GA/T 2078-2023法庭科學(xué)固體物證制樣離子束法

ICS13310

CCSA.92

中華人民共和國(guó)公共安全行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

GA/T2078—2023

法庭科學(xué)固體物證制樣離子束法

Forensicsciences—Samplepreparationmethodsforsolidevidence—

Ionbeammilling

2023-03-01發(fā)布2023-12-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)公安部發(fā)布

GA/T2078—2023

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由公安部刑事偵查局提出

。

本文件由全國(guó)刑事技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)理化檢驗(yàn)分技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC179/SC4)。

本文件起草單位上海市公安局物證鑒定中心南京市公安局刑事科學(xué)技術(shù)研究所中國(guó)人民公安

:、、

大學(xué)公安部鑒定中心

、。

本文件起草人沈雯怡丁敏菊呂小寶趙曉雷王勇王磊楊瑞琴周正

:、、、、、、、。

Ⅰ

GA/T2078—2023

法庭科學(xué)固體物證制樣離子束法

1范圍

本文件規(guī)定了法庭科學(xué)領(lǐng)域中采用離子束截面切割和離子束平面刻蝕對(duì)固體物證進(jìn)行制樣的

方法

。

本文件適用于法庭科學(xué)領(lǐng)域中需要截面分析的固體粉末多層油漆片高分子薄膜層等物證的截面

、、

切割制樣以及需要平面檢測(cè)分析的金屬合金等物證的平面刻蝕制樣其他領(lǐng)域亦可參照使用

,、,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

電氣火災(zāi)原因技術(shù)鑒定方法第部分金相法

GB/T16840.44:

法庭科學(xué)微量物證的理化檢驗(yàn)術(shù)語(yǔ)

GA/T242

3術(shù)語(yǔ)和定義

和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T16840.4GA/T242。

31

.

離子束截面切割cross-sectionmilling

用離子束轟擊樣品表面以切割方式獲得樣品測(cè)試截面的制樣方法

,。

注截面切割通常應(yīng)用于多層樣品以及斷面凹凸不平樣品的切割拋光制樣以獲得滿足測(cè)試分析要求的樣品截面

:,。

32

.

離子束平面刻蝕flatmilling

用離子束轟擊樣品表面以刻蝕方式獲得樣品測(cè)試截面的制樣方法

,。

注平面刻蝕通常應(yīng)用于樣品表面材料的刻蝕拋光制樣以獲得滿足測(cè)試分析要求的樣品平面

:,。

4原理

使用高能離子槍轟擊樣品的頂面高能離子與待測(cè)樣品的頂部非晶層中的松散結(jié)合的表面原子相

,

互作用將其除去以獲得原有結(jié)構(gòu)特征破壞小多層樣品層與層之間污染少的鏡面級(jí)平整的表面并暴

,、,

露樣品的亞表面結(jié)構(gòu)在整個(gè)過(guò)程中通過(guò)調(diào)整離子能量電子束入射角等參數(shù)可以優(yōu)化樣品制備時(shí)間

。,,

和表面質(zhì)量

。

經(jīng)離子束截面切割處理的固體粉末多層油漆片高分子薄膜層等物證可用掃描電子顯微鏡射

、、,/X

線能譜儀等設(shè)備觀察其截面層次結(jié)構(gòu)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)并進(jìn)行元素分析

。

經(jīng)離子束平面刻蝕處理的金屬物證可用金相顯微鏡掃描電子顯微鏡等設(shè)備觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)金

,、、

相結(jié)構(gòu)并為觀察通道襯度像和電子背散射衍射等分析提供樣品

,。

注根據(jù)本文件制得的截面樣品能用于掃描電子顯