超聲波檢測工藝規(guī)程

超聲波檢測工藝規(guī)程

1超聲檢測通用工藝規(guī)程

2承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測專用工藝

3承壓設(shè)備用鍛件超聲檢測專用工藝

4承壓設(shè)備用奧氏體鋼超聲檢測專用工藝

5承壓設(shè)備用無縫鋼管超聲檢測專用工藝

6承壓設(shè)備用復(fù)合鋼板超聲檢測專用工藝

7承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測專用工藝

8承壓設(shè)備T型焊接接頭超聲檢測專用工藝

9鋼制承壓設(shè)備管子和管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^

超聲檢測專用

10承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件超聲檢測專用工藝

11在用承壓設(shè)備超聲檢測專用工藝

12超聲測厚檢測通用工藝

13模擬式超聲檢測儀操作規(guī)程

14數(shù)字式超聲檢測儀操作規(guī)程

15超聲波探傷儀系統(tǒng)自校規(guī)程

16超聲測厚儀操作規(guī)程

2

1超聲檢測通用工藝規(guī)

程

1.1范

1.1.1本工藝規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型

脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷

的超聲檢測方法。

1.1.2本工藝適用于金屬材料制承壓設(shè)

備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲

檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)

備的超聲檢測。

1.2引用標(biāo)準(zhǔn)

1.2.1GB150-98《鋼制壓力容器》。

1.2.2勞部發(fā)[1996]276號《蒸汽鍋爐安

全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》。

1.2.3JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢

3

測》

1.3一般要求

1.3.1檢測人員

(1)凡從事超聲波檢測的人員，必須經(jīng)

過國家勞動部門考核，取得各級資格的

人員是能從事與其資格相適應(yīng)的工作。

(2)檢測人員必須掌握儀器的綜合性能,

并能獨立進(jìn)行檢測。

(3)檢測人員必須熟悉超聲波檢測有關(guān)

標(biāo)準(zhǔn)，能按標(biāo)準(zhǔn)要求選擇適當(dāng)方法校正

儀器，并能進(jìn)行熟練的檢測操作。

(4)檢測人員應(yīng)能根據(jù)被檢工件的材質(zhì)、

規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等，預(yù)

計缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)

行正確的定位和定量。

4

1.3.2檢測設(shè)備

(1)超聲檢測設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合

格證或合格的證明文件。

(2)探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能

(a)探傷儀

采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其

工作頻率范圍為1-5MHZ,儀器至少在熒

光屏滿幅度的80%范圍內(nèi)呈線形顯示，探

傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減

器，步進(jìn)級每檔不大于2dB,其精度為任

意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi)，最大累

計誤差不超過1dB。

水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤

差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T9214

的規(guī)定。

5

(b)探頭

a.檢測常用探頭有單直探頭,單斜探頭

等。

b.晶片有效面積一般不應(yīng)超過500mm2,

且任一邊長不應(yīng)大于25mmo

c.單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)

大于2。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的

雙峰。

(c)超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能

a.在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時,

其有效靈敏度余量應(yīng)大于或等于10dBo

b.儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率

誤差不得大于±10%。

c.儀器和直探頭組合的始脈沖寬度:對

于頻率為5MHz的探頭，其占寬不得大于

6

10mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，其占

寬不得大于15mm。

d.直探頭的遠(yuǎn)場分辯力應(yīng)大于或等于

30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)大于或等

于6dBo

e.儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按

JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測試。

1.3.3超聲檢測一般方法

(1)檢測準(zhǔn)備

(a)承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗

中，超聲檢測的檢測時機及抽檢率的選

擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文

件的規(guī)定。

(b)所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分

均能得到充分檢查。

7

(c)焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。

所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物

等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合

檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響

檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做

適當(dāng)?shù)奶幚怼?/p>

(2)掃查覆蓋率

為確保檢測時超聲聲束能掃查到整個

被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于

探頭直徑(斜探頭的寬)的15%o

(3)探頭的移動速度

探頭的移動速度不應(yīng)超過150mm/so

(4)掃查靈敏度

掃查靈敏度不應(yīng)低于基準(zhǔn)靈敏度。

(5)耦合劑

8

應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的

耦合劑，如機油、漿糊、甘油和水等。

(6)耦合補償

(a)表面粗糙度補償

在檢測和缺陷定量時,應(yīng)對由表面粗糙

度引起的能量損耗進(jìn)行補償。

(b)衰減補償

在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對材質(zhì)衰減引

起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)

行補償。

(c)曲面補償

對于探測面是曲面的工作,應(yīng)采用曲率

半徑與工件相同或相近的參考試塊，對比

進(jìn)行曲率補償。

1.3.4系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核

9

(1)一般要求

系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行,校準(zhǔn)中

應(yīng)使探頭主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射

面，以獲得穩(wěn)定和最高的反射信號。

(2)儀器校準(zhǔn)

每隔3個月至少應(yīng)對儀器的水平線性

和垂直線性進(jìn)行一次測定，測定方法按

JB/T10061的規(guī)定。

(3)新購探頭測定

新購探頭應(yīng)有探頭性能說明書,新探頭

使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏

離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測

定。測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)

行，并滿足要求。

(4)檢測前儀器和探頭系統(tǒng)的測定

10

(a)使用儀器一斜探頭系統(tǒng),檢測前應(yīng)測

定前沿距離、K值、主聲束偏離，調(diào)節(jié)或

復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。

(b)使用儀器一直探頭系統(tǒng),檢測前應(yīng)測

定是脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)

節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。

(5)檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

遇到下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：

(a)校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)

旋鈕發(fā)生改變時。

(b)檢測人員懷疑檢測量程或掃查靈敏

度有變化時。

(c)連續(xù)工作4h以上時。

(d)工作結(jié)束時。

(6)檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

11

(a)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進(jìn)

行復(fù)核。如果任意一點在掃描線上的偏

移超過掃描線讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)

重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的

檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。

(b)每次檢測結(jié)束前，掃查靈敏度進(jìn)行

復(fù)核。一般對距離一波幅曲線的校核不

少于3點。如曲線上任何一點幅度下降

2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測

部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB,則應(yīng)對

所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。

(7)校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項

校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時，任

何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾

波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處

12

于最低水平上。

1.3.5試塊

(1)標(biāo)準(zhǔn)試塊

(a)標(biāo)準(zhǔn)試塊

a.標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀

器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊,

本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有：

a)鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBIVCBIIo

b)鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSIvCSIUCS

lllo

c)焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK-IA、CSK-

IIA、CSK-lllAvCSK-IVAo

b.標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或近

似聲學(xué)性能的材料制成,該材料用直探頭

探測時，不得有大于或等于02mm平底孔

13

當(dāng)量直徑的缺陷。

C.標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要

求。

d.標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合

JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定。

(b)對比試塊

a.對比試塊是指用于檢測校準(zhǔn)的試塊。

b,對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢

工件的特征,試塊厚度與被檢工件厚度相

對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚

度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度由其

最大厚度來決定。

c,對比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量

應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。

1.3.6檢測報告及底片資料存檔

14

(1)檢測報告至少應(yīng)包括:

(a)委托單位。

(b)被檢工件：名稱、編號、規(guī)格、

材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀

況。

(c)檢測設(shè)備：探傷儀、探頭、試塊。

(d)檢測規(guī)范：技術(shù)等級、探頭K值、

探頭頻率、檢測面和檢測靈敏度。

(e)檢測部位及缺陷類型：尺寸、位

置和分布應(yīng)在草圖上予以標(biāo)明，如有因

幾何形狀限制而檢測不到的部位，也應(yīng)

加以說明。

(f)檢測結(jié)果及質(zhì)量分級、檢測標(biāo)準(zhǔn)

名稱和驗收等級。

(g)檢測人員和責(zé)任人員簽字及其技

15

術(shù)資格。

(h)檢測日期。

(2)超聲檢測的有關(guān)資料(檢測位置示

意圖、檢測原始記錄、檢測報告等過程

結(jié)果質(zhì)量記錄資料)必須妥善保管7年

以上。

16

2承壓設(shè)備用鋼板超聲

檢測專用工藝

2.1適用范圍

2.1.1本工藝適用于板厚為6-250mm的

碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超

聲檢測和質(zhì)量分級。

2.1.2奧氏體鋼板材、鎂及銀合金板材以

及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照

本章執(zhí)行。

2.2引用標(biāo)準(zhǔn)

2.2.1GB150《鋼制壓力容器》

2.2.2JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢

測》

2.2.3檢測人員

2.3.1凡從事超聲波檢測的人員，必須經(jīng)

17

過國家技監(jiān)部門考核，取得不同等級資格

的人員只能從事與其資格相適應(yīng)的工作。

2.3.2檢測人員必須掌握儀器的綜合性

能，并能獨立進(jìn)行檢測。

2.3.3檢測人員必須熟悉超聲波檢測有

關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，能按標(biāo)準(zhǔn)要求選擇適當(dāng)方法校正

儀器，并能進(jìn)行熟練的檢測操作。

2.3.4檢測人員應(yīng)能根據(jù)被檢工件的材

質(zhì)、規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等,

預(yù)計缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)

行正確的定位和定量。

2.2.4探頭選用

2.4.1探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。

2.4.2雙晶探頭的性能應(yīng)符合

JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)

18

準(zhǔn)附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。

表1承壓設(shè)備用板材超聲檢測探頭選用

板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸

6?20雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm2

>20?40單晶直探頭54)14mm?020mm

>40?250單晶直探頭2.5。20mm?025mm

2.2.5標(biāo)準(zhǔn)試塊

2.5.1TW20mm的鋼板，采用

JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)要求的CBI標(biāo)準(zhǔn)試

塊。

O

A

一

8X40

圖1CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊

2.5.2T>20mm的鋼板，采用

JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)要求的CBII標(biāo)準(zhǔn)試

塊。

19

s

—t

力圖21J準(zhǔn)試塊

2.6基準(zhǔn)靈敏度

2.6.1TW20mm的鋼板，用CBI試塊將工

件等厚部分的第一次底波高度調(diào)整到滿

幅度的50%o再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏

度。

2.6.2T>20mm時,將CBII試塊Q5平底

孔第一次反射波調(diào)整到滿幅度的50%,作

為基準(zhǔn)靈敏度。

2.6.3板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時,

可取鋼板無缺陷的完好部位的第一次底

波滿幅度50%來校準(zhǔn)靈敏度，符合2.6.2

20

條的規(guī)定。

2.7檢測方法

2.7.1檢測面

可選鋼板任一扎制平面進(jìn)行檢測,如需要

也可兩面進(jìn)行檢測。

2.7.2耦合方式可采用直接接觸法或液

浸法。

2.7.3掃查方式

（1）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距

為100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖

口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)鋼板厚度超過

100mm時，以鋼板厚度的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)

作100%掃查，如圖所示：

1（10%掃查區(qū)

圖3探頭掃查示意圖

(2)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求,

也可采用其他形式的掃查。

2.缺陷記錄

2.8.1在檢測過程中發(fā)現(xiàn)下列情況之一

者，作為缺陷:

(1)缺陷第一次反射波高250%,F12

50%者。

(2)BK100%,而F1/B1250%者。

(3)B1V50%者。

2.2.8.2缺陷的測定

(1)檢出缺陷后，在其周圍繼續(xù)進(jìn)行檢

測，以確定其延伸。

(2)單直、雙直探頭在檢測面使F1=25%

滿刻度或F1/B仁50%,此時探頭移動的距

22

離指示長度，但雙直探頭移動方向應(yīng)與

聲波分割面相垂直。

(3)當(dāng)采用F2與B2來評定缺陷時，檢

測靈敏度以相應(yīng)的第二次反射波來校

準(zhǔn)。

2.8.3缺陷評定方法

(1)在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm(T>

100mm時，以板厚的一半為準(zhǔn))內(nèi)，缺陷

指示長度250mm時，應(yīng)判廢，不評級。

(2)檢測中確認(rèn)鋼板中有白點。裂紋等

危害缺陷存在時，應(yīng)判廢，不評級。

(3)評級按JB/T4730-2005或圖紙設(shè)計

要求來進(jìn)行評定。

23

3承壓設(shè)備用鋼鍛件超

聲檢測專用工藝

3.1適用范圍

3.1.1本工藝適用于承壓設(shè)備用碳素鋼

和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。

3.1.2本工藝不適用于奧氏體鋼粗晶鍛

件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)外徑之比小

于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢

測。

3.2引用標(biāo)準(zhǔn)

3.2.1《鋼制壓力容器》GB150-98

3.2.2《承壓設(shè)備無損檢測》

JB/T4730-2005

3.3檢測人員

3.3.1凡從事超聲波檢測的人員，必須經(jīng)

24

過國家技監(jiān)部門考核，取得不同等級資格

的人員只能從事與其資格相適應(yīng)的工作。

3.3.2檢測人員必須掌握儀器的綜合性

能，并能獨立進(jìn)行檢測。

3.3.3檢測人員必須熟悉超聲波檢測有

關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，能按標(biāo)準(zhǔn)要求選擇適當(dāng)方法校正

儀器，并能進(jìn)行熟練的檢測操作。

3.3.4檢測人員應(yīng)能根據(jù)被檢工件的材

質(zhì)、規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等,

預(yù)計缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)

行正確的定位和定量。

3.4試塊

3.4.1單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊

試塊應(yīng)采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)

按JB/T4730-2005表4和圖4的規(guī)定。

25

3.4.2縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊：

(1)工件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用

縱波CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。

(2)CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合

JB/T4730-2005圖5和表5的規(guī)定。

(3)檢測面是曲面時,應(yīng)采用CSIII對比

試塊來測定由于不同曲率而引起的聲能

損失，其形狀和尺寸按JB/T4730-2005

圖6所示。

3.5檢測時機

原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孑L、臺

階加工前進(jìn)行，檢測面表面粗糙度Ra不

大于6.3|imo

3.6檢測方法

3.6.1鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測，對筒形

26

鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測，橫波檢測應(yīng)按

JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)附錄C(規(guī)范性附錄)

的要求進(jìn)行檢測。

3.6.2縱波檢測

(1)原則上應(yīng)從兩個垂直的方向進(jìn)行檢

測，盡可能的檢測到鍛件的全體積。

(2)鍛件的厚度超過400mm時，應(yīng)從中

對兩端面進(jìn)行100%的掃查。

3.7檢測靈敏度的確定

3.7.1單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定

當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的

三倍近場區(qū)時，且與探測面平行時，原則

上可選用底波計算法確定基準(zhǔn)靈敏度o對

于幾何形狀所限,不能獲得底波或壁厚小

于探頭的三倍近場區(qū)時,可直接采用試塊

27

法確定基準(zhǔn)靈敏度。

3.7.2雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定

使用CSII試塊，依次測試一組不同檢

測距離的。3mm平底孔（至少3個）。調(diào)

節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿

刻度的80%,不改變儀器的參數(shù)，測出其

他平底孔回波的最高點,將其標(biāo)在熒光屏

上，連接這些點，即是對應(yīng)不同直徑平底

孔的縱波雙晶直探頭的距離一波幅曲線,

并以此作為檢測基準(zhǔn)靈敏度。

3.7.3掃查靈敏度一般不得低于最大檢

測距離的4）2mm平底孔當(dāng)量直徑。

3.7.4采用計算法確定檢測靈敏度

當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的

三倍近場區(qū)時，且與探測面平行時，原則

28

上可選用底波計算法確定檢測靈敏度O

(1)先應(yīng)算出公式入=C/f

N=D2/4入

確定XB23NXf23N

（2）平底面和實心圓柱體曲底面調(diào)節(jié)探

傷靈敏度當(dāng)量計算公式

△=201g（2入X/TT#）

（3）用空心圓柱體內(nèi)孔或外孔圓曲底面

調(diào)節(jié)靈敏度當(dāng)量計算公式

△=20lg(2入X/n”)±10-

Ig(d/D)

（+外探-內(nèi)探D外徑d內(nèi)徑）

（4）用試塊法，不同距離、不同孔徑調(diào)

節(jié)檢測靈敏度計算公式

△=40lg{01-X2/((D2?X1)l

29

3.8工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定

3.8.1在工件無缺陷完好區(qū)域,選取三處

檢測面與底面平行且具有代表性的部位,

調(diào)節(jié)儀器使第一次底波回波幅度（B1或B

n）為滿刻度的50%,記錄此時衰減器的

讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波

幅度（B2或Bm）,兩次衰減器之差即為（B1

或Bn）或（B2或Bm）的dB差值（不考

慮底面回波反射損傷）。

3.8.2衰減系數(shù)（TV3N,且滿足n>

3N/T,m=2n）按下式（1）計算：

a=K（Bn-Bm）-63/2（m-n）T（1）

式中：Q—衰減系數(shù)；

Bn-Bm一兩次衰減器的讀數(shù)之差，

dBo

T—工件檢測厚度，mmo

30

N一單直探頭近場區(qū)長度，mmo

m、n一底波反射次數(shù)。

3.8.3衰減系數(shù)（TN3N）按下式（2）計

”K（B1-B2）-62/2T（2）

式中：（B1-B2）一兩次衰減器的讀數(shù)差,

dBo

其余符合意義同式（Do

3.8.4工件上三處衰減系數(shù)的平均值即

為該工件的衰減系數(shù)。

3.9缺陷當(dāng)量的確定

3.9.1當(dāng)缺陷的深度不小于3倍近場區(qū)

時，采用AVG曲線及計算法確定缺陷當(dāng)

量。對于3倍近場區(qū)以內(nèi)的缺陷，可采

用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅

曲線來確定當(dāng)量。也可采用其他等效方

31

法確定。

3.9.2計算缺陷當(dāng)量時，當(dāng)材質(zhì)衰減系

數(shù)超過4dB/m,應(yīng)考慮修正。

3.10缺陷記錄

3.10.1記錄當(dāng)量直徑超過4)4mm的單個

缺陷的波幅和位置。

3.10.2密集性缺陷：記錄密集缺陷中最

大當(dāng)量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)

記錄大于或等于04mm當(dāng)量直徑的缺陷

密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于4)

3mm當(dāng)量

直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面

積以50mmX50mm的方塊作為最小量度單

位，其邊界可由6dB法決定。

3.11評級

32

3.11.1單個缺陷：根據(jù)當(dāng)量dB值64mm

加多少dB來評級。

3.11.2底波降低量：先確定出靠近缺陷

處的無缺陷完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度

BG,再確定出缺陷區(qū)域內(nèi)底波幅度降至

最低時的第一次底波的幅度BF,則可確

定出BG與BF的dB幅度差值。據(jù)此可

按JB/T4730-2005超聲檢測部分表6來

評級。

3.11.3密集區(qū)缺陷

(D若在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲

程范圍內(nèi)同時有5個或5個以上的缺陷

反射信號；或是在50mmX50mm的檢測面

上發(fā)現(xiàn)同一深度范圍內(nèi)有5個或5個以

上的缺陷反射信號。其反射波幅均大于

33

某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅。則此

缺陷被稱為密集區(qū)缺陷。

（2）根據(jù)密集性缺陷占探傷總面積的百

分比來評級。

3.11.4上述評級，獨立進(jìn)行。以上述評

級的最低級別作為被檢件的質(zhì)量級別。

3.11.5當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害

性缺陷時，鍛件的質(zhì)量等級應(yīng)評為最低

級別一V級。

3.12返修處理及復(fù)驗

不合格的鍛件可進(jìn)行處理或修復(fù),修復(fù)后

仍按以上方法進(jìn)行檢測和評級。

34

承壓設(shè)備用奧氏體鋼

鍛件超聲檢測專用工藝

4.1適用范圍

4.1.1本工藝適用于承壓設(shè)備用奧氏體

鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。

4.2探頭

4.2.1探頭的工作頻率為0.5MHz?

2MHzo

4.2.2直探頭的晶片直徑為14mm?30

mmo

4.2.3斜探頭的K值般為0.5?2。

4.2.4為了準(zhǔn)確測定缺陷，必要時也可采

用其他探頭。

4.3試塊

4.3.1對比試塊應(yīng)符合2.1.3.5的規(guī)定。

35

4.3.2對比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性

與被檢鍛件大致相近。

4.3.3在條件允許時，可在鍛件有代表性

的部位加工一個或幾個適當(dāng)大小的對比

孔或槽，代替試塊作為校正和檢測的基

準(zhǔn)。

4.4檢測時機和工件要求

4.4.1檢測時機可按2.3.5條規(guī)定執(zhí)行。

4.4.2被檢件表面應(yīng)無氧化皮、漆皮、：節(jié)

物等。

4.5檢測方法

一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測o對筒形鍛

件和環(huán)形鍛件必要時還應(yīng)進(jìn)行斜探頭檢

測，但掃查部位和驗收標(biāo)準(zhǔn)由合同雙方商

定。

36

4.5.1斜探頭檢測

可按JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢

測》超聲部分附錄E執(zhí)行。

4.5.2直探頭縱波檢測

可執(zhí)行2.3.6.2的規(guī)定。

4.6靈敏度的校正

4.6.1當(dāng)被檢鍛件厚度不大于600mm時,

應(yīng)根據(jù)訂貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級,

在適當(dāng)厚度的平底孔試塊上校正，并根據(jù)

實測值作出距離一波幅曲線（定量線）；

當(dāng)被檢鍛件厚度大于600mm時,在工件無

缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80%,以此

作為基準(zhǔn)靈敏度。

4.6.2掃查靈敏度至少應(yīng)比距離一波幅

曲線（定量線）或基準(zhǔn)靈敏度提高6dBo

37

2.4.7缺陷記錄

4.7.1由于缺陷的存在，而是底波降為

滿刻度25%以下的部位。

4.7.2波幅幅度大于基準(zhǔn)線高度50%的

缺陷信號。

4.質(zhì)量分級

4.8.1單直探頭檢測的質(zhì)量分級見表

JB/T4730-2005超聲部分的表15。

2.4.8.1斜探頭檢測的質(zhì)量分級見表

JB/T4730-2005超聲部分的表16。

4.8.2以上評級獨立進(jìn)行，以最低級別

作為被檢件的質(zhì)量級別。

38

5承壓設(shè)備用無縫鋼管

超聲檢測專用工藝

5.1適用范圍

5.1.1本工藝適用外徑為12-660mm,T2

2mm的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金無縫鋼

管或外徑為12-400mm,壁厚為2-35nlm的

承壓設(shè)備用奧氏體不銹鋼無縫鋼管的超

聲檢測和質(zhì)量分級。

5.1.2本條不適用于內(nèi)外徑之比小于

80%的鋼管周向直接接觸法橫波檢測，也

不適用于分層缺陷的超聲檢測。

5.2引用標(biāo)準(zhǔn)

5.2.1GB150《鋼制壓力容器》

5.2.2JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢

測》

39

5.2.3勞部發(fā)[1996]276號《蒸汽鍋爐安

全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》

5.2.4GB11345—1989《鋼焊縫手工超聲

波探傷方法和探傷結(jié)果的分級》

5.2.5SY/T4109—2005《石油天燃?xì)怃撡|(zhì)

管道無損檢測》

5.3檢測人員

5.3.1凡從事超聲波檢測的人員，必須經(jīng)

過國家技監(jiān)部門考核，取得不同等級資格

的人員只能從事與其資格相適應(yīng)的工作。

5.3.2檢測人員必須掌握儀器的綜合性

能，并能獨立進(jìn)行檢測。

5.3.3檢測人員必須熟悉超聲波檢測有

關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，能按標(biāo)準(zhǔn)要求選擇適當(dāng)方法校正

儀器，并能進(jìn)行熟練的檢測操作。

40

5.3.4檢測人員應(yīng)能根據(jù)被檢工件的材

質(zhì)、規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等,

預(yù)計缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)

行正確的定位和定量。

5.4檢測設(shè)備及輔助器材

5.4.1檢測設(shè)備由超聲波檢測儀、探頭和

其他機械傳動裝置及輔助裝置組成。檢測

頻率為2.5MHz?5MHzo

5.4.2液浸法檢測使用線聚集或點聚集

探頭。接觸法檢測使用與鋼管表面吻合良

好的斜探頭或聚集探頭。單個探頭壓電晶

片長度或直徑不大于25mmo

1檢測設(shè)備應(yīng)每年按期進(jìn)行計量校驗。

5.4.3對比試塊按被檢鋼管的同規(guī)格、同

材質(zhì)、同熱處理工藝和相同表面狀況或相

41

似的鋼管制備。

5.4.4對比試塊人工缺陷的示意圖如圖

4和表2所示。

表2對比試樣上人工缺陷尺寸

級別長度，mm深度t占壁厚的百分比，%

I405(0.2mmWtWlmm)

II408(0.2mmWtW2mm)

III4010(0.2mm)

5.5檢測方法

5.5.1鋼管的檢測主要針對縱向缺陷。

橫向缺陷的檢測執(zhí)行JB/T4730-2005超

聲部分的附錄D,相關(guān)事宜由合同雙方協(xié)

商解決。

42

5.5.2鋼管的檢測可根據(jù)鋼管規(guī)格選用

液浸法或接觸法檢測。

5.5.3檢測縱向超聲波束應(yīng)由鋼管截面

中心線一側(cè)傾斜入射，在管壁內(nèi)沿周向

程鋸齒形傳播（見圖5）o檢測橫向缺陷

時超聲波束應(yīng)沿軸向傾斜入射呈鋸齒形

5.5.4探頭相對鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)

保證超聲波束對鋼管進(jìn)行100%掃查時,

有不少于15%的覆蓋率。

5.5.5自動檢測應(yīng)保證動態(tài)時的檢測靈

43

敏度，且內(nèi)、外槽的最大反射波幅差不

超過2dBo

5.5.6每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方

向各測一次。

5.6檢測技術(shù)操作要求

(1)清除表面氧化皮、銹蝕及油污。

(2)以水浸法采用回聲透鏡聚焦的探頭

進(jìn)行探傷。

(3)水層清潔，并需保持足夠的水層高

度。

(4)探測頻率為2.5-5MHZ。

(5)探傷時，探頭與被檢管表面的相對

運動的軌跡為螺旋線。

(6)檢測靈敏度的確定

(a)直接接觸法可在人工標(biāo)準(zhǔn)式樣上調(diào)

44

節(jié)探傷靈敏度，使試樣內(nèi)表面人工缺陷

所產(chǎn)生的反射波幅度等于滿幅度的80%,

移動探頭，找出外壁人工缺陷的最大反

射波，并在屏上標(biāo)出，連接兩點，即為

該探頭的距離一波幅曲線，作為檢測時

的基準(zhǔn)靈敏度。

(b)液浸法檢測靈敏度按下述方法確定

a.水層距離應(yīng)根據(jù)聚焦探頭的焦距確定

由公式H=FL（R2—X2）1/2

圖7水層厚度選擇示意圖

b.調(diào)整時，一面適當(dāng)轉(zhuǎn)動管子，一面將探

頭慢慢偏心，使對比試樣內(nèi)外表面人工

45

缺陷產(chǎn)生的波幅度均達(dá)到滿幅度的

50%,以此作為基準(zhǔn)靈敏度。

c.掃查靈敏度應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度提高6dBo

5.7驗收要求

其判廢要求按相應(yīng)的技術(shù)文件規(guī)定。

5.結(jié)果評定

缺陷回波幅度，人工缺陷回波，則不合

格。

5.9返修復(fù)檢

不合格品允許重新處理后按本工藝進(jìn)行

超聲檢測和質(zhì)量等級評定。

46

6承壓設(shè)備用復(fù)合鋼板

超聲檢測專用工藝

6.1適用范圍

6.1.1適用于基板厚度為不小于6mm以上

的承壓設(shè)備用不銹鋼、鈦及鈦合金、鋁及

鋁合金、鎮(zhèn)及銀合金、銅及銅合金復(fù)合鋼

板的超聲波檢測O基板和復(fù)板的質(zhì)量要求

應(yīng)符合復(fù)合鋼板制造技術(shù)條件。

6.1.2本工藝主要用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)

合狀態(tài)的超聲檢測。

6.2引用標(biāo)準(zhǔn)

6.2.1GB150《鋼制壓力容器》

6.2.2JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢

測》

6.3檢測人員

47

6.3.1凡從事超聲波檢測的人員，必須經(jīng)

過國家勞動部門考核，取得不同等級資格

的人員只能從事與其資格相適應(yīng)的工作。

6.3.2檢測人員必須掌握儀器的綜合性

能，并能獨立進(jìn)行檢測。

6.3.3檢:則人員必須熟悉超聲波檢測有

關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，能按標(biāo)準(zhǔn)要求選擇適當(dāng)方法校正

儀器，并能進(jìn)行熟練的檢測操作。

6.3.4檢測人員應(yīng)能根據(jù)被檢工件的材

質(zhì)、規(guī)格、加工工藝過程、材料曲率等,

預(yù)計缺陷可能產(chǎn)生的部位和類型，并能進(jìn)

行正確的定位和定量。

6.4探頭選用

6.4.1探頭按2.2.4條表1選用。

6.5檢測方法

48

6.5.1檢測面選擇

根據(jù)聲阻抗、表面狀態(tài)及復(fù)合鋼板的形

狀決定從復(fù)板一側(cè)或從基板一側(cè)進(jìn)行檢

測。

6.5.2耦合方式

可采用直探頭接觸法或液浸法。

6.5.3掃查方法

(1)可采用100%掃查或沿鋼板寬度方

向,間隔50mm的平行線掃查。

(2)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議或圖樣的要求,

也可采用其他掃查方式。

(3)在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)作100%

掃查。

2.6.6基準(zhǔn)靈敏度的確定

將探頭置于復(fù)合鋼板完全結(jié)合部分,調(diào)

49

節(jié)第一次底波至示波屏滿幅度的80%,做

為基準(zhǔn)靈敏度。

6.7未接合區(qū)的測定

第一次底波高度低于熒光屏滿刻度的

5%,且明顯有未接合缺陷反射波存在(2

5%),該部分稱為未接合區(qū)。移動探頭，

使第一次底波升高到熒光屏滿刻度的

40%,以此時探頭中心作為未接合區(qū)邊界

點。

6.未接合缺陷的評定方法

6.8.1缺陷指示長度的評定

(1)一個缺陷按其指示的最大長度作為

該缺陷的指示長度。若單個缺陷的指示

長度小于25mm時，可不作記錄。

6.8.2缺陷面積的評定

50

多個相鄰的未接合區(qū),當(dāng)其最小間不小

于20mm時，應(yīng)作為單個未接合區(qū)處理，

其面積為各個未接合區(qū)面積之和。

6.8.3未接合率的評定

未接合區(qū)總面積占復(fù)合板總面積的百

分比。

6.9質(zhì)量分級

6.9.1復(fù)合板質(zhì)量分級按

JB/T4730-2005超聲檢測部分表10執(zhí)行。

6.9.2在坡口的預(yù)定線兩側(cè)各50mm的范

內(nèi)，未接合的指示長度不小于25mm時,

須評為IV級。

6.10處理及復(fù)驗

不合格的復(fù)合鋼板可進(jìn)行處理或修復(fù),

修復(fù)后仍按以上方法進(jìn)行檢測和評級。

51

7承壓設(shè)備對接焊接接

頭超聲檢測專用工藝

7.1適用范|

7.1.1本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對接焊

接接頭的超聲檢測專用工藝。

7.1.2本條適用于母材厚度為8?400mm

全熔化焊對接接頭的超聲檢測o

7.2超聲檢測技術(shù)等級

7.2.1超聲檢測技術(shù)等級選擇

超聲檢測技術(shù)等級分為A、B、C三個

檢測級別。超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合

制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)

計圖樣規(guī)定。

(1)A級僅適用于母材厚度為8?46mm

的對接焊接接頭?？捎靡环NK值探頭采

52

用一次波和二次波法在對接焊接接頭的

單面單側(cè)進(jìn)行檢測。可不進(jìn)行橫向缺陷

檢測。

(2)B級檢測

(a)母材厚度為8mm?46mm時，一般用

一種K值探頭采用直射波和一次反射波

法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢

測。

(b)母材厚度為46mm?120mm時，一般

用一種K值探頭采用直射波在對接焊接

接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。受結(jié)構(gòu)限制,

也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)

采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測。

(c)母材厚度為120mm?400mm時，一

般用兩種K值探頭采用直射波法在對接

53

焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探

頭的折射角相差應(yīng)不小于10°。

(d)應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時，

可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接

頭中心線成10°?20°作兩個方向的斜

平行掃查，如圖8所示。如焊接接頭余

高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)

上作兩個方向的平行掃查，如圖9所示。

(3)C級檢測

采用C級檢測時應(yīng)將焊接接頭的余高磨

平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的

54

母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測O

(a)母材厚度為8mm?46mm時，一般用

兩種K值探頭采用直射波和一次反射波

法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢

測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于

10°,其中一個折射角應(yīng)為45°。

(b)母材厚度為46mm?400mm時，一般

用兩種K值探頭采用直射波法在對接焊

接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭

的折射角相差應(yīng)不小于10°。對于單側(cè)

坡口角度小于5。的窄間隙焊縫，宜可增

加對檢測坡口表面平行缺陷有效檢測方

法。

(c)應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。如圖

圖9所示。

55

7.3試塊

7.3.1采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IAvCSK-

IIA、CSKTIIA和CSK-IVA。

7.3.2CSK-IAvCSK-IIAvCSK-IIIA試塊

適用于壁厚范圍為6mm?120mm的焊接接

頭，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊適用于

120nlm?400mm的焊接接頭。在滿足靈敏

度要求時，試塊上的人工反射體根據(jù)需

要可采取其他布置形式或添加，也可采

用其他型式的等效試塊。

7.3.3檢測曲面工件時，如檢測面曲率

半徑RWW2/4時（W為探頭接觸面寬度，

環(huán)縫檢測時為探頭寬度，縱縫檢測時為

探頭長度），應(yīng)采用與檢測面曲率相同的

對比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo)準(zhǔn)試

56

塊確定。試塊寬度b一般應(yīng)滿足:

b22入S/DO

式中：b---試塊寬度，mmo

入---超聲波波長，mmo

S----聲程，mmo

DO聲源有效直徑。

7.4檢測準(zhǔn)備

7.4.1檢測面

(1)檢測區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再

加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的

一段區(qū)域，這個區(qū)域最小為5,最大為

10mm,見下圖10：

57

圖10檢測面和探頭移動區(qū)

(2)探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、

油污及其它雜質(zhì)。檢測表面應(yīng)平整光滑,

便于探頭的自由掃查，其表面粗糙度Ra

應(yīng)為一般應(yīng)進(jìn)行打磨。

(a)采用一次反射法或串列式掃查檢測

時，探頭移動區(qū)應(yīng)不小于1.25P：

P=2TK或或P=2TtgB

式中：P----跨距，mm

T母材厚度,mm

58

K——探頭K值

P——探頭折射角，(°)

(b)采用直射法檢測時，探頭移動區(qū)應(yīng)

不小于0.75PO

(3)去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到

與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫表面

有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)適當(dāng)

的修磨，并作滑過渡以免影響檢驗結(jié)

果的評定。

7.4.2探頭K值(角度)

⑴斜探頭的K值選取參照

JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)的具體規(guī)定。條件允

許時，可采用較大的K值探頭。

59

表3推薦采用的斜探頭K值

板厚T,mmK值

6?253.0~2.0(72°?60°)

>25?462.5?1.5(68°?56°)

>46?1202.0-1.0(60°?45°)

>120?4002.0-1.0(60°?45°)

（2）檢測頻率一般為2MHz?5MHz。

7.4.3母材檢測

在需要時參照J(rèn)B/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定

進(jìn)行檢測。

7.5距離一波幅曲線的繪制

7.5.1距離一波幅曲線按所用探頭和儀

器在試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲

線由評定線、定量線和判廢線組成。評

定線與定量線之間（包括評定線）為I

區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）

為II區(qū)，判廢線以上為川區(qū)，如下圖所

60

圖11距離一波幅曲線

7.5.2距離一波幅曲線的靈敏度選擇

(1)根據(jù)不同壁厚條件按照

JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)分別來確定斜探頭

和直探頭的檢測靈敏度。

(2)檢測橫向缺陷時，應(yīng)將各線靈敏度

均提高6dBo

(3)檢測面曲率半徑R小于或等于M/4

時，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對

比試

塊上進(jìn)行。

61

(4)工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)

與試塊相同，否則應(yīng)按JB/T4730-2005

附錄F的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補償。在一

跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差不大于2dB

時可不進(jìn)行補償。

(5)掃查靈敏度不低于最大聲程處的評

定線靈敏度。

7.6檢測方法

7.6.1平板對接焊縫的檢測

(1)為檢測縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于

焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型

掃查。如下圖12所示。

62

縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移

動的同時，還應(yīng)作10°?15。的左右轉(zhuǎn)

動。不同檢測技術(shù)等級對縱向缺陷的檢

測要求見2.7.2條的規(guī)定。

(2)不同檢測技術(shù)等級對橫向缺陷的檢

測要求見2.7.2條的規(guī)定。

(3)對電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫

中心線成45°的斜向掃查。

(4)為確定缺陷位置，方向和形狀，觀

63

察缺陷動態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號，可采

用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭

基本掃查方式。

圖13四種基本掃查方法

7.6.2曲面對接接頭的超聲檢測檢測

(1)檢測面為曲面時，可盡量按平板對

接焊縫的檢測方法進(jìn)行檢測。對于受幾

何形狀限制，無法檢測的部位應(yīng)予以記

錄。

(2)縱縫檢測時，對比試塊的曲率半徑

與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于10%o

(a)根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探

64

頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確

保聲束能掃查到整個焊縫。

(b)探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入

射點和K值的變化，并用曲率試塊作實

際測定。

(c)當(dāng)檢測面半徑R大于W2/4且采用平

面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時，應(yīng)注意到熒光

屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實

際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差

異，必要時應(yīng)進(jìn)行修正。

(3)環(huán)縫檢測時，對比試塊的曲率半徑

應(yīng)為檢測面曲率半徑的0.9?1.5倍。

7.6.3管座角焊縫的檢測

在選擇檢測面和探頭時應(yīng)考慮到各種

類型的缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂

65

直于該焊縫結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。檢測方式

一般有五種，見下圖所示:

(1)在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖

14位置1o

(2)在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖

15位置1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測,

見圖14位置4。

(3)在接管外壁采用斜探頭檢測，見圖

14位置2。

(4)在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖

14位置3和圖15位置3。

(5)在容器外壁采用斜探頭檢測，見圖

14位置2。

66

7.7缺陷定量檢測

7.7.1靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。

7.7.2對所有反射波幅達(dá)到或超過定量

線的缺陷，應(yīng)確定其位置、最大反射波

幅和缺陷當(dāng)量。

7.7.3缺陷位置測定

缺陷位置測定以獲得缺陷最大反射波

幅的位置，測定波幅大小，并確定它在距

離一波幅曲線圖中區(qū)域。

67

7.7.4缺陷定量

應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)

量直徑Q或缺陷指示長度△Lo

(1)缺陷當(dāng)量直徑Q,用當(dāng)量平底孔直

徑表示，主要用于直探頭檢測，可采用

公式計算，距離一波幅曲線和試塊對比

來確定缺陷當(dāng)量尺寸。

(2)缺陷指示長度AL的測定采用以下

方法：

(a)當(dāng)缺陷反射波只有一個高點，且位

于II區(qū)時，用6dB法測其指示長度。

(b)當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多

個高點，且位于II區(qū)時，應(yīng)以端點6dB

法測其指標(biāo)長度

(c)當(dāng)缺陷反射波位于I區(qū)，如認(rèn)為有必

68

要記錄時，將探頭左右移動，使波幅降

到評定線，以此測定缺陷的指示長度。

(d)根據(jù)具體情況，亦可采用絕對靈敏度

測長法。

7.*缺陷評定

7.8.1超過評定線的信號應(yīng)注意其是否

具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑

時，應(yīng)采取改變探頭K值，增加檢測面、

觀察動態(tài)波形并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征進(jìn)行

判定，如對波形不能判斷時，應(yīng)輔助以

其它檢測方法作綜合判定。

7.8.2缺陷指示長度小于10mm時按5mm

計。

7.8.3相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小

于其中較小的缺陷長度時，應(yīng)作為一條

69

缺陷處理，以兩缺陷長度之和作為其指

示長度（不考慮間距）。

7.9等級評定

7.9.1不允許存在下列缺陷：

7.9.2反射波幅位于判廢線及III區(qū)的缺

陷。

7.9.3檢測人員判定為裂紋等危害性的

缺陷。

7.9.4最大反射波幅低于定量線的非裂

紋類缺陷，均評為I級。

7.9.5最大反射波幅位于II區(qū)的缺陷，按

照J(rèn)B/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)表23規(guī)定進(jìn)行評

級。

7.10返修和復(fù)驗

不合格的缺陷予以返修。返修部位和熱影

70

響區(qū)仍按本工藝規(guī)定進(jìn)行檢測和等級評

定。

71

8承壓設(shè)備T型焊接接頭

超聲檢測專用工藝

8.1適用范圍

8.1.1本工藝適用于厚度為6mm?50nlm的

鍋爐、壓力容器全熔化焊T型焊接接頭的

超聲檢測。

8.1.2其他用途的全熔化焊T型焊接接

頭的超聲檢測也可參照本工藝的規(guī)定進(jìn)

行。

8.2基本原則

在選擇檢測面和探頭時應(yīng)盡考慮到檢

測各類缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂

直于該類焊接接頭結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。

8.3檢測方式

根據(jù)焊接接頭結(jié)構(gòu)型式，T型焊接接頭

72

的檢測如下三種檢測方式。可選擇其中一

種或幾種方式組合實施檢測，檢測方式選

擇有合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測對

象和幾何條件的限制。

圖16T型焊接接頭（型式I）

73

位置1位置3位置1位置3

圖17T型焊接接頭（型式II）

圖18T型焊接接頭（型式川）

.3.1用斜探頭從翼板外側(cè)用直射法進(jìn)

行探測，見圖16位置1、圖17位置1、

74

圖18位置1。

.3.2用斜探頭從翼板外側(cè)用直射法或

一次反射法進(jìn)行探測，見圖16位置2和

位置4、圖17位置2和位置4、圖18位

置2和位置4O

.3.3用直探頭或雙晶直探頭在翼板外

側(cè)沿焊接接頭探測，或使用斜探頭（K約

為1）在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測，見圖

16位置3、圖17位置3、圖18位置3。

.4斜探頭K值的確定

用斜探頭在翼板外側(cè)進(jìn)行探測時，一般

使用K1探頭；用斜探頭在腹板一側(cè)探測

時，按JB/T4730.3-2005表18執(zhí)行。

8.5距離一波幅曲線靈敏度的確定

用斜探頭探測時,距離一波幅曲線靈敏

75

度應(yīng)以腹板厚度按JB/T4730.3-2005表

19確定；用直探頭探測時，距離一波幅曲

線靈敏度應(yīng)以翼板厚度表4確定。

表4T型焊接接頭直探頭距離-波幅曲線的靈敏度

評定線定■線判廢線

02mm平底孔Q3mm平底孔04mm平底孔

2.8.6掃查方式

按2.76執(zhí)行。

2.8.7對缺陷進(jìn)行等級評定時，均以腹板厚度位置。

76

9鋼制承壓設(shè)備管子和

管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^

超聲檢測專用工藝

9.1范圍

9.1.1本工藝規(guī)定了承壓設(shè)備管子和壓

力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測工

藝。

9.1.2本工藝適用于壁厚不小于4mm,

外徑為32mm?159mm或壁厚為4mm?6

mm,外徑不小于159mm的承壓設(shè)備管子

和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢

測。

9.2試塊

9.2.1試塊的曲率應(yīng)與被檢管徑相同或

77

相近，其曲率半徑之差不應(yīng)大于管徑的

10%o

9.2.2試塊適宜的被檢件的曲率半徑范

(1)GS-1適用于曲率半徑大于16mm至

24mm的承壓設(shè)備管對接環(huán)向?qū)雍附咏?/p>

頭的檢測。

(2)GS-2適用于曲率半徑大于24mm至

35mm的承壓設(shè)備管對接環(huán)向?qū)雍附咏?/p>

頭的檢測。

(3)GS-3適用于曲率半徑大于35mm至

54mm的承壓設(shè)備管對接環(huán)向?qū)雍附咏?/p>

頭的檢測。

9.3探頭

9.3.1應(yīng)采用線聚集斜探頭和雙晶斜探

78

頭，其性能應(yīng)能滿足檢測要求。

9.3.2探頭頻率一般采用5MHz,當(dāng)管壁

厚度大于15mm時，采用2.5MHz的探頭。

探頭主聲束偏離角不應(yīng)大于2。。斜探頭

K值的選取表5的規(guī)定。如有必要，也可

采用其他K值的探頭。

9.3.3探頭楔塊的曲率應(yīng)加工成與管子

外徑相吻合的形狀。加工好曲率的探頭

應(yīng)對其K值和前沿距離進(jìn)行測定，要求

一次波至少掃查到焊接接頭根部。

表5斜探頭K值的選擇

管壁厚度，mm探頭K值探頭前沿，mm

4.。?82.5?3.0W6

>8?152.。?2.5W8

>151.5—2.0W12

9.4檢測位置及探頭移動區(qū)

9.4.1一般應(yīng)單面雙側(cè)掃查，卻因條件

限制只能從焊接接頭一側(cè)檢測時，應(yīng)采

79

用兩種或兩種以上的不同K值探頭進(jìn)行

檢測，并在報告中加以說明。

9.4.2探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵

屑、油垢及其他雜質(zhì),其表面粗糙度Ra

W6.3jm,探頭移動區(qū)應(yīng)大于

1.5P,P=2TKo

9.5距離一波幅曲線的繪制

9.5.1一般按水平1:1調(diào)節(jié)掃描時基線。

9.5.2選擇與實際工件曲率相對應(yīng)的對

比試塊。

9.5.3距離一波幅曲線按所用探頭和儀

器在所選擇的試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而

成，該曲線族圖由評定線、定量線和判

廢線組成。評定線與定量線之間（包括

評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間

80

（包括定量線）為II區(qū)，判廢線及其以

上區(qū)域為川區(qū),

圖19距離一波幅曲線示意圖

9.5.4不同管壁厚度的距離一波幅曲線

靈敏度應(yīng)符合表6的規(guī)定。

表6距離一波幅曲線的靈敏度

壁厚，mm評定線定量線判廢線

W84)2X20-16dB4)2X20-10dB

>8-154)2X20-16dB4)2X20-13dB02X2O-7dB

>150)2X20-10dB。2X20-4dB

2.9.5.5檢測靈敏度不得低于最大聲程處的評定線靈敏度。

9.6掃查方法

9.6,1一般將探頭從對接焊接接頭兩側(cè)

垂直于焊接接頭作鋸齒形掃查，探頭前

81

后移動距離應(yīng)符合要求，探頭左右移動

距離應(yīng)小于探頭晶片寬度的一半。

9.6.2為觀察缺陷的動態(tài)波形或區(qū)分偽

缺陷信號以確定缺陷的位置、方向、形

狀，

可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角等掃查方法

9.7缺陷定量檢測

9.7.1對反射波幅位于II區(qū)或II區(qū)以上

的缺陷，均應(yīng)對缺陷位置、缺陷最大反

射波幅和缺陷指示長度等進(jìn)行測定。

9.7.2缺陷位置測定應(yīng)以獲得缺陷最大

反射波幅的位置為準(zhǔn)。

9.7.3缺陷最大反射波幅的測定

將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波幅信

號的位置，測定波幅大小，并確定它在距

82

離一波幅曲線圖中區(qū)域。

9.7.4缺陷指示長度的測試按下述方法

進(jìn)行：

(1)缺陷反射波只有一個高點，且位于

II區(qū)或II區(qū)以上時，用定量線的絕對靈

敏度法測量其指示長度。

(2)缺陷反射峰值起伏變化，有多個高

點，且位于II區(qū)或II區(qū)以上時，用定量

線的絕對靈敏度法測量其指示長度。

(3)缺陷最大反射波幅位于I區(qū)，如認(rèn)

為有必要時，用評定線絕對靈敏度法測

量其指示長度。

(4)缺陷的指示長度I應(yīng)按下式計算：

l=LX(R-H)/R

式中：L——探頭左右移動距離，毫米。

R——管子外徑，毫米。

H——缺陷距外表面深度（指示

深度），毫米。

9.缺陷的評定

9.*.1超過評定線的信號應(yīng)注意其是否

具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑

時，應(yīng)采取改變K值，觀察缺陷動態(tài)波

型并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)行綜合分析。

9.8.2相鄰兩缺陷在一條直線上，其間

距小于其中較小的缺陷長度時，應(yīng)作為

一條缺陷處理，以兩缺陷長度之和作為

其單個缺陷指示長度（不考慮間距）。

9.8.3單個缺陷點狀缺陷指示長度按5

毫米計。

9.9質(zhì)量分級

84

執(zhí)行JB/T4730.3-2005表31。

85

10承壓設(shè)備用鋼螺栓坯

件超聲檢測專用工藝

10.1范圍和一般要求

10.1.1本工藝適用于對直徑大于M36的

承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼螺栓坯件進(jìn)

行超聲檢測的工藝。

10.1.2本工藝不適用于奧氏體鋼螺栓坯

件的超聲檢測。

10.2探頭

采用2.5MHz?5MHz的單晶直探頭或雙

晶直探頭。

10.3試塊

試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合2.3.4的規(guī)

定。

10.4檢測方法

86

鍋爐、壓力容器及壓力管道落實坯件一

般采用縱波檢測，盡可能檢測到工件的全

體積。檢測表面粗糙度RaW6.3um。

10.4.1縱波徑向探測

應(yīng)按螺旋線或周進(jìn)行掃查，行程應(yīng)有

重疊,掃查面應(yīng)包括整個周面。

10.4.2縱波軸向探測

應(yīng)從螺栓坯件的兩端面進(jìn)行掃查,盡可

能避免邊緣效應(yīng)對檢測結(jié)果的影響。

10.5靈敏度的確定

10.5.1基準(zhǔn)靈敏度地確定按本工藝

2.3.7條的規(guī)定執(zhí)行。

10.5.2掃查靈敏度一般不得低于最大探

測距離處02mm平底孔當(dāng)量直徑。

10.6缺陷當(dāng)量的確定

87

10.6.1一般應(yīng)采用距離一波幅曲線或計

算法確定缺陷當(dāng)量。

10.6.2計算缺陷當(dāng)量時，若材質(zhì)衰減系

數(shù)超過4dB/m,應(yīng)考慮修正。衰減系數(shù)的

測定按本工藝2.3.8條執(zhí)行。

10.7缺陷記錄

10.7.1按JB/T4732.3-2005表12要求,

記錄當(dāng)量直徑大于?2mm的單個缺陷的

波幅和位置。

10.7.2按JB/T4732.3-2005表13要求,

記錄底波降低量。

10.8質(zhì)量分級

10.8.1單個缺陷的質(zhì)量分級執(zhí)行

JB/T4732.3-2005表12的規(guī)定。

10.8.2由缺陷引起的底波降低量的質(zhì)

88

量分級執(zhí)行JB/T4732.3-2005表13的規(guī)

定。

10.8.3上述評定應(yīng)獨立進(jìn)行。

10.8.4當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害

性缺陷時，螺栓坯件的質(zhì)量等級為V級。

89

11在用承壓設(shè)備超聲檢

測專用工藝

11.1范圍

本工藝適用于在用承壓設(shè)備超聲檢測O

11.2在用承壓設(shè)備用原材料、零部件的

超聲檢測

在用承壓設(shè)備用原材料、零部件進(jìn)行超

聲檢測時，其主要內(nèi)容應(yīng)符合2.2的規(guī)

定。

11.2.1在用螺栓、螺柱超聲檢測

對于在用螺栓、螺柱的超聲檢測，除執(zhí)

行2.10的有關(guān)規(guī)定外，還應(yīng)對螺紋根部

是否有裂紋進(jìn)行檢測，主要檢測內(nèi)容如

下：

(1)在螺栓或螺柱端部采用縱波小K值

90

斜探頭進(jìn)行縱波斜射檢測。

(2)在螺栓或螺柱無螺紋部位采用

K1.5?K2.5,頻率為2.5MHz的橫波斜探

頭進(jìn)行軸向檢測。

(3)縱波斜射檢測和橫波周向檢測的對

比試樣應(yīng)采用與被檢工件材料、形式和規(guī)

格相同或相近的螺栓或螺柱制作。人工缺

陷反射體(切槽)位于最大探測聲程處并

垂直于螺栓或螺柱制作。人工缺陷反射體

(切槽)位于最大探測聲程處并垂直于螺

栓或螺柱的軸線。人工缺陷反射體的形狀

和尺寸如圖20所示：

91

注1：螺紋內(nèi)半徑，mm；L一人工切槽長

度，mm;b一人工切槽深度,mm。

注2:當(dāng)切槽加工在螺紋根部時，切槽應(yīng)

順著螺紋的螺旋角，此時b為螺紋根部

以下的深度。

圖20人工切槽

(4)在用螺栓或螺柱超聲檢測時，如在

螺紋根部出現(xiàn)比切槽回波高的缺陷反射

波時，應(yīng)予以判廢。

11.3在用承壓設(shè)備對接焊接接頭的超聲

檢測

92

11.3.1檢測方法和檢測技術(shù)要求

對在用承壓設(shè)備對接焊接接頭進(jìn)行超

聲檢測時,其檢測方法和主要檢測技術(shù)要

求應(yīng)符合本工藝2.7?2.9條的規(guī)定。在

實際檢測發(fā)現(xiàn)回波時,應(yīng)對位于定量線及

定量線以上的超標(biāo)缺陷進(jìn)行回波幅度、埋

藏深度、指示長度、缺陷取向、缺陷位置

和自身高度的測定，并對缺陷的類型和性

質(zhì)盡可能的作出判斷。對能判定為危害性

的缺陷，即使位于定量線以下，也應(yīng)對其

進(jìn)行上述參數(shù)的測定。在測定上述參數(shù)

時，一般采用直射波，掃查靈敏度可根據(jù)

需要確定，但不得使噪聲回波高度超過滿

刻度的20%o

11.3.2缺陷波幅測定

93

將探頭置于出現(xiàn)最高缺陷回波的位置,

用衰減器讀出該波幅比該位置的定量線

高出的dB值。

11.3.3缺陷位置和指示長度的測定

缺陷位置通常包括缺陷埋藏深度和平

面位置,缺陷埋藏深度是指缺陷距單側(cè)面

的距離，將探頭置于出現(xiàn)最高缺陷回波的

位置,根據(jù)最高反射波出現(xiàn)在掃描線上的

位置確定其埋藏深度和水平距離O指示長

度應(yīng)按本工藝2.7.7條規(guī)定執(zhí)行。

11.3