無(wú)損檢測(cè) 絕緣材料太赫茲?rùn)z測(cè)方法 征求意見(jiàn)稿

1無(wú)損檢測(cè)絕緣材料太赫茲?rùn)z測(cè)方法本文件規(guī)定了使用太赫茲光譜進(jìn)行絕緣材料水分含量和缺陷檢本文件適用于溫度為0℃~40℃、含水量小于100mg/L的絕緣液體以及溫度為0℃~40℃、GB/T7600運(yùn)行中變壓器油和汽輪機(jī)油水分GB/T9445無(wú)損檢測(cè)人員資格鑒GB/T20737無(wú)損檢測(cè)通用術(shù)語(yǔ)Oil-impregnatedpaperandpressboard-DeterminationofwaterbyautomaticcoulometricKarlGB/T2900.5、GB/T13962和GB/T23.14.1.1原理圍內(nèi)吸收系數(shù)積分值與被測(cè)樣品的含水量成線性關(guān)系。透射法測(cè)定絕緣材料中水分含量的基本原理見(jiàn)2根據(jù)測(cè)試需要，透射式測(cè)試光路可選擇透鏡透射光路以及離軸透射光路，42421a）透鏡透射光路34.1.2光學(xué)參數(shù)的計(jì)算通過(guò)傅里葉變換將太赫茲時(shí)域譜E(t)轉(zhuǎn)變?yōu)榘岛拖辔坏念l譜Er(w)=∫Er(t)e?iwtdt=Ar(w)eiφr(wEs(w)=∫Es(t)e?iwtdt=As(w)eiφs(w·············································c——光速，單位為米每秒（m/sd——被測(cè)樣品厚度，單位為毫米（mmw——角頻率?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁみx取適當(dāng)?shù)念l域區(qū)間對(duì)吸收系數(shù)進(jìn)行積分，并按公式（5）計(jì)算特征量Sα:4.2缺陷檢測(cè)——反射法反射式太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)與透射式原理基本相同，其不同點(diǎn)是反射式太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)的太赫茲發(fā)射器和接收器處在樣品的同一側(cè)。太赫茲發(fā)射器產(chǎn)生的探測(cè)脈沖輻射以一定角度入射到被測(cè)樣4息的探測(cè)脈沖經(jīng)過(guò)反射后集中在太赫茲接收器上并被記錄下來(lái)。通過(guò)分析太赫茲反射波譜的幅值和相根據(jù)測(cè)試需要，反射式測(cè)試光路可選擇角度反射光路、垂直反射光路以及離軸反射光路，見(jiàn)11423116按本文件實(shí)施檢測(cè)的入員，應(yīng)按GB/T9445或合同各方同意的體系進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證，并由雇主a)光譜范圍為（0.1～4）THz；56.2.2掃查裝置應(yīng)具有位置指示激光器指示當(dāng)前被測(cè)的實(shí)際6.2.4可采用手工或能精確控制掃查路徑的輔助裝置實(shí)施掃查。輔助裝置包括手持式、導(dǎo)軌式、框架6.3.3存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)可以通過(guò)數(shù)據(jù)處理軟件隨時(shí)進(jìn)行回看以及6.3.4應(yīng)保存原始圖像，存儲(chǔ)圖像的格式應(yīng)對(duì)圖像細(xì)節(jié)的識(shí)別無(wú)6.4校準(zhǔn)試塊6.5.1檢測(cè)用純水為新制備的去離子水612436.5.7微量進(jìn)樣器量程為（10～16.5.9鼓風(fēng)干燥箱溫度范圍為（10～7c)不同絕緣液體材料設(shè)置梯度干燥時(shí)間不同，礦h、2h、3h、4h、6h、8h、d)若水分未完全溶解，應(yīng)重復(fù)震蕩攪拌至水分a)測(cè)試前應(yīng)保證環(huán)境穩(wěn)定，標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品的時(shí)間窗口、溫度、濕度應(yīng)保持一致。b)液體的參考信號(hào)為空比色皿信號(hào),且每批密封保存。測(cè)試樣品制備過(guò)程中，禁止觸摸比色皿前后光路通d)獲取各標(biāo)準(zhǔn)樣品透射太赫茲時(shí)域信13745268a)測(cè)試前需保證環(huán)境穩(wěn)定，標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品的時(shí)間窗口、溫度、濕度應(yīng)保持一致。測(cè)試獲取含水量。兩部分應(yīng)同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，9Sα,以特征值為橫坐標(biāo)，含水量為縱坐標(biāo)，繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線，線性回歸方程表達(dá)式為：K=aSα+b···········································································(6)K——樣品含水量，固體絕緣材料單位為百分比（%液體絕緣材料單位為毫克每升（mg/L時(shí)域光譜，并按公式（5）計(jì)算被測(cè)樣品的特征值Sα,按公式（6）計(jì)算被測(cè)樣品的含水量。7.2缺陷檢測(cè)檢測(cè)前，應(yīng)測(cè)量被檢測(cè)樣品的厚度，纖維素類材料厚度不宜超?t0——校準(zhǔn)試塊的理論時(shí)間延遲差，單位為皮秒（psd0——校準(zhǔn)試塊的厚度，單位為毫米（mmθ——太赫茲探測(cè)脈沖入射角度，單位為度(°)。按公式（8）計(jì)算修正值，并按修正值的結(jié)果對(duì)時(shí)域信號(hào)進(jìn)Σ(Δt一Δt)········································································(8)Δt——第i次實(shí)際測(cè)量的時(shí)間延遲差，單位為皮秒（psi——測(cè)量次數(shù)，i≥10。按公式（7）和（8）以及表1的規(guī)定確定每一校準(zhǔn)試塊的理論時(shí)間延遲差Δti和實(shí)測(cè)時(shí)間延遲差Δμmpsps1d12d23d34d45d56d6idi平面。當(dāng)測(cè)試不同樣品或者更換太赫茲裝置時(shí)，應(yīng)重新按照上述方法進(jìn)行樣品位置調(diào)緩慢遮擋被測(cè)樣品表面，直到觀察到信號(hào)值極值差下降到大約1/2最大值，XY方向上金屬擋板邊緣的交叉點(diǎn)即為太赫茲光斑位置，將紅色激光光斑定位至太赫茲?rùn)z的需求確定掃描步長(zhǎng)，其數(shù)值不應(yīng)大于橫向成像分辨率的1/3。如樣品表面為曲面，則應(yīng)建立被測(cè)物表面的數(shù)據(jù)模型，并導(dǎo)入相應(yīng)的掃查裝置控制軟件中，通過(guò)自動(dòng)掃查裝置對(duì)曲面進(jìn)行掃描注：絕緣材料常見(jiàn)典型缺陷波形圖參見(jiàn)附錄B。················································d1——缺陷深度，單位為毫米（mm?t1——被測(cè)物上表面與缺陷上表面反射峰之間的時(shí)間延遲，單位為皮秒（psn0——被測(cè)物折射率；θ——太赫茲探測(cè)脈沖入射角度，單位為度(°)。缺陷厚度為缺陷上表面與缺陷下表面之間的距離····································?t——非缺陷處被測(cè)物上表面與下表面反射峰之間的時(shí)間延遲，單位為皮秒（ps）;Δt2——缺陷下表面與被測(cè)物下表面反射峰之間的時(shí)間延遲，單位為皮秒（psθ——太赫茲探測(cè)脈沖入射角度，單位為度(°);注：Δt為非缺陷位置測(cè)得，由于材料可能存在不均勻性需要進(jìn)行多S=··································································S——二維圖像中單個(gè)像素的面積，單位為平方毫米每像素（mm2/px）；w——物體寬度，單位為毫米（mmm——物體所對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)數(shù)，單位為像素（px）。通過(guò)確定被測(cè)物缺陷面積上所占有的像素點(diǎn)數(shù)計(jì)算出缺陷的面積大小。參照物在使用過(guò)程中如存為“缺陷厚度小于0.03mm”。絕緣材料太赫茲?rùn)z測(cè)報(bào)告見(jiàn)附錄C。報(bào)告至少h)檢測(cè)人員和審核人員。標(biāo)準(zhǔn)分辨率測(cè)試板應(yīng)由一系列大小不同的測(cè)試元素組成，其范圍應(yīng)滿足被測(cè)儀器分辨率測(cè)試的范每個(gè)測(cè)