DL∕T 859-2015 高壓交流系統(tǒng)用復合絕緣子人工污穢試驗

備案號：50766-2015高壓交流系統(tǒng)用復合絕緣子2015-07-01發(fā)布2015-12-01實施國家能源局發(fā)布I IⅡ 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 14一般試驗要求 25固體層法 4 9附錄A(資料性附錄)評定試驗設備是否符合要求的補充資料 附錄B(規(guī)范性附錄)污穢水平和統(tǒng)一爬電比距的關系 附錄C(資料性附錄)檢驗污層均勻性的測量方法 附錄D(規(guī)范性附錄)固體層法中評定或檢驗絕緣子耐受特性的方法 附錄E(規(guī)范性附錄)固體層法升壓閃絡試驗方法 附錄F(規(guī)范性附錄)鹽霧法閃絡試驗方法 附錄G(規(guī)范性附錄)評定或檢驗絕緣子耐受特性的鹽霧法 GB/T2900.5電工術語絕緣固體、液體和氣體GB/T2900.8電工術語絕緣子GB/T16927.2高電壓試驗技術第2部分：測量系統(tǒng)K2鹽密saltdepositdensity;SDD絕緣子在6.5或5.7.3規(guī)定的條件下，4次試驗中至少有3次試驗能耐4一般試驗要求3DL/T859—2015冒統(tǒng)一爬電距離USCD(mm/kV)4混合物的基準污穢度鹽密SDD污層電導率K?07%顆粒分析(累積分布)5表1中列出了絕緣子表面上基準污穢度與20℃時污液體積電導率間近似的對應關系。表3列出了高嶺土的主要特性，表3中顆粒分布表示高嶺土總質量百分數(shù)值的顆粒能通過的篩孔直徑(μm),其體積污染絕緣子絕緣表面上污穢度的最大誤差為規(guī)定值的±15%。%顆粒分析(累積分布)由于這層硅藻土極薄，因此并不影響復合絕緣子的灰密。涂污應在試品預處理后1h內完成。染污應在試品預處理后1h內完成。對線路絕緣子宜使用定量涂刷法，對大直徑套管宜采用噴污法。每只試品所需的氯化鈉和不溶惰性物質量，氯化鈉的稱量誤差不超過所需量的±1%,不溶物的稱量誤差不超過所需量的±10%,然后加上適量的軟化水。如果需要，還可加上適量糊精(或明膠),將其攪6曲線1—灰密0.1mg/cm2(對應灰度100g/);曲線2—灰密0.5mg/cm2(對應灰度240g/l);曲線3—灰密1.0mg/cm2(對應灰度320g/)污液灰度(g/l)7b)將預處理過的試品小心浸入，轉動1周～2周后拿出，在實驗室標準環(huán)境條件下干燥。對傘裙5.4被試絕緣子污穢度的測定最后將沉積物溶解在已知量的水中，最好使用軟化水。得到的污液在溫度θ(℃)下測量體積電導率og(S/m)前，應至少保持攪動2min,然后按本標準式(5)求得o?0值。測量時應對試品每米爬電距離施加電壓約700V(rms),施加電壓的時間只需維持至能讀出儀表讀污層電導率應按下式換算至基準溫度20℃:K?0=Ke[1-b(θ-20)] 5.5染污試品表面憎水狀態(tài)的模擬為模擬現(xiàn)場正常運行具有良好憎水性復合絕緣子(表面憎水性為HC1～HC3)的表面，應使用惰性物質為5.1.1中規(guī)定硅藻土配成的污液，并使涂污試品遷移一段時間后再進行試驗。在實驗室標準環(huán)境條件下，人工污穢絕緣子應遷移4天再進行試驗。85.7.1程序A最大峰值的70%。5.7.2程序B9c)應按5.4的規(guī)定測定被試品的污層電導。d)在正常周圍溫度下，輸入霧室中霧的濃度和流動速度宜滿足在20min～90min(親水性20min~40min,憎水性90min左右，弱憎水性30min～50min)內使試品污層電導率達到最大值。試驗時測得的污層電導率的最大值作為基準污層電導率。然后瞬時地或在不超過5s的時間內對試品加上試驗電壓并維持至閃絡，如不出現(xiàn)閃絡則維持15min。5.7.3耐受試驗和判定準則(程序A和程序B)如果在進行的3次連續(xù)的試驗期間未發(fā)生閃絡，則認為該絕緣子符合本標準。如僅出現(xiàn)一次閃則應進行第4次試驗，如果不發(fā)生閃絡，則認為該絕緣子滿足本標準。固體層法閃絡試驗方法見附錄E。6鹽霧法14、20、28、40、56、80、112、180和224kg/m3等級中選取，允許最大誤差為規(guī)定值的±5%。規(guī)定鹽度的鹽溶液在20℃時的體積電導率和密度值間的對應關系見表4。體積電導率02057O20=oo b5DL/T859—20156.4預處理過程試品預處理過程及要求為：a)試驗時，將滿足4.2要求的試品按4.3的規(guī)定安裝于霧室中，啟動噴霧器。b)在基準鹽度下施加80%的規(guī)定試驗電壓并持續(xù)3h。c)在預處理過程期間，電源的特性應不低于4.4規(guī)定。6.5耐受試驗本試驗的目的是驗證絕緣子在規(guī)定試驗電壓下是否能耐受規(guī)定的鹽度。6.5.2試驗程序試驗程序如下：a)在被試品和霧室條件滿足6.3和6.4的規(guī)定后，進行試驗。b)在規(guī)定試驗電壓下，對絕緣子施加6.1中規(guī)定鹽度的鹽溶液，然后對絕緣子進行一個系列試驗。每一次試驗施加的電壓為Up,持續(xù)時間為1h,且在2次耐受試驗之間的時間間隔不大于30min。每次試驗前應用自來水徹底清洗絕緣子，使鹽全部清洗干凈。6.5.3接收準則應按6.5.2規(guī)定的程序共進行12次連續(xù)試驗，若耐受次數(shù)不低于8次，則認為絕緣子滿足了本標準規(guī)定。6.6閃絡試驗鹽霧閃絡試驗方法見附錄F。6.7評定或檢驗絕緣子耐受特性的鹽霧法絕緣子耐受特性的評定或檢驗方法見附錄G。A(峰值)統(tǒng)一爬電比距固體層法鹽密0.1～0.20—DL/T859—2015(資料性附錄)C.1裝置和方法檢驗絕緣子絕緣表面濕污層均勻性的裝置是由一個探頭和一個儀表構成。探頭電極的布置如圖C.1所示，由直徑為5mm、中心距離為14mm的兩個球形不銹鋼電極構成。在檢測時兩個探頭應在絕緣子表面上施加約為9N的力。C.2準則各測量值與平均值之差不大于平均值的30%,則認為污層的均勻性滿足試驗要求。圖C.1探頭電極的布置(單位：mm)圖C.2儀器回路圖(規(guī)范性附錄)D.1最大耐受電壓的測定D.1.1測定方法以預期的最大耐受電壓作起始電壓，每級升降電壓級差約為起始電壓值的5%。每級電壓下的試驗程序與5.7相同。若在任一電壓下的閃絡次數(shù)為2,則不應在相同或較高電壓下進行試驗；若在任一電壓下的耐受次數(shù)為3,則不應在相同或較低電壓下進行試驗。D.1.2判定準則絕緣子能通過耐受污層電導率試驗或耐受鹽密試驗的最高電壓，為在該污D.250%耐受電壓的測定絕緣子在某一給定基準污層電導率或基準鹽密下的50%耐受電壓的測定，應在某一基準污穢度下經受至少10次“有效的”試驗，試驗應按5.7進行。試驗采用升降法，每級升降電壓的電壓級差約為預期的50%耐受電壓的10%。將與前一次試驗相比或是耐受或是閃絡的第一次試驗作為第一個“有效的”試驗后的至少9次試驗才算作有效的試驗，并通過10次有效試驗電壓值來確定50%耐受電壓。50%耐受電壓應按下式計算：N——在同一施加電壓值u;下進行試驗的次數(shù)。DL/T859—2015每只(串)試品閃絡一次，共試驗3只(串)試品，以3只(串)試品閃絡電壓的平均值作為試品b)對已按a)準備好的試品