軟件測(cè)試技術(shù)考試復(fù)習(xí)資料試題及答案

軟件測(cè)試技術(shù)考試復(fù)習(xí)資料試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是：

A.證明軟件是正確的

B.證明軟件是錯(cuò)誤的

C.評(píng)估軟件的質(zhì)量

D.以上都不對(duì)

2.下列哪個(gè)不屬于軟件測(cè)試的分類？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.運(yùn)行時(shí)測(cè)試

3.下列哪種測(cè)試屬于靜態(tài)測(cè)試？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.模糊測(cè)試

D.回歸測(cè)試

4.下列哪種測(cè)試屬于動(dòng)態(tài)測(cè)試？

A.靜態(tài)測(cè)試

B.黑盒測(cè)試

C.白盒測(cè)試

D.模糊測(cè)試

5.下列哪個(gè)不是軟件測(cè)試的原則？

A.全面性

B.系統(tǒng)性

C.客觀性

D.及時(shí)性

6.下列哪種測(cè)試方法主要用于測(cè)試軟件的可用性？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.兼容性測(cè)試

D.安全性測(cè)試

7.下列哪種測(cè)試方法主要用于測(cè)試軟件的兼容性？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.兼容性測(cè)試

D.安全性測(cè)試

8.下列哪種測(cè)試方法主要用于測(cè)試軟件的可靠性？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.兼容性測(cè)試

D.安全性測(cè)試

9.下列哪種測(cè)試方法主要用于測(cè)試軟件的性能？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.兼容性測(cè)試

D.安全性測(cè)試

10.下列哪個(gè)不是軟件測(cè)試的工具？

A.JUnit

B.Selenium

C.JMeter

D.Eclipse

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共5題）

1.軟件測(cè)試的方法包括：

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.模糊測(cè)試

D.回歸測(cè)試

2.軟件測(cè)試的過程包括：

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)測(cè)試用例

C.執(zhí)行測(cè)試用例

D.分析測(cè)試結(jié)果

3.軟件測(cè)試的類型包括：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

4.軟件測(cè)試的原則包括：

A.全面性

B.系統(tǒng)性

C.客觀性

D.及時(shí)性

5.軟件測(cè)試的工具包括：

A.JUnit

B.Selenium

C.JMeter

D.Eclipse

三、判斷題（每題2分，共5題）

1.軟件測(cè)試的目的是證明軟件是正確的。（）

2.靜態(tài)測(cè)試只能檢測(cè)軟件的靜態(tài)結(jié)構(gòu)，不能檢測(cè)軟件的動(dòng)態(tài)行為。（）

3.軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試。（）

4.軟件測(cè)試的原則包括全面性、系統(tǒng)性、客觀性和及時(shí)性。（）

5.軟件測(cè)試的工具包括JUnit、Selenium、JMeter和Eclipse。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共10分）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的步驟。

2.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的原則。

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的方法包括：

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.模糊測(cè)試

D.回歸測(cè)試

E.性能測(cè)試

2.軟件測(cè)試的過程包括：

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)測(cè)試用例

C.執(zhí)行測(cè)試用例

D.分析測(cè)試結(jié)果

E.報(bào)告測(cè)試結(jié)果

3.軟件測(cè)試的類型包括：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.非功能測(cè)試

4.軟件測(cè)試的原則包括：

A.全面性

B.系統(tǒng)性

C.客觀性

D.及時(shí)性

E.經(jīng)濟(jì)性

5.軟件測(cè)試的工具包括：

A.JUnit

B.Selenium

C.JMeter

D.LoadRunner

E.QTP

6.下列哪些是軟件測(cè)試的靜態(tài)測(cè)試方法？

A.源代碼審查

B.審查測(cè)試用例

C.代碼靜態(tài)分析

D.運(yùn)行時(shí)測(cè)試

E.性能測(cè)試

7.下列哪些是軟件測(cè)試的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.回歸測(cè)試

8.下列哪些是軟件測(cè)試的性能測(cè)試指標(biāo)？

A.響應(yīng)時(shí)間

B.吞吐量

C.峰值性能

D.穩(wěn)定性

E.可用性

9.下列哪些是軟件測(cè)試的缺陷分類？

A.功能缺陷

B.性能缺陷

C.界面缺陷

D.安全缺陷

E.數(shù)據(jù)缺陷

10.下列哪些是軟件測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法？

A.等價(jià)類劃分

B.邊界值分析

C.決策表

D.正交實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)

E.錯(cuò)誤猜測(cè)

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試是軟件開發(fā)過程中的一個(gè)獨(dú)立階段。（）

2.黑盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的功能，而白盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。（）

3.軟件測(cè)試的目的是找出軟件中的所有錯(cuò)誤。（）

4.集成測(cè)試是在單元測(cè)試之后進(jìn)行的，用于驗(yàn)證各個(gè)模塊之間的接口。（）

5.回歸測(cè)試是為了確保軟件修改后沒有引入新的錯(cuò)誤。（）

6.性能測(cè)試主要關(guān)注軟件的響應(yīng)時(shí)間和資源消耗。（）

7.軟件測(cè)試的覆蓋率越高，軟件的質(zhì)量就越好。（）

8.安全測(cè)試主要是檢測(cè)軟件是否存在安全漏洞，而不是驗(yàn)證其功能。（）

9.軟件測(cè)試中，測(cè)試用例的設(shè)計(jì)應(yīng)該盡可能覆蓋所有可能的輸入值。（）

10.軟件測(cè)試報(bào)告應(yīng)該包括測(cè)試結(jié)果、缺陷報(bào)告和改進(jìn)建議。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的步驟。

2.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的幾種主要類型及其特點(diǎn)。

3.簡(jiǎn)述測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本原則。

4.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試中的缺陷管理流程。

5.簡(jiǎn)述如何進(jìn)行軟件測(cè)試的回歸測(cè)試。

6.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試在軟件開發(fā)過程中的重要性。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.C

解析：軟件測(cè)試的目的是評(píng)估軟件的質(zhì)量，而不是證明軟件是正確或錯(cuò)誤的。

2.D

解析：運(yùn)行時(shí)測(cè)試不是軟件測(cè)試的分類，它通常指的是在軟件運(yùn)行過程中進(jìn)行的監(jiān)控和測(cè)試。

3.B

解析：靜態(tài)測(cè)試是通過檢查軟件代碼或設(shè)計(jì)文檔來發(fā)現(xiàn)潛在缺陷的方法，而白盒測(cè)試是靜態(tài)測(cè)試的一種。

4.B

解析：動(dòng)態(tài)測(cè)試是通過運(yùn)行軟件并觀察其行為來發(fā)現(xiàn)缺陷的方法，而黑盒測(cè)試是動(dòng)態(tài)測(cè)試的一種。

5.D

解析：軟件測(cè)試的原則包括全面性、系統(tǒng)性、客觀性和及時(shí)性，而經(jīng)濟(jì)性不是軟件測(cè)試的原則。

6.B

解析：性能測(cè)試主要用于測(cè)試軟件的性能，包括響應(yīng)時(shí)間和資源消耗等。

7.C

解析：兼容性測(cè)試主要用于測(cè)試軟件在不同環(huán)境或平臺(tái)下的兼容性。

8.B

解析：可靠性測(cè)試主要用于測(cè)試軟件的可靠性，即軟件在規(guī)定條件下能否穩(wěn)定運(yùn)行。

9.A

解析：性能測(cè)試主要用于測(cè)試軟件的性能，包括響應(yīng)時(shí)間和資源消耗等。

10.D

解析：Eclipse是一個(gè)集成開發(fā)環(huán)境（IDE），而不是軟件測(cè)試的工具。

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.ABCD

解析：軟件測(cè)試的方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、模糊測(cè)試和回歸測(cè)試等。

2.ABCDE

解析：軟件測(cè)試的過程包括需求分析、設(shè)計(jì)測(cè)試用例、執(zhí)行測(cè)試用例、分析測(cè)試結(jié)果和報(bào)告測(cè)試結(jié)果。

3.ABCD

解析：軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試。

4.ABCDE

解析：軟件測(cè)試的原則包括全面性、系統(tǒng)性、客觀性和及時(shí)性，以及經(jīng)濟(jì)性。

5.ABCDE

解析：軟件測(cè)試的工具包括JUnit、Selenium、JMeter和QTP等。

6.ABC

解析：靜態(tài)測(cè)試方法包括源代碼審查、審查測(cè)試用例和代碼靜態(tài)分析。

7.ABCDE

解析：動(dòng)態(tài)測(cè)試方法包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和回歸測(cè)試。

8.ABCD

解析：性能測(cè)試指標(biāo)包括響應(yīng)時(shí)間、吞吐量、峰值性能和穩(wěn)定性。

9.ABCDE

解析：缺陷分類包括功能缺陷、性能缺陷、界面缺陷、安全缺陷和數(shù)據(jù)缺陷。

10.ABCDE

解析：測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法包括等價(jià)類劃分、邊界值分析、決策表、正交實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和錯(cuò)誤猜測(cè)。

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.×

解析：軟件測(cè)試是軟件開發(fā)過程中的一個(gè)重要階段，但并非獨(dú)立階段，通常與開發(fā)并行進(jìn)行。

2.√

解析：黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，而白盒測(cè)試關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

3.×

解析：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷，而不是找出所有錯(cuò)誤。

4.√

解析：集成測(cè)試是在單元測(cè)試之后進(jìn)行的，用于驗(yàn)證各個(gè)模塊之間的接口。

5.√

解析：回歸測(cè)試是為了確保軟件修改后沒有引入新的錯(cuò)誤。

6.√

解析：性能測(cè)試主要關(guān)注軟件的響應(yīng)時(shí)間和資源消耗。

7.×

解析：軟件測(cè)試的覆蓋率越高，不一定意味著軟件的質(zhì)量越好，還需要考慮覆蓋率的質(zhì)量。

8.×

解析：安全測(cè)試不僅是檢測(cè)軟件是否存在安全漏洞，也驗(yàn)證其安全性。

9.√

解析：軟件測(cè)試中，測(cè)試用例的設(shè)計(jì)應(yīng)該盡可能覆蓋所有可能的輸入值。

10.√

解析：軟件測(cè)試報(bào)告應(yīng)該包括測(cè)試結(jié)果、缺陷報(bào)告和改進(jìn)建議。

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.軟件測(cè)試的步驟包括：需求分析、測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、缺陷跟蹤和測(cè)試報(bào)告。

2.軟件測(cè)試的主要類型及其特點(diǎn)：

-單元測(cè)試：測(cè)試單個(gè)模塊或函數(shù)，確保其正確性。

-集成測(cè)試：測(cè)試模塊間的接口和交互，確保模塊組合后的正確性。

-系統(tǒng)測(cè)試：測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)，確保系統(tǒng)滿足需求。

-驗(yàn)收測(cè)試：由客戶或用戶進(jìn)行，驗(yàn)證系統(tǒng)是否滿足最終需求。

3.測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本原則包括：充分性、有效性、可維護(hù)性、可復(fù)用性和一致性。

4.軟件測(cè)試中的缺陷管