位置狹窄不便于放置檢測設備、組部件大小超過探測器或探測器面積等。針對此類特殊情況，拍攝現(xiàn)場可采取多角度成像的技術措施。如圖B.14所示，GIS設備內(nèi)部結構復雜，單一角度拍攝存在多部件重疊的問題，無法呈現(xiàn)出被檢測部件的完整狀態(tài)，通過對被檢測設備進行多角度X射線成像，可以避免特定角度二維成像方式下存在的影像重疊。多角度成像方法（資料性）高壓開關設備推薦檢測點高壓開關設備推薦檢測點表序號部件名稱推薦檢測點1隔離/接地開關分合閘位置、觸頭、觸指、絕緣拉桿2斷路器絕緣拉桿、合閘電阻（有無裂紋）、絕緣支撐筒、分合閘位置3吸附劑罩螺栓緊固狀況、吸附劑罩材質、吸附劑有無破損4絕緣支撐件嵌件與環(huán)氧澆注處、絕緣件凸面5Z型母線/主母線/伸縮節(jié)/VP支撐絕緣子、導電銅桿插接頭6電流互感器（CT）二次線箍（有無斷線）、短接接頭（有無松動）7罐體焊縫、罐體底部8避雷器頂部壓接彈簧、閥片、同軸度9套管瓷套管探傷、等電位連接緊固螺栓隔離開關檢測部位隔離開關的典型缺陷有分合閘不到位、觸頭歪斜、觸指松脫、抱箍彈簧斷裂、屏蔽罩破損、異物、傳動部件斷裂、緊固螺栓松動等。檢測時應盡量保證正投影。1絕緣拉桿2筒體3爆破片1絕緣拉桿2筒體3爆破片4動觸頭5靜觸頭6盆式絕緣子7傳動裝置8接地開關隔離開關檢測部位示意圖接地開關檢測部位接地開關的典型缺陷有分合閘不到位、觸頭歪斜、觸指松脫、抱箍彈簧松脫、屏蔽罩破損、異物、傳動部件斷裂、螺栓松脫等。檢測時應盡量保證正投影。接地開關檢測部位示意圖斷路器檢測部位斷路器的結構比較復雜，檢測的主要部件有動弧觸頭、導電主觸頭、靜觸指、噴口和壓氣缸等，典型缺陷有分合閘不到位、觸頭磨損、異常燒損、傳動連接件斷裂、支撐絕緣件氣隙或裂紋、內(nèi)部異物。a合閘位置 b分閘過程 a合閘位置 b分閘過程 c分閘位置1、弧觸頭 2、主導電觸頭 3、SF6氣體 4、動觸頭 5、壓氣缸斷路器檢測部位示意圖其他部位檢測位置對GIS電力設備的電流互感器、避雷器、套管等部位，應重點檢查易出現(xiàn)緊固螺栓松動、部件損傷、異物等缺陷的點位。1O形密封圈2電流互感器芯裝配1O形密封圈2電流互感器芯裝配3標牌4絕緣襯墊5二次接線盒裝配6板7電流互感器筒體焊裝8標牌電流互感器示意圖（資料性）圖像拼接多次成像當被檢測設備的大小超過探測器或探測器的最大成像面積，宜通過多次成像拼接的方式保證成像的完整性，如圖D.1。多次成像方法對部件進行分段透照，宜在分段透照后進行缺陷判定，或者將圖像拼接后進行缺陷判定。多次成像進行圖像拼接前后應滿足以下要求：——多次成像拍攝對象應為同一個部件；——拼接圖像應為連續(xù)有重復特征部位的圖像；——多次成像拍攝圖像質量應滿足本文件9.1要求；——拼接后圖像質量應滿足本文件9.1要求。圖像拼接流程將離散拍攝獲取的具有圖像交集的多張X射線圖像，通過重疊交集內(nèi)容自動拼接以獲得一張完整X射線圖像，通過如下拼接步驟實現(xiàn)：1、獲取多張存在圖像交集的X射線圖像，并按照相鄰關系順序編號，識別主圖像參數(shù)是否滿足拼接條件；2、將主圖像通過灰度值差異提取為單像素形成的包含多個特征點的特征數(shù)據(jù)，存儲為特征映射圖像；3、通過讀取主圖像的對應特征映射圖像，對圖像交集范圍內(nèi)的特征數(shù)據(jù)與任意相鄰拼接圖像的對應特征映射圖像進行特征數(shù)據(jù)匹配，直到所有圖像拼接完成，獲得拼接后的完整X射線圖像。圖像拼接流程拼接示意圖案例一透照示意圖圖像1部件X射線檢測圖像圖像2部件X射線檢測圖像圖像3部件X射線檢測圖像圖像4部件X射線檢測圖像圖像5部件X射線檢測圖像拼接圖像高壓開關設備推薦檢測點表序號部件名稱推薦檢測點1隔離/接地開關觸頭、觸指、絕緣拉桿、分合閘位置、傳動連接2斷路器絕緣拉桿、合閘電阻（有無裂紋）、絕緣支撐筒、分合閘位置3吸附劑罩緊固狀況、吸附劑罩材質、吸附劑有無破損4絕緣支撐件嵌件與環(huán)氧澆注處、絕緣件凸面5母線/伸縮節(jié)支撐絕緣子、導電銅桿插接頭6電流互感器（CT）二次線箍（有無斷線）、短接接頭（有無松動）7罐體焊縫、動部件罐體底部8避雷器頂部壓接彈簧、閥片、同軸度9套管瓷套管探傷、等電位連接緊固螺栓隔離開關檢測部位檢測時應盡量保證正投影。隔離開關的典型缺陷有分合閘不到位、觸頭歪斜、觸指松脫、彈簧松脫、屏蔽罩破損、異物、傳動部件斷裂、緊固螺栓松動等。檢測時應盡量保證正投影。1絕緣拉桿2筒體3爆破片1絕緣拉桿2筒體3爆破片4動觸頭5靜觸頭6盆式絕緣子7傳動裝置8接地開關隔離開關檢測部位示意圖接地開關檢測部位接地開關的典型缺陷有分合閘不到位、觸頭歪斜、觸指松脫、彈簧松脫、屏蔽罩破損、異物附著、傳動部件斷裂、螺栓松脫等。檢測時應盡量保證正投影。接地開關檢測部位示意圖斷路器檢測部位斷路器的結構比較復雜，檢測的主要部件有動弧觸頭、導電主觸頭、靜觸指、噴口和壓氣缸等，典型缺陷有分合閘不到位、觸頭磨損、異常燒損、傳動連接件斷裂、支撐絕緣件氣隙或裂紋、內(nèi)部異物。斷路器檢測部位示意圖a合閘位置；b分閘過程；c分閘位置1、弧觸頭；2、導電主觸頭；3、SF6氣體；4、靜弧觸頭； 5、壓氣缸。其他部位檢測位置GIS電力設備的電壓互感器、電流互感器、避雷器、套管等部位，也可能出現(xiàn)緊固螺栓松動、部件破裂、異物等缺陷。1O形密封圈2電流互感器芯裝配1O形密封圈2電流互感器芯裝配3標牌4絕緣襯墊5二次接線盒裝配6板7電流互感器筒體焊裝8標牌電流互感器示意圖

（資料性）典型缺陷的X射線數(shù)字成像檢測圖譜典型缺陷分類由于選型設計、制造安裝、運輸、長期運行等情況下高壓開關設備出現(xiàn)了各類缺陷，按照缺陷在X射線檢測下的特征，主要分為裝配類缺陷、材質類缺陷、內(nèi)部異物類缺陷。裝配缺陷圖譜GIS屏蔽罩松動現(xiàn)場檢測到GIS屏蔽罩松動如圖E.1所示，現(xiàn)場開罐后如圖E.2所示。屏蔽罩松動缺陷X射線檢測圖像屏蔽罩松動缺陷開罐實景圖GIS接地開關觸指偏斜現(xiàn)場檢測到接地開關靜觸頭觸指偏斜如圖E.3所示，正常相圖譜如圖E.4所示。觸指偏斜缺陷圖正常圖GIS斷路器合閘電阻開關分閘不到位現(xiàn)場檢測到GIS斷路器合閘電阻開關未分閘到位如圖E.5所示，現(xiàn)場開罐后如圖E.6所示。X射線檢測圖開罐解體圖GIS接地開關分閘不到位現(xiàn)場檢測到GIS接地開關分閘不到位如圖E.7所示，出現(xiàn)母線接地放電故障，現(xiàn)場開罐后如圖E.8所示。X射線檢測圖開罐解體圖GIS屏蔽罩內(nèi)未裝配吸附劑現(xiàn)場檢測到吸附劑罩內(nèi)未正確裝配吸附劑如圖E.9所示，其他氣室同部位正常X射線圖后如圖E.10所示。吸附劑缺失X射線圖吸附劑正確裝配X射線圖GIS斷路器導電桿安裝偏移現(xiàn)場檢測到GIS斷路器導電桿位置偏移，如圖E.11所示，其他氣室同部位正常X射線圖后如圖E.12所示。吸附劑罩缺失正常對比相GIS斷路器吸附劑罩缺失現(xiàn)場檢測到GIS斷路器吸附劑罩缺失，如圖E.13所示，其他氣室同部位正常X射線圖后如圖E.14所示。吸附劑罩缺失正常對比相GIS隔離開關合閘插入深度不足現(xiàn)場檢測到GIS隔離開關動觸頭合閘插入深度不滿足要求（應≥35mm），如圖E.15所示，其他氣室同部位正常X射線圖后如圖E.16所示。合閘不到位正常對比相GIS隔離開關分閘不到位現(xiàn)場檢測到GIS隔離開關動觸頭分閘不到位，動觸頭突出屏蔽罩6mm，不滿足要求（應≤4mm），如圖E.17所示，其他氣室同部位正常X射線影像如圖E.18所示。分閘不到位正常對比相異物類缺陷圖譜GIS隔離開關屏蔽罩內(nèi)部金屬異物現(xiàn)場檢測到GIS隔離開關屏蔽罩內(nèi)存在異物如圖E.18所示，開罐解體后發(fā)現(xiàn)裝配殘留異物如圖E.19所示。X射線檢測圖開罐解體圖特高壓GIS隔離開關導向軸承斷裂現(xiàn)場檢測到特高壓GIS隔離開關導向軸承斷裂如圖E.21（上）所示，正常相如圖E.21（下）所示，開罐解體如圖E.22所示。X射線檢測圖譜正常（上圖）與異常（下圖）對比開罐解體圖罐式斷路器粒子捕捉器脫落現(xiàn)場檢測到罐式斷路器粒子捕捉器緊固螺栓脫落如圖E.23所示，開罐解體如圖E.24所示。X射線檢測圖像開罐解體圖GIS屏蔽罩緊固螺栓松動現(xiàn)場檢測到GIS屏蔽罩緊固螺栓松動如圖E.25所示，現(xiàn)場開罐后如圖E.26所示。X射線檢測圖開罐解體圖瓷柱式斷路器軸銷脫落現(xiàn)場檢測到35kV瓷柱式斷路器合閘限位軸套脫落，如圖E.27所示，其他氣室同部位正常X射線圖后如圖E.28所示，現(xiàn)場解體發(fā)現(xiàn)合閘限位軸套斷裂脫落，如圖E.29所示。軸銷脫落正常相解體檢修圖GIS隔離開關傳動件緊固螺釘松脫現(xiàn)場檢測到GIS隔離開關傳動導向件緊固螺釘松動脫落，如圖E.30所示，其他氣室同部位正常X射線圖如圖E.31所示，現(xiàn)場解體發(fā)現(xiàn)傳動導向件緊固螺釘脫落，如圖E.32所示。緊固螺釘松動正常對比相開罐解體圖GIS隔離開關屏蔽罩表面異物現(xiàn)場檢測到GIS隔離開關鑄件屏蔽表面存在異物或劃痕如圖E.33所示，開罐解體發(fā)現(xiàn)表面沾有非金屬異物，如圖E.34所示。X射線檢測圖像開罐解體圖特高壓GIS屏蔽罩內(nèi)聚四氟乙烯條脫落現(xiàn)場檢測到特高壓GIS隔離開關盆式絕緣子上側屏蔽罩內(nèi)有異物，后確認條狀異物來自于上側屏蔽罩內(nèi)脫落的聚四氟乙烯條，如圖E.35所示；其他氣室同部位正常X射線圖后如圖E.36所示。屏蔽罩聚四氟乙烯條脫落正常相材質類缺陷圖譜罐式斷路器罐體內(nèi)部燒蝕現(xiàn)場檢測到罐式斷路器內(nèi)壁存在圓柱狀陰影，疑似內(nèi)壁存在凹坑，如圖E.36所示，開罐解體發(fā)現(xiàn)罐體內(nèi)壁有放電燒蝕產(chǎn)生的凹坑，如圖E.37所示。X射線檢測圖開罐解體圖GIS隔離開關屏蔽罩材質不良現(xiàn)場檢測到母線隔離開關屏蔽罩存在凹坑，疑似放電燒蝕，如圖E.38所示，開罐解體發(fā)現(xiàn)母線隔離開關動靜觸頭間絕緣擊穿，屏蔽罩表面嚴重燒蝕，如圖E.39所示。X射線檢測圖像開罐解體圖GIS支撐絕緣件材質不良炸裂現(xiàn)場檢測到GIS母線支撐絕緣子缺失，疑似放電炸裂，如圖E.40所示，開罐解體發(fā)現(xiàn)支撐絕緣子氣隙引發(fā)放電炸裂，如圖E.41所示。X射線檢測圖開罐解體圖GIS母線支撐絕緣子內(nèi)部氣泡現(xiàn)場檢測到母線支撐絕緣子內(nèi)部有氣泡，現(xiàn)場局放測試表現(xiàn)為氣隙放電，如圖E42所示，開罐解體發(fā)現(xiàn)支撐絕緣子局放嚴重超標，如圖E.43所示。X射線檢測圖開罐解體圖GIS合閘電阻開裂現(xiàn)場檢測到GIS斷路器合閘電阻表面開裂，如圖E.44所示，其他氣室同部位正常X射線圖，如圖E.45所示。合閘電阻開裂正常相對比圖GIS塑料材質吸附劑罩現(xiàn)場檢測到GIS母線吸附劑罩為塑料材質且劈裂脫落，如圖E.46所示，開罐解體發(fā)現(xiàn)吸附劑罩已掉落于母線筒體底部，如圖E.47所示。X射線檢測圖開罐解體圖（資料性）X射線數(shù)字成像檢測報告格式報告編號：檢測單位站/線被檢設備運行編號電壓等級檢測部位制造廠家設備型號成像條件X射線源型號探測器型號焦點尺寸像素尺寸焦距積分時間管電壓幀數(shù)管