GB∕ T 2423.64-2023 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fj：振動 長時間歷程再現(xiàn)（正式版）

2023-09-07發(fā)布國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會 I Ⅱ 1 2 4 4 4 4 610最終檢測和功能檢測 611有關規(guī)范應給出的信息 612試驗報告應給出的信息 7附錄A(資料性)導則 附錄NA(資料性)GB/T2423的組成文件 1本文件等同采用IEC60068-2-85:2019《環(huán)境試驗第2-85部分：試驗試驗Fj:振動長時間歷a)為與現(xiàn)有標準協(xié)調，將標準名稱改為《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fj:振動長時間ⅡGB/T2423.64—2023/IEC60068-2-85:2019的瞬態(tài)振動，GB/T2423.56(試驗Fh:寬帶隨機振動和導則)針對較長持續(xù)時間的穩(wěn)態(tài)隨機振動，GB/T2423.58(試驗方法試驗Fi:振動混合模式)針對的是在寬帶隨機背景上疊加正弦或窄帶隨機的混合振動信號。當樣品受到的動態(tài)振動環(huán)境可被這些試驗方法涵蓋，通常推薦使用它們。估算樣品的動態(tài)振動環(huán)境以及在此基礎上選擇合適的試驗方法，參見GB/T2424.26《電工電子產品環(huán)境試驗第3部分：支持文件和導則振動試驗選擇》。文件給出了一種基于規(guī)定的時間歷程通過數(shù)字控制進行振動試驗的方法，其時間歷程應有很長的持續(xù)時間。與大多數(shù)其他振動試驗方法相比，本文件給出的試驗方法是通過規(guī)定一個確定的時域歷程信號和容差要求。進行長時間歷程再現(xiàn)試驗總是需要用戶和規(guī)范制定者進行高度的工程判斷，需要由有關規(guī)范的編制人員來選擇與樣品及其用途相適應的試驗程序、試驗時間歷程和嚴酷等級、容差以及分析1試驗Fj:振動長時間歷程再現(xiàn)IEC60068-2-6環(huán)境試驗第2-6部分：試驗方法試驗Fc:振動(正弦)[Environmentaltesting—Part2-6:Tests—TestFc:VibratiIEC60068-2-47環(huán)境試驗第2-47部分：試驗方法振動、沖擊和類似動態(tài)試驗用試件的安裝(Environmentaltesting—Part2-47:Tests—Mountingofspecimensforvibration,impactandsiIEC60068-2-64環(huán)境試驗第2-64部分：試驗方法試驗Fh:寬帶隨機振動和導則(Environ-2GB/T2423.64—2023/IEC60068-2-85:2019mentaltesting—Part2-64:Tests—TestFh:Vibration,broadbandrandomandgui3術語和定義橫向運動cross-axismotion優(yōu)選試驗軸preferredtestingaxes對應于樣品最薄弱軸向的3個正交軸。3械失效(見8.2和8.5)。45有5條譜線。6a)控制點*(A.2.2,A.2.3);c)基本運動*(4.2);d)固定點*(3.2);f)樣品安裝*(4.4);h)試驗頻率范圍*;1)預處理(第6章);7m)初始檢測*(第7章);q)恢復(第9章);r)最終檢測和接收或拒收的判據(jù)(第10章);t)功能和功能檢測(第10章)。8GB/T2423.64—2023/IEC60068-2-85:2019(資料性)A.1一般介紹長時間歷程再現(xiàn)試驗方法使用測量得到的時間歷程響應數(shù)據(jù)，通過振動進行實驗室試驗。當需要在試驗中保留復雜時間歷程的特定細節(jié)，且只能通過直接再現(xiàn)實際使用載荷來實現(xiàn)時，長時間歷程再現(xiàn)試驗方法優(yōu)于隨機振動方法或沖擊響應譜(SRS)方法。長時間歷程再現(xiàn)試性最高。另一個優(yōu)點是，在考慮未知因素的影響并建立適當?shù)闹眯畔迺r，本方法可更方便地引入相關為了確保長時間歷程再現(xiàn)試驗條件在振動激勵器的能力范圍內，需要對測量得到的時間歷程進行無論何種類型的振動激勵器都是可接受的，只要能夠滿足本試驗方法給出的試驗要求。可預期長時間歷程再現(xiàn)試驗中使用的大多數(shù)數(shù)字振動控制儀的性能是相似的。通過振動控制儀的一些可選參A.2試驗要求A.2.1單點控制時間歷程激勵是通過在特定位置對被測樣品的振動運動進行采樣并將其控制在指定范圍內來實現(xiàn)的。該位置可在樣品固定點處或附近(輸入控制),也可在樣品上的指定點(響應控制)。長時間歷程再輸入控制試驗是將樣品某個正常連接點上所施加激勵的時間歷程控制在規(guī)定范圍內。響應控制試驗是使得樣品的響應達到規(guī)定的時間歷程。當規(guī)定的嚴酷度代表實際使用中的樣品響應時，兩種控制響應控制試驗要求樣品和安裝夾具的動態(tài)特性與實際使用時的動態(tài)特性相似。這通常需要了解樣通常，長時間歷程再現(xiàn)試驗中控制信號所選擇的位置宜與現(xiàn)場測量時進行數(shù)據(jù)采集的位置保持一9規(guī)定的時間歷程與測得的樣品響應時間歷程之間最大響應譜(MRS)的比較提供了一種分GB/T2423.64—2023/IEC60068-2-8試驗規(guī)范宜給出所選用的參數(shù)及容差。下列容差數(shù)值可作為參考。a)在至少90%的時間內，控制時間歷程與規(guī)定時間歷程的偏差不宜超過20%。b)瞬時峰值量級和塊均方根值(RMS)宜在10%之內。c)給定幅值概率的幅度宜在規(guī)定幅度的20%之內。d)最大響應譜宜在根據(jù)規(guī)定時間歷程計算得出的頻譜的士3dB之內。e)疲勞損傷譜宜在根據(jù)規(guī)定時間歷程計算得出的頻譜的士6dB之內。f)循環(huán)和量值穿越計數(shù)宜在規(guī)定時間歷程計數(shù)的10%之內。g)功率譜密度(PSD)宜在規(guī)定時間歷程功率譜密度的士3dBh)試驗時間宜在規(guī)定值的士2%之內。A.3試驗程序如果試驗只是為了證明樣品在適當?shù)募盍恐迪履褪苣芰凸ぷ髂芰Γ瑒t試驗只需持續(xù)足以證明為了對正常使用時安裝在減振器上的設備進行耐久性試驗，通常需要安裝減振器。如果無法使用裝減振器的情況下采用不同的嚴酷等級對設備進行試驗。確定嚴酷等級時宜考慮到減振系統(tǒng)在每個試A.4正常使用時帶有減震器的樣品對于本應帶減振器進行試驗但試驗時減振器無法參試的情況，IEC60068-2-47提供了完整的處理A.4.2溫度效應需要重點關注的是，許多減振器包含力學特性對溫度敏感的材料。如果裝上減振器后樣品的一階許恢復的連續(xù)激勵方式進行試驗可能是不合理的。如果一階共振頻率的實際激勵時間分布已知，宜盡A.5試驗嚴酷等級A.6樣品性能GB/T2423.64—2023/IEC60068-2-85A.7初始和最終檢測A.8頻率范圍時間歷程再現(xiàn)所采用的波形不必是穩(wěn)態(tài)的或服從高斯分布。時間歷程再現(xiàn)方法的基本要求是所要再現(xiàn)波形的頻率范圍需在所用試驗設備的能力范圍之內。如果只是要再現(xiàn)振動響應，波形的頻率范圍多，典型的情況是試驗設備能力的十分之一。實際上時間歷程再現(xiàn)試驗所使用的波形通常是振動背景有關規(guī)范宜當說明時間歷程再現(xiàn)的波形中具有主要影響的頻率范圍。為再現(xiàn)一些瞬態(tài)成分的波實際上，所需波形和振動控制系統(tǒng)的輸入一般會與樣品控制點上測得的波形有一定差別。只是由振動控制系統(tǒng)要對所需的波形進行修改來補償振動系統(tǒng)的頻響特性，同時也保證波形的特性在振動系統(tǒng)的能力范圍內(典型情況為加速度、速度和位移限制范圍)。對振動系統(tǒng)頻響特性所進行的補償誤差限制在最小程度，一些商用時間歷程再現(xiàn)控制系統(tǒng)允許針對波形中不同的部分采用不同的補償為確保時間歷程再現(xiàn)試驗在試驗設備的能力范圍內，難免要對所測波形進行一定的調整。為保證所需波形的頻率范圍在試驗設備的頻率范圍內，可能需要對所需波形進行低通濾波。為避免超出試驗設備的位移或速度限制，可能需要對波形進行高通濾波以去除低頻成分。是否要進行高通濾波可通過對加速度波形進行積分得到速度波形，然后再對速度波形進行積分得到位移波形來判斷。對時間歷程驅動的運動部分的總質量，給定波形的加速度峰值不宜造成所需的推力超過激振器的極限。在進行了范圍要小于這個值。通常的頻率上限是2kHz~3kHz,大型電動振動臺和水平滑臺伺服系統(tǒng)的實際頻率上限可能是500Hz。GB/T2423.1—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2-GB/T2423.2—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-GB/T2423.3—2016環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-GB/T2423.4—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱(12h+GB/T2423.5—2019環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊(IEC60068-2-27:GB/T2423.7—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于GB/T2423.10—2019環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動(正弦)(IEC60068-2-6:GB/T2423.15—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ga和導則：穩(wěn)態(tài)加速度(IEC60068-2-7:1GB/T2423.17—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka:鹽霧(IEC60068-GB/T2423.18—2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液)(IEC60068-2-52:20GB/T2423.19—2013環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗(IEC60068-2-42:2003,IDT)GB/T2423.20—2014環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗(IEC60068-2-43:20GB/T2423.21—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M:低氣壓(IEC60068-2-13:19環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14:環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Q:密封(IEC60068-2-17:1994,環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗S:模擬地面上的太陽輻射及太陽輻GB/T2423.27-2020環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫GB/T2423.28—2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗T:錫焊(IEC60068-GB/T2423.30—2013環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗XA和導則：在清洗劑中浸漬GB/T2423.32—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ta:潤濕稱量法可焊GB/T2423.33—2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗GB/T2423.34-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗GB/T2423.35-2019環(huán)境試驗第2部分：試驗和導則氣候(溫度、濕度)和動力學(GB/T2423.37-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L:沙塵試驗GB/T2423.38-2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R:水試驗方法和導則(IEC60068-GB/T2423.39—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ee和導則：散裝貨物試驗包含彈跳GB/T2423.40—2013環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱GB/T2423.41—2013環(huán)境試驗第2部分：試驗方法風壓GB/T2423.43—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法振動、沖擊和類似動力學GB/T2423.45—2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序(IEC60068-2-GB/T2423.47—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fg:聲振(IEC60068-2-65:2013,GB/T2423.48—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ff:振動時間歷程和正弦拍頻法GB/T2423.50—2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速GB/T2423.51-2020環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗GB/T2423.52—2003電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗77:結構強度與撞擊GB/T2423.53—2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Xb:由手的磨擦造成GB/T2423.54—2022環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Xc:流體污染(IEC60068-2-74:GB/T2423.55—2023電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：環(huán)境測試試驗Eh:錘擊試驗GB/T2423.56—2023環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh:寬帶隨機振動和導則GB/T2423.57—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2-81部分：試驗方法試驗Ei:沖擊沖擊響GB/T2423.58—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2-80部分：試驗方法試驗Fi:振動混合模GB/T2423.59—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABMFh:溫度(低GB/T2423.60—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗U:引出端及整體安環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗和導則：大型試件砂塵試驗環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fx和導則：多輸入多輸出振動環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fj:振動長時間歷程再現(xiàn)(IECGB/T2423.101—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：傾斜和搖擺GB/T2423.102—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度(低溫、高[1]GB/T2423.10環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動(正弦)[2]GB/T2423.28電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗T:錫焊[3]GB/T2423.43—2018電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法振動、沖擊和類似動[4]GB/T2423.56—2023環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh:寬帶隨機振動和導則[5]GB/T2423.58電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fi:振動混合模式[7]ISO/IEC17025Generalrequirementsforthe[8]I