材料研究與測試方法學(xué)習(xí)通超星期末考試答案章節(jié)答案2024年

材料研究與測試方法學(xué)習(xí)通超星期末考試章節(jié)答案2024年掃描電鏡與電子探針結(jié)合可實現(xiàn)對試樣的（）

答案:

成分和形貌的綜合分析電子探針對試樣（）

答案:既能定性分析，又能定量分析STEM用電子束在樣品表面掃描進行微觀形貌分析時，探測器置于（）

答案:試樣下方，接受透射電子束流熒光成像高角環(huán)形暗場像的像襯度是（）

答案:原子序數(shù)襯度像（或Z襯度像）能譜儀是通過

對不同能量的特征X射線進行展譜的。（）

答案:Si(Li)半導(dǎo)體波譜儀是通過

對不同波長的特征X射線進行展譜的。（）

答案:分光晶體約翰遜（Johannson）分光晶體不可完全聚焦，曲率半徑為聚焦圓半徑的（）

答案:2倍約翰遜（Johannson）分光晶體可完全聚焦，曲率半徑為聚焦圓半徑的（）

答案:1倍電子探針分析可分析微區(qū)的（）

答案:成分電子探針分析用的物理信號是電子束作用樣品后產(chǎn)生的（）

答案:特征X射線差熱分析法的英文縮寫為（）

答案:DTA微商熱重分析法的英文縮寫為

答案:DTA差示掃描量熱法的英文縮寫為（）

答案:DSC粉狀試樣相比于塊狀試樣（）

答案:導(dǎo)熱性能下降，反應(yīng)過程延長，峰寬增大，峰高下降粉末試樣的粒度愈大，導(dǎo)致（）

答案:

熱效應(yīng)后移粉狀試樣相對于塊狀試樣（）

答案:具有比表面積大，活性強、反應(yīng)提前的特性粉末試樣的粒度愈小，比表面積愈大，活性愈強，導(dǎo)致（）

答案:反應(yīng)的起始溫度降低試樣用量大時，（）

答案:能使峰形變寬并向高溫漂移試樣用量少時（）

答案:相鄰峰分離能力增強、分辨率提高，但DSC的靈敏度會有所降低降低升溫速率，可能會使熱效應(yīng)峰

答案:分裂成多峰為防護X射線一般采用（）

答案:重金屬Pb如果采用Cu(Z=29)靶X光照相，錯用了Fe(Z=26)濾片，會產(chǎn)生（）

答案:特征λkα被大量吸收，而λkβ未被大量吸收，使衍射強度急劇下降X射線的折射率≈1，意味著（）

答案:在穿越不停媒質(zhì)時，方向幾乎不變。電場和磁場均不能改變其傳播方向反沖電子是指（）

答案:束縛較松的外層電子或者自由電子吸收了部分X射線（光量子）的能量而產(chǎn)生的，使X射線的能量降低，波長增加。光電子是指（）

答案:X射線（光量子）作用物質(zhì)后，激發(fā)束縛緊的內(nèi)層電子使之成為自由電子，具有特征能量。電子束碰撞靶材產(chǎn)生特征X射線取決于（）

答案:管壓UX射線的強度是指（）

答案:單位面積上通過X光子的總能量X射線具有波粒二象性是指（）

答案:在一定條件下表現(xiàn)為波動性，而在另一條件下又表現(xiàn)為粒子性X射線不具有以下性質(zhì)（）

答案:可見性X射線是一種電磁波，波長范圍在（）

答案:0.001~10nm選濾片的依據(jù)是讓靶材產(chǎn)生的λkα、λkβ特征X射線盡可能（）

答案:保留λkα、過濾λkβ選靶材的依據(jù)是（）

答案:產(chǎn)生的特征X射線作用試樣后不被試樣大量吸收同一物質(zhì)而言，存在以下關(guān)系（）

答案:

λk質(zhì)量吸收系數(shù)和線吸收系數(shù)相比（）

答案:前者考慮物質(zhì)密度，從而更能反映單位質(zhì)量物質(zhì)對X射線吸收的能力和本質(zhì)X射線作用物質(zhì)產(chǎn)生光電效應(yīng)后，熒光效應(yīng)和俄歇效應(yīng)（）

答案:均能產(chǎn)生，只是兩者的概率不同而已光電效應(yīng)是指（）

答案:入射X射線（入射光子）激發(fā)原子產(chǎn)生特征輻射的過程激發(fā)限波長λk是（）

答案:使K層電子離開形成空位，產(chǎn)生K激發(fā)態(tài)所需最小能量對應(yīng)的波長，與物質(zhì)一一對應(yīng)的常數(shù)X射線與物質(zhì)發(fā)生相關(guān)散射后，其波長將會（）

答案:不變X射線與物質(zhì)發(fā)生非相干散射后，其波長將會（）

答案:增加光譜分析的基礎(chǔ)是（）

答案:特征X射線，莫塞萊公式反射球的直徑為（）

答案:2/λ衍射錐的錐頂角為（）

答案:4θ粉末法中的當(dāng)晶體尺寸粗化時，倒易球球面的致密性（）

答案:減小甚至成漏球采用單色X射線照射多晶體以獲得多晶體衍射花樣的方法是（）

答案:粉末法采用連續(xù)X射線照射不動的單晶體以獲得衍射花樣的方法是（）

答案:勞埃法已知晶面間距的分光晶體來衍射從晶體中發(fā)出來的特征X射線，通過測定衍射角求得對應(yīng)的晶面間距，獲得晶體（）

答案:成分信息已知波長的X射線照射晶體，由測量得到的衍射角求得對應(yīng)的晶面間距，獲得晶體（）

答案:結(jié)構(gòu)信息厄瓦爾德球山的倒易陣點所對應(yīng)的晶面（hkl）（）

答案:滿足布拉格方程/star3/origin/8dbaa97ea68f1aa5163fa664d89d930b.png

答案:對/star3/origin/114e823510653c142395273ac10b690b.png

答案:錯原子核有Z個電子，受核束縛較緊，且集中于一點，單個原子對X射線的散射強度為單個電子的散射強度的Z倍

答案:錯原子中不能對X射線產(chǎn)生散射作用的是中子。

答案:對帶電質(zhì)子受破振動，質(zhì)子的散射強度為電子1836倍。

答案:錯單電子對非偏振入射X射線的散射強度（）

答案:具有偏振性X射線作用原子產(chǎn)生反沖電子，出現(xiàn)康普頓效應(yīng)，其反沖電子來源于（）

答案:原子束縛松的外層電子滿足布拉格方程，其衍射強度（）

答案:不確定，還與消光條件有關(guān)布拉格方程式滿足衍射的（）

答案:必要條件簡單點陣消光意味著凡滿足布拉格方程的晶面均無衍射。

答案:錯結(jié)構(gòu)因子的大小點陣大小無關(guān)。

答案:對晶體產(chǎn)生的衍射條件是晶面滿足衍射方程。

答案:錯超點陣結(jié)構(gòu)是指無序時，異類原子形成某種點陣遵循該點陣的消光規(guī)律，降溫時，原消光的陣點重新出現(xiàn)的點陣結(jié)構(gòu)。

答案:對消光是指滿足布拉格方程的晶面中，當(dāng)結(jié)構(gòu)因子為零時無衍射強度，不產(chǎn)生衍射花樣的現(xiàn)象，包括結(jié)構(gòu)消光和點陣消光。

答案:對面心點陣在H、K、L奇偶混雜時消光，意味著（）

答案:在H、K、L奇偶混雜時，即使?jié)M足布拉格方程也無衍射花樣產(chǎn)生體心點陣在H+K+L為奇數(shù)消光，意味著（）

答案:在H+K+L為奇數(shù)時，即使?jié)M足布拉格方程的晶面也無衍射花樣產(chǎn)生底心點陣在H+K=奇數(shù)時消光，意味著（）

答案:滿足布拉格方程的所有晶面中，當(dāng)H+K=奇數(shù)，L無要求，這樣的晶面消光無衍射產(chǎn)生。平板試樣的吸收因子近似常數(shù)，可表示為A=1/2μl

答案:對考慮到熱振動對衍射強度的影響而引入溫度因子，其值大于1

答案:錯X射線衍射儀中用的試樣一般為球形試樣

答案:對吸收因子的大小僅與試樣的質(zhì)量吸收系數(shù)和形狀有關(guān)。

答案:錯正方晶系中｛110｝的多重因子為8

答案:錯當(dāng)溫度一定時，θ愈高，M愈大，其衍射強度（）

答案:減小愈多立方晶系中｛111｝的多重因子為（）

答案:8多晶體中某晶面的衍射線構(gòu)成（）

答案:衍射錐多晶體中某晶面的倒易點構(gòu)成（）

答案:倒易球測角儀中樣品轉(zhuǎn)動，θ從0o→90o，產(chǎn)生衍射花樣的衍射晶面與試樣表面垂直。

答案:錯X射線衍射儀工作時，樣品的轉(zhuǎn)動，θ從0o→90o，則衍射晶面間距先減小后大增大。

答案:錯測角儀中的發(fā)射光源為多點光源。

答案:錯步進掃描僅需定標(biāo)器，與不要計數(shù)器。

答案:錯連續(xù)掃描時計數(shù)器與計數(shù)率器相連

答案:對增加時間常數(shù)對衍射圖譜的影響與提高掃描速度對衍射圖譜的影響（）

答案:類似掃描速度愈快，則（）

答案:衍射峰平滑，衍射線的強度和分辨率下降，衍射峰位向掃描方向漂移計數(shù)管與樣品臺保持聯(lián)動，角速度之比為（）

答案:2:1測角儀中聚焦圓（）

答案:圓心和大小隨樣品的轉(zhuǎn)動而變化測角儀中聚焦圓的作用（）

答案:可使晶面衍射后會聚，減少衍射線的散失，提高衍射強度和分辨率10.[其它]名詞解釋：物相分析

答案:物相分析是指：確定所研究的材料由哪些物相組成和確定各種組成物相的相對含量的分析過程。9.[其它]名詞解釋：物相

答案:材料中成分和性質(zhì)一致、結(jié)構(gòu)相同，并與其他部分以界面分開的部分物相分析時與PDF卡片上的對應(yīng)峰位理論上需要（）

答案:8個X射線衍射花樣的衍射特征，即（）

答案:衍射峰的數(shù)目、峰位和強度。X射線衍射花樣（）

答案:反映晶體中的晶胞大小、點陣類型、原子種類、原子數(shù)目和原子排列等規(guī)律。物相的定性分析是指（）

答案:確定物質(zhì)由何種物相組成的分析過程X射線衍射分析可以獲得（）

答案:物相結(jié)構(gòu)信息利用特征X射線波長和原子序數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系（莫塞萊公示），能獲得材料的（）

答案:元素信息物相根據(jù)組成元素是否作用可以分為（）

答案:純元素一個孤立原子鐘，彈性散射所占份額為（）

答案:Z/1+Z一個孤立原子的總的散射截面為原子核的彈性散射截面σn和所有核外電子的非彈性散射截面Zσe的和：σ=σn+Zσe,則彈性散射截面與非彈性散射截面的比值為（）

答案:Z當(dāng)入射電子與核外電子的作用為主要過程時，入射電子被散射后其能量將顯著減小是一種（）

答案:非彈性散射由于原子核對電子散射后，散射電子的能量損失相比于入射時的能量可以忽略不計，因此原子核對入射電子的散射可以看成是（）

答案:彈性散射電子散射是指（）

答案:電子束受固體物質(zhì)作用后，物質(zhì)原子的昆侖場使其運動方向發(fā)生改變的現(xiàn)象相干散射（）

答案:電子散射后波長不變，將與入射電子有確定的位相關(guān)系電子彈性散射（）

答案:電子散射后能量、波長不變根據(jù)電子的波動特性，可以將電子散射分為（）

答案:相干散射和非相干散射根據(jù)發(fā)生散射前后電子能量的是否變化，電子散射分為（）

答案:彈性散射和非彈性散射SEM隨著放大倍數(shù)的提高，電子直徑（）

答案:變細(xì)，強度增強SEM的試樣要求是（）

答案:導(dǎo)電電子束作用物質(zhì)的區(qū)域（）

答案:輕元素是倒梨狀，重元素是半球狀相比于背散射電子作為調(diào)制信號成像時的分辨率，二次電子的分辨率（）

答案:高SEM掃描線圈的作用是（）

答案:使電子束發(fā)生偏轉(zhuǎn)，并在樣品表面實現(xiàn)光柵掃描和角柵掃描SEM中電子束斑的直徑越細(xì)，相應(yīng)的成像分辨率

答案:愈高掃描電鏡的末級透鏡（物鏡）的焦距（）

答案:弱透鏡，焦距焦長掃描電鏡中的電磁透鏡（）

答案:均不是成像用的，只是將將電子束斑（虛光源）聚焦縮小掃描電鏡用于形貌分析的物理信號是（）

答案:二次電子、背散射電子影響精確測量點陣常數(shù)的關(guān)鍵因素（）

答案:sinθ對于一定的?θ，當(dāng)θ愈大，晶格常數(shù)的測量精度（）

答案:愈高對于同一個θ時，?θ愈小，晶格常數(shù)的測量誤差（）

答案:愈小不能用于晶格常數(shù)測量的方法是（）

答案:

K值法拋物線擬合法特別適用于（）

答案:

漫?峰半高寬法一般適用于（）

答案:尖銳峰為了使點陣常數(shù)的測量誤差最小，θ應(yīng)取0o~90o中的（）

答案:90o點陣常數(shù)的測量誤差是指測量的（）

答案:偶然誤差電磁透鏡中的極靴間隙愈小，磁場集中程度（）

答案:愈強電磁透鏡中軟磁鐵縫隙可使磁場在該處（）

答案:更加集中，且縫隙愈小，集中程度愈高電磁透鏡的成像條件與光學(xué)透鏡成像時滿足的成像條件（）

答案:相同，且焦距可調(diào)改變勵磁電流可改變電磁透鏡的（）

答案:焦距，僅在正焦距中變動電磁透鏡的焦距（）

答案:可調(diào)，總是正值極靴和帶縫隙軟磁鐵可使電磁透鏡的磁場強度分布（）

答案:更加集中到縫隙四周電磁透鏡可由短線圈構(gòu)成，實現(xiàn)電子束（）

答案:螺旋會聚靜電透鏡可有兩個電位不等的同軸圓筒組成，實現(xiàn)電子束（）

答案:平動會聚電場和磁場可使電子束（）

答案:會聚或發(fā)散電子波不同于光波，光學(xué)顯微鏡中的玻璃或樹脂透鏡（）

答案:無法改變電子波的傳播方向，無法使之會聚成像提高升溫速率，可使熱效應(yīng)峰（）

答案:向高溫方向移動差示掃描量熱（DSC）是指（）

答案:在程序控溫下，測量單位時間內(nèi)輸入到樣品和參比物之間的能量差（或功率差）隨溫度變化的一種技術(shù)DTA曲線中某反應(yīng)熱效應(yīng)峰的反應(yīng)最大速率發(fā)生在（）

答案:峰頂前某點DTA曲線中的反應(yīng)峰的峰頂溫度表示（）

答案:試樣與參比物間的溫差最大熱效應(yīng)在實際差熱曲線上為曲線峰（）

答案:

對稱曲線峰熱效應(yīng)在理想差熱曲線上表現(xiàn)為（）

答案:折線峰無熱效應(yīng)時，?T=0，差熱線應(yīng)是（）

答案:水平線參比物在測定的溫度范圍內(nèi)（

）

答案:不可以發(fā)生任何熱效應(yīng)差熱分析（DTA）是指在程序控溫下，測量試樣物質(zhì)與參比物

隨溫度或者時間變化的一種技術(shù)（）

答案:溫差減小入射X射線的波長，參與衍射的晶面數(shù)會（）

答案:增加衍射（）

答案:是有選擇的反射，是相干衍射線作用的結(jié)果布拉格方程（）

答案:只是解決了衍射方向的問題衍射矢量方程兩邊在三基矢上的分別投影可簡化得到（）

答案:三維勞厄方程組衍射矢量方程兩邊取?；唽懣傻?/p>

答案:布拉格方程布拉格方程中2dsinθ=nλ與勞厄方程之間存在的關(guān)系

答案:一致性布拉格方程中2dsinθ=nλ中的n是指

答案:反射級數(shù)布拉格方程中2dsinθ=nλ中的d是指

答案:衍射晶面的面間距布拉格方程中2dsinθ=nλ中的λ是指

答案:特征X射線波長布拉格方程2dsinθ=nλ中的θ是指（）

答案:布拉格角焦長增加，成像操作（）

答案:更加方便景深增加，樣品上各微處的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)（）

答案:更清晰可見焦長是指（）

答案:在樣品固定，在保證像清晰的前提下，像平面沿著光軸可以前后移動的最大距離范圍；景深是指（）

答案:像平面固定，在保證像清晰的前提下，物平面沿著光軸可以前后移動的最大距離；提高加速電壓的穩(wěn)定性，可使色差（）

答案:

減小甚至消除色差是由于（）

答案:電子波長不穩(wěn)定導(dǎo)致通過改善磁場分布，像散（）

答案:

可基本消除像散是（）

答案:由于形成透鏡的磁場非旋轉(zhuǎn)對稱引起的減小球差的方法（）

答案:減小球差系數(shù)和減小孔徑半角，尤其是孔徑半角球差是（）

答案:由于電磁透鏡的近軸區(qū)磁場和遠軸區(qū)磁場對電子束的折射能力不同導(dǎo)致的中心暗場操作需由（）

答案:物鏡光闌+偏置線圈共同完成完成選區(qū)衍射的光闌是（）

答案:中間鏡光闌完成明、暗場像操作的光闌是（）

答案:物鏡光闌為了保證選區(qū)精度，選區(qū)衍射是要求（）C

答案:選區(qū)光闌面、物鏡的像平面和中間鏡的物平面三者重合中間鏡光闌（選區(qū)光闌）位于（）

答案:中間鏡的物平面上或者物鏡的像平面上物鏡光闌位于物鏡的（）

答案:后焦面上雙聚光鏡系統(tǒng)中，聚光鏡光闌通常位于第二聚光鏡的（）

答案:后焦面上在透鏡的上下極靴之間安裝消像散器（）

答案:可基本上消除像散偏置線圈可（）

答案:

實現(xiàn)電子束的平移和傾斜樣品臺（）

答案:可使樣品在極靴內(nèi)平移、平移、旋轉(zhuǎn)，進行有效觀察和分析電磁透鏡分辨率主要制約因素是（）

答案:衍射效應(yīng)+透鏡像差光學(xué)顯微鏡分辨率的制約因素是（）

答案:

衍射效應(yīng)光學(xué)顯微鏡分辨率為（）

答案:1000倍人眼分辨率約為（）

答案:

0.2mm掃描電鏡與透射電鏡的照明光源是（）B

答案:電子波金相顯微鏡的照明光源是（）

答案:可見光分辨率主要取決于照明光源的（）

答案:波長，半波長是分辨率的理論極限分辨率是指（）

答案:

能夠分辨清楚的兩點間的最短距離X射線管的效率極低,一般僅有百分之幾。

答案:對陽極靶材的原子序數(shù)越大,特征譜波長越短。

答案:對X射線的粒子性比波動性更突出。

答案:對當(dāng)X射線管有管電壓時，則必然同時存在連續(xù)譜和特征譜。

答案:錯第一個用X射線進行晶體衍射實驗的科學(xué)家是

答案:勞埃當(dāng)波長一定時,間距小的晶面,其掠射角大。

答案:對在勞厄法中,愛瓦爾德球的大小