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文檔簡(jiǎn)介
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中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
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（征求意見稿）
在提交反饋意見時(shí)，請(qǐng)將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。
IIIIJIIJIIKLIIIIJIIJIIMN
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OP!
前言.............................................................................V
1范圍.................................................................................1
2規(guī)范性引用文件.......................................................................1
3術(shù)語和定義...........................................................................1
4通則.................................................................................5
測(cè)量環(huán)境條件.....................................................................5
測(cè)量系統(tǒng).........................................................................6
4.2.1測(cè)量裝置的組成...............................................................6
4.2.2放射源.......................................................................6
4.2.3閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品...............................................................7
4.2.4探頭.........................................................................7
4.2.5光電倍增管電源...............................................................7
4.2.6測(cè)量系統(tǒng)的要求...............................................................7
測(cè)量要求.........................................................................7
安全要求.........................................................................8
5相對(duì)光輸出...........................................................................8
脈沖法（全吸收峰法或康普頓分布邊緣法）...........................................8
5.1.1測(cè)量原理.....................................................................8
5.1.2測(cè)量裝置.....................................................................8
5.1.3測(cè)量步驟.....................................................................8
5.1.4數(shù)據(jù)處理.....................................................................9
電流法..........................................................................10
5.2.1測(cè)量原理....................................................................10
5.2.2測(cè)量裝置....................................................................10
5.2.3測(cè)量步驟....................................................................10
5.2.4數(shù)據(jù)處理....................................................................10
封裝閃爍體的光輸出..............................................................11
[閃爍體光輸出的]不均勻性........................................................11
5.4.1測(cè)量原理....................................................................11
5.4.2長(zhǎng)條狀閃爍體................................................................11
5.4.3板狀閃爍體..................................................................12
5.4.4有關(guān)因素....................................................................14
6相對(duì)能量轉(zhuǎn)換效率....................................................................14
脈沖法（全吸收峰法或康普頓分布邊緣法）..........................................14
6.1.1測(cè)量原理....................................................................14
6.1.2測(cè)量裝置....................................................................14
6.1.3測(cè)量步驟....................................................................14
I
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6.1.4數(shù)據(jù)處理....................................................................14
電流法..........................................................................14
6.2.1測(cè)量原理....................................................................14
6.2.2測(cè)量裝置....................................................................14
6.2.3測(cè)量步驟....................................................................14
6.2.4數(shù)據(jù)處理....................................................................15
α-β比..........................................................................15
6.3.1測(cè)量原理....................................................................15
6.3.2測(cè)量裝置....................................................................15
6.3.3測(cè)量步驟....................................................................15
6.3.4數(shù)據(jù)處理....................................................................16
7固有脈沖幅度分辨率..................................................................16
測(cè)量原理........................................................................16
測(cè)量裝置........................................................................16
測(cè)量步驟........................................................................17
7.3.1測(cè)量閃爍探測(cè)器的脈沖幅度分辨率..............................................17
7.3.2測(cè)量光電倍增管的固有脈沖幅度分辨率..........................................17
數(shù)據(jù)處理........................................................................17
封裝閃爍體的固有脈沖幅度分辨率..................................................17
8閃爍衰減長(zhǎng)度........................................................................17
棒狀閃爍體......................................................................18
8.1.1對(duì)待測(cè)樣品的要求............................................................18
8.1.2測(cè)量原理....................................................................18
8.1.3測(cè)量裝置....................................................................18
8.1.4測(cè)量步驟....................................................................18
8.1.5數(shù)據(jù)處理....................................................................18
板狀閃爍體......................................................................19
8.2.1對(duì)待測(cè)樣品的要求............................................................19
8.2.2測(cè)量原理....................................................................19
8.2.3測(cè)量裝置....................................................................19
8.2.4測(cè)量步驟....................................................................19
8.2.5數(shù)據(jù)處理....................................................................20
圓柱形和直角棱柱形閃爍體........................................................20
8.3.1對(duì)待測(cè)樣品的要求............................................................20
8.3.2測(cè)量原理....................................................................20
8.3.3測(cè)量裝置....................................................................20
8.3.4測(cè)量步驟....................................................................20
8.3.5數(shù)據(jù)處理....................................................................21
9發(fā)射光譜............................................................................21
測(cè)量的波長(zhǎng)范圍..................................................................21
測(cè)量原理........................................................................21
測(cè)量裝置........................................................................21
II
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測(cè)量步驟........................................................................22
數(shù)據(jù)處理........................................................................23
10時(shí)間特性...........................................................................23
閃爍衰減時(shí)間...................................................................23
10.1.1一般要求...................................................................23
10.1.2直接示波法.................................................................24
10.1.3平均波形取樣示波法.........................................................25
10.1.4單光子法...................................................................27
余輝...........................................................................29
10.2.1測(cè)量原理...................................................................29
10.2.2測(cè)量裝置...................................................................29
10.2.3樣品的選擇.................................................................29
10.2.4測(cè)量步驟...................................................................29
10.2.5數(shù)據(jù)處理...................................................................30
符合分辨時(shí)間...................................................................30
10.3.1測(cè)量原理...................................................................30
10.3.2測(cè)量裝置...................................................................31
10.3.3測(cè)量步驟...................................................................32
10.3.4數(shù)據(jù)處理...................................................................32
11輻照硬度...........................................................................33
測(cè)量原理.......................................................................33
測(cè)量裝置.......................................................................33
測(cè)量步驟.......................................................................33
數(shù)據(jù)處理.......................................................................33
12自身輻射本底.......................................................................33
測(cè)量原理.......................................................................33
測(cè)量裝置.......................................................................34
測(cè)量步驟.......................................................................34
13β-γ比和n-γ比.....................................................................34
β-γ比.........................................................................35
13.1.1測(cè)量原理...................................................................35
13.1.2測(cè)量裝置...................................................................35
13.1.3測(cè)量步驟...................................................................35
13.1.4數(shù)據(jù)處理...................................................................35
13.1.5說明.......................................................................36
n-γ比.........................................................................36
13.2.1測(cè)量原理...................................................................36
13.2.2測(cè)量裝置...................................................................36
13.2.3測(cè)量步驟...................................................................36
13.2.4數(shù)據(jù)處理...................................................................36
13.2.5說明.......................................................................36
III
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14溫度效應(yīng)...........................................................................36
測(cè)量原理.......................................................................36
測(cè)量裝置.......................................................................37
測(cè)量方法.......................................................................38
15[閃爍體陣列的]不均勻性、光串?dāng)_.....................................................38
不均勻性.......................................................................38
15.1.1測(cè)量裝置...................................................................38
15.1.2測(cè)量步驟...................................................................39
15.1.3數(shù)據(jù)處理...................................................................39
光串?dāng)_.........................................................................39
15.2.1測(cè)試原理...................................................................39
15.2.2測(cè)量裝置...................................................................39
15.2.3測(cè)量步驟...................................................................40
附錄A（資料性）放射源主要特征..................................................41
附錄B（資料性）閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品的尺寸............................................42
附錄C（資料性）脈沖法測(cè)量系統(tǒng)的非線性..........................................43
C.1測(cè)量要求........................................................................43
C.2測(cè)量系統(tǒng)........................................................................43
C.3測(cè)量步驟........................................................................43
C.4數(shù)據(jù)處理........................................................................43
附錄D（資料性）電流法測(cè)量系統(tǒng)的非線性..........................................46
D.1要求............................................................................46
D.2測(cè)量系統(tǒng)........................................................................46
D.3測(cè)量步驟........................................................................46
D.4數(shù)據(jù)處理........................................................................47
附錄E（資料性）測(cè)量系統(tǒng)的不穩(wěn)定性..............................................48
E.1方法............................................................................48
E.2要求............................................................................48
E.3測(cè)量裝置........................................................................48
E.4測(cè)量步驟........................................................................48
E.5數(shù)據(jù)處理........................................................................48
附錄F（資料性）閃爍體發(fā)射光譜與標(biāo)樣不同時(shí)，相對(duì)能量轉(zhuǎn)換效率的修正..............49
F.1測(cè)量裝置........................................................................49
F.2測(cè)量步驟........................................................................49
F.3數(shù)據(jù)處理........................................................................49
附錄G（資料性）塑料閃爍體的ν值...............................................50
附錄H（資料性）一種實(shí)用的測(cè)量閃爍體溫度效應(yīng)的裝置..............................51
參考文獻(xiàn)........................................................................52
IV
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本文件描述了閃爍體的相對(duì)光輸出、不均勻性、相對(duì)能量轉(zhuǎn)換效率、α-β比、固有幅度分辨率、
閃爍衰減長(zhǎng)度、發(fā)射光譜、時(shí)間特性、輻照硬度、自身輻射本底、β-γ比、n-γ比、溫度效應(yīng)以及[閃
爍體陣列的]不均勻性和光串?dāng)_等的測(cè)量方法。
本文件適用于常用的各種閃爍體的性能測(cè)量。
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下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，
僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本
文件。
GB4075—2009密封放射源一般要求和分級(jí)
GB/T10257—2001核儀器與核輻射探測(cè)器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則
GB/T12564—2008光電倍增管總規(guī)范
GB18871—2002電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)
GB/T28544封裝閃爍體光輸出和固有分辨率的測(cè)量方法
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下列術(shù)語和定義適用于本文件。
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在致電離輻射作用下，能以閃爍方式發(fā)出光輻射的物質(zhì)。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.7，有修改]
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/01!!abcdecffgelk!
用一定數(shù)量的閃爍物質(zhì)做成的適當(dāng)形狀的閃爍探測(cè)元件。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.10]
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m/01Gnopq!!jdekgdbj!rcdslr!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍體中使被測(cè)的輻射容易透過的部分。
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m/01Gnxyq!!lzecbgf!rcdslr!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍體中能讓光輻射透出的部分。
1
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[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.12]
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被封裝在具有反射層和光學(xué)窗口容器中的閃爍體。
[來源：GB/T28544—2012，3.2]
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由閃爍體構(gòu)成的核輻射探測(cè)器。
?：閃爍體通常直接或通過光導(dǎo)與光敏器件光耦合。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.41，有修改]
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m/0?4?Gnx?!!fch~e!h?csj!tlu!g!abcdecffgecld!sjejbelkv!
用于光的無明顯損失傳輸?shù)墓鈱W(xué)器件。
?…可以將光導(dǎo)置于閃爍體和光敏器件之間。!
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.27]
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x???‰!!lzecbgf!bl?zfj!igejkcgf!
為使閃爍體所發(fā)的光有效地傳輸?shù)焦饷羝骷母泄饷嫔?，在閃爍體光學(xué)窗與光敏器件窗（閃爍體光
學(xué)窗與光導(dǎo)及光導(dǎo)與光敏器件窗）間所加的物質(zhì)。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.40，有修改]
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輻射測(cè)量裝置的一部分。通常它有一個(gè)幾何形狀適當(dāng)?shù)耐鈿?，在此外殼?nèi)有輻射探測(cè)器，還可能有
前置放大器、匹配級(jí)及某些功能單元。
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m/01Gnx??!!fch~e!l?ez?e!tlu!g!abcdecffgelkv!
閃爍體發(fā)射光子的總數(shù)與其吸收的入射輻射能量之比。
?…與閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品的光輸出值相比較給出的相對(duì)值，稱為相對(duì)光輸出。!
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.19]
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對(duì)大尺寸閃爍體，在閃爍體的不同位置進(jìn)行輻照激發(fā)時(shí)，閃爍體光輸出的差異。
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m/01Gn35“”?–!!jdjkh’!bld—jkacld!juucbcjdb’!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍體發(fā)射光子的總能量與其吸收的入射輻射能量之比。
?…與閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品的能量轉(zhuǎn)換效率值相比較給出的相對(duì)值，稱為相對(duì)能量轉(zhuǎn)換效率。!
2
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[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.18]
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m/01Gn?J??!!?J?kgecl!tlu!g!abcdecffgelkv!
在α粒子和能量相同的β粒子激發(fā)下，閃爍體的能量轉(zhuǎn)換效率之比。
?：它反映了閃爍體對(duì)電離密度不同的粒子能量轉(zhuǎn)換效率差異的程度。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.20，有修改]
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m/01Gn???F??–!!cdekcdacb!gizfce?sj!kjalf?ecld!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍探測(cè)器的脈沖幅度分辨率扣除光敏器件貢獻(xiàn)后的值。
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閃爍光子在閃爍體內(nèi)經(jīng)自吸收后衰減為原發(fā)光強(qiáng)度的1/e時(shí)光子在閃爍體中所通過的路程。
?：閃爍衰減長(zhǎng)度表征閃爍體對(duì)自身發(fā)光的透過能力。它與閃爍體的材料、工藝有關(guān)，且與測(cè)量時(shí)的光收集條件有
關(guān)。按實(shí)際條件測(cè)得的數(shù)值稱為技術(shù)光衰減長(zhǎng)度。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.6，有修改]
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閃爍體發(fā)射的光子數(shù)隨光子的能量或波長(zhǎng)而變化的分布曲線。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.13]
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閃爍體的光吸收系數(shù)隨光子的能量或波長(zhǎng)而變化的分布曲線。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.14，有修改]
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表示閃爍體單次激發(fā)所發(fā)射光的強(qiáng)度隨時(shí)間變化的曲線。
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.17]
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閃爍體受單次激發(fā)后，發(fā)射光的強(qiáng)度下降到其最大值的1/e所需的時(shí)間。
?…e=2.718…
[來源：GB/T4960.6—2008，2.3.5]
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m/01Gn??!!guejkhflr!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍體在致電離輻射激發(fā)停止后一段時(shí)間內(nèi)持續(xù)的發(fā)光現(xiàn)象。
?：通常以閃爍體在輻射關(guān)斷后某一時(shí)間點(diǎn)的發(fā)光值與同一輻射激發(fā)下的發(fā)光值之比表征該時(shí)間點(diǎn)的余輝值。
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3
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m/01Gn?????a!!blcdbcsjdbj!kjalf—cdh!ecij?lu!g!abcdecffgelkˉ!
兩個(gè)同類型閃爍體被兩個(gè)同時(shí)出現(xiàn)的關(guān)聯(lián)事件激發(fā)所產(chǎn)生的兩路光脈沖，能夠被探測(cè)和產(chǎn)生符合的
最大時(shí)間間隔。
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m/01Gn°±2F!!kgscgecld!~gksdjaa!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍體抵抗輻照損傷的能力稱為輻照硬度。
?：通常以閃爍體接受輻照前后光輸出的變化作為評(píng)價(jià)閃爍體輻照硬度的指標(biāo)。
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m/01Gn3′°pμ?!!?gb·hkl?ds!bl?decdh!kgej?lrd!lu!g!abcdecffgelkˉ!
由閃爍體自身的放射性核素引起的計(jì)數(shù)。
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m/01Gn?J??!!?J?kgecl!tlu!g!abcdecffgelkv!
閃爍體對(duì)90Sr-90Y的β粒子和對(duì)60Co的γ粒子的探測(cè)器效率之比。
?…被記錄到的射線在閃爍體中產(chǎn)生的閃爍脈沖數(shù)與入射粒子數(shù)之比值，稱為閃爍體對(duì)該射線的探測(cè)器效率。它與
閃爍體尺寸、射線能量等有關(guān)。
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m/01GndJ??!!dJ?kgecl!tlu!g!abcdecffgelkv!
閃爍體對(duì)所測(cè)能量的中子和對(duì)60Co的γ粒子的探測(cè)器效率之比。
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m/01Gn1F?o!!ejizjkge?kj!juujbe!t!lu!g!abcdecffgelk!v!
閃爍體的基本性能（如相對(duì)能量轉(zhuǎn)換效率、光輸出或相對(duì)光輸出、固有幅度分辨率、閃爍衰減時(shí)間、
發(fā)射光譜等）隨溫度變化的關(guān)系。
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/01??!!abcdecffgelk!gkkg’!
若干個(gè)閃爍體單元按照線形或面陣形式排布組成的多閃爍體單元結(jié)構(gòu)。
?：按照線形排布稱為一維陣列閃爍體，按照面陣排布稱為二維陣列閃爍體。
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m/01??Gn!??‘2!!dld?dculkice’!t!lu!abcdecffgelk!gkkg’!v!
同一個(gè)閃爍體陣列上各閃爍體單元之間特性的離散程度。
?：本文件中特指相對(duì)光輸出的離散程度。
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m/01??Gn!x??!!fch~e!bklaaegf·!t!lu!abcdecffgelk!gkkg’!v!
閃爍體陣列的某一閃爍體單元產(chǎn)生的閃爍光傳輸?shù)较噜忛W爍體單元引起的不期望的信號(hào)輸出。
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能量響應(yīng)曲線中對(duì)應(yīng)康普頓散射電子能量極大值的位置。
4
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作為光源標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)或用作測(cè)試計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)的光源。
[來源：GB/T12564—2008，4.1，有修改]
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在可見光區(qū)，光源的相對(duì)輻射功率分布與全輻射體在某一溫度下的相對(duì)輻射功率分布相同時(shí)的該全
輻射體的溫度。
[來源：GB/T12564—2008，3.1.9，有修改]
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當(dāng)帶電粒子在介質(zhì)中的運(yùn)動(dòng)速度超過光在該介質(zhì)中的速度時(shí)所產(chǎn)生的光輻射。
[來源：GB/T12564—2008，3.1.15]
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一種具有有限輻通量和無限窄寬度的脈沖光源。
?：通常指光脈沖輸出時(shí)間比待測(cè)輸出脈沖的持續(xù)時(shí)間窄得多（最大為1/3）的光源。
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從一個(gè)δ函數(shù)光脈沖照射整個(gè)光陰極的瞬間到輸出脈沖前沿半幅度點(diǎn)的出現(xiàn)瞬間之間所需時(shí)間的
變化。
?：以輸出脈沖時(shí)間分布曲線上的半高寬來量度。
[來源：GB/T12564—2008，3.5.13，有修改]
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與入射輻通量成線性關(guān)系的輸出電流。
[來源：GB/T12564—2008，3.1.24]
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閃爍體各項(xiàng)主要性能測(cè)量的環(huán)境條件見表1。
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影響量參考條件標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件
環(huán)境溫度20℃18℃～22℃
相對(duì)濕度65%50%～75%
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影響量參考條件標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件
大氣壓101.3kPa86kPa～106kPa
交流供電電壓220V220V±22V
交流供電頻率50Hz50Hz±1Hz
交流供電波形正弦波波形總畸變＜5%
環(huán)境γ輻射空氣吸收劑量率0.1μGy/h空氣吸收劑量率≤0.25μGy/h
外磁場(chǎng)干擾可忽略小于引起干擾的最低值
外界磁感應(yīng)可忽略小于地磁場(chǎng)引起的干擾的2倍
放射性沾染可忽略可忽略
?…在不影響閃爍體性能測(cè)量的前提下，允許在與表1中所列出的相近條件下進(jìn)行。
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測(cè)量裝置主要包括：
a)探頭；
b)低壓電源；
c)高壓電源；
d)主放大器；
e)多道脈沖幅度分析器。
常用的測(cè)量裝置的方框圖見圖1。
?：根據(jù)所測(cè)項(xiàng)目的不同，可能需選擇除光電倍增管之外的、其他適用的光敏器件，這在相應(yīng)測(cè)量方法的測(cè)量裝置
部分具體描述。有些性能的測(cè)量既可以采用光電倍增管，也可以根據(jù)具體應(yīng)用需求、待測(cè)閃爍體的發(fā)射光譜特
性等選擇其他合適的光敏器件，本文件中主要描述采用光電倍增管的方法與要求，當(dāng)采用其他光敏器件時(shí)，相
應(yīng)要求可參照光電倍增管的，并在給出結(jié)果時(shí)說明所用的光敏器件類型。
高壓電源低壓電源
放射源*閃爍體光電倍增管匹配級(jí)主放大器
探頭
多道脈沖幅度
分析器
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w$"$"$%!!應(yīng)使用已知能量的放射性核素作為α、β、γ、X射線源與中子源。
w$"$"$"!!放射源的能量分散對(duì)待測(cè)參數(shù)的影響應(yīng)可忽略不計(jì)。
w$"$"$-!!需用多準(zhǔn)直孔或單準(zhǔn)直孔α源時(shí)，孔的直徑應(yīng)不超過準(zhǔn)直器的厚度（推薦值為3mm），多
孔準(zhǔn)直器孔軸的間距應(yīng)不小于孔直徑的兩倍。
w$"$"$w!!測(cè)試推薦使用的放射源及其主要特性見附錄A。
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閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品（以下簡(jiǎn)稱為標(biāo)樣）的確定和選取應(yīng)符合GB/T10257—2001中6.1.5中的有關(guān)規(guī)定。
標(biāo)樣（不含封裝容器）的尺寸見附錄B。
所用標(biāo)樣應(yīng)是與待測(cè)閃爍體同種類型且制作和結(jié)構(gòu)相同的閃爍體，標(biāo)樣及待測(cè)閃爍體用單能的同類
輻射激發(fā)。標(biāo)樣與待測(cè)閃爍體直徑不同時(shí)，其相對(duì)差值應(yīng)不超過25%，并應(yīng)對(duì)測(cè)量結(jié)果加以必要的修
正。
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w$"$w$%!!探頭包括閃爍體、光電倍增管、光屏蔽外殼、光電倍增管高壓分壓器和匹配級(jí)。閃爍體和光
電倍增管應(yīng)置于光屏蔽外殼之內(nèi)。必要時(shí)可以在閃爍體與光電倍增管之間置入光導(dǎo)。允許將高壓分壓器
及匹配級(jí)置于光屏蔽外殼之外。
w$"$w$"!光電倍增管高壓分壓器電流應(yīng)比光電倍增管平均陽極電流大10倍以上。
w$"$w$-!!脈沖工作狀態(tài)時(shí)，光電倍增管輸出回路的時(shí)間常數(shù)（包括放大器的輸入電容在內(nèi)），應(yīng)在
1μs～10μs之間。
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電源應(yīng)穩(wěn)定，高壓電源的不穩(wěn)定性應(yīng)優(yōu)于0.1%，紋波和噪聲應(yīng)不大于30mV。
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w$"$€$%!!測(cè)量系統(tǒng)的非線性應(yīng)不大于3%（置信度95%）。脈沖法測(cè)量系統(tǒng)的非線性的測(cè)量方法見附
錄C。電流法測(cè)量系統(tǒng)的非線性的測(cè)量方法見附錄D。
w$"$€$"!!測(cè)量系統(tǒng)的不穩(wěn)定性，脈沖幅度分辨率測(cè)量時(shí)應(yīng)不大于3%、其他測(cè)量時(shí)應(yīng)不大于2%（置信
度95%）。不穩(wěn)定性的測(cè)量方法見附錄E。測(cè)量過程中對(duì)穩(wěn)定性的檢測(cè)應(yīng)每工作不超過7h測(cè)一次。當(dāng)
不穩(wěn)定性超出要求，則前一次檢測(cè)及之后的測(cè)量數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)遺棄。
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w$-$%!!測(cè)量前，閃爍體必須蔽光存放，其時(shí)間長(zhǎng)短由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
w$-$"!!閃爍體光學(xué)窗與光電倍增管光窗之間應(yīng)加合適的光耦合材料。
w$-$-!!測(cè)量前，光電倍增管應(yīng)加高壓預(yù)熱，直至達(dá)到正常穩(wěn)定工作狀態(tài)。
w$-$w!!所有參數(shù)的測(cè)量應(yīng)在閃爍體與光電倍增管完全蔽光的環(huán)境中進(jìn)行。
w$-${!!γ與X射線點(diǎn)源應(yīng)置于閃爍體的軸線上（以閃爍體表面的中心計(jì)算，偏差應(yīng)小于5°），放射源
7
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與閃爍體入射窗的距離應(yīng)不小于閃爍體直徑或?qū)蔷€的兩倍。α、β源應(yīng)直接置于閃爍體入射窗面上。
其他安置方式應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。
w$-$€!!光電倍增管光窗的有效面積一般不小于閃爍體光學(xué)窗的面積。光電倍增管光窗的面積小于閃爍
體光學(xué)窗的面積時(shí)，應(yīng)使用光導(dǎo)或由多只光電倍增管組成的光電倍增管陣列。
w$-$#!!一般應(yīng)將全吸收峰或康普頓邊緣調(diào)至總道數(shù)三分之二處附近。測(cè)量脈沖幅度譜時(shí)，應(yīng)使用總道
數(shù)不少于256道的多道脈沖幅度分析器，分析器的道寬應(yīng)小于對(duì)應(yīng)全吸收峰或康普頓分布邊緣脈沖幅度
的1%。
w$-$(!!測(cè)譜的積分計(jì)數(shù)時(shí)，計(jì)數(shù)率應(yīng)不大于3×103s-1，這可通過調(diào)整放射源與探測(cè)器之間的距離或選
取適當(dāng)活度的放射源達(dá)到。
w$-$?!!測(cè)量脈沖幅度譜的累積時(shí)間，應(yīng)保證譜中對(duì)應(yīng)全吸收峰或康普頓邊緣的道計(jì)數(shù)不小于3×103。
當(dāng)選用其他值時(shí)，應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中加以規(guī)定。
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w$w$%!!所用放射源應(yīng)符合GB4075—2009的要求。
w$w$"!!所有與使用放射源相關(guān)的工作，應(yīng)遵守GB18871—2002中規(guī)定的原則。
w$w$-!!所有測(cè)量設(shè)備均接地。
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單能γ輻射射入閃爍探測(cè)器，其輸出脈沖幅度的分布，主要由康普頓分布及全吸收峰（低原子序數(shù)
的閃爍體除外）等譜段組成。全吸收峰法與康普頓邊緣法分別以全吸收峰或康普頓分布邊緣幅度作為判
定閃爍體光輸出的量度。待測(cè)閃爍體與標(biāo)樣的相應(yīng)幅度相比得到相對(duì)光輸出。
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{$%$"$%!工作于脈沖狀態(tài)的閃爍參數(shù)測(cè)量裝置，其方框圖見圖1。
{$%$"$"!光電倍增管陰極的靈敏度不均勻性（按待測(cè)閃爍體最大直徑所對(duì)應(yīng)的面積考慮）應(yīng)不超過20%。
{$%$"$-!放射源的類型由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
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{$%$-$%!將標(biāo)樣光耦合于光電倍增管光窗上。
{$%$-$"標(biāo)樣與光電倍增管蔽光，然后給光電倍增管加高壓。
{$%$-$-!安置放射源。允許將放射源置于探頭外殼內(nèi)，此時(shí)5.1.3.2與5.1.3.3逆序進(jìn)行。
{$%$-$w!測(cè)量脈沖幅度譜，確定對(duì)應(yīng)全吸收峰或康普頓分布邊緣的脈沖幅度?