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,電介質(zhì)材料的介電常數(shù)及損耗的頻率特性,一實(shí)驗(yàn)?zāi)康?二實(shí)驗(yàn)儀器 三實(shí)驗(yàn)原理 四操作步驟 五數(shù)據(jù)處理,一實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1熟練掌握MODEL TH2816型寬頻LCR數(shù)字電橋的使用; 2測(cè)量幾種介質(zhì)材料的介電常數(shù) 和介質(zhì)損耗角正切(tan)與頻率的關(guān)系,從而了解它們的 、tan 的頻率特性。,二實(shí)驗(yàn)儀器,TH2816型寬頻LCR數(shù)字電橋、樣品,三實(shí)驗(yàn)原理,介電常數(shù),又稱電容率,是電位移D與電場(chǎng)強(qiáng)度E之比 = D/E ,其單位為F/m ,真空的介電常數(shù) F/m ,而相對(duì)介電常數(shù)為同一尺寸的電容器中充入電介質(zhì)時(shí)的電容和不充入電介質(zhì)時(shí)真空下的電容之比。介電常數(shù)小的電介質(zhì),其分子為非極性或弱極性結(jié)構(gòu),介電常數(shù)大的電介質(zhì),其分子為極性或強(qiáng)極性結(jié)構(gòu)。在交變電場(chǎng)作用下,電介質(zhì)的介電常數(shù)為復(fù)數(shù),復(fù)介電常數(shù)的實(shí)部與上述介電常數(shù)的意義是一致的,而虛部表示損耗。介質(zhì)的介電損耗是指由于導(dǎo)電或交變電場(chǎng)中極化弛豫過程在電介質(zhì)中引起的功率損耗。這一功率損耗是通過熱耗散把電場(chǎng)的電能消耗掉的結(jié)果。,電介質(zhì)的介電損耗一般用損耗角正切tan 表示,并定義為: 。在直流電場(chǎng)下,電介質(zhì)內(nèi)只有泄漏電流所產(chǎn)生的電導(dǎo)損耗;但在交變電場(chǎng)中,除電導(dǎo)損耗外還存在著各種形式的極化所產(chǎn)生的損耗,即松弛極化損耗。此時(shí),復(fù)介電常數(shù) 的虛部與實(shí)部的比值,即為介電損耗值,即 ,又稱介質(zhì)損耗因數(shù)。是電介質(zhì)的電位移D由于極化弛豫而落后電場(chǎng)E的一個(gè)相位角。由于介質(zhì)的各種極化機(jī)構(gòu)在不同的頻率范圍有不同的響應(yīng)和不同頻率下產(chǎn)生不同的電導(dǎo)率,所以介質(zhì)的介電常數(shù)和介電損耗都是隨頻率的變化而變化。如不考慮邊緣效應(yīng),平板試樣的電容量可用下式表示:,(1),式中 s 電極的面積,米2;d 介質(zhì)的厚度,米;r 介質(zhì)材料的相對(duì)介電常數(shù)。,將0的值代入(1)式,得到:,由此得,如果電極呈圓形,當(dāng)其直徑為D米時(shí),介電常數(shù)的計(jì)算公式如下:,其所用單位d 米, pF , D 米。,四操作步驟,(1)接通電源,電橋開始自檢。自檢結(jié)束后,面板顯示: 顯示A:C(電容) 顯示B:D(即損耗tan) 顯示C:F(顯示:1.00kHz) 速度:慢(40ms A/D積分時(shí)間) 讀數(shù):直讀 等效:串聯(lián) 偏置:OFF 方式:連續(xù) 量程:自動(dòng) 打?。篛FF (2)使用按鍵顯示A、顯示B在LCR上選擇測(cè)試參數(shù);如果需要測(cè)量的是電容C和損耗tan,則不需要另外選擇。等待儀器穩(wěn)定20 分鐘后,對(duì)儀器進(jìn)行清 “0”;,(3)將被測(cè)圓形陶瓷片接在測(cè)試夾具上,并將樣品由測(cè)試架引出的兩極接入LCR數(shù)字電橋。 (4)選擇合適的等效方式:按“等效”鍵即可選擇串、并聯(lián)或自動(dòng)等效方式(即將被測(cè)器件看作是串聯(lián)或并聯(lián)的等效方式),當(dāng)選擇“自動(dòng)”時(shí),儀器將自動(dòng)選擇。 (5)選擇不同的測(cè)量頻率,測(cè)出不同頻率下的電容C和損耗tg 的值。(可設(shè)置的頻率范圍為:20 Hz 150 kHz) (6)再分別將內(nèi)偏調(diào)到5V, 10V重復(fù)測(cè)量。,五數(shù)據(jù)處理,由測(cè)量數(shù)據(jù),進(jìn)行轉(zhuǎn)換:C; 用origin軟件繪圖,繪出 f和 tg f關(guān)系曲線; 對(duì)所得曲

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