無損檢測 絕緣材料太赫茲檢測方法 征求意見稿

1無損檢測絕緣材料太赫茲檢測方法本文件規(guī)定了使用太赫茲光譜進行絕緣材料水分含量和缺陷檢本文件適用于溫度為0℃~40℃、含水量小于100mg/L的絕緣液體以及溫度為0℃~40℃、GB/T7600運行中變壓器油和汽輪機油水分GB/T9445無損檢測人員資格鑒GB/T20737無損檢測通用術語Oil-impregnatedpaperandpressboard-DeterminationofwaterbyautomaticcoulometricKarlGB/T2900.5、GB/T13962和GB/T23.14.1.1原理圍內吸收系數積分值與被測樣品的含水量成線性關系。透射法測定絕緣材料中水分含量的基本原理見2根據測試需要，透射式測試光路可選擇透鏡透射光路以及離軸透射光路，42421a）透鏡透射光路34.1.2光學參數的計算通過傅里葉變換將太赫茲時域譜E(t)轉變?yōu)榘岛拖辔坏念l譜Er(w)=∫Er(t)e?iwtdt=Ar(w)eiφr(wEs(w)=∫Es(t)e?iwtdt=As(w)eiφs(w·············································c——光速，單位為米每秒（m/sd——被測樣品厚度，單位為毫米（mmw——角頻率?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁみx取適當的頻域區(qū)間對吸收系數進行積分，并按公式（5）計算特征量Sα:4.2缺陷檢測——反射法反射式太赫茲時域光譜系統與透射式原理基本相同，其不同點是反射式太赫茲時域光譜系統的太赫茲發(fā)射器和接收器處在樣品的同一側。太赫茲發(fā)射器產生的探測脈沖輻射以一定角度入射到被測樣4息的探測脈沖經過反射后集中在太赫茲接收器上并被記錄下來。通過分析太赫茲反射波譜的幅值和相根據測試需要，反射式測試光路可選擇角度反射光路、垂直反射光路以及離軸反射光路，見11423116按本文件實施檢測的入員，應按GB/T9445或合同各方同意的體系進行資格鑒定與認證，并由雇主a)光譜范圍為（0.1～4）THz；56.2.2掃查裝置應具有位置指示激光器指示當前被測的實際6.2.4可采用手工或能精確控制掃查路徑的輔助裝置實施掃查。輔助裝置包括手持式、導軌式、框架6.3.3存儲的數據可以通過數據處理軟件隨時進行回看以及6.3.4應保存原始圖像，存儲圖像的格式應對圖像細節(jié)的識別無6.4校準試塊6.5.1檢測用純水為新制備的去離子水612436.5.7微量進樣器量程為（10～16.5.9鼓風干燥箱溫度范圍為（10～7c)不同絕緣液體材料設置梯度干燥時間不同，礦h、2h、3h、4h、6h、8h、d)若水分未完全溶解，應重復震蕩攪拌至水分a)測試前應保證環(huán)境穩(wěn)定，標準樣品和被測樣品的時間窗口、溫度、濕度應保持一致。b)液體的參考信號為空比色皿信號,且每批密封保存。測試樣品制備過程中，禁止觸摸比色皿前后光路通d)獲取各標準樣品透射太赫茲時域信13745268a)測試前需保證環(huán)境穩(wěn)定，標準樣品和被測樣品的時間窗口、溫度、濕度應保持一致。測試獲取含水量。兩部分應同時進行測試，9Sα,以特征值為橫坐標，含水量為縱坐標，繪制標準曲線，線性回歸方程表達式為：K=aSα+b···········································································(6)K——樣品含水量，固體絕緣材料單位為百分比（%液體絕緣材料單位為毫克每升（mg/L時域光譜，并按公式（5）計算被測樣品的特征值Sα,按公式（6）計算被測樣品的含水量。7.2缺陷檢測檢測前，應測量被檢測樣品的厚度，纖維素類材料厚度不宜超?t0——校準試塊的理論時間延遲差，單位為皮秒（psd0——校準試塊的厚度，單位為毫米（mmθ——太赫茲探測脈沖入射角度，單位為度(°)。按公式（8）計算修正值，并按修正值的結果對時域信號進Σ(Δt一Δt)········································································(8)Δt——第i次實際測量的時間延遲差，單位為皮秒（psi——測量次數，i≥10。按公式（7）和（8）以及表1的規(guī)定確定每一校準試塊的理論時間延遲差Δti和實測時間延遲差Δμmpsps1d12d23d34d45d56d6idi平面。當測試不同樣品或者更換太赫茲裝置時，應重新按照上述方法進行樣品位置調緩慢遮擋被測樣品表面，直到觀察到信號值極值差下降到大約1/2最大值，XY方向上金屬擋板邊緣的交叉點即為太赫茲光斑位置，將紅色激光光斑定位至太赫茲檢的需求確定掃描步長，其數值不應大于橫向成像分辨率的1/3。如樣品表面為曲面，則應建立被測物表面的數據模型，并導入相應的掃查裝置控制軟件中，通過自動掃查裝置對曲面進行掃描注：絕緣材料常見典型缺陷波形圖參見附錄B?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁ1——缺陷深度，單位為毫米（mm?t1——被測物上表面與缺陷上表面反射峰之間的時間延遲，單位為皮秒（psn0——被測物折射率；θ——太赫茲探測脈沖入射角度，單位為度(°)。缺陷厚度為缺陷上表面與缺陷下表面之間的距離····································?t——非缺陷處被測物上表面與下表面反射峰之間的時間延遲，單位為皮秒（ps）;Δt2——缺陷下表面與被測物下表面反射峰之間的時間延遲，單位為皮秒（psθ——太赫茲探測脈沖入射角度，單位為度(°);注：Δt為非缺陷位置測得，由于材料可能存在不均勻性需要進行多S=··································································S——二維圖像中單個像素的面積，單位為平方毫米每像素（mm2/px）；w——物體寬度，單位為毫米（mmm——物體所對應的像素點數，單位為像素（px）。通過確定被測物缺陷面積上所占有的像素點數計算出缺陷的面積大小。參照物在使用過程中如存為“缺陷厚度小于0.03mm”。絕緣材料太赫茲檢測報告見附錄C。報告至少h)檢測人員和審核人員。標準分辨率測試板應由一系列大小不同的測試元素組成，其范圍應滿足被測儀器分辨率測試的范每個測