CNAS-GL054：2023 測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南

測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南GuidelinesforDeterminationandAdjustme中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南本文件適用于實(shí)驗(yàn)室等合格評(píng)定機(jī)構(gòu)和其他相關(guān)方對(duì)測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定CIPMMRA-G-13:2022CIPMMRA框4.8實(shí)驗(yàn)室宜選擇適當(dāng)?shù)姆椒ㄓ糜诖_定校準(zhǔn)周期，并將所選用的方法進(jìn)行文件化規(guī)d)制造商關(guān)于測(cè)量設(shè)備的建議(如當(dāng)實(shí)驗(yàn)室根據(jù)儀器準(zhǔn)確度評(píng)定測(cè)量不確定度）；h)被測(cè)量對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響(如高溫對(duì)熱電偶的影響)；b)由于時(shí)間或使用而產(chǎn)生的漂移，測(cè)量設(shè)備的性能是否符合規(guī)定限值(如最大允勢(shì)可能表明有必要調(diào)整校準(zhǔn)周期。實(shí)驗(yàn)室有必要對(duì)校準(zhǔn)周期和設(shè)備性能進(jìn)行持續(xù)評(píng)6.2.3實(shí)驗(yàn)室不宜使用此方法設(shè)置過(guò)長(zhǎng)的校準(zhǔn)周期，因?yàn)榭赡軙?huì)導(dǎo)致召回大量證書(shū)/注:該方法不適用于沒(méi)有漂移的測(cè)量設(shè)備，適用于具有單一量值的實(shí)壓力的活塞式壓力計(jì)或長(zhǎng)度量規(guī)(即可能受到機(jī)該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是校準(zhǔn)頻次及由此產(chǎn)生的a)不適用于包含無(wú)源(不需額外的能量輸入源提供輸出)測(cè)量?jī)x器(如衰減器)或無(wú)進(jìn)行簡(jiǎn)單快速核查的情況。實(shí)驗(yàn)室使用便攜式校準(zhǔn)裝置對(duì)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行頻繁核查(如每天一次或更頻繁)，或者使用專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的“黑盒”對(duì)所選參數(shù)進(jìn)行核查。如果發(fā)現(xiàn)測(cè)量設(shè)備超出最大允許誤差(或其他規(guī)定限值)，需對(duì)測(cè)量設(shè)備進(jìn)行全面的校準(zhǔn)和調(diào)注1：適用于此方法的測(cè)量?jī)x器：密度計(jì)(諧振式)、鉑電阻溫度計(jì)(結(jié)合日歷時(shí)6.5.3該方法在原則上非?？煽?，但也存在不確定性，因?yàn)闇y(cè)量設(shè)備可能在“黑盒”中高中高中低高中低高中中低中低中低高高低中中中高中調(diào)整后的校準(zhǔn)周期I1可通過(guò)公式（A.1）或I1=I0(1+a)I1=I0(1-b)b=1-(1+a)-Rt/(1-Rt)A.4通常情況下，實(shí)驗(yàn)室可先設(shè)定a值和長(zhǎng)期平均測(cè)量可靠性目標(biāo)Rt值，b值可通過(guò)A.5選擇a值時(shí)，實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)以下情況進(jìn)行權(quán)衡：a值越大，則該方法使校準(zhǔn)周期測(cè)量設(shè)備為3等量塊（負(fù)10塊組初始的校準(zhǔn)周期I0=12月，取a=0值/mm/μm/μm/μm/μm變動(dòng)/μm/μm/μm/μmI1=I0(1+a)=12×(1+0.11)≈I2=I1(1+a)=13×(1+0.11)≈14(月)I3=I2(1+a)=14×(1+0.11)≈16(月)B.1增量反應(yīng)調(diào)整法也是基于測(cè)量設(shè)備的校準(zhǔn)結(jié)果對(duì)其校準(zhǔn)周期進(jìn)行調(diào)整的一種簡(jiǎn)Im+1=Im[1+Δm+1(-R)1-ym+1(R)ym+1]（B.1）ym——計(jì)算因子，當(dāng)?shù)趍次校準(zhǔn)結(jié)果滿(mǎn)足要求時(shí)ym=1，當(dāng)?shù)趍次校準(zhǔn)結(jié)果不滿(mǎn)足要求時(shí)ym=0；準(zhǔn)第2次校準(zhǔn)準(zhǔn)準(zhǔn)1±1.02±1.2±1.25±1.6±2.0±2.5±2.5±3.0±5.056553±1066553±1077668±25I1=I0[1+Δ1(一R)1一yI2=I1[1+Δ2(一R)1一y2(R)y2]=23×[1+0.5×(一0.9)1一0×(0.9)0]=1I4=I3[1+Δ4(一R)1一y4(R)y4]=16×[1+0.25×C.2根據(jù)方法要求和使用需求，實(shí)驗(yàn)室可選擇重要參數(shù)及關(guān)鍵測(cè)量點(diǎn)對(duì)測(cè)量設(shè)備進(jìn)行[1]CNAS-CL01-G002測(cè)量結(jié)果的計(jì)量溯源性要求[2]GB/T231.1金屬材料布氏硬度試驗(yàn)第1部分：試驗(yàn)方法[4]GB/T2