可靠性測(cè)試規(guī)范

可靠性測(cè)試規(guī)范,,,,,,

1.0目的,,,,,,

為驗(yàn)證產(chǎn)品、部件的相關(guān)特性，在經(jīng)受外力，模擬運(yùn)輸、環(huán)境與使用不當(dāng)時(shí)造成的危害。盡可能地挖掘由設(shè)計(jì)、制造或元器件引發(fā)的電子、結(jié)構(gòu)問題，使產(chǎn)品在投入量產(chǎn)前尋找到改善方案，保證產(chǎn)品質(zhì)量。,,,,,,

2.0范圍：,,,,,,

適用于Realpower所有在研發(fā)及采購(gòu)的手機(jī)，配件的可靠性測(cè)試，在手機(jī)研發(fā)、試產(chǎn)、量產(chǎn)、等各個(gè)階段均可測(cè)試。,,,,,,

3.0參考標(biāo)準(zhǔn),,,,,,

本標(biāo)準(zhǔn)主要參照國(guó)標(biāo)，同時(shí)根據(jù)公司現(xiàn)有的技術(shù)及檢測(cè)能力而編寫,,,,,,

4.0、職責(zé)：,,,,,,

4.1.1項(xiàng)目部負(fù)責(zé)產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試方法及測(cè)試異常原因分析,,,,,,

4.1.2品質(zhì)部負(fù)責(zé)產(chǎn)品研發(fā)、試產(chǎn)、量產(chǎn)、簽樣各個(gè)階段測(cè)試，并記錄測(cè)試結(jié)果，測(cè)試異常及時(shí)反饋項(xiàng)目部分析解決；,,,,,,

4.1.3采購(gòu)部負(fù)責(zé)產(chǎn)品及配件，部件測(cè)試異常及時(shí)反饋相關(guān)供應(yīng)商處理；,,,,,,

5.0、作來內(nèi)容：,,,,,,

檢測(cè)項(xiàng)目,檢測(cè)樣品數(shù)量,試驗(yàn)?zāi)康?試驗(yàn)方法,判定要求,,參照標(biāo)準(zhǔn)

低溫貯存,2,樣品在非散熱低溫條件下貯存適應(yīng)性,用聚乙烯薄膜袋密封、斷電狀態(tài)，放置在試驗(yàn)環(huán)境：溫度－35℃±3℃的條件下，待溫度穩(wěn)定后，持續(xù)試驗(yàn)48h，試驗(yàn)結(jié)束后常溫下放2h再進(jìn)行檢測(cè),外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

低溫工作,2,樣品在低溫條件下使用的適應(yīng)性,用聚乙烯薄膜袋密封、插SIM卡處于通電待機(jī)狀態(tài)放置在試驗(yàn)環(huán)境－20℃±3℃條件下，待溫度穩(wěn)定，持續(xù)4h后進(jìn)行檢測(cè),外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

高溫貯存,2,樣品在非散熱高溫條件下貯存適應(yīng)性,樣品不包裝、斷電狀態(tài)，放置在溫度70℃±2℃的條件下，待溫度穩(wěn)定，持續(xù)試驗(yàn)48h，結(jié)束后在常溫下放置2h再進(jìn)行檢測(cè),外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

高溫工作,2,樣品在高溫條件下使用的適應(yīng)性,樣品不包裝、通電狀態(tài)，放置在溫度55℃±2℃的條件下，待溫度穩(wěn)定，持續(xù)試驗(yàn)4h，結(jié)束后再進(jìn)行檢測(cè),外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

高溫老化,2,樣品使用穩(wěn)定性,樣品不包裝、通電狀態(tài)，放置在溫度60℃±2℃的條件下，待溫度穩(wěn)定，持續(xù)試驗(yàn)24h，結(jié)束后再進(jìn)行檢測(cè),外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

恒定濕熱,2,樣品在高溫高濕條件下使用的適應(yīng)性,樣品不包裝、通電狀態(tài)，放置在溫度40℃±2℃，相對(duì)濕度90~95RH條件下，待溫度穩(wěn)定，持續(xù)試驗(yàn)48h，結(jié)束后再進(jìn)行檢測(cè),外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

極度溫度充電,2,樣品在極限溫度條件下充電性能,樣品不包裝、通電關(guān)機(jī)狀態(tài)，放置在高溫45℃±2℃，低溫－5℃±3℃的溫度下，待溫度穩(wěn)定，持續(xù)試驗(yàn)1h，持續(xù)期滿立即進(jìn)行充電性能測(cè)試1H，同時(shí)檢查手機(jī)是否能正充電，電池電壓與試驗(yàn)前電壓作比較；,能正常充電，充電指示正常，充電指示燈點(diǎn)亮，充電圖標(biāo)跳動(dòng)，電池電壓有明顯上升,,/

溫度沖擊,2,樣品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力,"樣品不包裝、斷電狀態(tài)，放置在低溫－40℃±3℃，高溫70℃±2℃的溫度下，高低溫持續(xù)時(shí)間各2h，持續(xù)48h,持續(xù)期滿常溫下放置2小時(shí)后進(jìn)行檢測(cè)。",外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好,,GB/T2423

鹽霧,2,模擬用戶在沿海地區(qū)使用手機(jī)時(shí)結(jié)構(gòu)配合的緊密性，檢驗(yàn)材料及其防護(hù)層搞鹽霧腐蝕性能,"樣品不包裝，帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)，豎直懸掛在試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)24小時(shí)，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度35℃±2，飽和桶溫度47℃±2，鹽溶液濃度5%±1%，PH值為6.5~7.2，鹽霧沉降量為1`~2ml/80m2.h,持續(xù)期滿，樣機(jī)清洗并在高溫箱內(nèi)烘干，在常溫條件下放置4小時(shí)以上進(jìn)行檢測(cè)和拆機(jī)檢查；",外觀、結(jié)構(gòu)、功能良好，內(nèi)部元器件無腐蝕,,《GB/T2423.17

自由跌落,2,樣品承受機(jī)械跌落能力,"1、跌落高度和試驗(yàn)臺(tái)面：1m,平滑、堅(jiān)硬的大理石地板；

2、跌落順序及次數(shù)：

直板手機(jī)：左右上下正反面各跌2次，總計(jì)12次；

翻（滑）蓋手機(jī)：左右上下正反面打開翻（滑）蓋狀態(tài)下正面反面各2次，總計(jì)16次。每跌落2次檢查樣機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和基本功能有無異常，試驗(yàn)結(jié)束后，進(jìn)行發(fā)射功率與試驗(yàn)后測(cè)試，在進(jìn)行拆機(jī)檢查",外觀、結(jié)構(gòu)，功能良好，無不可復(fù)原的故障，允許微掉漆現(xiàn)象,,GB/T2423

跌落,2,模擬用戶實(shí)際使用過程中頻繁跌落于桌面，檢驗(yàn)樣品在使用過程中產(chǎn)生輕微撞擊的適應(yīng)性,樣機(jī)不包裝、處于插卡通電待機(jī)狀態(tài)，從10cm的高度堅(jiān)直自由跌落于8~12mm厚的鋁板上，以15次/分鐘的速率按以下順序進(jìn)行跌落：電池面2500次——主/翻（滑）面500次——左側(cè)面500次——右側(cè)面500次，為1個(gè)循環(huán)，共4000次，循環(huán)4次，共計(jì)16000次，每跌落500次檢查樣機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)和基本功能有無異常，試驗(yàn)結(jié)束后，進(jìn)行發(fā)射功率測(cè)試，與拆機(jī)檢查；,外觀、結(jié)構(gòu)和基本功能良了，不允許出現(xiàn)任何故障現(xiàn)象，,,GB/T2423

按鍵壽命,2,樣品承受機(jī)械按鍵能力,測(cè)試儀：圓球形狀，硅膠材質(zhì)，直徑7±0.2mm，任選一按鍵以60次/min的速率、施加力度400gf-900gf的力按壓按鍵5萬次，按下、松開為1次,"1、按鍵外觀，結(jié)構(gòu)良好，表面涂層及字符應(yīng)無磨損、剝落；

2、按鍵功能良好，不允許出現(xiàn)按鍵無效等現(xiàn)象；",,YD/T1215900/1800MHZTDMA

按鍵百格,2,樣品使用掉漆現(xiàn)象,任選一按鍵用美工械刀在表面劃1*1mm的小方格，切口深度至底材表面，將3標(biāo)準(zhǔn)3M膠粘貼在方格上，并用橡皮擦壓平表面，使膠紙完全粘附，待3~5min后從垂直方向瞬間拉起撕脫,切口邊緣光滑，在切口邊緣及交叉點(diǎn)處均勻無油漆/鍍層剝落,,GB/T6464

翻滑蓋壽命,2,樣品承受機(jī)械翻滑蓋能力,"用手機(jī)翻（滑）蓋壽命試驗(yàn)機(jī)，操作如下：

1、試滑速率：40次/min；

2、動(dòng)作：翻（滑）蓋打開時(shí)至最大角度，閉合時(shí)至最小角度

3、次數(shù)：來回為1次，壽命10萬次","1、外觀、結(jié)構(gòu)良好，不允許出現(xiàn)外殼掉漆、殼裂，翻（滑）蓋阻滯等現(xiàn)象

2、基本功能良好，不允許出現(xiàn)脫軌，無翻（滑）蓋功能，無發(fā)/受話及顯示不良等現(xiàn)象；",,YD/T1215900/1800MHZTDMA

軟壓,2,手機(jī)抗壓性能,將手機(jī)水平放在軟壓測(cè)試儀上，氣壓0.5-0.6Mpa的力按壓手機(jī)背面/正面二個(gè)部位各300次,手機(jī)整體結(jié)構(gòu)、功能正常，不允許出現(xiàn)主板LCD，鏡片破裂現(xiàn)象,,/

充電器數(shù)據(jù)線插拔,2,樣品插拔性能,樣機(jī)一半處于開機(jī)狀態(tài)，一半處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，固定在插拔試驗(yàn)機(jī)上，將充電器插頭垂直插入、拔出手機(jī)I/O口，為1個(gè)循環(huán)，以15次min氣壓0.5-0.6Mpa的插拔速率各循環(huán)插拔1500次；每100次檢查外觀、結(jié)構(gòu)及開機(jī)檢查，至2000次時(shí)每50次檢查一次,充電性能良好，插頭、插座無變形、無損傷、無接觸不良現(xiàn)象,,/

電池/電池蓋插拔,2,檢查電池/電池蓋的拆裝壽命可靠性,"1、次數(shù)：模擬用戶將電池/電池蓋拆下，再裝上為1次，插拔3000次。

2、速率：30次/min,氣壓0.5-0.6Mpa,每100次檢查外觀、結(jié)構(gòu)及開機(jī)檢查，至2000次時(shí)每50次檢查一次",電池卡扣無斷裂、有彈性、無掉漆，電池觸片、連接器無變形，鎖扣可靠，開機(jī)正常,,/

耳機(jī)插拔,2,檢驗(yàn)耳機(jī)插頭和連接器使用壽命的可靠性,"1、次數(shù)：模擬用戶將耳機(jī)插頭垂直插入耳機(jī)插孔，至手機(jī)介面顯示耳機(jī)符號(hào)時(shí)，再垂直拔出為1次，插拔3000次。

2、速率：30次/min,氣壓0.5-0.6Mpa,每100次檢查外觀、結(jié)構(gòu)及開機(jī)檢查，至2000次時(shí)每50次檢查一次",要求耳機(jī)插頭外觀，發(fā)/受話功能良好，不允許出現(xiàn)耳機(jī)插針斷、變形、偏位、表面鍍層整塊脫落現(xiàn)象,,/

手與筆伸縮插拔,2,檢驗(yàn)手寫筆的使用壽命,"1、次數(shù)：將手寫筆完全插入手機(jī)插孔內(nèi)，然后完全拔出，為1次，共插拔4000次；

2、速率：30次/min,氣壓0.5-0.6Mpa,",要求手寫筆及手機(jī)壁管外觀、結(jié)構(gòu)良好，不允許出現(xiàn)機(jī)殼掉漆、手寫筆內(nèi)管與外管變形、手寫筆插入壁管內(nèi)過松、過緊、插拔不順暢等現(xiàn)象,,/

殼體耐磨,2,檢驗(yàn)樣品噴涂、印刷、電鍍等搞磨擦性能的可靠性,"1、測(cè)試環(huán)境條件：溫度23℃±2℃，濕度40%~50%；耐磨測(cè)試紙帶貯存條件：溫度23℃±2，溫度40%RH

2、荷重：175g

3、標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)數(shù)：噴油塑膠件≥250轉(zhuǎn)，橡膠漆≥30轉(zhuǎn)，光鉻電鍍件和噴油按鍵≥200轉(zhuǎn)，黃金電鍍件，真空電鍍≥150轉(zhuǎn)，試驗(yàn)過程中，每50轉(zhuǎn)檢查樣品表面是否露底材，至250轉(zhuǎn)時(shí)，每10轉(zhuǎn)檢查樣品表面",要求樣品在標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)數(shù)內(nèi)未露底材,,/

殼體百格測(cè)試,2,檢驗(yàn)樣品漆膜的附著力性能,"1、選擇樣品表面一平整區(qū)域，用美工械刀在表面劃1*1mm的小方格16~100個(gè)，切口深度至底材表面，用毛刷沿著對(duì)角方向各刷5次，刷除表面碎屑；

2、將標(biāo)準(zhǔn)3M膠紙（噴油塑膠件和橡膠漆采用3M250號(hào)膠紙，EMI采用3M720號(hào)膠紙，電鍍和塑膠鏡片采用3M600號(hào)膠紙）粘貼在方格上，并用橡皮擦壓平表面，使膠紙完全粘附；

3、待3~5min后從垂直方向瞬間拉起撕脫","5B：切口邊緣光滑，在切口邊緣及交叉點(diǎn)處均無油漆/鍍層剝落；

4B：在切口交叉點(diǎn)處有小片油漆/鍍層剝落，脫落總面積小于5%

3B：切口邊緣和相交處有被剝落，脫落總面積在5%~15之間

2B：沿切口邊緣有部分剝落或整大片剝落，及部分格子整片剝落，脫落總面積在15%~35%之間。

1B：切口邊緣大片剝落或一些方格部分或全部剝落，脫落總面積在35%~65%之間；

0B：任何不能用等級(jí)4的標(biāo)準(zhǔn)來衡量的剝落程度",,/

響鈴壽命,2,檢驗(yàn)揚(yáng)聲器的響鈴壽命能力,"1、將樣品鈴聲音量調(diào)至最大，用分貝儀測(cè)量其每首鈴聲的最大值和平均值，從中選擇一首鈴聲最大的歌曲作為試驗(yàn)用鈴聲。持續(xù)試驗(yàn)48h

",要求試驗(yàn)機(jī)鈴聲功能良好，不允許出現(xiàn)無鈴聲、鈴聲雜音、鈴聲失真和鈴聲小等異常,,/

馬達(dá)振動(dòng)壽命,2,檢驗(yàn)馬達(dá)的振動(dòng)壽命能力,將樣機(jī)設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間振動(dòng)處于充電狀態(tài)，持續(xù)時(shí)間48小時(shí),要求試驗(yàn)機(jī)馬達(dá)振動(dòng)功能良好，不允許出現(xiàn)無振動(dòng)、振動(dòng)雜音、振動(dòng)弱/強(qiáng)等異常,,/

MP3播放壽命,2,檢驗(yàn)產(chǎn)品MP3的播放壽命能力,將試驗(yàn)樣機(jī)MP3播放音量調(diào)至最大，并將MP3音樂設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間播放狀態(tài)，持續(xù)試驗(yàn)時(shí)間48H,要求試驗(yàn)樣機(jī)MP3播放功能良好,,/

LCD背光點(diǎn)亮壽命,2,檢驗(yàn)產(chǎn)品背光燈的點(diǎn)亮壽命能力,將試驗(yàn)機(jī)的背光設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間持續(xù)點(diǎn)亮充電狀態(tài)，持續(xù)試驗(yàn)48h,不允許出現(xiàn)背光燈不亮、背光燈暗等異常,,/

發(fā)、受話壽命,2,檢驗(yàn)產(chǎn)品發(fā)、受話壽命能力,試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間發(fā)、受話處于充電狀態(tài)，并用鈴聲做聲源，一一對(duì)準(zhǔn)每部試驗(yàn)樣機(jī)的咪孔，持續(xù)48h,樣機(jī)發(fā)、受話器性能良好，不允許出現(xiàn)無發(fā)/受話、通話雜音等異常,,/

GSM手機(jī)時(shí)鐘對(duì)時(shí),2,檢驗(yàn)GSM手機(jī)不帶電池的情況下時(shí)鐘的維持能力及走時(shí)準(zhǔn)確度,參照標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘校準(zhǔn)好北京時(shí)間，試驗(yàn)樣機(jī)一半直接取下鋰離子電池，一半裝上鋰離子電池，各靜置24H后與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間核對(duì)準(zhǔn)確度,要求與校準(zhǔn)時(shí)間誤差不超過5秒,,/

線材彎折,2,檢驗(yàn)手機(jī)配件線材在使用時(shí)彎折持用性,將耳機(jī)、數(shù)據(jù)線，充電器線材夾在試驗(yàn)儀器上并進(jìn)行通電，并施加300G發(fā)碼，以90度彎折,來回2000次內(nèi)線材不能斷裂或者不通電,,/

滾筒試驗(yàn),2,檢驗(yàn)手機(jī)防撞持用性,"1、速率：30次/min;

2、次數(shù)：將手機(jī)分別放進(jìn)1米、2米，滾筒內(nèi)來回翻滾20次",要求手機(jī)所有功能應(yīng)正常，外觀不允許有刮花，整體結(jié)構(gòu)不能散開或斷裂,,/

通話時(shí)間測(cè)試,4,測(cè)試手機(jī)在通話時(shí)，電池在額定容量下維持手機(jī)通話的最長(zhǎng)時(shí)間,用直流穩(wěn)壓電源，首先測(cè)出手機(jī)最大發(fā)射電流和最小發(fā)射電流，然后用電池的標(biāo)準(zhǔn)容量除以最大發(fā)射電流和最小發(fā)射電流，所得的值為最長(zhǎng)通話時(shí)間和最短通話時(shí)間,最低直要滿足說明書的要求,,/

開關(guān)機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試,4,檢驗(yàn)手機(jī)開關(guān)機(jī)的穩(wěn)定性,手機(jī)插卡開機(jī)，待手機(jī)屏幕顯示正常后拔通一個(gè)電話后再掛斷并關(guān)機(jī)為一個(gè)循環(huán)，如此反復(fù)開關(guān)機(jī)500次，每50次進(jìn)行一次功能檢測(cè)。,次開機(jī)后能在要求的時(shí)間內(nèi)正確讀取SIM卡，能正常搜索到網(wǎng)絡(luò)，關(guān)機(jī)時(shí)屏幕無閃爍，無其它異常，,,/

,,,"接觸放電：用戶正常使用時(shí)接觸到的所有金屬部位，如I/0接口、金屬按鍵、金屬裝飾牌；

空氣放電：用戶正常使用時(shí)接觸到的所有非金屬縫隙部位，如：機(jī)殼縫隙、LCD顯示屏、按鍵、發(fā)/受話器、揚(yáng)聲器等","1、當(dāng)發(fā)生暫時(shí)性功能失效（如：LCD字符亂顯、藍(lán)屏），持續(xù)時(shí)間未超過3秒，可接受；

2、當(dāng)發(fā)生暫時(shí)性功能失效，30秒＞持續(xù)時(shí)間＞3秒，不可接受；

3、當(dāng)發(fā)生故障時(shí)，必需要重新開機(jī)才可正常使用，不可接受；

4、當(dāng)發(fā)生穩(wěn)定性故障或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)丟失時(shí)，重新存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可正常使用，不可接受；",,《GB/T17626.2》

靜電放電抗擾度試驗(yàn),4,模擬在空氣中含靜電荷和人體本身所帶的靜電荷測(cè)試，檢驗(yàn)樣品抗靜電干擾性能,在溫度20℃-30℃、濕度35%-55%的情況下，產(chǎn)品開發(fā)階段以±10KV空氣放電，±6KV按觸放電；量產(chǎn)階段以±8KV空氣放電，±4KV按觸放電，接觸放電對(duì)樣品連續(xù)放電10次后對(duì)地放電1次，空氣放電每放一次電后，對(duì)地放電一次,,,

小球沖擊,4,檢驗(yàn)鏡片耐用性,從64cm的高度自由跌落在鏡片表面上（將鏡片固定在前殼上），1個(gè)鏡片沖擊10次，主要沖擊鏡片四周上下左右與膠件相接處和中間各1次，用32g小球（也可用0.2J彈簧錘）。,鏡片不應(yīng)有裂縫、破碎等損傷，LCD無破裂。,,

粉塵試驗(yàn),,檢驗(yàn)樣品進(jìn)