光學(xué)測(cè)量?jī)x器的種類與用途考核試卷

光學(xué)測(cè)量?jī)x器的種類與用途考核試卷考生姓名：________________答題日期：________________得分：_________________判卷人：_________________

一、單項(xiàng)選擇題（本題共20小題，每小題1分，共20分，在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中，只有一項(xiàng)是符合題目要求的）

1.以下哪種光學(xué)測(cè)量?jī)x器主要用于表面粗糙度的測(cè)量？（）

A.干涉儀

B.投影儀

C.光柵尺

D.表面粗糙度計(jì)

2.用于物體表面宏觀形貌測(cè)量的光學(xué)儀器是？（）

A.電子顯微鏡

B.光學(xué)顯微鏡

C.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

D.白光干涉儀

3.在光學(xué)測(cè)量中，全息干涉術(shù)主要用于測(cè)量？（）

A.長(zhǎng)度

B.面積

C.形狀

D.光強(qiáng)

4.下列哪種光學(xué)儀器不是基于干涉原理進(jìn)行測(cè)量的？（）

A.激光干涉儀

B.Michelson干涉儀

C.光柵尺

D.雙頻激光干涉儀

5.用于精密測(cè)量大型零件尺寸的光學(xué)儀器是？（）

A.光學(xué)比較儀

B.激光跟蹤儀

C.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

D.投影儀

6.在光學(xué)測(cè)量中，光學(xué)比較儀主要用途是？（）

A.測(cè)量物體表面形貌

B.測(cè)量物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)

C.測(cè)量物體尺寸和形狀偏差

D.測(cè)量物體顏色

7.關(guān)于光學(xué)顯微鏡，以下哪項(xiàng)描述是錯(cuò)誤的？（）

A.可以觀察微小的物體

B.用于生物細(xì)胞觀察

C.不能用于物體表面形貌測(cè)量

D.放大倍數(shù)有限

8.以下哪種測(cè)量?jī)x器是基于光柵原理工作的？（）

A.激光干涉儀

B.光學(xué)比較儀

C.光柵尺

D.投影儀

9.用于非接觸式測(cè)量物體三維輪廓的儀器是？（）

A.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

B.結(jié)構(gòu)光掃描儀

C.電子顯微鏡

D.光學(xué)比較儀

10.下列哪種光學(xué)儀器主要用于光學(xué)元件的表面質(zhì)量檢測(cè)？（）

A.投影儀

B.干涉儀

C.光柵尺

D.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

11.關(guān)于激光跟蹤儀，以下哪項(xiàng)描述是正確的？（）

A.用于跟蹤飛行器

B.用于大型構(gòu)造物的精密測(cè)量

C.用于小尺寸零件的測(cè)量

D.只能在室內(nèi)使用

12.以下哪種干涉儀主要用于測(cè)量物體的形變？（）

A.雙頻激光干涉儀

B.全息干涉儀

C.Michelson干涉儀

D.激光干涉儀

13.在光學(xué)測(cè)量中，結(jié)構(gòu)光掃描儀主要用途是？（）

A.測(cè)量物體表面顏色

B.測(cè)量物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)

C.獲取物體表面的三維信息

D.測(cè)量物體宏觀尺寸

14.以下哪種光學(xué)儀器不適合于在線檢測(cè)？（）

A.激光干涉儀

B.光學(xué)比較儀

C.光柵尺

D.電子顯微鏡

15.用于測(cè)量透明或半透明材料折射率的光學(xué)儀器是？（）

A.投影儀

B.干涉儀

C.折射儀

D.光學(xué)比較儀

16.關(guān)于光柵尺，以下哪項(xiàng)描述是正確的？（）

A.適用于高速運(yùn)動(dòng)測(cè)量

B.測(cè)量范圍有限

C.不適合精確測(cè)量

D.基于干涉原理工作

17.在光學(xué)測(cè)量中，哪種測(cè)量?jī)x器通常用于測(cè)量光的強(qiáng)度？（）

A.光譜儀

B.光功率計(jì)

C.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

D.投影儀

18.以下哪種干涉儀主要用于光學(xué)元件的表面質(zhì)量檢測(cè)？（）

A.全息干涉儀

B.激光干涉儀

C.Michelson干涉儀

D.雙頻激光干涉儀

19.關(guān)于光學(xué)測(cè)量，以下哪種說(shuō)法是錯(cuò)誤的？（）

A.光學(xué)測(cè)量速度快

B.光學(xué)測(cè)量精度高

C.光學(xué)測(cè)量?jī)x器都基于干涉原理

D.光學(xué)測(cè)量可以非接觸式進(jìn)行

20.用于檢測(cè)物體表面應(yīng)力的光學(xué)儀器是？（）

A.光學(xué)比較儀

B.光譜儀

C.光彈性儀

D.投影儀

（以下為試卷其他部分內(nèi)容，因題目要求，不在此展開(kāi)）

二、多選題（本題共20小題，每小題1.5分，共30分，在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中，至少有一項(xiàng)是符合題目要求的）

1.以下哪些是干涉儀在光學(xué)測(cè)量中的應(yīng)用？（）

A.測(cè)量物體的形變

B.檢測(cè)光學(xué)元件表面質(zhì)量

C.測(cè)量物體宏觀尺寸

D.觀察細(xì)胞結(jié)構(gòu)

2.以下哪些光學(xué)測(cè)量?jī)x器適合于在線檢測(cè)？（）

A.光柵尺

B.激光干涉儀

C.光學(xué)顯微鏡

D.結(jié)構(gòu)光掃描儀

3.白光干涉儀在測(cè)量中具有哪些優(yōu)點(diǎn)？（）

A.非接觸式測(cè)量

B.高分辨率

C.寬測(cè)量范圍

D.可以測(cè)量透明物體

4.光譜儀在光學(xué)測(cè)量中的應(yīng)用包括哪些？（）

A.測(cè)量光的強(qiáng)度

B.分析物質(zhì)成分

C.測(cè)量光的波長(zhǎng)

D.檢測(cè)物體表面應(yīng)力

5.以下哪些情況適合使用光學(xué)比較儀進(jìn)行測(cè)量？（）

A.測(cè)量大型零件

B.測(cè)量微小零件

C.需要高精度測(cè)量

D.測(cè)量表面形貌

6.光彈性儀主要用于測(cè)量以下哪些物理量？（）

A.應(yīng)力

B.應(yīng)變

C.光的強(qiáng)度

D.光的折射率

7.激光跟蹤儀在哪些場(chǎng)合得到應(yīng)用？（）

A.大型構(gòu)造物測(cè)量

B.航空航天領(lǐng)域

C.小型零件測(cè)量

D.在線檢測(cè)

8.以下哪些是全息干涉儀的特點(diǎn)？（）

A.可以獲得三維信息

B.對(duì)環(huán)境振動(dòng)敏感

C.測(cè)量精度高

D.僅適用于透明物體

9.下列哪些光學(xué)儀器是基于光柵原理的？（）

A.光柵尺

B.投影儀

C.光譜儀

D.結(jié)構(gòu)光掃描儀

10.以下哪些場(chǎng)合適合使用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)？（）

A.測(cè)量復(fù)雜零件的尺寸

B.快速測(cè)量

C.高精度測(cè)量

D.在線檢測(cè)

11.結(jié)構(gòu)光掃描儀在哪些領(lǐng)域有應(yīng)用？（）

A.工業(yè)檢測(cè)

B.建筑測(cè)繪

C.醫(yī)學(xué)成像

D.光學(xué)元件檢測(cè)

12.以下哪些光學(xué)測(cè)量技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量？（）

A.激光干涉測(cè)量

B.光譜測(cè)量

C.光彈性測(cè)量

D.結(jié)構(gòu)光掃描

13.光學(xué)測(cè)量?jī)x器在測(cè)量過(guò)程中可能受到哪些因素的影響？（）

A.環(huán)境溫度

B.振動(dòng)

C.光源穩(wěn)定性

D.電磁干擾

14.以下哪些是光學(xué)顯微鏡在測(cè)量中的應(yīng)用？（）

A.生物細(xì)胞觀察

B.材料表面形貌分析

C.大型零件尺寸測(cè)量

D.光學(xué)元件表面質(zhì)量檢測(cè)

15.以下哪些光學(xué)儀器適合于測(cè)量透明或半透明材料的折射率？（）

A.投影儀

B.折射儀

C.光譜儀

D.光學(xué)比較儀

16.在使用光柵尺進(jìn)行測(cè)量時(shí)，以下哪些因素會(huì)影響測(cè)量結(jié)果？（）

A.光柵的質(zhì)量

B.讀數(shù)頭的精度

C.測(cè)量速度

D.環(huán)境溫度

17.以下哪些光學(xué)測(cè)量方法可以用于測(cè)量物體的三維輪廓？（）

A.激光掃描

B.結(jié)構(gòu)光掃描

C.干涉測(cè)量

D.光學(xué)顯微鏡

18.以下哪些是光功率計(jì)在光學(xué)測(cè)量中的應(yīng)用？（）

A.測(cè)量光的強(qiáng)度

B.測(cè)量光的相位

C.測(cè)量光的波長(zhǎng)

D.分析物質(zhì)的吸收光譜

19.以下哪些光學(xué)儀器可以用于檢測(cè)光學(xué)元件的表面質(zhì)量？（）

A.干涉儀

B.投影儀

C.光彈性儀

D.結(jié)構(gòu)光掃描儀

20.以下哪些是光學(xué)測(cè)量相對(duì)于傳統(tǒng)測(cè)量方法的優(yōu)勢(shì)？（）

A.測(cè)量速度快

B.精度高

C.可以實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量

D.對(duì)環(huán)境條件不敏感

三、填空題（本題共10小題，每小題2分，共20分，請(qǐng)將正確答案填到題目空白處）

1.光學(xué)測(cè)量中，干涉儀通過(guò)干涉條紋的______來(lái)測(cè)量物體的微小形變。

2.在光學(xué)顯微鏡中，物鏡的主要作用是放大并形成物體的______像。

3.結(jié)構(gòu)光掃描儀利用______的原理來(lái)獲取物體的三維信息。

4.激光跟蹤儀在測(cè)量大型構(gòu)造物時(shí)，其測(cè)量精度受到______等因素的影響。

5.光柵尺是一種基于光柵原理的測(cè)量?jī)x器，其分辨率主要取決于______。

6.雙頻激光干涉儀可以同時(shí)測(cè)量被測(cè)物體的______和______。

7.光譜儀通過(guò)分析光的______來(lái)識(shí)別和測(cè)量物質(zhì)的成分。

8.在光學(xué)測(cè)量中，全息干涉術(shù)常用于測(cè)量物體的______和______。

9.光彈性儀通過(guò)測(cè)量物體在應(yīng)力作用下的______來(lái)分析應(yīng)力分布。

10.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，其探針的精度對(duì)測(cè)量結(jié)果有______影響。

四、判斷題（本題共10小題，每題1分，共10分，正確的請(qǐng)?jiān)诖痤}括號(hào)中畫√，錯(cuò)誤的畫×）

1.光學(xué)比較儀適用于大型零件的測(cè)量。（）

2.激光干涉儀可以用于在線測(cè)量。（）

3.光柵尺的測(cè)量精度高于干涉儀。（）

4.結(jié)構(gòu)光掃描儀不適合測(cè)量透明物體。（）

5.光學(xué)顯微鏡可以用于非接觸式測(cè)量。（）

6.白光干涉儀的測(cè)量范圍比激光干涉儀小。（）

7.光譜儀可以用于測(cè)量光的強(qiáng)度。（）

8.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）可以在任何環(huán)境下進(jìn)行精確測(cè)量。（）

9.光彈性儀主要用于測(cè)量材料的彈性模量。（）

10.全息干涉儀在測(cè)量過(guò)程中不受環(huán)境振動(dòng)的影響。（）

五、主觀題（本題共4小題，每題5分，共20分）

1.請(qǐng)簡(jiǎn)述干涉儀在光學(xué)測(cè)量中的應(yīng)用原理，并列舉至少三種不同類型的干涉儀。

2.描述結(jié)構(gòu)光掃描儀的工作原理，并說(shuō)明其在工業(yè)檢測(cè)中的主要應(yīng)用。

3.比較光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡在分辨率、適用范圍和測(cè)量原理方面的異同。

4.討論三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）在測(cè)量復(fù)雜形狀零件時(shí)的優(yōu)勢(shì)和局限性。

標(biāo)準(zhǔn)答案

一、單項(xiàng)選擇題

1.D

2.B

3.C

4.C

5.B

6.C

7.C

8.C

9.B

10.B

11.B

12.A

13.C

14.D

15.C

16.A

17.B

18.A

19.C

20.C

二、多選題

1.A,B

2.A,B

3.A,B,C

4.A,B,C

5.A,B

6.A,B

7.A,B

8.A,B

9.A,D

10.A,C

11.A,B,C

12.A,D

13.A,B,C,D

14.A,B

15.B,C

16.A,B,C

17.A,B,C

18.A

19.A,B

20.A,B,C

三、填空題

1.干涉條紋的間距

2.實(shí)像

3.光的三角測(cè)量

4.環(huán)境條件

5.光柵的刻線密度

6.位移、角度

7.光譜

8.形狀、變形

9.光的折射率變化

10.顯著

四、判斷題

1.×

2.√

3.×

4.×

5.√

6.×

7.√

8.×

9.×

10.×

五、主觀題（參考）

1.干涉儀通過(guò)光的干涉原理，利用干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量物體的微小形變。常見(jiàn)類型有Michelson干涉儀、雙頻激光干