鍺γ譜儀活度標(biāo)準(zhǔn)裝置

共13頁本規(guī)程適用于新制造、使用中和修理后的同軸鍺(鋰)γ譜儀或同軸高純鍺γ譜儀活度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)裝置的檢定。γ射線的能量范圍60~1408keV,點(diǎn)源活度3.7×103~3.7×10?Bq。鍺(鋰)γ譜儀和高純鍺γ譜儀用于測(cè)量放射源的γ發(fā)射率或放鍺Y譜儀由鍺探測(cè)器、高壓電源、前置放大器、譜放大器、多道電脈沖信號(hào)由電子學(xué)系統(tǒng)分析和計(jì)數(shù)。根據(jù)γ能譜中被測(cè)核素某特征γ射線的全吸收峰凈面積計(jì)數(shù)率和探測(cè)器對(duì)該γ射線的探測(cè)效率(用標(biāo)準(zhǔn)源進(jìn)行刻度),可以得到此Y射線的γ發(fā)射率，再根據(jù)該γ射線3譜儀系統(tǒng)24小時(shí)內(nèi)峰位漂移不超過0.02%,峰凈面積測(cè)量的穩(wěn)定度應(yīng)好于0.2%(譜儀預(yù)熱穩(wěn)定以后).4講儀要配有堆積抑制器，有良好的抗堆積性能，當(dāng)總計(jì)數(shù)率≤103計(jì)數(shù)·s~!時(shí)堆積損失小于0.15%。5譜儀要配有性能良好的計(jì)算機(jī)譜分析軟件，減連續(xù)譜本底求峰凈面積的一致性好于0.3%。6探測(cè)器要配有放射源支架，使放射源軸向位置和在軸線的垂直方向位置的不一致性對(duì)探測(cè)效率不確定度的貢獻(xiàn)分別小于0.03%。7譜儀應(yīng)配備有長(zhǎng)壽命的、高中低能區(qū)至少各有一條γ射線的第2頁共13頁第2頁共13頁8譜儀在60～1408keV能區(qū)內(nèi)測(cè)量γ發(fā)別率的量程為4×103~4×10?s-1,總不確定度(1.5～5)%(32)。別為(2～4)×10?Bg、(1～2)×10?Bq和(1～2)×10°Bq,總不確定度分別為1%、2.5%和1%。源斑直徑≤2mm,偏離中心<1,5mm。源托厚度4±0.05mm,源托膜位于中間。源自吸收和源與源之間膜吸收的不一致性均小于0.1%。10“Eu點(diǎn)狀Y源一個(gè)，效率校準(zhǔn)用，活度(1～2)×10?Bq,“Eu雜質(zhì)含量小于0.2%。源的幾何條件同第9條。別為(2～4)×10“Bq、(0.5～1)×103Bq和(2~3)×10°Bq,總不確定度分別為1.5%、2%和2.5%。源的幾何條件同第9條。12“"Cs和/或“Co點(diǎn)狀γ源各一個(gè)，活度(2～4)×10?Bq,用13選擇適當(dāng)?shù)脑?探測(cè)器距離或放射源活度控制測(cè)量的總計(jì)數(shù)率，使堆積損失小于0.15%.14選擇適當(dāng)?shù)脑?探測(cè)器距離使符合相加效應(yīng)盡量小，或者進(jìn)行符合相加修正，使對(duì)峰凈面積不確定度的貢獻(xiàn)小于0.07%。15準(zhǔn)備專門的放射源托板，可使源在軸向及軸線的垂直方向分別做0.5～3mm及1～10mm的位置變動(dòng)，以便進(jìn)行源幾何位置試16實(shí)驗(yàn)室內(nèi)無放射性污染，環(huán)境本底對(duì)活度測(cè)量結(jié)果不確定度的貢獻(xiàn)小于0.1%。17實(shí)驗(yàn)室附近不得有強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾。譜儀要用交流穩(wěn)壓電源供18實(shí)驗(yàn)室內(nèi)有空調(diào)設(shè)備，測(cè)量時(shí)室溫保持在[20(或22)±1]℃,相對(duì)濕度<75%,d,a應(yīng)好于0.2%.第4頁共13頁第4頁共13頁23堆積損失試驗(yàn)。目的是估計(jì)堆積損失的大得到1115keV(或1173keV和1332keV)γ射線的峰凈面積a?(統(tǒng)計(jì)誤差<0.3%),此時(shí)總計(jì)數(shù)率應(yīng)足夠小，使堆積損失小于0.1%。率，以相同的收集時(shí)間重復(fù)測(cè)量不同總計(jì)數(shù)率下“Zn峰凈面積。在一定范圍內(nèi)峰凈面積對(duì)總計(jì)數(shù)率呈直線關(guān)系，用堆積損失為0.1%時(shí)的總計(jì)數(shù)率，即不作修正時(shí)允許的總計(jì)數(shù)率上24源幾何位置試驗(yàn)。為了判斷放射源在測(cè)量時(shí)放置的幾何位置的不一致性對(duì)探測(cè)效率的影響，需要做放射源幾何位置試驗(yàn)。做法是：利用第15條要求準(zhǔn)備的專用源托板，使放射源在正常位置和在軸向離開正常位置0.5,1,……,3mm,測(cè)得不同位置上的峰凈鬧峰凈面積相對(duì)偏離小于0.1%時(shí)允許的幾何位置偏離上限。用同樣方法確定出在軸線的垂直方向上允許的幾何位置偏離上限。(二)效率校準(zhǔn)幾何位置上，收集譜數(shù)據(jù)，使被測(cè)γ射線的峰于0.1%.26對(duì)“Co的1173.238keV和1332.502keV,Eu的121.78964.0keV、1112.1keV和1408.03keV,Ba的81keV積356.014keV以及”Am的59.537keVγ射線，用經(jīng)過第22條考驗(yàn)過的峰估計(jì)方法求得峰凈面積.修正因子。符合相加修正因子的計(jì)算方法見附錄1。必要時(shí)，對(duì)81,121.78,244.7,411.1和1112,1keV等Y射線的干擾峰進(jìn)行適當(dāng)?shù)目偛淮_定度為(1.2～4.2)%,測(cè)量γ發(fā)射率的總不確定度為(1.5~4.5)%(均為30),活度測(cè)量的不確0.3391(1.06黎)●●127.5(0.6i動(dòng))T0.12(0.27零)65.04(0.2P唾)100(0.27分)0.8551(0.21帶)0.851(0.45袋)④1*Eu為相對(duì)發(fā)射幾共13頁33G752—91共13頁第9頁計(jì)算式子.式中Ez(E)表示能量為E的γ或X射線的總探測(cè)效率，總效率和全吸收峰效率可以由實(shí)驗(yàn)測(cè)定。將中分別計(jì)算出Fμ和For,然后代入式(1)就得到C.對(duì)于“Eu的中修正因子c?和c?,再由下式算出總的符合相加修正FFay0.023E(53,16)E。(392,S)/E。FzFR,(867,4)Er(926,3)B?(1212,9)F