基于ASVDD算法固體絕緣開(kāi)關(guān)柜局部放電模式識(shí)別

基于ASVDD算法固體絕緣開(kāi)關(guān)柜局部放電模式識(shí)別基于ASVDD算法的固體絕緣開(kāi)關(guān)柜局部放電模式識(shí)別摘要：局部放電是固體絕緣開(kāi)關(guān)柜可靠運(yùn)行的主要威脅之一。為了快速而有效地識(shí)別固體絕緣開(kāi)關(guān)柜中的局部放電模式，本文提出了一種基于ASVDD（AdaptiveSupportVectorDataDescription）算法的局部放電模式識(shí)別方法。該方法首先采集并預(yù)處理來(lái)自固體絕緣開(kāi)關(guān)柜的電流、電壓和其他相關(guān)信息數(shù)據(jù)，然后利用ASVDD算法對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練和建模，最后利用訓(xùn)練好的模型對(duì)未知樣本進(jìn)行分類識(shí)別。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該方法能夠較準(zhǔn)確地識(shí)別固體絕緣開(kāi)關(guān)柜中的局部放電模式，為實(shí)現(xiàn)早期故障診斷和預(yù)警提供了一種有效的手段。關(guān)鍵詞：固體絕緣開(kāi)關(guān)柜；局部放電；模式識(shí)別；ASVDD算法引言固體絕緣開(kāi)關(guān)柜是電網(wǎng)中的重要組成部分，其可靠運(yùn)行對(duì)電力系統(tǒng)的安全穩(wěn)定具有重要意義。然而，固體絕緣開(kāi)關(guān)柜在使用過(guò)程中會(huì)發(fā)生各種故障，其中局部放電是最常見(jiàn)和最嚴(yán)重的一種故障。局部放電會(huì)引起絕緣材料的損壞和老化，進(jìn)而導(dǎo)致設(shè)備的性能下降甚至發(fā)生事故，因此準(zhǔn)確有效地識(shí)別固體絕緣開(kāi)關(guān)柜中的局部放電模式對(duì)于設(shè)備的健康運(yùn)行至關(guān)重要。目前，常用的固體絕緣開(kāi)關(guān)柜局部放電模式識(shí)別方法主要包括遺傳算法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和支持向量機(jī)等。然而，這些方法存在著一定的局限性，比如需要大量的人工特征提取、模型訓(xùn)練時(shí)間較長(zhǎng)等。因此，本文提出了一種基于ASVDD算法的局部放電模式識(shí)別方法。ASVDD算法是一種自適應(yīng)支持向量數(shù)據(jù)描述算法，它能夠自動(dòng)學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)的特征并生成合適的支持向量數(shù)據(jù)描述模型。通過(guò)將ASVDD算法應(yīng)用于固體絕緣開(kāi)關(guān)柜的數(shù)據(jù)訓(xùn)練和模型建模過(guò)程中，可以快速而準(zhǔn)確地識(shí)別局部放電模式。方法1.數(shù)據(jù)采集與預(yù)處理從固體絕緣開(kāi)關(guān)柜中采集電流、電壓等相關(guān)信息數(shù)據(jù)，并進(jìn)行預(yù)處理。預(yù)處理主要包括數(shù)據(jù)清洗、數(shù)據(jù)歸一化和特征提取等步驟。數(shù)據(jù)清洗是為了去除數(shù)據(jù)中的異常值和噪聲，數(shù)據(jù)歸一化是為了將不同量綱的數(shù)據(jù)統(tǒng)一到同一個(gè)量級(jí)，特征提取是為了將原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為具有代表性和區(qū)分性的特征值。2.ASVDD算法模型訓(xùn)練將預(yù)處理后的數(shù)據(jù)作為輸入，通過(guò)ASVDD算法對(duì)其進(jìn)行模型訓(xùn)練。ASVDD算法主要包括以下幾個(gè)步驟：選擇合適的核函數(shù)、確定數(shù)據(jù)的類別分布、選擇適當(dāng)?shù)膮?shù)并進(jìn)行模型訓(xùn)練。核函數(shù)的選擇對(duì)于模型的性能至關(guān)重要，常用的核函數(shù)包括線性核函數(shù)、多項(xiàng)式核函數(shù)和高斯核函數(shù)等。3.模型測(cè)試與評(píng)估利用訓(xùn)練好的ASVDD模型對(duì)未知樣本進(jìn)行分類識(shí)別。將未知樣本輸入模型，根據(jù)模型給出的輸出值進(jìn)行判斷，若輸出值小于閾值，則判定為正常情況；若輸出值大于閾值，則判定為局部放電情況。同時(shí)，通過(guò)設(shè)置不同的閾值，可以調(diào)整模型的靈敏度和準(zhǔn)確度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析通過(guò)采集不同狀態(tài)下的固體絕緣開(kāi)關(guān)柜數(shù)據(jù)，并進(jìn)行ASVDD模型訓(xùn)練，得到了具有較高準(zhǔn)確度的局部放電模式識(shí)別模型。在測(cè)試階段，對(duì)比了該模型與其他常用模型的識(shí)別性能，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，基于ASVDD算法的局部放電模式識(shí)別方法在準(zhǔn)確度和效率上都有較大的提升。結(jié)論與展望本文提出了一種基于ASVDD算法的固體絕緣開(kāi)關(guān)柜局部放電模式識(shí)別方法，并在實(shí)驗(yàn)中驗(yàn)證了其有效性和可行性。該方法在快速準(zhǔn)確地識(shí)別固體絕緣開(kāi)關(guān)柜中的局部放電模式方面具有顯著的優(yōu)勢(shì)，并為實(shí)現(xiàn)早期故障診斷和預(yù)警提供了一種有效的手段。然而，本文提出的方法還有一些局限性，比如需要大量的訓(xùn)練樣本和合適的參數(shù)選擇。因此，