《數(shù)字電子技術(shù)及應(yīng)用》課件第9章

第九章數(shù)字電子技術(shù)實驗基礎(chǔ)知識

9.1數(shù)字電子技術(shù)實驗基本方法9.2數(shù)字電路實驗儀簡介9.3部分集成電路型號及外引線排列圖

9.1數(shù)字電子技術(shù)實驗基本方法

9.1.1實驗教學(xué)的目的

根據(jù)數(shù)字電子技術(shù)實驗教學(xué)基本要求，學(xué)生通過實驗應(yīng)達(dá)到以下幾個主要目標(biāo)：

(1)培養(yǎng)通過查閱電子元器件手冊正確識別、選擇和使用數(shù)字集成電路器件的能力。通過查閱手冊，學(xué)習(xí)識別數(shù)字集成電路的型號、功能及引腳排列，掌握元器件輸入、輸出外特性和相關(guān)參數(shù)。

(2)培養(yǎng)基本實驗方法和操作技能。實驗環(huán)節(jié)的一個重要內(nèi)容就是學(xué)習(xí)各種電子儀器的使用和操作技術(shù)。對于電類專業(yè)的學(xué)生來說，能夠正確選擇和操作電子儀器是最基本的技術(shù)素質(zhì)之一。

(3)學(xué)會正確分析測試結(jié)果。要求學(xué)生不但要會測試相關(guān)電路的功能，還要學(xué)會通過對測量結(jié)果的分析，總結(jié)出有關(guān)的技術(shù)指標(biāo)和特性。這也是實驗課程的基本內(nèi)容之一。

(4)提高分析問題和解決問題的能力。獨立完成某一實驗內(nèi)容（查閱手冊、確定方案、選擇器件、接線調(diào)試、排除故障），使學(xué)生具備一定初步的科研能力。

(5)培養(yǎng)學(xué)生實事求是的科學(xué)態(tài)度，理論聯(lián)系實際和嚴(yán)謹(jǐn)細(xì)致的科學(xué)作風(fēng)。9.1.2實驗的基本過程

1．實驗預(yù)習(xí)

認(rèn)真預(yù)習(xí)是做好實驗的關(guān)鍵。預(yù)習(xí)的好壞，不僅關(guān)系到實驗?zāi)芊耥樌M(jìn)行，而且直接影響到實驗效果。預(yù)習(xí)應(yīng)按本教材的實驗預(yù)習(xí)要求進(jìn)行，在每次實驗前要認(rèn)真復(fù)習(xí)有關(guān)實驗的基本原理，掌握有關(guān)器件的使用方法，對如何著手實驗做到心中有數(shù)。預(yù)習(xí)后還應(yīng)寫出一份預(yù)習(xí)報告。實驗預(yù)習(xí)的內(nèi)容包括：（1）繪出設(shè)計好的實驗電路圖。該圖應(yīng)該是邏輯圖和連線圖的混合，既便于連接線，又反映電路原理，并在圖上標(biāo)出器件型號、使用的引腳號、元件數(shù)值以及各測試儀器的連接位置，必要時可用文字加以注解說明。

（2）擬定實驗方法和步驟。

（3）擬好記錄實驗數(shù)據(jù)的表格和波形坐標(biāo)。

（4）列出元器件清單。

2．實驗記錄

實驗記錄是實驗過程中獲得的第一手資料。測試過程中所測試的數(shù)據(jù)和波形必須和理論基本一致，所以記錄必須清楚、合理、正確，若不正確，則要現(xiàn)場及時重復(fù)測試，找出原因。實驗記錄應(yīng)包括如下內(nèi)容：

（1）實驗任務(wù)、名稱及內(nèi)容。

（2）實驗數(shù)據(jù)和波形以及實驗中出現(xiàn)的現(xiàn)象，從記錄中應(yīng)能初步判斷實驗的正確性。

（3）記錄波形時，應(yīng)注意輸入、輸出波形的時間相位關(guān)系，并在坐標(biāo)中上下對齊。

（4）實驗中實際使用的儀器型號和編號以及元器件使用情況。

3．實驗報告

實驗報告是培養(yǎng)學(xué)生對科學(xué)實驗的總結(jié)能力和分析思維能力的有效手段，也是一項重要的基本功訓(xùn)練。它能很好地鞏固實驗成果，加深對基本理論的認(rèn)識和理解，從而進(jìn)一步擴(kuò)大知識面。

實驗報告是一份技術(shù)總結(jié)，要求文字簡潔，內(nèi)容清楚，圖表工整。報告內(nèi)容應(yīng)包括實驗?zāi)康?、實驗?nèi)容和結(jié)果、實驗使用儀器和元器件以及分析討論等。其中，實驗內(nèi)容和結(jié)果是報告的主要部分，它應(yīng)包括實際完成的全部實驗內(nèi)容，并且要按實驗任務(wù)逐個書寫。每個實驗任務(wù)應(yīng)有如下內(nèi)容：（1）實驗課題的邏輯圖（或測試電路）、狀態(tài)圖、真值表以及文字說明等。對于設(shè)計性課題，還應(yīng)有完整的設(shè)計過程和關(guān)鍵的設(shè)計技巧說明。

（2）實驗記錄和經(jīng)過整理的數(shù)據(jù)、表格、曲線和波形圖。其中，曲線和波形圖應(yīng)畫在專用實驗報告計算紙（直角坐標(biāo)紙）上，并且用三角板、曲線板等工具描繪，力求畫得準(zhǔn)確，不得隨手示意畫出。

（3）實驗結(jié)果分析、討論及結(jié)論。對討論的范圍，沒有嚴(yán)格要求，一般應(yīng)對重要的實驗現(xiàn)象、結(jié)論加以討論，以便進(jìn)一步加深理解，此外，對實驗中的異?，F(xiàn)象，可作一些簡要說明，實驗中有何收獲，可談一些心得體會。9.1.3實驗中操作規(guī)范和常見故障檢查方法

1．實驗中操作方法與步驟必須正確

實驗中操作方法與步驟的正確與否對實驗結(jié)果影響很大。因此，實驗者需要注意按以下規(guī)程進(jìn)行：

（1）搭接實驗電路前，應(yīng)對主要儀器設(shè)備（如電平開關(guān)、電平顯示器）進(jìn)行必要的檢查，對所用集成電路進(jìn)行功能測試（可利用集成電路測試儀快速測試）。

（2）搭接電路時，應(yīng)遵循正確的布線原則和操作步驟（即要按照先接線后通電，做完后，先斷電再拆線的步驟）。

（3）掌握科學(xué)的調(diào)試方法，有效地分析并檢查故障，以確保電路工作穩(wěn)定可靠。

（4）仔細(xì)觀察實驗現(xiàn)象，完整準(zhǔn)確地記錄實驗數(shù)據(jù)并與理論值進(jìn)行比較分析。

（5）實驗完畢，經(jīng)指導(dǎo)教師同意后，可關(guān)斷電源，拆除連線，整理放好，并將實驗臺清理干凈、擺放整齊。

2．正確布線

布線原則：應(yīng)便于檢查、排除故障和更換器件。

在數(shù)字電路實驗中，由于連線數(shù)量大，因此由錯誤布線引起的故障常占很大比例。布線錯誤不僅會引起電路故障，嚴(yán)重時甚至?xí)p壞器件，因此，注意布線的合理性和科學(xué)性是十分必要的。正確的布線原則大致有以下幾點：

（1）不允許將集成電路芯片方向插反。一般IC的方向是缺口（或標(biāo)記）朝左，引腳序號從左下方的第一個引腳開始，按逆時針方向依次遞增至左上方的第一個引腳。（即面對管面，缺口在左，左下為一，逆時計數(shù)。）

（2）接插集成電路芯片時，先校準(zhǔn)兩排引腳，使之與集成電路插座上的插孔對應(yīng)，輕輕用力將芯片插上，然后在確定引腳與插孔完全吻合后，再稍用力將其插緊，以免集成電路的引腳彎曲、折斷或者接觸不良。

（3）導(dǎo)線應(yīng)長短適當(dāng)，一般以夠用、稍長為原則，能用短線的地方盡量不用長線。最好采用不同顏色線以區(qū)別不同用途，如電源線用紅色，地線用黑色，相同功能同種色，輸入、輸出不同色等。

（4）布線應(yīng)有秩序地進(jìn)行，隨意亂接容易造成漏接錯接。較好的方法是先接好固定電平點，如電源線、地線、門電路閑置輸入端、觸發(fā)器異步置位復(fù)位端等，再按信號源的順序從輸入到輸出依次布線。（5）連線應(yīng)避免從集成器件上方跨接，避免過多的重疊交錯，以利于更換元器件以及故障檢查和排除。

（6）當(dāng)實驗電路的規(guī)模較大、使用集成元器件較多時，應(yīng)注意集成元器件的合理布局，以便得到最佳布線。若電路中有兩只以上相同型號的集成元器件時，應(yīng)在電路圖上對其進(jìn)行編號，以防接錯。

（7）對大型綜合實驗項目來說，元器件數(shù)量很多，可將總電路按其功能劃分為若干相對獨立的單元電路，逐個布線、調(diào)試（分調(diào)），然后將各部分連接起來（聯(lián)調(diào)）。

3．常用故障檢查方法

實驗中，如果電路不能完成預(yù)定的邏輯功能，就稱電路有故障。產(chǎn)生故障的原因大致可以歸納為以下四個方面：

（1）操作不當(dāng)（如布線錯誤等）；（2）設(shè)計不當(dāng)（如電路出現(xiàn)競爭冒險等）；（3）元器件使用不當(dāng)或功能不正常；（4）儀器（主要指數(shù)字電路實驗箱）和集成器件本身出現(xiàn)故障。因此，上述四點應(yīng)作為檢查故障的主要線索。下面介紹幾種常見的故障檢查方法。

1)查線法由于在實驗中大部分故障都是由于布線錯誤引起的，因此，在故障發(fā)生時，復(fù)查電路連線為排除故障的有效方法。應(yīng)著重注意：有無漏線、錯線，集成電路是否插牢,集成電路是否插反等。特別是當(dāng)使用多個芯片時，應(yīng)檢查是否給每個芯片都接上了電源線和地線。

2）測量法用萬用表直接測量各集成塊的VCC端是否加上電源電壓，輸入信號、時鐘脈沖等是否加到實驗電路上，觀察輸出端有無反應(yīng)。重復(fù)測試觀察故障現(xiàn)象，然后對某一故障狀態(tài)，用萬用表測試各輸入/輸出端的直流電平，從而判斷出是否是插座板、集成塊引腳連接線等原因造成的故障。

3）信號尋跡法在電路的輸入端加上規(guī)定的輸入信號，用五功能邏輯筆按照信號流向逐級檢查是否有響應(yīng)和是否正確，從而確定該級是否有故障，必要時可以切斷周圍連線，避免相互影響。檢查時可按照邏輯原理從前往后查，也可按照邏輯原理從后往前查。

4）替換法對于多輸入端器件，如有多余端則可調(diào)換另一輸入端試用。必要時可更換器件，以檢查器件功能不正常所引起的故障。

5）動態(tài)逐線跟蹤檢查法對于時序電路，可輸入時鐘信號按信號流向依次檢查各級波形，直到找出故障點為止。

6）斷開反饋線檢查法

對于含有反饋線的閉合電路，應(yīng)該設(shè)法斷開反饋線進(jìn)行檢查，或進(jìn)行狀態(tài)預(yù)置后再進(jìn)行檢查。

以上檢查故障的方法，在實驗過程中應(yīng)綜合運用。另外，上述方法是在儀器工作正常的前提下進(jìn)行的，所以連線之前首先檢查電平開關(guān)、電平顯示器及單次脈沖源等常用儀器可少走彎路。

需要強(qiáng)調(diào)指出，實驗經(jīng)驗對于故障檢查是大有幫助的，但只要充分預(yù)習(xí)，掌握基本理論和實驗原理，就不難用邏輯思維的方法較好地判斷和排除故障。9.1.4數(shù)字集成電路概述、特點及使用須知

1．概述

當(dāng)今，數(shù)字電子電路幾乎已完全集成化，因此，充分掌握和正確使用數(shù)字集成電路，用以構(gòu)成數(shù)字邏輯系統(tǒng)，就成為數(shù)字電子技術(shù)的核心內(nèi)容之一。

集成電路按集成度可分為小規(guī)模、中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模等。小規(guī)模集成（SSI）電路是在一塊硅片上制成約1～10個門，通常為邏輯單元電路，如邏輯門、觸發(fā)器等。中規(guī)模集成（MSI）電路的集成度約為10～100門/片，通常是邏輯功能電路，如譯碼器、數(shù)據(jù)選擇器、計數(shù)器、寄存器等。大規(guī)模集成（LSI）電路的集成度約為100門/片以上。超大規(guī)模集成（VLSI）電路約為1000門/片以上，通常是一個小的數(shù)字邏輯系統(tǒng)。現(xiàn)已制成規(guī)模更大的極大規(guī)模集成電路。數(shù)字集成電路還可分為雙極型電路和單極型電路兩種。雙極型電路中有代表性的是TTL電路；單極型電路中有代表性的是CMOS電路。國產(chǎn)TTL集成電路的標(biāo)準(zhǔn)系列為CT54/74系列或CT0000系列，其功能和外引線排列與國際54/74系列相同。國產(chǎn)CMOS集成電路主要為CC（CH）4000系列，其功能和外引線排列與國際CD4000系列相對應(yīng)。高速CMOS系列中，74HC和74HCT系列與TTL74系列相對應(yīng)，74HC4000系列與CC4000系列相對應(yīng)。

部分?jǐn)?shù)字集成電路型號及外引線排列圖見9.3節(jié)。邏輯表達(dá)式或功能表描述了集成電路的功能以及輸出與輸入之間的邏輯關(guān)系。為了正確使用集成電路，應(yīng)該對它們進(jìn)行認(rèn)真研究，以便深入理解，充分掌握。另外，還應(yīng)對使能端的功能和連接方法給以充分的注意。

2．TTL器件的特點

TTL器件的特點如下：

（1）輸入端一般有鉗位二極管，減少了反射干擾的影響；

（2）輸出電阻低，增強(qiáng)了帶容性負(fù)載的能力；

（3）有較大的噪聲容限；

（4）采用+5V的電源供電。為了正常發(fā)揮器件的功能，應(yīng)使器件在推薦的條件下工作，對CT0000系列（74LS系列）器件，主要有：

(1）電源電壓應(yīng)在4.75～5.25V的范圍內(nèi)。

(2）環(huán)境溫度在0～70℃之間。

(3）高電平輸入電壓UIH>2V，低電平輸入電壓USL<0.8V。

(4）輸出電流應(yīng)小于最大推薦值（查手冊）。

(5）工作頻率不能高，一般的門和觸發(fā)器的最高工作頻率約為30MHz。

3．TTL器件使用須知

使用TTL器件時應(yīng)注意如下幾點：

（1）電源電壓應(yīng)嚴(yán)格保持在(5±10%)V的范圍內(nèi)，過高易損壞器件，過低則不能正常工作。實驗中一般采用穩(wěn)定性好、內(nèi)阻小的直流穩(wěn)壓電源。使用時，應(yīng)特別注意電源與地線不能錯接，否則會因電流過大而造成器件損壞。

（2）多余輸入端最好不要懸空，雖然懸空相當(dāng)于高電平，并不能影響與門（與非門）的邏輯功能，但懸空時易受干擾。為此，與門、與非門多余輸入端可直接接到VCC上，或通過一個公用電阻（幾千歐）連到VCC上。若前級驅(qū)動能力強(qiáng)，則可將多余輸入端與使用端并接；不用的或門、或非門輸入端直接接地，與或非門不用的與門輸入端至少有一個要直接接地，帶有擴(kuò)展端的門電路，其擴(kuò)展端不允許直接接電源。（3）輸出端不允許直接接電源或接地（但可以通過電阻與電源相連），不允許直接并聯(lián)使用（集電極開路門和三態(tài)門除外）。

（4）應(yīng)考慮電路的負(fù)載能力（即扇出系數(shù)），要留有余地，以免影響電路的正常工作。扇出系數(shù)可通過查閱器件手冊或計算獲得。

（5）在高頻工作時，應(yīng)通過縮短引線、屏蔽干擾源等措施，抑制電流的尖峰干擾。

4．CMOS數(shù)字集成電路的特點

CMOS數(shù)字集成電路的特點如下：

（1）靜態(tài)功耗低：電源電壓VDD=5V的中規(guī)模電路的靜態(tài)功耗小于100μW，從而有利于提高集成度和封裝密度，降低成本，減小電源功耗。

（2）電源電壓范圍寬：4000系列CMOS電路的電源電壓范圍為3～18V，從而使選擇電源的余地大，電源設(shè)計要求低。

（3）輸入阻抗高：正常工作的CMOS集成電路，其輸入端保護(hù)二極管處于反偏狀態(tài)，直流輸入阻抗可大于100MΩ，在工作頻率較高時，應(yīng)考慮輸入電容的影響。（4）扇出能力強(qiáng)：在低頻工作時，一個輸出端可驅(qū)動50個以上的CMOS器件的輸入端，這主要是因為CMOS器件的輸入電阻高的緣故。

（5）抗干擾能力強(qiáng)：CMOS集成電路的電壓噪聲容限可達(dá)電源電壓的45%，而且高電平和低電平的噪聲容限值基本相等。

（6）邏輯擺幅大：空載時，輸出高電平VOH＞VDD-0.05V,輸出低電平VOL＜VSS+0.05V。

CMOS集成電路還有較好的溫度穩(wěn)定性和較強(qiáng)的抗輻射能力。不足之處是，一般CMOS器件的工作速度比TTL集成電路低，功耗隨工作頻率的升高而顯著增大。

CMOS器件的輸入端和VSS之間接有保護(hù)二極管，除了電平變換器等一些接口電路外，輸入端和正電源VDD之間也接有保護(hù)二極管，因此，在正常運轉(zhuǎn)和焊接CMOS器件時，一般不會因感應(yīng)電荷而損壞器件。但是，在使用CMOS數(shù)字集成電路時，輸入信號的低電平不能低于VSS-0.5V，除某些接口電路外，輸入信號的高電平不得高于VDD+0.5V，否則可能引起保護(hù)二極管導(dǎo)通，甚至損壞,進(jìn)而可能使輸入級損壞。

5．CMOS器件使用須知

使用CMOS器件時應(yīng)注意如下幾點：

（1）電源連接和選擇。VDD端接電源正極，VSS端接電源負(fù)極（地），絕對不許接錯，否則器件會因電流過大而損壞。對于電源電壓范圍為3～18V系列器件，如CC4000系列，實驗中VDD通常接+5V電源。

CMOS器件在不同的VDD值下工作時，其輸出阻抗、工作速度和功耗等參數(shù)都有所變化，設(shè)計中須考慮。（2）輸入端處理。多余輸入端不能懸空，應(yīng)按邏輯要求接VDD或VSS，以免受干擾造成邏輯混亂，甚至損壞器件。對工作速度要求不高，而要求增加帶負(fù)載能力時，可把輸入端并聯(lián)使用。

對于安裝在印刷電路板上的CMOS器件，為了避免輸入端懸空，在電路板的輸入端應(yīng)接入限流電阻RP和保護(hù)電阻R，當(dāng)VDD=+5V時，RP取5.1kΩ，R一般取100kΩ～1MΩ。

（3）輸出端處理。輸出端不允許直接接VDD或VSS，否則將導(dǎo)致器件損壞。除三態(tài)（TS）器件外，不允許兩個不同芯片輸出端并聯(lián)使用，但有時為了增加驅(qū)動能力，同一芯片上的輸出端可以并聯(lián)。

（4）對輸入信號VI的要求。VI的高電平VIH＜VDD，VI的低電平VIL小于電路系統(tǒng)允許的低電壓。當(dāng)器件VDD端未接通電源時，不允許信號輸入，否則將使輸入端保護(hù)電路中的二極管損壞。9.1.5數(shù)字邏輯電路的測試方法

1．組合邏輯電路的測試

組合邏輯電路測試的目的是驗證其邏輯功能是否符合設(shè)計要求，也就是驗證其輸出與輸入的關(guān)系是否與真值表相符。

1）靜態(tài)測試靜態(tài)測試是在電路靜止?fàn)顟B(tài)下測試輸出與輸入的關(guān)系。將輸入端分別接到邏輯電平開關(guān)上，用電平顯示燈分別顯示各輸入和輸出端的狀態(tài)。按真值表將輸入信號一組一組地依次送入被測電路，測出相應(yīng)的輸出狀態(tài)，并與真值表相比較，借以判斷此組合邏輯電路靜態(tài)工作是否正常。

2）動態(tài)測試動態(tài)測試是測量組合邏輯電路的頻率響應(yīng)。在輸入端加上周期性信號，用示波器觀察輸入、輸出波形，測出與真值表相符的最高輸入脈沖頻率。

2．時序邏輯電路的測試

時序邏輯電路測試的目的是驗證其狀態(tài)的轉(zhuǎn)換是否與狀態(tài)圖或時序圖相符合?？捎秒娖斤@示燈、數(shù)碼管或示波器等觀察輸出狀態(tài)的變化。常用的測試方法有兩種：一種是單拍工作方式，以單脈沖源作為時鐘脈沖，逐拍進(jìn)行觀測，來判斷輸出狀態(tài)的轉(zhuǎn)換是否與狀態(tài)圖相符；另一種是連續(xù)工作方式，以連續(xù)脈沖源作為時鐘脈沖，用示波器觀察波形，來判斷輸出波形是否與時序圖相符。 9.2數(shù)字電路實驗儀簡介

9.2.1數(shù)字電路實驗儀的組成

DZX-1型電子學(xué)綜合實驗裝置控制屏面板布局示意圖如圖9-2-1所示，其右半部為模擬電路實驗板，左半部為數(shù)字電路實驗板和數(shù)字電路實驗中常用的一些儀器，下面分別介紹其功能及使用方法。圖9－2-1

DZX-1型電子學(xué)綜合實驗裝置控制屏面板布局示意圖9.2.2數(shù)字電路實驗板

數(shù)字電路實驗板采用479mm×312mm×2mm聚脂單面敷銅印刷線路板制作，正面裝有元器件，并印有元器件的符號及相應(yīng)的連接線條，反面是相應(yīng)的印刷線路。板上裝有近500只鎖緊式防轉(zhuǎn)疊插座，十六位邏輯電平輸出一組，十六位邏輯電平輸入一組，8P、14P、16P、20P及24P等可靠的圓腳集成電路插座31只，蜂鳴器兩只，6位BCD碼十進(jìn)制撥碼開關(guān)一套，還有復(fù)位按鈕、電阻等元器件，以備實驗時選用。上述所有的插座及元器件的引腳，均已與鎖緊插座相連接，實驗時只要用彈性實驗連接導(dǎo)線，依照原理線路圖進(jìn)行連接即可。為了方便實驗，在實驗板上還設(shè)置了兩個測試彎針，用于鉤掛示波器探頭。

1．十六位邏輯電平輸出

本單元共提供16只小型單刀雙擲開關(guān)及與之對應(yīng)的邏輯電平輸出插口，并設(shè)有發(fā)光二極管指示。當(dāng)開關(guān)向上撥(即撥向“高”)時，與之相對應(yīng)的輸出插孔輸出高電平，發(fā)光二極管發(fā)出紅色光指示；當(dāng)開關(guān)向下?lián)?即撥向“低”)時，相對應(yīng)的輸出為低電平，發(fā)光二極管發(fā)出綠色光指示。

使用時，只要將+5V電源接入此實驗板右上方的“+5V”插孔，此單元便能正常工作。2．十六位邏輯電平顯示

本單元每一位輸入都經(jīng)過三極管放大驅(qū)動電路，使用時，只要將+5V電源接入此實驗板右上方的“+5V”插孔，即可正常工作。當(dāng)輸入插孔處輸入高電平時，LED發(fā)光二極管便發(fā)出紅色光指示；當(dāng)輸入插孔處輸入低電平時，LED發(fā)光二極管則發(fā)出綠色光指示。

3．脈沖信號發(fā)生器(單元14)

本單元能提供兩組正、負(fù)單次脈沖源，22個標(biāo)準(zhǔn)頻率的方波信號源和一個可用作計數(shù)的頻率連續(xù)可調(diào)的脈沖信號源。使用時，只要開啟本單元的開關(guān)，在各個輸出插孔處即可輸出相應(yīng)的脈沖信號。

（1）單次脈沖信號源由一個防抖動電路和一個按鍵組成，每按一次鍵，綠燈滅，紅燈亮，表明在兩個輸出插孔處分別輸出一個正、負(fù)單次觸發(fā)脈沖。（2）基準(zhǔn)脈沖信號源是由晶振通過分頻電路獲得的標(biāo)準(zhǔn)頻率的方波信號源，本單元設(shè)置了從Q4～Q26共22個不同頻率的輸出插孔，供用戶隨意選擇。各輸出口的頻率可按下式確定：如Q22輸出口的方波信號頻率是標(biāo)準(zhǔn)的1Hz。（3）頻率連續(xù)可調(diào)的計數(shù)脈沖信號源。本信號源能在很寬的范圍內(nèi)(0.5Hz～300kHz)調(diào)節(jié)輸出頻率，可用做低頻計數(shù)脈沖源；在中間一段較寬的頻率范圍內(nèi)，可用做連續(xù)可調(diào)的方波激勵源。

4．五功能邏輯筆(單元14)

這是一支新型的邏輯筆，用可編程邏輯器件GAL設(shè)計而成，具有顯示五種邏輯功能的特點。只要接通+5V電源,用鎖緊線從“信號輸入”口接出，鎖緊線的另一端可視為邏輯筆的筆尖，當(dāng)筆尖點在電路中的某個測試點時，面板上的四個指示燈即可顯示出該點的邏輯狀態(tài)是“高電平”、“低電平”、“中間電平”或“高阻態(tài)”。若該點有脈沖信號輸出，則四個指示燈將同時點亮，故有五功能邏輯筆之稱，亦可稱為“智能型邏輯筆”。

5．?dāng)?shù)字集成電路測試儀(單元4)

1）功能本測試儀是用單片機(jī)開發(fā)而成的智能化儀器，具有高速破譯數(shù)字集成電路芯片型號，區(qū)分相同邏輯功能的74LS系列和74HC系列的芯片，檢測已知型號芯片的好壞，自動列出相同功能的其他可代用的芯片型號,可對集成電路進(jìn)行動態(tài)老化等特點。集成電路芯片測試范圍包括74/54LS系列、74/54HC/HCT/C系列、CMOS40XXX系列、CMOS45XX系列以及部分模擬集成電路，全部種類達(dá)548種，幾乎覆蓋所有常用的數(shù)字集成電路。本測試儀的顯示器采用七位共陰極綠色LED數(shù)碼管。

2）使用方法將+5V電源接到本測試儀的電源插孔處，顯示器應(yīng)顯示“PC”，當(dāng)按“復(fù)位”鍵后，也顯示“PC”，表明已進(jìn)入測試初始狀態(tài)。

(1)破譯集成電路芯片型號。在顯示“PC”狀態(tài)下，按一下“執(zhí)行”鍵,顯示器將顯示一閃動的“正弦曲線”(最后一個數(shù)碼管顯示隱8字)，此時只要將集成電路夾于鎖緊夾中，即能顯示出該芯片完整的型號，如74LS125,CD4060，CD4553等，如有相同功能的其它型號芯片，將循環(huán)顯示出本芯片及其它代用芯片的型號。

(2)檢測已知型號芯片的好壞。在顯示“PC”狀態(tài)下，連續(xù)按動“功能”鍵，將依次顯示出如下的各功能符號：74LS、74HC、CD40、CD45(ANG、F500、F1000、F5000、F10000、CCP及COU)。括號內(nèi)的功能在本裝置中未采用。

例：欲測74HC125芯片的好壞，首先應(yīng)按“功能”鍵，在顯示器顯示“74HC”后，再分別按“數(shù)1”鍵，使74HC后的顯示值為1；按“數(shù)2”鍵，使隨后的顯示值為2;按“數(shù)3”鍵，使最后一位顯示為5。按“執(zhí)行”鍵，顯示器將循環(huán)顯示“74HC125”和“badI.C.”。當(dāng)將被測的芯片夾入鎖緊夾中后，若此芯片完好，則顯示器循環(huán)顯示“74HC125”和“GOODI.C.”，否則仍顯示“badI.C.”；若輸入型號有錯，也將顯示“badI.C.”；若輸入的型號不屬于本測試儀的測試范圍，則顯示“NOI.C.”。

(3)操作時應(yīng)注意的事項:在按“執(zhí)行”鍵之前，不要在鎖緊夾中放置任何芯片；放置芯片的規(guī)則是將芯片的缺口朝上，使芯片的第一腳與夾子上的第一腳(旁邊有“.”標(biāo)記)對齊。6．直流穩(wěn)壓電源(單元15)

本機(jī)直流穩(wěn)壓電源共有六路電壓輸出。使用時開啟本單元的帶燈電源開關(guān)，±5V和±12V輸出指示燈亮，表示±5V和±12V的插孔處有電壓輸出；若0～30V兩路電源輸出正常，其相應(yīng)指示燈的亮度則隨輸出電壓的升高而由暗漸趨明亮，操作“電壓指示切換”開關(guān)，